JP5373498B2 - 基板の処理装置及び処理方法 - Google Patents
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Description
上記基板に供給された処理液の厚さを測定する測定手段と、
この測定手段による測定値に基づいて求められた、時間の経過に伴う処理液の液膜の厚さ変化から、上記処理液に含まれる薬液の濃度を判定する判定手段と
を具備したことを特徴とする基板の処理装置にある。
上記希釈液を供給する希釈液供給部と、
上記判定手段の判定に基づいて薬液供給部から供給される薬液と、上記希釈液供給部から供給される希釈液の少なくともどちらか一方の供給量を制御して上記処理液の薬液濃度を設定する濃度設定手段と
を備えていることが好ましい。
基板上に残留する処理液によって発生する干渉縞の色階調変化を検出する検出手段と、
この検出手段によって検出された色階調変化から光回折の式(2ndcosθ=mλ)を用いて上記基板上の処理液の厚さを算出する算出手段と
を具備したことを特徴とする請求項1記載の基板の処理装置。
この発明は、薬液を希釈液で希釈した処理液によって基板を処理する基板の処理方法であって、
上記基板に処理液を供給する工程と、
上記基板に供給された処理液の厚さを測定する工程と、
この測定する工程での測定値に基づいて求められた、時間の経過に伴う処理液の液膜の厚さ変化から、上記処理液に含まれる薬液の濃度を判定する工程と
を具備したことを特徴とする基板の処理方法にある。
図1乃至図7はこの発明の第1の実施の形態であって、図1は基板Wを処理液Lによって処理する処理装置としてのスピン処理装置1を示している。このスピン処理装置1はカップ体2を備えている。このカップ体2内には回転テーブル3が設けられている。この回転テーブル3は駆動源4によって回転駆動されるようになっている。
2ndcosθ=mλ …(1)式
で示される。上記(1)式において、nは処理液の屈折率、dは液膜の厚さ、θは処理液への光の入射角、mは整数、λは光の波長である。
なお、上記温調ユニット9aは上記ノズル体5に供給される処理液Lの温度を一定に維持するようになっている。
なお、第4の実施の形態は第2、第3の実施の形態にも適用することができること、勿論である。
Claims (6)
- 薬液を希釈液で希釈した処理液によって基板を処理する基板の処理装置であって、上記基板に供給された処理液の厚さを測定する測定手段と、
この測定手段による測定値に基づいて求められた、時間の経過に伴う処理液の液膜の厚さ変化から、上記処理液に含まれる薬液の濃度を判定する判定手段と
を具備したことを特徴とする基板の処理装置。 - 上記判定手段は、予め測定された処理液の厚さと薬液の濃度との関係に基づいて上記薬液の濃度を求めることを特徴とする請求項1記載の基板の処理装置。
- 上記薬液を供給する薬液供給部と、
上記希釈液を供給する希釈液供給部と、
上記判定手段の判定に基づいて薬液供給部から供給される薬液と、上記希釈液供給部から供給される希釈液の少なくともどちらか一方の供給量を制御して上記処理液の薬液濃度を設定する濃度設定手段と
を備えていることを特徴とする請求項1記載の基板の処理装置。 - 上記測定手段は、
基板上に残留する処理液によって発生する干渉縞の色階調変化を検出する検出手段と、
この検出手段によって検出された色階調変化から光回折の式(2ndcosθ=mλ)を用いて上記基板上の処理液の厚さを算出する算出手段と
を具備したことを特徴とする請求項1記載の基板の処理装置。
(ただし、上記式中、nは処理液の屈折率、dは液膜の厚さ、θは処理液への光の入射角、mは整数、λは光の波長である。) - 薬液を希釈液で希釈した処理液によって基板を処理する基板の処理方法であって、
基板に処理液を供給する工程と、
上記基板に供給された処理液の厚さを測定する工程と、
この測定する工程での測定値に基づいて求められた、時間の経過に伴う処理液の液膜の厚さ変化から、上記処理液に含まれる薬液の濃度を判定する工程と
を具備したことを特徴とする基板の処理方法。 - 薬液の濃度を判定したならば、その判定に基づいて上記処理液における薬液の濃度を設定する工程を備えていることを特徴とする請求項5記載の基板の処理方法。
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