JP5367656B2 - フリップチップ型半導体裏面用フィルム及びその用途 - Google Patents

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Description

本発明は、フリップチップ型半導体裏面用フィルム及びダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムに関する。フリップチップ型半導体裏面用フィルムは、半導体チップ等の半導体素子の裏面の保護と、強度向上等のために用いられる。また本発明は、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いた半導体装置の製造方法及びフリップチップ実装の半導体装置に関する。
近年、半導体装置及びそのパッケージの薄型化、小型化がより一層求められている。そのため、半導体装置及びそのパッケージとして、半導体チップ等の半導体素子が基板上にフリップチップボンディングにより実装された（フリップチップ接続された）フリップチップ型の半導体装置が広く利用されている。当該フリップチップ接続は半導体チップの回路面が基板の電極形成面と対向する形態で固定されるものである。このような半導体装置等では、半導体チップの裏面を裏面フィルムにより保護し、半導体チップの損傷等を防止している場合がある（特許文献１参照）。また、この裏面フィルムに対してレーザーマーキングを施し、製品の識別性等を高めることもある（特許文献２参照）。
特開２００７−１５８０２６号公報 特開２００８−１６６４５１号公報
ところで、半導体技術の進展に伴い、半導体装置の性能は日を追うごとに高まっている。また、半導体装置の処理速度が向上するにつれ、半導体装置からの熱の発生量も増大する傾向にある。半導体チップ等の半導体素子の裏面を裏面フィルムで覆った場合には、半導体素子の裏面側からの放熱が妨げられることになることから、半導体装置に蓄熱されて負荷がかかりその製品寿命が短くなるおそれがある。これに対しては、裏面フィルム表面を凹凸形状として表面積を大きくすることにより、裏面フィルムからの放熱を促進する方策も考えられる。しかしながら、裏面フィルム表面に凹凸形状を付与した場合は、今度はレーザーマーキング性や半導体ウエハ等との接着性が低下するおそれがある。
本発明は前記問題点に鑑みなされたものであり、その目的は、表面へのレーザーマーキング性及び半導体ウエハ等との接着性を維持しつつ、半導体素子の裏面に配設した場合であっても半導体素子からの熱を外部に効率良く放散させることができるフリップチップ型半導体裏面用フィルム、及びダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを提供することにある。
また、本発明の他の目的は、レーザーマーキングによる識別性等が高く、半導体素子から生じた熱を効率良く放散させることにより製品寿命の長期化をも図ることができる半導体装置の製造方法を提供することにある。
本願発明者等は、上記従来の問題点を解決すべく検討した結果、フリップチップ型半導体裏面用フィルムに特定の熱伝導性フィラーを充填することによりレーザーマーキング性及び半導体ウエハとの接着性を維持しつつ半導体素子からの熱の放散性を高めることができることを見出し本発明を完成させるに至った。
即ち、本発明に係るフリップチップ型半導体裏面用フィルムは、被着体上にフリップチップ接続される半導体素子の裏面に配設されるフリップチップ型半導体裏面用フィルムであって、樹脂及び熱伝導性フィラーを含み、この熱伝導性フィラーの含有量が５０体積％以上であり、前記フィルムの厚みに対して、前記熱伝導性フィラーの平均粒径が３０％以下の値であり、かつ最大粒径が８０％以下の値である。
本発明のフリップチップ型半導体裏面用フィルムは、被着体上にフリップチップ接続された半導体素子の裏面に配設されることで、当該半導体素子を保護する機能を果たすものである。また、当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムが樹脂と共に熱伝導性フィラーを含み、この熱伝導性フィラーの含有量を５０体積％以上としているので、当該フィルム自体の熱伝導率が高くなって優れた放熱性を発揮することができ、その結果、半導体素子の裏面に配設された場合であっても半導体素子から生じる熱を外部に効率良く放散することができる。尚、前記半導体素子の裏面とは、回路が形成された面とは反対側の面を意味する。
ここで熱伝導性フィラーの形態としては、その粒径を大きくするほど、当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムにおける熱伝導性の良好な領域の割合を高くすることができ、当該フリップチップ型半導体裏面用フィルム全体での熱伝導性を向上させることができる。一方で、熱伝導性フィラーの粒径を大きくしすぎると、当該フィルムの熱伝導性は向上するものの、当該フィルム表面への熱伝導性フィラーの形状の影響が及んでしまい、当該フィルム表面の平坦性が損なわれてしまう。当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムでは、前記熱伝導性フィラーの形態として、前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムの厚みに対して、平均粒径及び最大粒径をそれぞれ３０％以下の値及び８０％以下の値を採用していることから、熱伝導性フィラーによる熱伝導性を最大限に高めつつ熱伝導性フィラー形状が当該フィルムの表面形状に及ぼす影響を最小限に抑えている。さらに、このような形態の熱伝導性フィラーを採用することにより、熱伝導性フィラーの含有量を５０体積％以上という高い値に設定することができる。当該フィルムの厚み対して、前記平均粒径及び最大粒径をそれぞれ３０％を超える値及び８０％を超える値とした場合は、当該フィルム表面の凹凸が大きくなりすぎてレーザーマーキング性が低下したり、半導体ウエハ等への接着性が低下したりしてしまう。当該フィルムでは、熱伝導性フィラーの含有量、平均粒径及び最大粒径を所定値にしているので、熱伝導性フィラーが比較的密にパッキングされた状態となっており、熱伝導性フィラー同士の接触も多点に及んでいることから、当該フィルムの熱伝導性、ひいては放熱性を高いレベルまで向上させることができる。また、熱伝導性フィラーのパッキング状態が達成されることにより、当該フィルムの表面付近では熱伝導性フィラーがある程度均されて当該フィルム表面の平坦性を維持することができる。なお、本明細書において、熱伝導性フィラーの平均粒径及び最大粒径は、レーザー回折型粒度分布測定装置によって測定して得た値をいう。
当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムの熱伝導率は２Ｗ／ｍＫ以上であることが好ましい。このような熱伝導率により、半導体素子から発生した熱をより効率的に外部に放散させることができる。
当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムでは、前記半導体の裏面に対向する面と反対側の面の表面粗さ（Ｒａ）が３００ｎｍ以下であることが好ましい。当該フィルムでは、特定の含有量及び形態の熱伝導性フィラーを採用しているので、当該フィルムの表面粗さ（Ｒａ）を３００ｎｍ以下とすることができ、その結果、レーザーマーキング性をより高めることができると共に、半導体ウエハ等への接着性の低下を防止することができる。なお、本明細書において、表面粗さ（Ｒａ）は、ＪＩＳ Ｂ０６０１に基づき測定して得た値をいい、詳細には実施例に記載の例による。
前記熱伝導性フィラーの含有量が５０〜８０体積％であり、前記フィルムの厚みに対して、前記熱伝導性フィラーの平均粒径が１０〜３０％の値であり、かつ最大粒径が４０〜８０％の値であることが好ましい。熱伝導性フィラーの含有量及び形態を具体的にこのような特定の値とすることにより、当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムの放熱性の向上、良好なレーザーマーキング性及び半導体ウエハ等との優れた接着性を達成することができる。
当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムは、前記熱伝導性フィラーとして、平均粒径の異なる熱伝導性フィラーを含んでいてもよい。異なる平均粒径を有する熱伝導性フィラーのうち粒径の大きい方の熱伝導性フィラーの間にこれより平均粒径の小さい熱伝導性フィラーが充填され、熱伝導性の良好な領域が広がることによって、当該フィルムの放熱性をより向上させることができる。平均粒径としては２種類採用してもよく、３種類以上の平均粒径を採用してもよい。なお、異なる平均粒径を有する熱伝導性フィラーを用いる場合、本発明の熱伝導性フィラーの平均粒径とは、平均粒径の異なる熱伝導性フィラーのそれぞれの平均粒径の平均をいい、熱伝導性フィラーの最大粒径とは、当該フィルムに含まれる熱伝導性フィラー全体の中で最も大きい粒径をいう。
また、本発明に係るダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムが、ダイシングテープ上に積層されたダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムであって、前記ダイシングテープは基材上に粘着剤層が積層された構造であり、前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムは前記ダイシングテープの粘着剤層上に積層されている。
前記構成のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、ダイシングテープとフリップチップ型半導体裏面用フィルムが一体的に形成されているので、半導体ウエハをダイシングして半導体素子を作製するダイシング工程やその後のピックアップ工程にも供することができる。即ち、ダイシング工程の前にダイシングテープを半導体ウエハ裏面に貼着させる際に、前記半導体裏面用フィルムも貼着させることができるので、半導体裏面用フィルムのみを貼着させる工程（半導体裏面用フィルム貼着工程）を必要としない。その結果、工程数の低減が図れる。しかも、半導体ウエハや、ダイシングにより形成された半導体素子の裏面を半導体裏面用フィルムが保護するので、ダイシング工程やそれ以降の工程（ピックアップ工程など）において、当該半導体素子の損傷を低減又は防止することができる。その結果、フリップチップ型半導体装置の製造歩留まりの向上が図れる。
また、本発明に係る半導体装置の製造方法は、当該ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いた半導体装置の製造方法であって、前記ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおけるフリップチップ型半導体裏面用フィルム上に半導体ウエハを貼着する工程と、前記半導体ウエハをダイシングして半導体素子を形成する工程と、前記半導体素子を前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムとともに、ダイシングテープの粘着剤層から剥離する工程と、前記半導体素子を前記被着体上にフリップチップ接続する工程とを具備する。
前記方法に於いては、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを半導体ウエハの裏面に貼着させるので、半導体裏面用フィルムのみを貼着させる工程（半導体裏面用フィルム貼着工程）を必要としない。また、半導体ウエハのダイシングや、当該ダイシングにより形成された半導体素子のピックアップでは、半導体ウエハ及び半導体素子の裏面が半導体裏面用フィルムにより保護されているので、損傷等を防止することができる。その結果、製造歩留まりを向上させて、フリップチップ型の半導体装置を製造することができる。
また、本発明に係るフリップチップ型半導体装置は、当該半導体装置の製造方法により製造されたものである。
本発明のフリップチップ型半導体裏面用フィルムは、被着体上にフリップチップ接続された半導体素子の裏面に配設されるので、当該半導体素子を保護する機能を果たす。また、当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムが樹脂と共に熱伝導性フィラーを含み、この熱伝導性フィラーの含有量を５０体積％以上としているので、当該フィルム自体の熱伝導率が高くなって優れた放熱性を発揮することができ、その結果、半導体素子の裏面に配設された場合であっても半導体素子からの熱を効率良く放散することができる。当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムでは、前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムの厚みに対して、平均粒径及び最大粒径をそれぞれ３０％以下の値及び８０％以下の値を採用していることから、熱伝導性フィラーによる熱伝導性を最大限に高めつつ熱伝導性フィラー形状が当該フィルムの表面形状に及ぼす影響を最小限に抑えることができる。
また、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムによれば、ダイシングテープとフリップチップ型半導体裏面用フィルムが一体的に形成されているので、半導体ウエハをダイシングして半導体素子を作製するダイシング工程やその後のピックアップ工程にも供することができる。その結果、半導体裏面用フィルムのみを貼着させる工程（半導体裏面用フィルム貼着工程）を必要としない。更に、その後のダイシング工程やピックアップ工程では、半導体ウエハの裏面又はダイシングにより形成された半導体素子の裏面に半導体裏面用フィルムが貼着されているので、半導体ウエハや半導体素子を有効に保護することができ、半導体素子の損傷を抑制又は防止することができる。また、半導体素子の基板等へのボンディング後は、当該フリップチップ型半導体裏面用フィルムが半導体素子の裏面の保護機能を発揮すると共に、半導体素子からの熱を速やかに放散し、良好なレーザーマーキング性により半導体素子等の識別性を高めることができ、さらに半導体ウエハ等との接着性も確保することができる。
更に、本発明の半導体装置の製造方法によれば、当該ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを半導体ウエハの裏面に貼着させるので、半導体裏面用フィルムのみを貼着させる工程を必要としない。また、半導体ウエハのダイシングや、当該ダイシングにより形成された半導体素子のピックアップでは、半導体ウエハ及び半導体素子の裏面が半導体裏面用フィルムにより保護されているので、損傷等を防止することができる。以上のことから、製造歩留まりを向上させつつ、放熱性に優れ、かつレーザーマーキング性及び半導体ウエハとの接着性が良好なフリップチップ型の半導体装置を効率良く製造することができる。
本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの一例を示す断面模式図である。 本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いた半導体装置の製造方法の一例を示す断面模式図である。
本発明の実施の一形態について、図１を参照しながら説明するが、本発明はこれらの例に限定されない。図１は、本実施の形態に係るダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの一例を示す断面模式図である。なお、本明細書において、図には、説明に不要な部分は省略し、また、説明を容易にするために拡大又は縮小等して図示した部分がある。
（ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム）
図１で示されるように、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１は、基材３１上に粘着剤層３２が設けられたダイシングテープ３と、前記粘着剤層上に設けられたフリップチップ型半導体裏面用フィルム（以下、「半導体裏面用フィルム」という場合がある）２とを備える構成である。また、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、図１で示されているように、ダイシングテープ３の粘着剤層３２上において、半導体ウエハの貼着部分に対応する部分３３のみに半導体裏面用フィルム２が形成された構成であってもよいが、粘着剤層３２の全面に半導体裏面用フィルムが形成された構成でもよく、また、半導体ウエハの貼着部分に対応する部分３３より大きく且つ粘着剤層３２の全面よりも小さい部分に半導体裏面用フィルムが形成された構成でもよい。なお、半導体裏面用フィルム２の表面（ウエハの裏面に貼着される側の表面）は、ウエハ裏面に貼着されるまでの間、セパレータ等により保護されていてもよい。
（フリップチップ型半導体裏面用フィルム）
半導体裏面用フィルム２はフィルム状の形態を有している。半導体裏面用フィルム２は、通常、製品としてのダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの形態では、未硬化状態（半硬化状態を含む）であり、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを半導体ウエハに貼着させた後に熱硬化される（詳細については後述する）。
本発明のフリップチップ型半導体裏面用フィルム２は、熱伝導性フィラーを含んでいる。前記熱伝導性フィラーの熱伝導率は、当該半導体裏面用フィルム２に熱伝導性を付与可能な限り特に限定されないが、好ましくは１２Ｗ／ｍＫ以上であり、より好ましくは１５〜７０Ｗ／ｍＫ、特に好ましくは２５〜７０Ｗ／ｍＫである。前記熱伝導率が１２Ｗ／ｍＫ以上であると、半導体裏面用フィルム２に対し、少なくとも１．５Ｗ／ｍＫ以上の熱伝導性を付与することが可能になる。但し、熱伝導性フィラーの熱伝導率が７０Ｗ／ｍＫを超えると、コスト高を招来する場合がある。
前記熱伝導性フィラーとしては特に限定されず、例えば、酸化アルミニウム、酸化亜鉛、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、水酸化マグネシウム、窒化アルミニウム、炭化珪素等の電気絶縁性のものが挙げられる。これらは、単独で又は２種以上を併用して用いることができる。なかでも、酸化アルミニウムは高伝導率であり、半導体裏面用フィルム２中における分散性に優れ、入手の容易さの点から好ましい。
前記熱伝導性フィラーの含有量は、半導体裏面用フィルム２において５０体積％以上であり、好ましくは５０〜８０体積％であり、より好ましくは５５〜７５体積％である。熱伝導性フィラーの含有量を上記範囲とすることで、当該半導体裏面用フィルム自体の熱伝導率が高くなって優れた放熱性を発揮することができ、その結果、半導体素子の裏面に配設された場合であっても半導体素子から生じる熱を外部に効率良く放散することができる。含有量が５０体積％未満であると、半導体裏面用フィルム２の熱伝導性が低下して半導体素子からの熱の放散が不十分となり、半導体素子等への熱の蓄積を招来する。その一方、含有量を８０体積％以下にすることにより、半導体裏面用フィルム２中の接着成分の含有量の相対的な減少を防止することができ、半導体ウエハ等に対する半導体裏面用フィルム２の濡れ性及び接着性を確保することができる。
半導体裏面用フィルム２において、熱伝導性フィラーの平均粒径は、前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムの厚みに対して、３０％以下の値であり、好ましくは１０〜３０％の値であり、より好ましくは１５〜２５％の値である。また、熱伝導性フィラーの最大粒径は、前記半導体裏面用フィルムの厚みに対して、８０％以下の値であり、好ましくは４０〜８０％の値であり、より好ましくは５０〜７０％の値である。熱伝導性フィラーの粒径を上記範囲に設定することにより、熱伝導性フィラーによる熱伝導性を最大限に高めつつ熱伝導性フィラー形状が当該半導体裏面用フィルムの表面形状に及ぼす影響を最小限に抑えることができる。さらに、上述のような粒径の熱伝導性フィラーの採用により、熱伝導性フィラーの含有量を５０体積％以上という高い値に設定することができる。当該フィルムの厚み対して、前記平均粒径及び最大粒径をそれぞれ３０％を超える値及び８０％を超える値とした場合は、当該フィルム表面の凹凸が大きくなりすぎてレーザーマーキング性が低下すると共に、当該半導体裏面用フィルムの半導体ウエハ等への接着性が低下してしまう。
前記熱伝導性フィラーの平均粒径は、半導体裏面用フィルムの厚みに対して上述のような割合を有していれば特に限定されないが、具体的には半導体裏面用フィルムの厚みが１０μｍである場合、０．０５〜３μｍであることが好ましく、０．１〜２μｍであることがより好ましい。また、前記熱伝導性フィラーの最大粒径についても、半導体裏面用フィルムの厚みに対して上述のような割合の値を有していれば特に限定されないが、具体的には０．２〜８μｍであることが好ましく、０．５〜７μｍであることがより好ましい。前記平均粒径及び最大粒径が上記範囲の下限以上であると、半導体裏面用フィルム２の熱伝導性の過度な低下を抑制し、放熱性及び耐熱性の向上が図れる。その一方、平均粒径及び最大粒径が上記範囲の上限以下であると、レーザーマーキング性及び接着性の低下を抑制することができる。尚、平均粒径は、レーザー回折式の粒度分布計（ＨＯＲＩＢＡ製、装置名；ＬＡ−９１０）により求めた値である。
更に、前記熱伝導性フィラーとしては、平均粒径が相互に異なる２種類以上のフィラーを用いてもよい。熱伝導性フィラーの含有量、半導体裏面用フィルムの熱伝導性及び表面平坦性の調整容易性等を考慮すると、平均粒径が相互に異なる２種類のフィラーを用いることが好ましい。この場合も当該半導体裏面用フィルムの厚みに対する所定割合を満たしていれば特に限定されず、平均粒径としては、一方の熱伝導性フィラーＡが好ましくは０．０１〜０．５μｍ、より好ましくは０．０５〜０．５μｍであり、他方の熱伝導性フィラーＢが好ましくは０．５〜５μｍ、より好ましくは０．５〜３μｍとなる様に設定される。平均粒径が前記数値範囲内にあり、かつ、相互に相違する熱伝導性フィラーを用いることにより、半導体裏面用フィルム２中における熱伝導性フィラーの充填率を向上させることができる。これにより、半導体裏面用フィルム２に対し優れた放熱性を付与することが可能になる。また、平均粒径が相互に異なる２種類の熱伝導性フィラーを用いる場合、上記熱伝導性フィラーＢの配合割合は、上記熱伝導性フィラーＡ及び上記熱伝導性フィラーＢの合計量に対し、体積比で３０〜９０％の割合が好ましく、４０〜６０％の割合がより好ましい。
前記熱伝導性フィラーの粒子形状は特に限定されず、例えば、球状、楕円球体状、扁平形状、針状、繊維状、フレーク状、スパイク状、コイル状等が挙げられる。これらの形状のうち、球状はフィルム中における熱伝導性フィラーの分散性及び充填率の向上が図れる点で好ましい。尚、本発明においては、粒子形状が相互に異なる熱伝導性フィラー同士をフィルム中に含有させてもよい。
ここで、半導体裏面用フィルムは単層でもよく複数の層が積層された積層フィルムであってもよいが、半導体裏面用フィルムが積層フィルムである場合、熱伝導性フィラーの前記割合は、積層フィルム全体として上記範囲内であればよい。
半導体裏面用フィルム２の熱伝導率は、前述のように熱伝導性フィラーの充填により少なくとも１．５Ｗ／ｍＫであり、２Ｗ／ｍＫ以上であることが好ましく、４Ｗ／ｍＫ以上であることがより好ましく、５Ｗ／ｍＫ以上であることが特に好ましい。このような熱伝導率により、半導体素子から発生した熱をより効率的に外部に放散させることができる。
半導体裏面用フィルム２の熱硬化前の表面粗さ（Ｒａ）は、レーザーマーキング性及び半導体ウエハ等との接着性を維持することができる限り特に限定されず、３００ｎｍ以下であることが好ましく、２５０ｎｍ以下であることがより好ましく、２００ｎｍ以下であることがさらに好ましい。半導体裏面用フィルムの表面粗さ（Ｒａ）が３００ｎｍ以下であることにより、半導体裏面用フィルムの接着性及びレーザーマーキング性を良好なものとすることができる。
本実施の形態に係る半導体裏面用フィルム２は、前述の熱伝導性フィラーに加え樹脂を含んでいる。さらに半導体裏面用フィルム２は、前記樹脂としての熱硬化性樹脂と熱硬化促進触媒とを含有していることが好ましく、熱可塑性樹脂を含有していることがより好ましい。熱硬化性樹脂を含有させることで、半導体裏面用フィルムは接着剤層としての機能を有効に発揮させることができる。
前記熱可塑性樹脂としては、例えば、天然ゴム、ブチルゴム、イソプレンゴム、クロロプレンゴム、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−アクリル酸共重合体、エチレン−アクリル酸エステル共重合体、ポリブタジエン樹脂、ポリカーボネート樹脂、熱可塑性ポリイミド樹脂、６−ナイロンや６，６−ナイロン等のポリアミド樹脂、フェノキシ樹脂、アクリル樹脂、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）やＰＢＴ（ポリブチレンテレフタレート）等の飽和ポリエステル樹脂、ポリアミドイミド樹脂、又はフッ素樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂は単独で又は２種以上を併用して用いることができる。これらの熱可塑性樹脂のうち、イオン性不純物が少なく耐熱性が高く、半導体素子の信頼性を確保できるアクリル樹脂が特に好ましい。
前記アクリル樹脂としては、特に限定されるものではなく、炭素数３０以下（好ましくは炭素数４〜１８、更に好ましくは炭素数６〜１０、特に好ましくは炭素数８又は９）の直鎖若しくは分岐のアルキル基を有するアクリル酸又はメタクリル酸のエステルの１種又は２種以上を成分とする重合体等が挙げられる。すなわち、本発明では、アクリル樹脂とは、メタクリル樹脂も含む広義の意味である。前記アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ｎ−ブチル基、ｔ−ブチル基、イソブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、へキシル基、ヘプチル基、２−エチルヘキシル基、オクチル基、イソオクチル基、ノニル基、イソノニル基、デシル基、イソデシル基、ウンデシル基、ドデシル基（ラウリル基）、トリデシル基、テトラデシル基、ステアリル基、オクタデシル基等が挙げられる。
また、前記アクリル樹脂を形成するための他のモノマー（アルキル基の炭素数が３０以下のアクリル酸又はメタクリル酸のアルキルエステル以外のモノマー）としては、特に限定されるものではなく、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、カルボキシエチルアクリレート、カルボキシペンチルアクリレート、イタコン酸、マレイン酸、フマル酸若しくはクロトン酸等の様なカルボキシル基含有モノマー、無水マレイン酸若しくは無水イタコン酸等の様な酸無水物モノマー、（メタ）アクリル酸２−ヒドロキシエチル、（メタ）アクリル酸２−ヒドロキシプロピル、（メタ）アクリル酸４−ヒドロキシブチル、（メタ）アクリル酸６−ヒドロキシヘキシル、（メタ）アクリル酸８−ヒドロキシオクチル、（メタ）アクリル酸１０−ヒドロキシデシル、（メタ）アクリル酸１２−ヒドロキシラウリル若しくは（４−ヒドロキシメチルシクロヘキシル）−メチルアクリレート等の様なヒドロキシル基含有モノマー、スチレンスルホン酸、アリルスルホン酸、２−（メタ）アクリルアミド−２−メチルプロパンスルホン酸、（メタ）アクリルアミドプロパンスルホン酸、スルホプロピル（メタ）アクリレート若しくは（メタ）アクリロイルオキシナフタレンスルホン酸等の様なスルホン酸基含有モノマー、又は２−ヒドロキシエチルアクリロイルホスフェート等の様な燐酸基含有モノマーなどが挙げられる。尚、（メタ）アクリル酸とはアクリル酸及び／又はメタクリル酸をいい、本発明の（メタ）とは全て同様の意味である。
また、前記熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂の他、アミノ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、シリコーン樹脂、熱硬化性ポリイミド樹脂等が挙げられる。熱硬化性樹脂は、単独で又は２種以上併用して用いることができる。熱硬化性樹脂としては、特に、半導体素子を腐食させるイオン性不純物等含有が少ないエポキシ樹脂が好適である。また、エポキシ樹脂の硬化剤としてはフェノール樹脂を好適に用いることができる。
エポキシ樹脂としては、特に限定は無く、例えば、ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂、ビスフェノールＦ型エポキシ樹脂、ビスフェノールＳ型エポキシ樹脂、臭素化ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールＡ型エポキシ樹脂、ビスフェノールＡＦ型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、フルオンレン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂、トリスヒドロキシフェニルメタン型エポキシ樹脂、テトラフェニロールエタン型エポキシ樹脂等の二官能エポキシ樹脂や多官能エポキシ樹脂、又はヒダントイン型エポキシ樹脂、トリスグリシジルイソシアヌレート型エポキシ樹脂若しくはグリシジルアミン型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂を用いることができる。
エポキシ樹脂としては、前記例示のうちノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、トリスヒドロキシフェニルメタン型エポキシ樹脂、テトラフェニロールエタン型エポキシ樹脂が特に好ましい。これらのエポキシ樹脂は、硬化剤としてのフェノール樹脂との反応性に富み、耐熱性等に優れるからである。
更に、前記フェノール樹脂は、前記エポキシ樹脂の硬化剤として作用するものであり、例えば、フェノールノボラック樹脂、フェノールアラルキル樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ｔｅｒｔ−ブチルフェノールノボラック樹脂、ノニルフェノールノボラック樹脂等のノボラック型フェノール樹脂、レゾール型フェノール樹脂、ポリパラオキシスチレン等のポリオキシスチレン等が挙げられる。フェノール樹脂は単独で又は２種以上を併用して用いることができる。これらのフェノール樹脂のうちフェノールノボラック樹脂、フェノールアラルキル樹脂が特に好ましい。半導体装置の接続信頼性を向上させることができるからである。
エポキシ樹脂とフェノール樹脂の配合割合は、例えば、前記エポキシ樹脂成分中のエポキシ基１当量当たりフェノール樹脂中の水酸基が０．５当量〜２．０当量になるように配合することが好適である。より好適なのは、０．８当量〜１．２当量である。即ち、両者の配合割合が前記範囲を外れると、十分な硬化反応が進まず、エポキシ樹脂硬化物の特性が劣化し易くなるからである。
前記熱硬化性樹脂の含有量としては、半導体裏面用フィルムにおける全樹脂成分に対して４０重量％以上９０重量％以下であることが好ましく、５０重量％以上９０重量％以下であることがより好ましく、６０重量％以上９０重量％以下であることがさらに好ましい。前記含有量を、４０重量％以上にすることにより、熱硬化収縮量を２体積％以上とし易くすることができる。また、フリップチップ実装においては、半導体パッケージ全体を封止するモールド樹脂は使用されず、アンダーフィルと呼ばれる封止樹脂で、被着体と半導体素子の間のバンプ接続部分のみを封止するのが一般的である。上記含有量を採用することにより、この封止樹脂を熱硬化させる際に、半導体裏面用フィルムを十分に熱硬化させることができ、半導体素子の裏面に確実に接着固定させて、剥離のないフリップチップ型の半導体装置の製造が可能になる。一方、前記含有量を９０重量％以下にすることにより、フィルムに可とう性を付与することができる。
前記熱硬化促進触媒としては、特に制限されず、公知の熱硬化促進触媒の中から適宜選択して用いることができる。熱硬化促進触媒は単独で又は２種以上を組み合わせて用いることができる。熱硬化促進触媒としては、例えば、アミン系硬化促進剤、リン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、ホウ素系硬化促進剤、リン−ホウ素系硬化促進剤などを用いることができる。
前記半導体裏面用フィルムとしては、エポキシ樹脂及びフェノール樹脂を含む樹脂組成物や、エポキシ樹脂、フェノール樹脂及びアクリル樹脂を含む樹脂組成物により形成されていることが好適である。これらの樹脂は、イオン性不純物が少なく耐熱性が高いので、半導体素子の信頼性を確保できる。
半導体裏面用フィルム２は、半導体ウエハの裏面（回路非形成面）に対して接着性（密着性）を有していることが重要である。半導体裏面用フィルム２は、例えば、熱硬化性樹脂としてのエポキシ樹脂を含む樹脂組成物により形成することができる。半導体裏面用フィルム２を予めある程度架橋させておく為、作製に際し、重合体の分子鎖末端の官能基等と反応する多官能性化合物を架橋剤として添加させておくことが好ましい。これにより、高温下での接着特性を向上させ、耐熱性の改善を図ることができる。
半導体裏面用フィルムの半導体ウエハに対する接着力（２３℃、剥離角度１８０度、剥離速度３００ｍｍ／分）は、０．５Ｎ／２０ｍｍ〜１５Ｎ／２０ｍｍの範囲が好ましく、０．７Ｎ／２０ｍｍ〜１０Ｎ／２０ｍｍの範囲がより好ましい。０．５Ｎ／２０ｍｍ以上にすることにより、優れた密着性で半導体ウエハや半導体素子に貼着されており、浮き等の発生を防止することができる。また、半導体ウエハのダイシングの際にチップ飛びが発生するのを防止することもできる。一方、１５Ｎ／２０ｍｍ以下にすることにより、ダイシングテープから容易に剥離することができる。
前記架橋剤としては、特に制限されず、公知の架橋剤を用いることができる。具体的には、例えば、イソシアネート系架橋剤、エポキシ系架橋剤、メラミン系架橋剤、過酸化物系架橋剤の他、尿素系架橋剤、金属アルコキシド系架橋剤、金属キレート系架橋剤、金属塩系架橋剤、カルボジイミド系架橋剤、オキサゾリン系架橋剤、アジリジン系架橋剤、アミン系架橋剤などが挙げられる。架橋剤としては、イソシアネート系架橋剤やエポキシ系架橋剤が好適である。また、前記架橋剤は単独で又は２種以上組み合わせて使用することができる。
前記イソシアネート系架橋剤としては、例えば、１，２−エチレンジイソシアネート、１，４−ブチレンジイソシアネート、１，６−ヘキサメチレンジイソシアネートなどの低級脂肪族ポリイソシアネート類；シクロペンチレンジイソシアネート、シクロへキシレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、水素添加トリレンジイソシアネ−ト、水素添加キシレンジイソシアネ−トなどの脂環族ポリイソシアネート類；２，４−トリレンジイソシアネート、２，６−トリレンジイソシアネート、４，４’−ジフェニルメタンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネートなどの芳香族ポリイソシアネート類などが挙げられ、その他、トリメチロールプロパン／トリレンジイソシアネート３量体付加物［日本ポリウレタン工業（株）製、商品名「コロネートＬ」］、トリメチロールプロパン／ヘキサメチレンジイソシアネート３量体付加物［日本ポリウレタン工業（株）製、商品名「コロネートＨＬ」］なども用いられる。また、前記エポキシ系架橋剤としては、例えば、Ｎ，Ｎ，Ｎ’，Ｎ’−テトラグリシジル−ｍ−キシレンジアミン、ジグリシジルアニリン、１，３−ビス（Ｎ，Ｎ−グリシジルアミノメチル）シクロヘキサン、１，６−ヘキサンジオールジグリシジルエーテル、ネオペンチルグリコールジグリシジルエーテル、エチレングリコールジグリシジルエーテル、プロピレングリコールジグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテル、ソルビトールポリグリシジルエーテル、グリセロールポリグリシジルエーテル、ペンタエリスリトールポリグリシジルエーテル、ポリグリセロールポリグリシジルエーテル、ソルビタンポリグリシジルエーテル、トリメチロールプロパンポリグリシジルエーテル、アジピン酸ジグリシジルエステル、ｏ−フタル酸ジグリシジルエステル、トリグリシジル−トリス（２−ヒドロキシエチル）イソシアヌレート、レゾルシンジグリシジルエーテル、ビスフェノール−Ｓ−ジグリシジルエーテルの他、分子内にエポキシ基を２つ以上有するエポキシ系樹脂などが挙げられる。
なお、架橋剤の使用量は、特に制限されず、架橋させる程度に応じて適宜選択することができる。具体的には、架橋剤の使用量としては、例えば、ポリマー成分（特に、分子鎖末端の官能基を有する重合体）１００重量部に対し、通常７重量部以下（例えば、０．０５重量部〜７重量部）とするのが好ましい。架橋剤の使用量がポリマー成分１００重量部に対して７重量部より多いと、接着力が低下するので好ましくない。なお、凝集力向上の観点からは、架橋剤の使用量はポリマー成分１００重量部に対して０．０５重量部以上であることが好ましい。
なお、本発明では、架橋剤を用いる代わりに、あるいは、架橋剤を用いるとともに、電子線や紫外線などの照射により架橋処理を施すことも可能である。
前記半導体裏面用フィルムは着色されていることが好ましい。これにより、優れたマーキング性及び外観性を発揮させることができ、付加価値のある外観の半導体装置とすることが可能になる。このように、着色された半導体裏面用フィルムは、優れたマーキング性を有しているので、半導体素子又は該半導体素子が用いられた半導体装置の非回路面側の面に、半導体裏面用フィルムを介して、印刷方法やレーザーマーキング方法などの各種マーキング方法を利用することにより、マーキングを施し、文字情報や図形情報などの各種情報を付与させることができる。特に、着色の色をコントロールすることにより、マーキングにより付与された情報（文字情報、図形情報など）を、優れた視認性で視認することが可能になる。また、半導体裏面用フィルムは着色されているので、ダイシングテープと、半導体裏面用フィルムとを、容易に区別することができ、作業性等を向上させることができる。更に、例えば半導体装置として、製品別に色分けすることも可能である。半導体裏面用フィルムを有色にする場合（無色・透明ではない場合）、着色により呈している色としては特に制限されないが、例えば、黒色、青色、赤色などの濃色であることが好ましく、特に黒色であることが好適である。
本実施の形態において、濃色とは、基本的には、Ｌ＊ａ＊ｂ＊表色系で規定されるＬ＊が、６０以下（０〜６０）［好ましくは５０以下（０〜５０）、さらに好ましくは４０以下（０〜４０）］となる濃い色のことを意味している。
また、黒色とは、基本的には、Ｌ＊ａ＊ｂ＊表色系で規定されるＬ＊が、３５以下（０〜３５）［好ましくは３０以下（０〜３０）、さらに好ましくは２５以下（０〜２５）］となる黒色系色のことを意味している。なお、黒色において、Ｌ＊ａ＊ｂ＊表色系で規定されるａ＊やｂ＊は、それぞれ、Ｌ＊の値に応じて適宜選択することができる。ａ＊やｂ＊としては、例えば、両方とも、−１０〜１０であることが好ましく、より好ましくは−５〜５であり、特に−３〜３の範囲（中でも０又はほぼ０）であることが好適である。
なお、本実施の形態において、Ｌ＊ａ＊ｂ＊表色系で規定されるＬ＊、ａ＊、ｂ＊は、色彩色差計（商品名「ＣＲ−２００」ミノルタ社製；色彩色差計）を用いて測定することにより求められる。なお、Ｌ＊ａ＊ｂ＊表色系は、国際照明委員会（ＣＩＥ）が１９７６年に推奨した色空間であり、ＣＩＥ１９７６（Ｌ＊ａ＊ｂ＊）表色系と称される色空間のことを意味している。また、Ｌ＊ａ＊ｂ＊表色系は、日本工業規格では、ＪＩＳ Ｚ ８７２９に規定されている。
半導体裏面用フィルムを着色する際には、目的とする色に応じて、色材（着色剤）を用いることができる。このような色材としては、黒系色材、青系色材、赤系色材などの各種濃色系色材を好適に用いることができ、特に黒系色材が好適である。色材としては、顔料、染料などいずれであってもよい。色材は単独で又は２種以上を組み合わせて用いることができる。なお、染料としては、酸性染料、反応染料、直接染料、分散染料、カチオン染料等のいずれの形態の染料であっても用いることが可能である。また、顔料も、その形態は特に制限されず、公知の顔料から適宜選択して用いることができる。
特に、色材として染料を用いると、半導体裏面用フィルム中には、染料が溶解により均一又はほぼ均一に分散した状態となるため、着色濃度が均一又はほぼ均一な半導体裏面用フィルム（ひいてはダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム）を容易に製造することができる。そのため、色材として染料を用いると、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおける半導体裏面用フィルムは、着色濃度を均一又はほぼ均一とすることができ、マーキング性や外観性を向上させることができる。
黒系色材としては、特に制限されないが、例えば、無機の黒系顔料、黒系染料から適宜選択することができる。また、黒系色材としては、シアン系色材（青緑系色材）、マゼンダ系色材（赤紫系色材）およびイエロー系色材（黄系色材）が混合された色材混合物であってもよい。黒系色材は単独で又は２種以上を組み合わせて用いることができる。もちろん、黒系色材は、黒以外の色の色材と併用することもできる。
具体的には、黒系色材としては、例えば、カーボンブラック（ファーネスブラック、チャンネルブラック、アセチレンブラック、サーマルブラック、ランプブラックなど）、グラファイト（黒鉛）、酸化銅、二酸化マンガン、アゾ系顔料（アゾメチンアゾブラックなど）、アニリンブラック、ペリレンブラック、チタンブラック、シアニンブラック、活性炭、フェライト（非磁性フェライト、磁性フェライトなど）、マグネタイト、酸化クロム、酸化鉄、二硫化モリブデン、クロム錯体、複合酸化物系黒色色素、アントラキノン系有機黒色色素などが挙げられる。
本発明では、黒系色材としては、Ｃ．Ｉ．ソルベントブラック３、同７、同２２、同２７、同２９、同３４、同４３、同７０、Ｃ．Ｉ．ダイレクトブラック１７、同１９、同２２、同３２、同３８、同５１、同７１、Ｃ．Ｉ．アシッドブラック１、同２、同２４、同２６、同３１、同４８、同５２、同１０７、同１０９、同１１０、同１１９、同１５４Ｃ．Ｉ．ディスパーズブラック１、同３、同１０、同２４等のブラック系染料；Ｃ．Ｉ．ピグメントブラック１、同７等のブラック系顔料なども利用することができる。
このような黒系色材としては、例えば、商品名「Ｏｉｌ Ｂｌａｃｋ ＢＹ」、商品名「ＯｉｌＢｌａｃｋ ＢＳ」、商品名「ＯｉｌＢｌａｃｋ ＨＢＢ」、商品名「Ｏｉｌ Ｂｌａｃｋ ８０３」、商品名「Ｏｉｌ Ｂｌａｃｋ ８６０」、商品名「Ｏｉｌ Ｂｌａｃｋ ５９７０」、商品名「Ｏｉｌ Ｂｌａｃｋ ５９０６」、商品名「Ｏｉｌ Ｂｌａｃｋ ５９０５」（オリエント化学工業株式会社製）などが市販されている。
黒系色材以外の色材としては、例えば、シアン系色材、マゼンダ系色材、イエロー系色材などが挙げられる。シアン系色材としては、例えば、Ｃ．Ｉ．ソルベントブルー２５、同３６、同６０、同７０、同９３、同９５；Ｃ．Ｉ．アシッドブルー６、同４５等のシアン系染料；Ｃ．Ｉ．ピグメントブルー１、同２、同３、同１５、同１５：１、同１５：２、同１５：３、同１５：４、同１５：５、同１５：６、同１６、同１７、同１７：１、同１８、同２２、同２５、同５６、同６０、同６３、同６５、同６６；Ｃ．Ｉ．バットブルー４；同６０、Ｃ．Ｉ．ピグメントグリーン７等のシアン系顔料などが挙げられる。
また、マゼンダ系色材において、マゼンダ系染料としては、例えば、Ｃ．Ｉ．ソルベントレッド１、同３、同８、同２３、同２４、同２５、同２７、同３０、同４９、同５２、同５８、同６３、同８１、同８２、同８３、同８４、同１００、同１０９、同１１１、同１２１、同１２２；Ｃ．Ｉ．ディスパースレッド９；Ｃ．Ｉ．ソルベントバイオレット８、同１３、同１４、同２１、同２７；Ｃ．Ｉ．ディスパースバイオレット１；Ｃ．Ｉ．ベーシックレッド１、同２、同９、同１２、同１３、同１４、同１５、同１７、同１８、同２２、同２３、同２４、同２７、同２９、同３２、同３４、同３５、同３６、同３７、同３８、同３９、同４０；Ｃ．Ｉ．ベーシックバイオレット１、同３、同７、同１０、同１４、同１５、同２１、同２５、同２６、同２７、２８などが挙げられる。
マゼンダ系色材において、マゼンダ系顔料としては、例えば、Ｃ．Ｉ．ピグメントレッド１、同２、同３、同４、同５、同６、同７、同８、同９、同１０、同１１、同１２、同１３、同１４、同１５、同１６、同１７、同１８、同１９、同２１、同２２、同２３、同３０、同３１、同３２、同３７、同３８、同３９、同４０、同４１、同４２、同４８：１、同４８：２、同４８：３、同４８：４、同４９、同４９：１、同５０、同５１、同５２、同５２：２、同５３：１、同５４、同５５、同５６、同５７：１、同５８、同６０、同６０：１、同６３、同６３：１、同６３：２、同６４、同６４：１、同６７、同６８、同８１、同８３、同８７、同８８、同８９、同９０、同９２、同１０１、同１０４、同１０５、同１０６、同１０８、同１１２、同１１４、同１２２、同１２３、同１３９、同１４４、同１４６、同１４７、同１４９、同１５０、同１５１、同１６３、同１６６、同１６８、同１７０、同１７１、同１７２、同１７５、同１７６、同１７７、同１７８、同１７９、同１８４、同１８５、同１８７、同１９０、同１９３、同２０２、同２０６、同２０７、同２０９、同２１９、同２２２、同２２４、同２３８、同２４５；Ｃ．Ｉ．ピグメントバイオレット３、同９、同１９、同２３、同３１、同３２、同３３、同３６、同３８、同４３、同５０；Ｃ．Ｉ．バットレッド１、同２、同１０、同１３、同１５、同２３、同２９、同３５などが挙げられる。
また、イエロー系色材としては、例えば、Ｃ．Ｉ．ソルベントイエロー１９、同４４、同７７、同７９、同８１、同８２、同９３、同９８、同１０３、同１０４、同１１２、同１６２等のイエロー系染料；Ｃ．Ｉ．ピグメントオレンジ３１、同４３；Ｃ．Ｉ．ピグメントイエロー１、同２、同３、同４、同５、同６、同７、同１０、同１１、同１２、同１３、同１４、同１５、同１６、同１７、同２３、同２４、同３４、同３５、同３７、同４２、同５３、同５５、同６５、同７３、同７４、同７５、同８１、同８３、同９３、同９４、同９５、同９７、同９８、同１００、同１０１、同１０４、同１０８、同１０９、同１１０、同１１３、同１１４、同１１６、同１１７、同１２０、同１２８、同１２９、同１３３、同１３８、同１３９、同１４７、同１５０、同１５１、同１５３、同１５４、同１５５、同１５６、同１６７、同１７２、同１７３、同１８０、同１８５、同１９５；Ｃ．Ｉ．バットイエロー１、同３、同２０等のイエロー系顔料などが挙げられる。
シアン系色材、マゼンダ系色材、イエロー系色材などの各種色材は、それぞれ、単独で又は２種以上を組み合わせて用いることができる。なお、シアン系色材、マゼンダ系色材、イエロー系色材などの各種色材を２種以上用いる場合、これらの色材の混合割合（または配合割合）としては、特に制限されず、各色材の種類や目的とする色などに応じて適宜選択することができる。
半導体裏面用フィルム２を着色させる場合、その着色形態は特に制限されない。例えば、半導体裏面用フィルムは、着色剤が添加された単層のフィルム状物であってもよい。また、少なくとも熱硬化性樹脂により形成された樹脂層と、着色剤層とが少なくとも積層された積層フィルムであってもよい。なお、半導体裏面用フィルム２が樹脂層と着色剤層との積層フィルムである場合、積層形態の半導体裏面用フィルム２としては、樹脂層／着色剤層／樹脂層の積層形態を有していることが好ましい。この場合、着色剤層の両側の２つの樹脂層は、同一の組成の樹脂層であってもよく、異なる組成の樹脂層であってもよい。
半導体裏面用フィルム２には、必要に応じて他の添加剤を適宜に配合することができる。他の添加剤としては、例えば、他のフィラー（ただし、熱伝導性フィラーを除く）、難燃剤、シランカップリング剤、イオントラップ剤の他、増量剤、老化防止剤、酸化防止剤、界面活性剤などが挙げられる。
前記他のフィラーとしては、無機フィラー、有機フィラーのいずれであってもよいが、無機フィラーが好適である。無機フィラー等のフィラーの配合により、半導体裏面用フィルムに導電性の付与や熱伝導性の向上、弾性率の調節等を図ることができる。なお、半導体裏面用フィルム２としては導電性であっても、非導電性であってもよい。前記無機フィラーとしては、例えば、シリカ、クレー、石膏、炭酸カルシウム、硫酸バリウム、酸化ベリリウム等のセラミック類、アルミニウム、銅、銀、金、ニッケル、クロム、鉛、錫、亜鉛、パラジウム、半田などの金属、又は合金類、その他カーボンなどからなる種々の無機粉末などが挙げられる。フィラーは単独で又は２種以上を併用して用いることができる。フィラーとしては、なかでも、シリカ、特に溶融シリカが好適である。なお、無機フィラーの平均粒径は０．１μｍ〜８０μｍの範囲内であることが好ましい。無機フィラーの平均粒径は、レーザー回折型粒度分布測定装置によって測定して得た値をいう。
前記フィラー（特に無機フィラー）の配合量は、有機樹脂成分１００重量部に対して８０重量部以下（０重量部〜８０重量部）であることが好ましく、特に０重量部〜７０重量部であることが好適である。
また、前記難燃剤としては、例えば、三酸化アンチモン、五酸化アンチモン、臭素化エポキシ樹脂等が挙げられる。難燃剤は、単独で、又は２種以上を併用して用いることができる。前記シランカップリング剤としては、例えば、β−（３、４−エポキシシクロヘキシル）エチルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン等が挙げられる。シランカップリング剤は、単独で又は２種以上を併用して用いることができる。前記イオントラップ剤としては、例えばハイドロタルサイト類、水酸化ビスマス等が挙げられる。イオントラップ剤は、単独で又は２種以上を併用して用いることができる。
半導体裏面用フィルム２は、例えば、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂と、必要に応じてアクリル樹脂等の熱可塑性樹脂と、必要に応じて溶媒やその他の添加剤などとを混合して樹脂組成物を調製し、フィルム状の層に形成する慣用の方法を利用し形成することができる。具体的には、例えば、前記樹脂組成物を、ダイシングテープの粘着剤層３２上に塗布する方法、適当なセパレータ（剥離紙など）上に前記樹脂組成物を塗布して樹脂層（又は接着剤層）を形成し、これを粘着剤層３２上に転写（移着）する方法などにより、半導体裏面用フィルムとしてのフィルム状の層（接着剤層）を形成することができる。なお、前記樹脂組成物は、溶液であっても分散液であってもよい。
なお、半導体裏面用フィルム２が、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されている場合、半導体裏面用フィルムは、半導体ウエハに適用する前の段階では、熱硬化性樹脂が未硬化又は部分硬化の状態である。この場合、半導体ウエハに適用後に（具体的には、通常、フリップチップボンディング工程で封止材をキュアする際に）、半導体裏面用フィルム中の熱硬化性樹脂を完全に又はほぼ完全に硬化させる。
このように、半導体裏面用フィルムは、熱硬化性樹脂を含んでいても、該熱硬化性樹脂は未硬化又は部分硬化の状態であるため、半導体裏面用フィルムのゲル分率としては、特に制限されないが、例えば、５０重量％以下（０重量％〜５０重量％）の範囲より適宜選択することができ、好ましくは３０重量％以下（０重量％〜３０重量％）であり、特に１０重量％以下（０重量％〜１０重量％）であることが好適である。半導体裏面用フィルムのゲル分率の測定方法は、以下の測定方法により測定することができる。
＜ゲル分率の測定方法＞
半導体裏面用フィルムから約０．１ｇをサンプリングして精秤し（試料の重量）、該サンプルをメッシュ状シートで包んだ後、約５０ｍｌのトルエン中に室温で１週間浸漬させる。その後、溶剤不溶分（メッシュ状シートの内容物）をトルエンから取り出し、１３０℃で約２時間乾燥させ、乾燥後の溶剤不溶分を秤量し（浸漬・乾燥後の重量）、下記式（ａ）よりゲル分率（重量％）を算出する。
ゲル分率（重量％）＝［（浸漬・乾燥後の重量）／（試料の重量）］×１００ （ａ）
なお、半導体裏面用フィルムのゲル分率は、樹脂成分の種類やその含有量、架橋剤の種類やその含有量の他、加熱温度や加熱時間などによりコントロールすることができる。
本発明において、半導体裏面用フィルムは、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されたフィルム状物である場合、半導体ウエハに対する密着性を有効に発揮することができる。
尚、半導体ウエハのダイシング工程では切削水を使用することから、半導体裏面用フィルムが吸湿して、常態以上の含水率になる場合がある。この様な高含水率のまま、フリップチップボンディングを行うと、半導体裏面用フィルム２と半導体ウエハ又はその加工体（半導体）との接着界面に水蒸気が溜まり、浮きが発生する場合がある。従って、半導体裏面用フィルムとしては、透湿性の高いコア材料を両面に設けた構成とすることにより、水蒸気が拡散して、かかる問題を回避することが可能となる。かかる観点から、コア材料の片面又は両面に半導体裏面用フィルムを形成した多層構造を半導体裏面用フィルムとして用いてもよい。前記コア材料としては、フィルム（例えばポリイミドフィルム、ポリエステルフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリカーボネートフィルム等）、ガラス繊維やプラスチック製不織繊維で強化された樹脂基板、シリコン基板又はガラス基板等が挙げられる。
半導体裏面用フィルム２の厚さ（積層フィルムの場合は総厚）は特に限定されないが、例えば、２μｍ〜２００μｍ程度の範囲から適宜選択することができる。更に、前記厚さは３μｍ〜１６０μｍ程度が好ましく、４μｍ〜１００μｍ程度がより好ましく、５μｍ〜８０μｍ程度が特に好ましい。
前記半導体裏面用フィルム２の未硬化状態における２３℃での引張貯蔵弾性率は１ＧＰａ以上（例えば、１ＧＰａ〜５０ＧＰａ）であることが好ましく、より好ましくは２ＧＰａ以上であり、特に３ＧＰａ以上であることが好適である。前記引張貯蔵弾性率が１ＧＰａ以上であると、半導体チップを半導体裏面用フィルム２と共に、ダイシングテープの粘着剤層３２から剥離させた後、半導体裏面用フィルム２を支持体上に載置して、輸送等を行った際に、半導体裏面用フィルムが支持体に貼着するのを有効に抑制又は防止することができる。尚、前記支持体は、例えば、キャリアテープにおけるトップテープやボトムテープなどをいう。なお、半導体裏面用フィルム２が熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されている場合、前述のように、熱硬化性樹脂は、通常、未硬化又は部分硬化の状態であるので、半導体裏面用フィルムの２３℃における弾性率は、通常、熱硬化性樹脂が未硬化状態又は部分硬化状態での２３℃における弾性率となる。
ここで、半導体裏面用フィルム２は単層でもよく複数の層が積層された積層フィルムであってもよいが、積層フィルムの場合、前記未硬化状態における２３℃での引張貯蔵弾性率は積層フィルム全体として１ＧＰａ以上（例えば、１ＧＰａ〜５０ＧＰａ）の範囲であればよい。また、半導体裏面用フィルムの未硬化状態における前記引張貯蔵弾性率（２３℃）は、樹脂成分（熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂）の種類やその含有量、シリカフィラー等の充填材の種類やその含有量などによりコントロールすることができる。なお、半導体裏面用フィルム２が複数の層が積層された積層フィルムである場合（半導体裏面用フィルムが積層の形態を有している場合）、その積層形態としては、例えば、ウエハ接着層とレーザーマーク層とからなる積層形態などを例示することができる。また、このようなウエハ接着層とレーザーマーク層との間には、他の層（中間層、光線遮断層、補強層、着色層、基材層、電磁波遮断層、熱伝導層、粘着層など）が設けられていてもよい。なお、ウエハ接着層はウエハに対して優れた密着性（接着性）を発揮する層であり、ウエハの裏面と接触する層である。一方、レーザーマーク層は優れたレーザーマーキング性を発揮する層であり、半導体チップの裏面にレーザーマーキングを行う際に利用される層である。
尚、前記引張貯蔵弾性率は、ダイシングテープ３に積層させずに、未硬化状態の半導体裏面用フィルム２を作製し、レオメトリック社製の動的粘弾性測定装置「Ｓｏｌｉｄ Ａｎａｌｙｚｅｒ ＲＳ Ａ２」を用いて、引張モードにて、サンプル幅：１０ｍｍ、サンプル長さ：２２．５ｍｍ、サンプル厚さ：０．２ｍｍで、周波数：１Ｈｚ、昇温速度：１０℃／分、窒素雰囲気下、所定の温度（２３℃）にて測定して、得られた引張貯蔵弾性率の値とした。
前記半導体裏面用フィルム２は、少なくとも一方の面がセパレータ（剥離ライナー）により保護されていることが好ましい（図示せず）。例えば、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１の場合、半導体裏面用フィルムの一方の面のみにセパレータが設けられていてもよく、一方、ダイシングテープと一体化されていない半導体裏面用フィルムの場合、半導体裏面用フィルムの片面又は両面にセパレータが設けられていてもよい。セパレータは、実用に供するまで半導体裏面用フィルムを保護する保護材としての機能を有している。また、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１の場合、セパレータは、更に、ダイシングテープの基材上の粘着剤層３２に半導体裏面用フィルム２を転写する際の支持基材として用いることができる。セパレータは、半導体裏面用フィルム上に半導体ウエハを貼着する際に剥がされる。セパレータとしては、ポリエチレン、ポリプロピレンや、フッ素系剥離剤、長鎖アルキルアクリレート系剥離剤等の剥離剤により表面コートされたプラスチックフィルム（ポリエチレンテレフタレートなど）や紙等も使用可能である。なお、セパレータは従来公知の方法により形成することができる。また、セパレータの厚さ等も特に制限されない。
半導体裏面用フィルム２がダイシングテープ３に積層されていない場合、半導体裏面用フィルム２は、両面に剥離層を有するセパレータを１枚用いてロール状に巻回された形態で、両面に剥離層を有するセパレータにより保護されていてもよく、少なくとも一方の面に剥離層を有するセパレータにより保護されていてもよい。
また、半導体裏面用フィルム２における可視光（波長：４００ｎｍ〜８００ｎｍ）の光線透過率（可視光透過率）は、特に制限されないが、例えば、２０％以下（０％〜２０％）の範囲であることが好ましく、より好ましくは１０％以下（０％〜１０％）、特に好ましくは５％以下（０％〜５％）である。半導体裏面用フィルム２は、可視光透過率が２０％より大きいと、光線通過により、半導体素子に悪影響を及ぼす恐れがある。また、前記可視光透過率（％）は、半導体裏面用フィルム２の樹脂成分の種類やその含有量、着色剤（顔料や染料など）の種類やその含有量、無機充填材の含有量などによりコントロールすることができる。
半導体裏面用フィルム２の可視光透過率（％）は、次の通りにして測定することができる。即ち、厚さ（平均厚さ）２０μｍの半導体裏面用フィルム２単体を作製する。次に、半導体裏面用フィルム２に対し、波長：４００ｎｍ〜８００ｎｍの可視光線［装置：島津製作所製の可視光発生装置（商品名「ＡＢＳＯＲＰＴＩＯＮ ＳＰＥＣＴＲＯ ＰＨＯＴＯＭＥＴＥＲ」）］を所定の強度で照射し、透過した可視光線の強度を測定する。更に、可視光線が半導体裏面用フィルム２を透過する前後の強度変化より、可視光透過率の値を求めることができる。尚、２０μｍの厚さでない半導体裏面用フィルム２の可視光透過率（％；波長：４００ｎｍ〜８００ｎｍ）の値により、厚さ：２０μｍの半導体裏面用フィルム２の可視光透過率（％；波長：４００ｎｍ〜８００ｎｍ）を導き出すことも可能である。また、本発明では、厚さ２０μｍの半導体裏面用フィルム２の場合における可視光透過率（％）を求めているが、本発明に係る半導体裏面用フィルムは厚さ２０μｍのものに限定される趣旨ではない。
また、半導体裏面用フィルム２としては、その吸湿率が低い方が好ましい。具体的には、前記吸湿率は１重量％以下が好ましく、より好ましくは０．８重量％以下である。前記吸湿率を１重量％以下にすることにより、レーザーマーキング性を向上させることができる。また、例えば、リフロー工程に於いて、半導体裏面用フィルム２と半導体素子との間でボイドの発生などを抑制又は防止することもできる。尚、前記吸湿率は、半導体裏面用フィルム２を、温度８５℃、相対湿度８５％ＲＨの雰囲気下で１６８時間放置する前後の重量変化により算出した値である。半導体裏面用フィルム２が熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されている場合、前記吸湿率は、熱硬化後の半導体裏面用フィルムに対し、温度８５℃、相対湿度８５％ＲＨの雰囲気下で１６８時間放置したときの値を意味する。また、前記吸湿率は、例えば、無機フィラーの添加量を変化させることにより調整することができる。
また、半導体裏面用フィルム２としては、揮発分の割合が少ない方が好ましい。具体的には、加熱処理後の半導体裏面用フィルム２の重量減少率（重量減少量の割合）が１重量％以下が好ましく、０．８重量％以下がより好ましい。加熱処理の条件は、例えば、加熱温度２５０℃、加熱時間１時間である。前記重量減少率を１重量％以下にすることにより、レーザーマーキング性を向上させることができる。また、例えば、リフロー工程に於いて、フリップチップ型の半導体装置にクラックが発生するのを抑制又は防止することができる。前記重量減少率は、例えば、鉛フリーハンダリフロー時のクラック発生を減少させ得る無機物を添加することにより、調整することができる。なお、半導体裏面用フィルム２が熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されている場合、前記重量減少率は、熱硬化後の半導体裏面用フィルムに対し、加熱温度２５０℃、加熱時間１時間の条件下で加熱したときの値を意味する。
（ダイシングテープ）
前記ダイシングテープ３は、基材３１上に粘着剤層３２が形成されて構成されている。このように、ダイシングテープ３は、基材３１と、粘着剤層３２とが積層された構成を有していればよい。基材（支持基材）は粘着剤層等の支持母体として用いることができる。前記基材３１は放射線透過性を有していることが好ましい。前記基材３１としては、例えば、紙などの紙系基材；布、不織布、フェルト、ネットなどの繊維系基材；金属箔、金属板などの金属系基材；プラスチックのフィルムやシートなどのプラスチック系基材；ゴムシートなどのゴム系基材；発泡シートなどの発泡体や、これらの積層体［特に、プラスチック系基材と他の基材との積層体や、プラスチックフィルム（又はシート）同士の積層体など］等の適宜な薄葉体を用いることができる。本発明では、基材としては、プラスチックのフィルムやシートなどのプラスチック系基材を好適に用いることができる。このようなプラスチック材における素材としては、例えば、ポリエチレン（ＰＥ）、ポリプロピレン（ＰＰ）、エチレン−プロピレン共重合体等のオレフィン系樹脂；エチレン−酢酸ビニル共重合体（ＥＶＡ）、アイオノマー樹脂、エチレン−（メタ）アクリル酸共重合体、エチレン−（メタ）アクリル酸エステル（ランダム、交互）共重合体等のエチレンをモノマー成分とする共重合体；ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）等のポリエステル；アクリル系樹脂；ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）；ポリウレタン；ポリカーボネート；ポリフェニレンスルフィド（ＰＰＳ）；ポリアミド（ナイロン）、全芳香族ポリアミド（アラミド）等のアミド系樹脂；ポリエーテルエーテルケトン（ＰＥＥＫ）；ポリイミド；ポリエーテルイミド；ポリ塩化ビニリデン；ＡＢＳ（アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体）；セルロース系樹脂；シリコーン樹脂；フッ素樹脂などが挙げられる。
また基材３１の材料としては、前記樹脂の架橋体等のポリマーが挙げられる。前記プラスチックフィルムは、無延伸で用いてもよく、必要に応じて一軸又は二軸の延伸処理を施したものを用いてもよい。延伸処理等により熱収縮性を付与した樹脂シートによれば、ダイシング後にその基材３１を熱収縮させることにより粘着剤層３２と半導体裏面用フィルム２との接着面積を低下させて、半導体チップの回収の容易化を図ることができる。
基材３１の表面は、隣接する層との密着性、保持性等を高める為、慣用の表面処理、例えば、クロム酸処理、オゾン暴露、火炎暴露、高圧電撃暴露、イオン化放射線処理等の化学的又は物理的処理、下塗剤（例えば、後述する粘着物質）によるコーティング処理を施すことができる。
前記基材３１は、同種又は異種のものを適宜に選択して使用することができ、必要に応じて数種をブレンドしたものを用いることができる。また、基材３１には、帯電防止能を付与する為、前記の基材３１上に金属、合金、これらの酸化物等からなる厚さが３０〜５００Å程度の導電性物質の蒸着層を設けることができる。基材３１は単層あるいは２種以上の複層でもよい。
基材３１の厚さ（積層体の場合は総厚）は、特に制限されず強度や柔軟性、使用目的などに応じて適宜に選択でき、例えば、一般的には１０００μｍ以下（例えば、１μｍ〜１０００μｍ）、好ましくは１０μｍ〜５００μｍ、さらに好ましくは２０μｍ〜３００μｍ、特に３０μｍ〜２００μｍ程度であるが、これらに限定されない。
なお、基材３１には、本発明の効果等を損なわない範囲で、各種添加剤（着色剤、充填剤、可塑剤、老化防止剤、酸化防止剤、界面活性剤、難燃剤など）が含まれていてもよい。
前記粘着剤層３２は粘着剤により形成されており、粘着性を有している。このような粘着剤としては、特に制限されず、公知の粘着剤の中から適宜選択することができる。具体的には、粘着剤としては、例えば、アクリル系粘着剤、ゴム系粘着剤、ビニルアルキルエーテル系粘着剤、シリコーン系粘着剤、ポリエステル系粘着剤、ポリアミド系粘着剤、ウレタン系粘着剤、フッ素系粘着剤、スチレン−ジエンブロック共重合体系粘着剤、これらの粘着剤に融点が約２００℃以下の熱溶融性樹脂を配合したクリ−プ特性改良型粘着剤などの公知の粘着剤（例えば、特開昭５６−６１４６８号公報、特開昭６１−１７４８５７号公報、特開昭６３−１７９８１号公報、特開昭５６−１３０４０号公報等参照）の中から、前記特性を有する粘着剤を適宜選択して用いることができる。また、粘着剤としては、放射線硬化型粘着剤（又はエネルギー線硬化型粘着剤）や、熱膨張性粘着剤を用いることもできる。粘着剤は単独で又は２種以上組み合わせて使用することができる。
前記粘着剤としては、アクリル系粘着剤、ゴム系粘着剤を好適に用いることができ、特にアクリル系粘着剤が好適である。アクリル系粘着剤としては、（メタ）アクリル酸アルキルエステルの１種又は２種以上を単量体成分として用いたアクリル系重合体（単独重合体又は共重合体）をベースポリマーとするアクリル系粘着剤が挙げられる。
前記アクリル系粘着剤における（メタ）アクリル酸アルキルエステルとしては、例えば、（メタ）アクリル酸メチル、（メタ）アクリル酸エチル、（メタ）アクリル酸プロピル、（メタ）アクリル酸イソプロピル、（メタ）アクリル酸ブチル、（メタ）アクリル酸イソブチル、（メタ）アクリル酸ｓ−ブチル、（メタ）アクリル酸ｔ−ブチル、（メタ）アクリル酸ペンチル、（メタ）アクリル酸ヘキシル、（メタ）アクリル酸ヘプチル、（メタ）アクリル酸オクチル、（メタ）アクリル酸２−エチルヘキシル、（メタ）アクリル酸イソオクチル、（メタ）アクリル酸ノニル、（メタ）アクリル酸イソノニル、（メタ）アクリル酸デシル、（メタ）アクリル酸イソデシル、（メタ）アクリル酸ウンデシル、（メタ）アクリル酸ドデシル、（メタ）アクリル酸トリデシル、（メタ）アクリル酸テトラデシル、（メタ）アクリル酸ペンタデシル、（メタ）アクリル酸ヘキサデシル、（メタ）アクリル酸ヘプタデシル、（メタ）アクリル酸オクタデシル、（メタ）アクリル酸ノナデシル、（メタ）アクリル酸エイコシルなどの（メタ）アクリル酸アルキルエステルなどが挙げられる。（メタ）アクリル酸アルキルエステルとしては、アルキル基の炭素数が４〜１８の（メタ）アクリル酸アルキルエステルが好適である。なお、（メタ）アクリル酸アルキルエステルのアルキル基は、直鎖状又は分岐鎖状の何れであっても良い。
なお、前記アクリル系重合体は、凝集力、耐熱性、架橋性などの改質を目的として、必要に応じて、前記（メタ）アクリル酸アルキルエステルと共重合可能な他の単量体成分（共重合性単量体成分）に対応する単位を含んでいてもよい。このような共重合性単量体成分としては、例えば、（メタ）アクリル酸（アクリル酸、メタクリル酸）、カルボキシエチルアクリレート、カルボキシペンチルアクリレート、イタコン酸、マレイン酸、フマル酸、クロトン酸などのカルボキシル基含有モノマー；無水マレイン酸、無水イタコン酸などの酸無水物基含有モノマー；（メタ）アクリル酸ヒドロキシエチル、（メタ）アクリル酸ヒドロキシプロピル、（メタ）アクリル酸ヒドロキシブチル、（メタ）アクリル酸ヒドロキシヘキシル、（メタ）アクリル酸ヒドロキシオクチル、（メタ）アクリル酸ヒドロキシデシル、（メタ）アクリル酸ヒドロキシラウリル、（４−ヒドロキシメチルシクロヘキシル）メチルメタクリレートなどのヒドロキシル基含有モノマー；スチレンスルホン酸、アリルスルホン酸、２−（メタ）アクリルアミド−２−メチルプロパンスルホン酸、（メタ）アクリルアミドプロパンスルホン酸、スルホプロピル（メタ）アクリレート、（メタ）アクリロイルオキシナフタレンスルホン酸などのスルホン酸基含有モノマー；２−ヒドロキシエチルアクリロイルホスフェートなどのリン酸基含有モノマー；（メタ）アクリルアミド、Ｎ，Ｎ−ジメチル（メタ）アクリルアミド、Ｎ−ブチル（メタ）アクリルアミド、Ｎ−メチロール（メタ）アクリルアミド、Ｎ−メチロールプロパン（メタ）アクリルアミドなどの（Ｎ−置換）アミド系モノマー；（メタ）アクリル酸アミノエチル、（メタ）アクリル酸Ｎ，Ｎ−ジメチルアミノエチル、（メタ）アクリル酸ｔ−ブチルアミノエチルなどの（メタ）アクリル酸アミノアルキル系モノマー；（メタ）アクリル酸メトキシエチル、（メタ）アクリル酸エトキシエチルなどの（メタ）アクリル酸アルコキシアルキル系モノマー；アクリロニトリル、メタクリロニトリルなどのシアノアクリレートモノマー；（メタ）アクリル酸グリシジルなどのエポキシ基含有アクリル系モノマー；スチレン、α−メチルスチレンなどのスチレン系モノマー；酢酸ビニル、プロピオン酸ビニルなどのビニルエステル系モノマー；イソプレン、ブタジエン、イソブチレンなどのオレフィン系モノマー；ビニルエーテルなどのビニルエーテル系モノマー；Ｎ−ビニルピロリドン、メチルビニルピロリドン、ビニルピリジン、ビニルピペリドン、ビニルピリミジン、ビニルピペラジン、ビニルピラジン、ビニルピロール、ビニルイミダゾール、ビニルオキサゾール、ビニルモルホリン、Ｎ−ビニルカルボン酸アミド類、Ｎ−ビニルカプロラクタムなどの窒素含有モノマー；Ｎ−シクロヘキシルマレイミド、Ｎ−イソプロピルマレイミド、Ｎ−ラウリルマレイミド、Ｎ−フェニルマレイミドなどのマレイミド系モノマー；Ｎ−メチルイタコンイミド、Ｎ−エチルイタコンイミド、Ｎ−ブチルイタコンイミド、Ｎ−オクチルイタコンイミド、Ｎ−２−エチルヘキシルイタコンイミド、Ｎ−シクロヘキシルイタコンイミド、Ｎ−ラウリルイタコンイミドなどのイタコンイミド系モノマー；Ｎ−（メタ）アクリロイルオキシメチレンスクシンイミド、Ｎ−（メタ）アクルロイル−６−オキシヘキサメチレンスクシンイミド、Ｎ−（メタ）アクリロイル−８−オキシオクタメチレンスクシンイミドなどのスクシンイミド系モノマー；（メタ）アクリル酸ポリエチレングリコール、（メタ）アクリル酸ポリプロピレングリコール、（メタ）アクリル酸メトキシエチレングリコール、（メタ）アクリル酸メトキシポリプロピレングリコールなどのグリコール系アクリルエステルモノマー；（メタ）アクリル酸テトラヒドロフルフリル、フッ素（メタ）アクリレート、シリコーン（メタ）アクリレートなどの複素環、ハロゲン原子、ケイ素原子などを有するアクリル酸エステル系モノマー；ヘキサンジオールジ（メタ）アクリレート、（ポリ）エチレングリコールジ（メタ）アクリレート、（ポリ）プロピレングリコールジ（メタ）アクリレート、ネオペンチルグリコールジ（メタ）アクリレート、ペンタエリスリトールジ（メタ）アクリレート、トリメチロールプロパントリ（メタ）アクリレート、ペンタエリスリトールトリ（メタ）アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ（メタ）アクリレート、エポキシアクリレート、ポリエステルアクリレート、ウレタンアクリレート、ジビニルベンゼン、ブチルジ（メタ）アクリレート、ヘキシルジ（メタ）アクリレートなどの多官能モノマー等が挙げられる。これらの共重合性単量体成分は１種又は２種以上使用できる。
粘着剤として放射線硬化型粘着剤（又はエネルギー線硬化型粘着剤）を用いる場合、放射線硬化型粘着剤（組成物）としては、例えば、ラジカル反応性炭素−炭素二重結合をポリマー側鎖又は主鎖中もしくは主鎖末端に有するポリマーをベースポリマーとして用いた内在型の放射線硬化型粘着剤や、粘着剤中に紫外線硬化性のモノマー成分やオリゴマー成分が配合された放射線硬化型粘着剤などが挙げられる。また、粘着剤として熱膨張性粘着剤を用いる場合、熱膨張性粘着剤としては、例えば、粘着剤と発泡剤（特に熱膨張性微小球）とを含む熱膨張性粘着剤などが挙げられる。
本発明では、粘着剤層３２には、本発明の効果を損なわない範囲で、各種添加剤（例えば、粘着付与樹脂、着色剤、増粘剤、増量剤、充填剤、可塑剤、老化防止剤、酸化防止剤、界面活性剤、架橋剤など）が含まれていても良い。
前記架橋剤としては、特に制限されず、公知の架橋剤を用いることができる。具体的には、架橋剤としては、イソシアネート系架橋剤、エポキシ系架橋剤、メラミン系架橋剤、過酸化物系架橋剤の他、尿素系架橋剤、金属アルコキシド系架橋剤、金属キレート系架橋剤、金属塩系架橋剤、カルボジイミド系架橋剤、オキサゾリン系架橋剤、アジリジン系架橋剤、アミン系架橋剤などが挙げられ、イソシアネート系架橋剤やエポキシ系架橋剤が好適である。架橋剤は単独で又は２種以上組み合わせて使用することができる。なお、架橋剤の使用量は、特に制限されない。
前記イソシアネート系架橋剤としては、例えば、１，２−エチレンジイソシアネート、１，４−ブチレンジイソシアネート、１，６−ヘキサメチレンジイソシアネートなどの低級脂肪族ポリイソシアネート類；シクロペンチレンジイソシアネート、シクロへキシレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、水素添加トリレンジイソシアネ−ト、水素添加キシレンジイソシアネ−トなどの脂環族ポリイソシアネート類；２，４−トリレンジイソシアネート、２，６−トリレンジイソシアネート、４，４’−ジフェニルメタンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネートなどの芳香族ポリイソシアネート類などが挙げられ、その他、トリメチロールプロパン／トリレンジイソシアネート３量体付加物［日本ポリウレタン工業（株）製、商品名「コロネートＬ」］、トリメチロールプロパン／ヘキサメチレンジイソシアネート３量体付加物［日本ポリウレタン工業（株）製、商品名「コロネートＨＬ」］なども用いられる。また、前記エポキシ系架橋剤としては、例えば、Ｎ，Ｎ，Ｎ’，Ｎ’−テトラグリシジル−ｍ−キシレンジアミン、ジグリシジルアニリン、１，３−ビス（Ｎ，Ｎ−グリシジルアミノメチル）シクロヘキサン、１，６−ヘキサンジオールジグリシジルエーテル、ネオペンチルグリコールジグリシジルエーテル、エチレングリコールジグリシジルエーテル、プロピレングリコールジグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテル、ソルビトールポリグリシジルエーテル、グリセロールポリグリシジルエーテル、ペンタエリスリトールポリグリシジルエーテル、ポリグリセロールポリグリシジルエーテル、ソルビタンポリグリシジルエーテル、トリメチロールプロパンポリグリシジルエーテル、アジピン酸ジグリシジルエステル、ｏ−フタル酸ジグリシジルエステル、トリグリシジル−トリス（２−ヒドロキシエチル）イソシアヌレート、レゾルシンジグリシジルエーテル、ビスフェノール−Ｓ−ジグリシジルエーテルの他、分子内にエポキシ基を２つ以上有するエポキシ系樹脂などが挙げられる。
なお、本発明では、架橋剤を用いる代わりに、あるいは、架橋剤を用いるとともに、電子線や紫外線などの照射により架橋処理を施すことも可能である。
粘着剤層３２は、例えば、粘着剤（感圧接着剤）と、必要に応じて溶媒やその他の添加剤などとを混合して、シート状の層に形成する慣用の方法を利用し形成することができる。具体的には、例えば、粘着剤および必要に応じて溶媒やその他の添加剤を含む混合物を、基材３１上に塗布する方法、適当なセパレータ（剥離紙など）上に前記混合物を塗布して粘着剤層３２を形成し、これを基材３１上に転写（移着）する方法などにより、粘着剤層３２を形成することができる。
粘着剤層３２の厚さは特に制限されず、例えば、５μｍ〜３００μｍ（好ましくは５μｍ〜２００μｍ、さらに好ましくは５μｍ〜１００μｍ、特に好ましくは７μｍ〜５０μｍ）程度である。粘着剤層３２の厚さが前記範囲内であると、適度な粘着力を発揮することができる。なお、粘着剤層３２は単層、複層の何れであってもよい。
前記ダイシングテープ３の粘着剤層３２のフリップチップ型半導体裏面用フィルム２に対する接着力（２３℃、剥離角度１８０度、剥離速度３００ｍｍ／分）は、０．０２Ｎ／２０ｍｍ〜１０Ｎ／２０ｍｍの範囲が好ましく、０．０５Ｎ／２０ｍｍ〜５Ｎ／２０ｍｍの範囲がより好ましい。前記接着力を０．０２Ｎ／２０ｍｍ以上にすることにより、半導体ウエハのダイシングの際に半導体素子がチップ飛びするのを防止することができる。その一方、前記接着力を１０Ｎ／２０ｍｍ以下にすることにより、半導体素子をピックアップする際に、当該半導体素子の剥離が困難になったり、糊残りが発生するのを防止することができる。
なお、本発明では、フリップチップ型半導体裏面用フィルム２や、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１には、帯電防止能を持たせることができる。これにより、その接着時及び剥離時等に於ける静電気の発生やそれによる半導体ウエハ等の帯電で回路が破壊されること等を防止することができる。帯電防止能の付与は、基材３１、粘着剤層３２乃至半導体裏面用フィルム２へ帯電防止剤や導電性物質を添加する方法、基材３１への電荷移動錯体や金属膜等からなる導電層を付設する方法等、適宜な方式で行うことができる。これらの方式としては、半導体ウエハを変質させるおそれのある不純物イオンが発生しにくい方式が好ましい。導電性の付与、熱伝導性の向上等を目的として配合される導電性物質（導電フィラー）としては、銀、アルミニウム、金、銅、ニッケル、導電性合金等の球状、針状、フレーク状の金属粉、アルミナ等の金属酸化物、アモルファスカーボンブラック、グラファイト等が挙げられる。ただし、前記半導体裏面用フィルム２は、非導電性であることが、電気的にリークしないようにできる点から好ましい。
また、フリップチップ型半導体裏面用フィルム２や、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１は、ロール状に巻回された形態で形成されていてもよく、シート（フィルム）が積層された形態で形成されていてもよい。例えば、ロール状に巻回された形態を有している場合、半導体裏面用フィルム２又は、半導体裏面用フィルム２とダイシングテープ３との積層体を、必要に応じてセパレータにより保護した状態でロール状に巻回して、ロール状に巻回された状態又は形態の半導体裏面用フィルム２やダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１として作製することができる。なお、ロール状に巻回された状態又は形態のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１としては、基材３１と、前記基材３１の一方の面に形成された粘着剤層３２と、前記粘着剤層３２上に形成された半導体裏面用フィルムと、前記基材３１の他方の面に形成された剥離処理層（背面処理層）とで構成されていてもよい。
なお、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１の厚さ（半導体裏面用フィルムの厚さと、基材３１及び粘着剤層３２からなるダイシングテープの厚さの総厚）としては、例えば、８μｍ〜１５００μｍの範囲から選択することができ、好ましくは２０μｍ〜８５０μｍ（さらに好ましくは３１μｍ〜５００μｍ、特に好ましくは４７μｍ〜３３０μｍ）である。
なお、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１において、半導体裏面用フィルム２の厚さと、ダイシングテープ３の粘着剤層３２の厚さとの比や、半導体裏面用フィルム２の厚さと、ダイシングテープ３の厚さ（基材３１及び粘着剤層３２の総厚）との比をコントロールすることにより、ダイシング工程時のダイシング性、ピックアップ工程時のピックアップ性などを向上させることができ、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１を半導体ウエハのダイシング工程〜半導体チップのフリップチップボンディング工程にかけて有効に利用することができる。
（ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの製造方法）
本実施の形態に係るダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの製造方法について、図１に示すダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１を例にして説明する。先ず、基材３１は、従来公知の製膜方法により製膜することができる。当該製膜方法としては、例えばカレンダー製膜法、有機溶媒中でのキャスティング法、密閉系でのインフレーション押出法、Ｔダイ押出法、共押出し法、ドライラミネート法等が例示できる。
次に、基材３１上に粘着剤組成物を塗布し、乾燥させて（必要に応じて加熱架橋させて）粘着剤層３２を形成する。塗布方式としては、ロール塗工、スクリーン塗工、グラビア塗工等が挙げられる。なお、粘着剤層組成物を直接基材３１に塗布して、基材３１上に粘着剤層３２を形成してもよく、また、粘着剤組成物を表面に剥離処理を行った剥離紙等に塗布して粘着剤層３２を形成させた後、該粘着剤層３２を基材３１に転写させてもよい。これにより、基材３１上に粘着剤層３２を形成されたダイシングテープ３が作製される。
一方、半導体裏面用フィルム２を形成する為の形成材料を剥離紙上に乾燥後の厚みが所定厚みとなる様に塗布し、更に所定条件下で乾燥して（熱硬化が必要な場合などでは、必要に応じて加熱処理を施し乾燥して）、塗布層を形成する。この塗布層を前記粘着剤層３２上に転写することにより、半導体裏面用フィルム２を粘着剤層３２上に形成する。なお、前記粘着剤層３２上に、半導体裏面用フィルム２を形成する為の形成材料を直接塗布した後、所定条件下で乾燥する（熱硬化が必要な場合などでは、必要に応じて加熱処理を施して乾燥する）ことによっても、半導体裏面用フィルム２を粘着剤層３２上に形成することができる。以上により、本発明に係るダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１を得ることができる。なお、半導体裏面用フィルム２を形成する際に熱硬化を行う場合、部分硬化の状態となる程度で熱硬化を行うことが重要であるが、好ましくは熱硬化を行わない。
本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１は、フリップチップボンディング工程を具備する半導体装置の製造の際に好適に用いることができる。すなわち、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１は、フリップチップ実装の半導体装置を製造する際に用いられ、半導体チップの裏面に、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１の半導体裏面用フィルム２が貼着している状態又は形態で、フリップチップ実装の半導体装置が製造される。従って、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１は、フリップチップ実装の半導体装置（半導体チップが基板等の被着体に、フリップチップボンディング方式で固定された状態又は形態の半導体装置）に対して用いることができる。
なお、半導体裏面用フィルム２は、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１と同様に、フリップチップ実装の半導体装置（半導体チップが基板等の被着体に、フリップチップボンディング方式で固定された状態又は形態の半導体装置）に対して用いることができる。
（半導体ウエハ）
半導体ウエハとしては、公知乃至慣用の半導体ウエハであれば特に制限されず、各種素材の半導体ウエハから適宜選択して用いることができる。本発明では、半導体ウエハとしては、シリコンウエハを好適に用いることができる。
（半導体装置の製造方法）
本実施の形態に係る半導体装置の製造方法について、図２を参照しながら以下に説明する。図２は、前記ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１を用いた場合の半導体装置の製造方法を示す断面模式図である。
前記半導体装置の製造方法は、前記ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１を用いて半導体装置を製造することができる。具体的には、前記ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム上に半導体ウエハを貼着する工程と、前記半導体ウエハをダイシングする工程と、ダイシングにより得られた半導体素子をピックアップする工程と、前記半導体素子を被着体上にフリップチップ接続する工程とを少なくとも具備する。
なお、半導体裏面用フィルム２の場合、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１を用いた場合の半導体装置の製造方法に準じた方法により、半導体装置を製造することができる。例えば、半導体裏面用フィルム２はダイシングテープと貼り合わせて、ダイシングテープと一体化させたダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムとして用いて、半導体装置を製造することができる。この場合、半導体裏面用フィルム２を用いた半導体装置の製造方法は、前記ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの製造方法における工程に、さらに、半導体裏面用フィルムとダイシングテープとを、半導体裏面用フィルムとダイシングテープの粘着剤層が接触する形態で貼り合わせる工程を具備した製造方法になる。
また、半導体裏面用フィルム２は、ダイシングテープと一体化せずに、半導体ウエハに貼着させて用いることもできる。この場合、半導体裏面用フィルム２を用いた半導体装置の製造方法は、前記ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの製造方法におけるダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム上に半導体ウエハを貼着する工程を、半導体裏面用フィルムを半導体ウエハに貼着する工程、半導体ウエハに貼着されている半導体裏面用フィルムに、ダイシングテープを、半導体裏面用フィルムとダイシングテープの粘着剤層が接触する形態で貼り合わせる工程とした製造方法になる。
また、半導体裏面用フィルム２は、半導体ウエハを個片化した半導体チップに貼着させて用いることもできる。この場合、半導体裏面用フィルム２を用いた半導体装置の製造方法は、例えば、ダイシングテープを半導体ウエハに貼着する工程と、前記半導体ウエハをダイシングする工程と、ダイシングにより得られた半導体素子をピックアップする工程と、前記半導体素子を被着体上にフリップチップ接続する工程と、半導体素子に、半導体裏面用フィルムを貼着する工程とを少なくとも具備した製造方法であってもよい。
［マウント工程］
先ず、図２（ａ）で示されるように、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１の半導体裏面用フィルム２上に任意に設けられたセパレータを適宜に剥離し、当該半導体裏面用フィルム２上に半導体ウエハ４を貼着して、これを接着保持させ固定する（マウント工程）。このとき前記半導体裏面用フィルム２は未硬化状態（半硬化状態を含む）にある。また、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１は、半導体ウエハ４の裏面に貼着される。半導体ウエハ４の裏面とは、回路面とは反対側の面（非回路面、非電極形成面などとも称される）を意味する。貼着方法は特に限定されないが、圧着による方法が好ましい。圧着は、通常、圧着ロール等の押圧手段により押圧しながら行われる。
［ダイシング工程」
次に、図２（ｂ）で示されるように、半導体ウエハ４のダイシングを行う。これにより、半導体ウエハ４を所定のサイズに切断して個片化（小片化）し、半導体チップ５を製造する。ダイシングは、例えば、半導体ウエハ４の回路面側から常法に従い行われる。また、本工程では、例えば、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１まで切込みを行うフルカットと呼ばれる切断方式等を採用できる。本工程で用いるダイシング装置としては特に限定されず、従来公知のものを用いることができる。また、半導体ウエハ４は、半導体裏面用フィルムを有するダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１により優れた密着性で接着固定されているので、チップ欠けやチップ飛びを抑制できると共に、半導体ウエハ４の破損も抑制できる。なお、半導体裏面用フィルム２がエポキシ樹脂を含む樹脂組成物により形成されていると、ダイシングにより切断されても、その切断面において半導体裏面用フィルムの接着剤層の糊はみ出しが生じるのを抑制又は防止することができる。その結果、切断面同士が再付着（ブロッキング）することを抑制又は防止することができ、後述のピックアップを一層良好に行うことができる。
なお、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１のエキスパンドを行う場合、該エキスパンドは従来公知のエキスパンド装置を用いて行うことができる。エキスパンド装置は、ダイシングリングを介してダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１を下方へ押し下げることが可能なドーナッツ状の外リングと、外リングよりも径が小さくダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを支持する内リングとを有している。このエキスパンド工程により、後述のピックアップ工程において、隣り合う半導体チップ同士が接触して破損するのを防ぐことが出来る。
［ピックアップ工程］
ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１に接着固定された半導体チップ５を回収する為に、図２（ｃ）で示されるように、半導体チップ５のピックアップを行って、半導体チップ５を半導体裏面用フィルム２とともにダイシングテープ３より剥離させる。ピックアップの方法としては特に限定されず、従来公知の種々の方法を採用できる。例えば、個々の半導体チップ５をダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１の基材３１側からニードルによって突き上げ、突き上げられた半導体チップ５をピックアップ装置によってピックアップする方法等が挙げられる。なお、ピックアップされた半導体チップ５は、その裏面が半導体裏面用フィルム２により保護されている。
［フリップチップ接続工程］
ピックアップした半導体チップ５は、図２（ｄ）で示されるように、基板等の被着体に、フリップチップボンディング方式（フリップチップ実装方式）により固定させる。具体的には、半導体チップ５を、半導体チップ５の回路面（表面、回路パターン形成面、電極形成面などとも称される）が被着体６と対向する形態で、被着体６に常法に従い固定させる。例えば、半導体チップ５の回路面側に形成されているバンプ５１を、被着体６の接続パッドに被着された接合用の導電材（半田など）６１に接触させて押圧しながら導電材を溶融させることにより、半導体チップ５と被着体６との電気的導通を確保し、半導体チップ５を被着体６に固定させることができる（フリップチップボンディング工程）。このとき、半導体チップ５と被着体６との間には空隙が形成されており、その空隙間距離は、一般的に３０μｍ〜３００μｍ程度である。尚、半導体チップ５を被着体６上にフリップチップボンディング（フリップチップ接続）した後は、半導体チップ５と被着体６との対向面や間隙を洗浄し、該間隙に封止材（封止樹脂など）を充填させて封止することが重要である。
被着体６としては、リードフレームや回路基板（配線回路基板など）等の各種基板を用いることができる。このような基板の材質としては、特に限定されるものではないが、セラミック基板や、プラスチック基板が挙げられる。プラスチック基板としては、例えば、エポキシ基板、ビスマレイミドトリアジン基板、ポリイミド基板等が挙げられる。
フリップチップボンディング工程において、バンプや導電材の材質としては、特に限定されず、例えば、錫−鉛系金属材、錫−銀系金属材、錫−銀−銅系金属材、錫−亜鉛系金属材、錫−亜鉛−ビスマス系金属材等の半田類（合金）や、金系金属材、銅系金属材などが挙げられる。
なお、フリップチップボンディング工程では、導電材を溶融させて、半導体チップ５の回路面側のバンプと、被着体６の表面の導電材とを接続させているが、この導電材の溶融時の温度としては、通常、２６０℃程度（例えば、２５０℃〜３００℃）となっている。本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、半導体裏面用フィルムをエポキシ樹脂等により形成することにより、このフリップチップボンディング工程における高温にも耐えられる耐熱性を有するものとすることができる。
本工程では、半導体チップ５と被着体６との対向面（電極形成面）や間隙の洗浄を行うのが好ましい。当該洗浄に用いられる洗浄液としては、特に制限されず、例えば、有機系の洗浄液や、水系の洗浄液が挙げられる。本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおける半導体裏面用フィルムは、洗浄液に対する耐溶剤性を有しており、これらの洗浄液に対して実質的に溶解性を有していない。そのため、前述のように、洗浄液としては、各種洗浄液を用いることができ、特別な洗浄液を必要とせず、従来の方法により洗浄させることができる。
次に、フリップチップボンディングされた半導体チップ５と被着体６との間の間隙を封止するための封止工程を行う。封止工程は、封止樹脂を用いて行われる。このときの封止条件としては特に限定されないが、通常、１７５℃で６０秒間〜９０秒間の加熱を行うことにより、封止樹脂の熱硬化が行われるが、本発明はこれに限定されず、例えば１６５℃〜１８５℃で、数分間キュアすることができる。当該工程における熱処理においては、封止樹脂だけでなく半導体裏面用フィルム２の熱硬化も同時に行われる。これにより、封止樹脂及び半導体裏面用フィルム２の双方が、熱硬化の進行に伴い硬化収縮をする。その結果、封止樹脂の硬化収縮に起因して半導体チップ５に加えられる応力は、半導体裏面用フィルム２が硬化収縮することにより相殺ないし緩和することができる。また、当該工程により、半導体裏面用フィルム２を完全に又はほぼ完全に熱硬化させることができ、優れた密着性で半導体素子の裏面に貼着させることができる。更に、本発明に係る半導体裏面用フィルム２は、未硬化状態であっても当該封止工程の際に、封止材と共に熱硬化させることができるので、半導体裏面用フィルム２を熱硬化させるための工程を新たに追加する必要がない。
前記封止樹脂としては、絶縁性を有する樹脂（絶縁樹脂）であれば特に制限されず、公知の封止樹脂等の封止材から適宜選択して用いることができるが、弾性を有する絶縁樹脂がより好ましい。封止樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂を含む樹脂組成物等が挙げられる。エポキシ樹脂としては、前記に例示のエポキシ樹脂等が挙げられる。また、エポキシ樹脂を含む樹脂組成物による封止樹脂としては、樹脂成分として、エポキシ樹脂以外に、エポキシ樹脂以外の熱硬化性樹脂（フェノール樹脂など）や、熱可塑性樹脂などが含まれていてもよい。なお、フェノール樹脂としては、エポキシ樹脂の硬化剤としても利用することができ、このようなフェノール樹脂としては、前記に例示のフェノール樹脂などが挙げられる。
前記ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム１や半導体裏面用フィルム２を用いて製造された半導体装置（フリップチップ実装の半導体装置）は、半導体チップの裏面に半導体裏面用フィルムが貼着されているため、各種マーキングを優れた視認性で施すことができる。特に、マーキング方法がレーザーマーキング方法であっても、優れたコントラスト比でマーキングを施すことができ、レーザーマーキングにより施された各種情報（文字情報、図形情報など）を良好に視認することが可能である。なお、レーザーマーキングを行う際には、公知のレーザーマーキング装置を利用することができる。また、レーザーとしては、気体レーザー、個体レーザー、液体レーザーなどの各種レーザーを利用することができる。具体的には、気体レーザーとしては、特に制限されず、公知の気体レーザーを利用することができるが、炭酸ガスレーザー（ＣＯ２レーザー）、エキシマレーザー（ＡｒＦレーザー、ＫｒＦレーザー、ＸｅＣｌレーザー、ＸｅＦレーザーなど）が好適である。また、固体レーザーとしては、特に制限されず、公知の固体レーザーを利用することができるが、ＹＡＧレーザー（Ｎｄ：ＹＡＧレーザーなど）、ＹＶＯ４レーザーが好適である。
本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムや半導体裏面用フィルムを用いて製造された半導体装置は、フリップチップ実装方式で実装された半導体装置であるので、ダイボンディング実装方式で実装された半導体装置よりも、薄型化、小型化された形状となっている。このため、各種の電子機器・電子部品又はそれらの材料・部材として好適に用いることができる。具体的には、本発明のフリップチップ実装の半導体装置が利用される電子機器としては、いわゆる「携帯電話」や「ＰＨＳ」、小型のコンピュータ（例えば、いわゆる「ＰＤＡ」（携帯情報端末）、いわゆる「ノートパソコン」、いわゆる「ネットブック（商標）」、いわゆる「ウェアラブルコンピュータ」など）、「携帯電話」及びコンピュータが一体化された小型の電子機器、いわゆる「デジタルカメラ（商標）」、いわゆる「デジタルビデオカメラ」、小型のテレビ、小型のゲーム機器、小型のデジタルオーディオプレイヤー、いわゆる「電子手帳」、いわゆる「電子辞書」、いわゆる「電子書籍」用電子機器端末、小型のデジタルタイプの時計などのモバイル型の電子機器（持ち運び可能な電子機器）などが挙げられるが、もちろん、モバイル型以外（設置型など）の電子機器（例えば、いわゆる「ディスクトップパソコン」、薄型テレビ、録画・再生用電子機器（ハードディスクレコーダー、ＤＶＤプレイヤー等）、プロジェクター、マイクロマシンなど）などであってもよい。また、電子部品又は、電子機器・電子部品の材料・部材としては、例えば、いわゆる「ＣＰＵ」の部材、各種記憶装置（いわゆる「メモリー」、ハードディスクなど）の部材などが挙げられる。
以下、本発明に関し実施例を用いて詳細に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例に限定されるものではない。また、各例中、部は特記がない限りいずれも重量基準である。
（実施例１）
エポキシ樹脂（商品名「ＨＰ４０３２Ｄ」ＤＩＣ株式会社製）：１００部に対して、フェノキシ樹脂（商品名「ＥＰ４２５０」ＪＥＲ株式会社製）：４０部、フェノール樹脂（商品名「ＭＥＨ−８３２０」明和化成株式会社製）：１２９部、アルミナフィラー（商品名「ＡＬＭＥＫ３０ＷＴ％−Ｎ４０」ＣＩＫナノテック製、平均粒径０．３５μｍ、最大粒径３．０μｍ、熱伝導率４０Ｗ／ｍＫ）：１５２１部、染料（商品名「ＯＩＬ ＢＬＡＣＫ ＢＳ」オリエント化学工業株式会社製）：１４部、硬化触媒１部（商品名「２ＰＨＺ−ＰＷ」四国化成）をメチルエチルケトンに溶解して、固形分濃度が２３．６重量％となる樹脂組成物の溶液（「樹脂組成物溶液Ａ」と称する場合がある）を調製した。
上記のようにして調製された樹脂組成物溶液Ａを剥離ライナ（セパレータ）としてシリコーン離型処理した厚さが５０μｍのポリエチレンテレフタレートフィルムからなる離型処理フィルム上に塗布し、１３０℃で２分間乾燥させることにより、厚さ１０μｍのフリップチップ型半導体裏面用フィルム（「半導体裏面用フィルムＡと称する場合がある」を作製した。
（実施例２）
エポキシ樹脂（商品名「ＨＰ４０３２Ｄ」ＤＩＣ株式会社製）：１００部に対して、フェノキシ樹脂（商品名「ＥＰ４２５０」ＪＥＲ株式会社製）：４０部、フェノール樹脂（商品名「ＭＥＨ−８３２０」明和化成株式会社製）：１２９部、アルミナフィラー（商品名「ＡＬＭＥＫ３０ＷＴ％−Ｎ４０」ＣＩＫナノテック製、平均粒径０．３５μｍ、最大粒径３．０μｍ、熱伝導率４０Ｗ／ｍＫ）：６７６部、染料（商品名「ＯＩＬ ＢＬＡＣＫ ＢＳ」オリエント化学工業株式会社製）：１４部、硬化触媒１部（商品名「２ＰＨＺ−ＰＷ」四国化成）をメチルエチルケトンに溶解して、固形分濃度が２３．６重量％となる樹脂組成物の溶液（「樹脂組成物溶液Ｂ」と称する場合がある）を調製した。
上記のようにして調製された樹脂組成物溶液Ｂを剥離ライナ（セパレータ）としてシリコーン離型処理した厚さが５０μｍのポリエチレンテレフタレートフィルムからなる離型処理フィルム上に塗布し、１３０℃で２分間乾燥させることにより、厚さ１０μｍのフリップチップ型半導体裏面用フィルム（「半導体裏面用フィルムＢと称する場合がある」を作製した。
（比較例１）
エポキシ樹脂（商品名「ＨＰ４０３２Ｄ」ＤＩＣ株式会社製）：１００部に対して、フェノキシ樹脂（商品名「ＥＰ４２５０」ＪＥＲ株式会社製）：４０部、フェノール樹脂（商品名「ＭＥＨ−８３２０」明和化成株式会社製）：１２９部、アルミナフィラー（商品名「ＡＬＭＥＫ３０ＷＴ％−Ｎ４０」ＣＩＫナノテック製、平均粒径０．３５μｍ、最大粒径３．０μｍ、熱伝導率４０Ｗ／ｍＫ）：２９４部、染料（商品名「ＯＩＬ ＢＬＡＣＫ ＢＳ」オリエント化学工業株式会社製）：１４部、硬化触媒１部（商品名「２ＰＨＺ−ＰＷ」四国化成）をメチルエチルケトンに溶解して、固形分濃度が２３．６重量％となる樹脂組成物の溶液（「樹脂組成物溶液Ｃ」と称する場合がある）を調製した。
上記のようにして調製された樹脂組成物溶液Ｃを剥離ライナ（セパレータ）としてシリコーン離型処理した厚さが５０μｍのポリエチレンテレフタレートフィルムからなる離型処理フィルム上に塗布し、１３０℃で２分間乾燥させることにより、厚さ１０μｍのフリップチップ型半導体裏面用フィルム（「半導体裏面用フィルムＣと称する場合がある」を作製した。
（比較例２）
エポキシ樹脂（商品名「ＨＰ４０３２Ｄ」ＤＩＣ株式会社製）：１００部に対して、フェノキシ樹脂（商品名「ＥＰ４２５０」ＪＥＲ株式会社製）：４０部、フェノール樹脂（商品名「ＭＥＨ−８３２０」明和化成株式会社製）：１２９部、アルミナフィラー（商品名「ＡＬＭＥＫ３０ＷＴ％−Ｎ４０」ＣＩＫナノテック製、平均粒径０．３５μｍ、最大粒径３．０μｍ、熱伝導率４０Ｗ／ｍＫ）：２３４部、染料（商品名「ＯＩＬ ＢＬＡＣＫ ＢＳ」オリエント化学工業株式会社製）：１４部、硬化触媒１部（商品名「２ＰＨＺ−ＰＷ」四国化成）をメチルエチルケトンに溶解して、固形分濃度が２３．６重量％となる樹脂組成物の溶液（「樹脂組成物溶液Ｄ」と称する場合がある）を調製した。
上記のようにして調製された樹脂組成物溶液Ｄを剥離ライナ（セパレータ）としてシリコーン離型処理した厚さが５０μｍのポリエチレンテレフタレートフィルムからなる離型処理フィルム上に塗布し、１３０℃で２分間乾燥させることにより、厚さ１０μｍのフリップチップ型半導体裏面用フィルム（「半導体裏面用フィルムＤと称する場合がある」を作製した。
（比較例３）
エポキシ樹脂（商品名「ＨＰ４０３２Ｄ」ＤＩＣ株式会社製）：１００部に対して、フェノキシ樹脂（商品名「ＥＰ４２５０」ＪＥＲ株式会社製）：４０部、フェノール樹脂（商品名「ＭＥＨ−８３２０」明和化成株式会社製）：１２９部、アルミナフィラー：５２７部、染料（商品名「ＯＩＬ ＢＬＡＣＫ ＢＳ」オリエント化学工業株式会社製）：１４部、硬化触媒１部（商品名「２ＰＨＺ−ＰＷ」四国化成）をメチルエチルケトンに溶解して、固形分濃度が２３．６重量％となる樹脂組成物の溶液（「樹脂組成物溶液Ｅ」と称する場合がある）を調製した。
上記のようにして調製された樹脂組成物溶液Ｅを剥離ライナ（セパレータ）としてシリコーン離型処理した厚さが５０μｍのポリエチレンテレフタレートフィルムからなる離型処理フィルム上に塗布し、１３０℃で２分間乾燥させることにより、厚さ１０μｍのフリップチップ型半導体裏面用フィルム（「半導体裏面用フィルムＥと称する場合がある」を作製した。
（比較例４）
エポキシ樹脂（商品名「ＨＰ４０３２Ｄ」ＤＩＣ株式会社製）：１００部に対して、フェノキシ樹脂（商品名「ＥＰ４２５０」ＪＥＲ株式会社製）：４０部、フェノール樹脂（商品名「ＭＥＨ−８３２０」明和化成株式会社製）：１２９部、アルミナフィラー：８５２部、染料（商品名「ＯＩＬ ＢＬＡＣＫ ＢＳ」オリエント化学工業株式会社製）：１４部、硬化触媒１部（商品名「２ＰＨＺ−ＰＷ」四国化成）をメチルエチルケトンに溶解して、固形分濃度が２３．６重量％となる樹脂組成物の溶液（「樹脂組成物溶液Ｆ」と称する場合がある）を調製した。
上記のようにして調製された樹脂組成物溶液Ｆを剥離ライナ（セパレータ）としてシリコーン離型処理した厚さが５０μｍのポリエチレンテレフタレートフィルムからなる離型処理フィルム上に塗布し、１３０℃で２分間乾燥させることにより、厚さ１０μｍのフリップチップ型半導体裏面用フィルム（「半導体裏面用フィルムＦと称する場合がある」を作製した。
＜フィラーの平均粒径及び最大粒径＞
各実施例及び比較例で使用したフィラーの平均粒径及び最大粒径については、レーザー回折式の粒度分布計（ＨＯＲＩＢＡ製、装置名；ＬＡ−９１０）を用いて測定した。結果を下記表１に示す。
＜熱伝導率＞
各実施例及び比較例で作製したフリップチップ型半導体裏面用フィルムを、乾燥機内において１７５℃、１時間で熱処理を行い、熱硬化させた。その後、ＴＷＡ法（温度波熱分析法、測定装置；アイフェイズモバイル、（株）アイフェイズ製）により、各ダイボンドフィルムの熱拡散率α（ｍ２／ｓ）を測定した。次に、各ダイボンドフィルムの比熱Ｃｐ（Ｊ／ｇ・℃）を、ＤＳＣ法により測定した。比熱測定は、エスアイアイナノテクノロジー（株）製のＤＳＣ６２２０を用い、昇温速度１０℃／ｍｉｎ、温度２０〜３００℃の条件下で行い、得られた実験データを基に、ＪＩＳハンドブック（比熱容量測定方法Ｋ−７１２３）により算出した。更に、各半導体裏面用フィルムの比重を測定した。
前記各測定により得られた熱拡散率α、比熱Ｃｐ及び比重の値を基に、下記式により熱伝導率を算出した。結果を下記表１に示す。
Figure 0005367656
＜半導体裏面用フィルムの表面粗さ（Ｒａ）測定＞
半導体裏面用フィルムＡ〜Ｆの露出面側（剥離ライナとは反対側の面）の表面粗さ（Ｒａ）を、ＪＩＳ Ｂ ０６０１に基づき、Ｖｅｅｃｏ社製の非接触三次元粗さ測定装置（ＮＴ３３００）を用いて測定した。測定条件は、５０倍とし、測定値は、測定データにＭｅｄｉａｎ ｆｉｌｔｅｒをかけて求めた。測定は、各フリップチップ型半導体裏面用フィルムについて、測定箇所を変更しながら５回行い、その平均値を表面粗さ（Ｒａ）とした。
＜半導体裏面用フィルムの半導体ウエハに対する接着性評価＞
半導体裏面用フィルムの半導体ウエハに対する接着性（剥離力）は、半導体ウエハとしてのシリコンウエハを熱板の上に置き、所定の温度（５０℃）下で、粘着テープ（商品名「ＢＴ３１５」日東電工株式会社製）により裏面補強した長さ１５０ｍｍ、幅１０ｍｍの半導体裏面用フィルムを２ｋｇのローラーを一往復して貼り合わせる。その後、熱板上（５０℃）に２分間静置した後、常温（２３℃程度）で２０分静置し、放置後、剥離試験機（商品名「オートグラフＡＧＳ−Ｊ」島津製作所社製）を用いて、温度２３℃の条件下で、剥離角度：１８０°、引張速度：３００ｍｍ／ｍｉｎの条件で、裏面補強された半導体裏面用フィルムを引き剥がして（半導体裏面用フィルムと半導体ウエハとの界面で剥離させて）、この引き剥がした時の荷重の最大荷重（測定初期のピークトップを除いた荷重の最大値）を測定し、この最大荷重を半導体裏面用フィルムと半導体ウエハ間の接着性（半導体裏面用フィルムの半導体ウエハに対する接着性）として、半導体裏面用フィルムの剥離力（Ｎ／１０ｍｍ幅）を求める。
＜半導体裏面用フィルムのレーザーマーキング性評価＞
前記の＜半導体裏面用フィルムの半導体ウエハに対する接着性評価＞により得られた半導体裏面用フィルムを半導体ウエハに貼り合わせたサンプルにおける半導体裏面用フィルムの表面に、ＹＡＧレーザーによりレーザーマーキングを施し、該レーザーマーキングにより得られた情報（バーコード情報）について、下記の評価基準により、各実施例又は各比較例に係る半導体裏面用フィルムのレーザーマーキング性を評価した。
（レーザーマーキング性の評価基準）
＋：無作為に選んだ成人１０人中、レーザーマーキングにより得られた情報を良好に視認できると判断した人数が８人以上である
−：無作為に選んだ成人１０人中、レーザーマーキングにより得られた情報を良好に視認できると判断した人数が７人以下である
Figure 0005367656
（結果）
表１から分かる通り、実施例１及び２のように、熱伝導性フィラーの含有量が５０体積％以上であり、かつ熱伝導性フィラーの平均粒径及び最大粒径がそれぞれ前記半導体裏面用フィルムの厚みの３０％以下及び８０％以下であると、半導体裏面用フィルムの表面粗さを低い値に抑えつつ、良好な熱伝導性が得られた。加えて、半導体裏面用フィルムの半導体ウエハに対する接着性及びレーザーマーキング性も良好な結果となった。一方、比較例１及び２のように、熱伝導性フィラーの含有量が５０体積％未満であると熱伝導率が低下してしまった。また、熱伝導性フィラーの平均粒径及び最大粒径がそれぞれ前記半導体裏面用フィルムの厚みの３０％及び８０％を超えると、熱伝導率は良好であるものの表面粗さが大きくなり、半導体裏面用フィルムの半導体ウエハへの接着性及びレーザーマーキング性が劣る結果となった。
１ ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム
２ 半導体裏面用フィルム
３ ダイシングテープ
３１ 基材
３２ 粘着剤層
３３ 半導体ウエハの貼着部分に対応する部分
４ 半導体ウエハ
５ 半導体チップ
５１ 半導体チップ５の回路面側に形成されているバンプ
６ 被着体
６１ 被着体６の接続パッドに被着された接合用の導電材

Claims (7)

  1. 被着体上にフリップチップ接続される半導体素子の裏面に配設されるフリップチップ型半導体裏面用フィルムであって、
    樹脂及び熱伝導性フィラーを含み、この熱伝導性フィラーの含有量が５０〜８０体積％であり、
    前記フィルムの厚みに対して、前記熱伝導性フィラーの平均粒径が１０〜３０％の値であり、かつ最大粒径が４０〜８０％の値であることを特徴とするフリップチップ型半導体裏面用フィルム。
  2. フィルムとしての熱伝導率が２Ｗ／ｍＫ以上であることを特徴とする請求項１に記載のフリップチップ型半導体裏面用フィルム。
  3. 前記半導体の裏面に対向する面と反対側の面の表面粗さ（Ｒａ）が３００ｎｍ以下であることを特徴とする請求項１又は２に記載のフリップチップ型半導体裏面用フィルム。
  4. 前記熱伝導性フィラーとして、平均粒径の異なる熱伝導性フィラーを含む請求項１〜３のいずれか１項に記載のフリップチップ型半導体裏面用フィルム。
  5. 請求項１〜４のいずれか１に記載のフリップチップ型半導体裏面用フィルムが、ダイシングテープ上に積層されたダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムであって、
    前記ダイシングテープは基材上に粘着剤層が積層された構造であり、
    前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムは前記ダイシングテープの粘着剤層上に積層されていることを特徴とするダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム。
  6. 請求項５に記載のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いた半導体装置の製造方法であって、
    前記ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおけるフリップチップ型半導体裏面用フィルム上に半導体ウエハを貼着する工程と、
    前記半導体ウエハをダイシングして半導体素子を形成する工程と、
    前記半導体素子を前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムとともに、ダイシングテープの粘着剤層から剥離する工程と、
    前記半導体素子を前記被着体上にフリップチップ接続する工程とを具備することを特徴とする半導体装置の製造方法。
  7. 請求項６に記載の半導体装置の製造方法により製造されたものであることを特徴とするフリップチップ型半導体装置。
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Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5893250B2 (ja) * 2011-01-31 2016-03-23 リンテック株式会社 チップ用保護膜形成用シート、半導体チップの製造方法および半導体装置
EP2927951B1 (en) * 2012-11-30 2021-03-24 LINTEC Corporation Composition for a protective film, protective film formed from the composition, and chip with cured protective film
JP5372270B1 (ja) * 2013-02-19 2013-12-18 ビッグテクノス株式会社 熱放射性フィルム及び熱放射性粘着テープ
WO2014136836A1 (ja) * 2013-03-07 2014-09-12 住友ベークライト株式会社 接着フィルム、ダイシングシート一体型接着フィルム、バックグラインドテープ一体型接着フィルム、バックグラインドテープ兼ダイシングシート一体型接着フィルム、積層体、積層体の硬化物、および半導体装置、並び半導体装置の製造方法
JP6302692B2 (ja) * 2013-03-28 2018-03-28 日東電工株式会社 中空封止用樹脂シート及び中空パッケージの製造方法
EP2979864B1 (en) * 2013-03-28 2020-10-14 LINTEC Corporation Protective film formation composite sheet and method for fabricating a chip equipped with a protective film
JP2014203971A (ja) * 2013-04-04 2014-10-27 日東電工株式会社 アンダーフィルフィルム、封止シート、半導体装置の製造方法及び半導体装置
KR20140142675A (ko) * 2013-06-04 2014-12-12 닛토덴코 가부시키가이샤 열경화형 다이 본딩 필름, 다이싱 시트 부착 다이 본딩 필름, 및 반도체 장치의 제조 방법
JP2015103578A (ja) * 2013-11-21 2015-06-04 日東電工株式会社 熱硬化型ダイボンドフィルム、ダイシングシート付きダイボンドフィルム、及び、半導体装置の製造方法
JP6505362B2 (ja) * 2013-11-21 2019-04-24 日東電工株式会社 熱硬化型ダイボンドフィルム、ダイシングシート付きダイボンドフィルム、熱硬化型ダイボンドフィルムの製造方法、及び、半導体装置の製造方法
KR20140142676A (ko) * 2013-06-04 2014-12-12 닛토덴코 가부시키가이샤 열경화형 다이 본딩 필름, 다이싱 시트 부착 다이 본딩 필름, 및 반도체 장치의 제조 방법
JP6216180B2 (ja) * 2013-08-01 2017-10-18 日東電工株式会社 封止用シート、及び、当該封止用シートを用いた半導体装置の製造方法
WO2015068551A1 (ja) 2013-11-08 2015-05-14 リンテック株式会社 保護膜形成用組成物、保護膜形成用シート、及び保護膜付きチップ
KR102150272B1 (ko) * 2014-01-22 2020-09-01 린텍 가부시키가이샤 보호막 형성 필름, 보호막 형성용 시트, 보호막 형성용 복합 시트 및 가공물의 제조 방법
US9670377B2 (en) * 2014-03-04 2017-06-06 Namics Corporation Underfill composition for encapsulating a bond line
SG11201607716PA (en) * 2014-03-24 2016-11-29 Lintec Corp Protection membrane forming film, protection membrane forming utilization sheet, production method and inspection method for workpiece or processed product, workpiece determined as adequate product, and processed product determined as adequate product
US9922935B2 (en) 2014-09-17 2018-03-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor package and method of fabricating the same
KR20160032958A (ko) * 2014-09-17 2016-03-25 삼성전자주식회사 반도체 패키지 및 이의 제조 방법
US10563095B2 (en) * 2015-03-27 2020-02-18 Toray Industries, Inc. Adhesive composition sheet, method of producing same, and semiconductor device
JP2017041633A (ja) * 2015-08-17 2017-02-23 積水化学工業株式会社 半導体装置及び半導体素子保護用材料
JP6508344B2 (ja) * 2015-08-28 2019-05-08 日立化成株式会社 緩衝シート用組成物及び緩衝シート
TWI722170B (zh) * 2016-04-28 2021-03-21 日商琳得科股份有限公司 保護膜形成用膜以及保護膜形成用複合片
JP6795375B2 (ja) * 2016-10-26 2020-12-02 リンテック株式会社 電波吸収体、半導体装置および複合シート
JP6812212B2 (ja) * 2016-11-14 2021-01-13 日東電工株式会社 シート、テープおよび半導体装置の製造方法
US10325863B2 (en) * 2017-02-28 2019-06-18 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device and method for manufacturing same
JP6615150B2 (ja) * 2017-05-01 2019-12-04 古河電気工業株式会社 接着フィルム、半導体ウェハ加工用テープ、半導体パッケージおよびその製造方法
JP6854983B1 (ja) * 2019-04-26 2021-04-07 リンテック株式会社 第三積層体の製造方法、第四積層体の製造方法及び裏面保護膜付き半導体装置の製造方法、並びに、第三積層体
CN114599517B (zh) * 2019-10-23 2024-10-01 琳得科株式会社 保护膜形成用膜、保护膜形成用复合片及带保护膜的小片的制造方法
WO2022153794A1 (ja) * 2021-01-18 2022-07-21 Ａｇｃ株式会社 フィルム及び半導体パッケージの製造方法
JP7585114B2 (ja) * 2021-03-25 2024-11-18 リンテック株式会社 保護膜形成用フィルム
CN116179103A (zh) * 2023-01-29 2023-05-30 深圳雷曼光电科技股份有限公司 一种磁性各向异性导电胶膜及其制备方法和应用
KR20250158019A (ko) * 2023-02-28 2025-11-05 후루카와 덴키 고교 가부시키가이샤 열전도성 접착제용 조성물 및 그 제조 방법, 열전도성 필름형 접착제, 그리고 열전도성 필름형 접착제를 사용한 반도체 패키지 및 그 제조 방법

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60255846A (ja) * 1984-05-31 1985-12-17 Showa Denko Kk 樹脂組成物
JPH06334288A (ja) * 1993-05-20 1994-12-02 Furukawa Electric Co Ltd:The 金属ベースプリント基板
US5847929A (en) * 1996-06-28 1998-12-08 International Business Machines Corporation Attaching heat sinks directly to flip chips and ceramic chip carriers
US20070241303A1 (en) * 1999-08-31 2007-10-18 General Electric Company Thermally conductive composition and method for preparing the same
US20020070445A1 (en) * 2000-06-29 2002-06-13 Advanced Micro Devices, Inc. Enveloped thermal interface with metal matrix components
JP4435952B2 (ja) * 2000-08-30 2010-03-24 東レ・ダウコーニング株式会社 定着ロール用熱伝導性液状シリコーンゴム組成物およびフッ素樹脂被覆定着ロール
JP4796704B2 (ja) * 2001-03-30 2011-10-19 株式会社タイカ 押出可能な架橋済グリース状放熱材を充填・封入した容器の製法
US20040195678A1 (en) * 2001-07-02 2004-10-07 Yoshinao Yamazaki Thermoconductive composition
US20050228093A1 (en) * 2001-09-21 2005-10-13 Yoshinao Yamazaki Thermoconductive composition
JP4646496B2 (ja) * 2003-02-13 2011-03-09 東レ・ダウコーニング株式会社 熱伝導性シリコーン組成物
US20050151243A1 (en) * 2004-01-12 2005-07-14 Mok Lawrence S. Semiconductor chip heat transfer
US20060047053A1 (en) * 2004-08-27 2006-03-02 Ivan Pawlenko Thermoconductive composition for RF shielding
JP5015436B2 (ja) * 2004-08-30 2012-08-29 東レ・ダウコーニング株式会社 熱伝導性シリコーンエラストマー、熱伝導媒体および熱伝導性シリコーンエラストマー組成物
TWI236116B (en) * 2004-11-04 2005-07-11 Advanced Semiconductor Eng High heat dissipation flip chip package structure
JP4828146B2 (ja) * 2005-03-30 2011-11-30 東レ・ダウコーニング株式会社 熱伝導性シリコーンゴム組成物
JP4828145B2 (ja) * 2005-03-30 2011-11-30 東レ・ダウコーニング株式会社 熱伝導性シリコーンゴム組成物
EP1928970B1 (en) * 2005-09-29 2009-10-28 Dow Corning Toray Co., Ltd. Thermoconductive silicone elastomer, thermoconductive silicone elastomer composition and thermoconductive medium
JP4865312B2 (ja) 2005-12-05 2012-02-01 古河電気工業株式会社 チップ用保護膜形成用シート
JP2009110556A (ja) * 2006-02-14 2009-05-21 Panasonic Corp 光学ヘッドおよび光情報処理装置
JP4846406B2 (ja) 2006-03-28 2011-12-28 リンテック株式会社 チップ用保護膜形成用シート
JPWO2008047610A1 (ja) * 2006-10-06 2010-02-25 住友ベークライト株式会社 半導体用フィルム、半導体用フィルムの製造方法および半導体装置
JP2008166451A (ja) 2006-12-27 2008-07-17 Furukawa Electric Co Ltd:The チップ保護用フィルム
JP4717051B2 (ja) 2007-11-08 2011-07-06 日東電工株式会社 ダイシング・ダイボンドフィルム
JP6045772B2 (ja) * 2008-08-27 2016-12-14 日立化成株式会社 感光性接着剤組成物、フィルム状接着剤、接着シート、接着剤パターン、接着剤層付半導体ウェハ、半導体装置、及び半導体装置の製造方法
WO2010024087A1 (ja) * 2008-08-27 2010-03-04 日立化成工業株式会社 感光性接着剤組成物、並びにそれを用いたフィルム状接着剤、接着シート、接着剤パターン、接着剤層付半導体ウェハ及び半導体装置
JP5144433B2 (ja) * 2008-08-28 2013-02-13 古河電気工業株式会社 チップ保護用フィルム
JP5388329B2 (ja) * 2008-11-26 2014-01-15 株式会社デンソー 放熱用シリコーングリース組成物
JP5153597B2 (ja) * 2008-12-05 2013-02-27 リンテック株式会社 チップ用保護膜形成用シートおよび保護膜付半導体チップ
JP5419916B2 (ja) * 2011-04-04 2014-02-19 三菱エンジニアリングプラスチックス株式会社 熱伝導性ポリカーボネート系樹脂組成物および成形体

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