JP5365010B2 - X線透視による3次元観測方法およびx線透視装置 - Google Patents
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Description
図1は本発明の実施の形態の外観図であり、図2はその全体のシステム構成を表すブロック図である。
2 X線検出器
3 支持アーム
4 コラム
5 傾動機構
6 Zステージ¥
7 試料ステージ
8 回転テーブル
9 XYテーブル
21 画像データ取り込み回路
22 表示制御部
23 表示器
24 制御部
25 画像メモリ
26 画像処理部
27 X線コントローラ
28 軸制御部
29 操作部
30 演算部
W 透視対象物
Claims (7)
- X線源とX線検出器の間に透視対象物を配置し、その透視対象物に対するX線源とX線検出器の相対位置を変化させることにより、透視方向を少なくとも3方向に相違させた透視対象物のX線透視像を取得し、その各X線透視像上で、あらかじめ設定されている特異部位の像を抽出するとともに、各透視方向のX線透視像上のそれぞれで抽出された複数個の特異部位の像について、特異部位の像の位置とその特異部位の像を抽出したときのX線透視像の透視方向におけるX線源位置とを結ぶ直線を第1および第2の透視方向で求め、求められた第1および第2の透視方向の直線をその他の透視方向におけるX線検出器上の2次元座標系に引き、この2次元座標系に引かれた第1および第2の透視方向の直線の交点に特異部位の像が存在する場合に、その交点に存在する特異部位の像、並びにその交点を形成する第1および第2の透視方向の直線を求めたときの各々の特異部位の像を透視方向間で対応する特異部位の像であるとして、透視方向間で対応付けし、各透視方向のX線透視像上の特異部位の像と、これらの各X線透視像を得たときのX線源とX線検出器の透視対象物に対する相対的な3次元位置情報とを用い、透視方向間で対応付けられた特異部位について3次元位置および/または3次元形状を算出することを特徴とするX線透視による3次元観測方法。
- 上記透視方向を、X線源とX線検出器を透視対象物に対して移動させることによって相違させることを特徴とする請求項1に記載のX線透視による3次元観測方法。
- 上記透視方向を、X線源とX線検出器に対して透視対象物を移動させることによって相違させることを特徴とする請求項1に記載のX線透視による3次元観測方法。
- X線源とX線検出器の対を互いに異なる位置に3対以上設けることによって、透視方向を少なくとも3方向に相違させた透視対象物のX線透視像を取得することを特徴とする請求項1に記載のX線透視による3次元観測方法。
- 互いに対向配置されたX線源とX線検出器と、これらの間に配置され、透視対象物を搭載する試料ステージと、上記X線検出器の出力に基づく試料ステージ上の透視対象物のX線透過データを用いて、当該透視対象物のX線透視像を構築して表示器に表示する表示手段と、上記X線源、X線検出器、および試料ステージの相対位置を変化させることにより、試料ステージ上の透視対象物の透視方向を変化させる移動機構を備えたX線透視装置において、
上記移動機構を駆動して上記試料ステージに対するX線源およびX線検出器の相対位置をあらかじめ設定されている位置に変化させることにより、透視方向を少なくとも3方向に相違させてX線透視像を取得し、記憶手段に記憶させる制御手段と、各透視方向のX線透視像から、あらかじめ設定されている特異部位の像を抽出する画像処理手段と、その各X線透視像上のそれぞれで抽出された複数個の特異部位の像について、特異部位の像の位置とその特異部位の像を抽出したときのX線透視像の透視方向におけるX線源位置とを結ぶ直線を第1および第2の透視方向で求め、求められた第1および第2の透視方向の直線をその他の透視方向におけるX線検出器上の2次元座標系に引き、この2次元座標系に引かれた第1および第2の透視方向の直線の交点に特異部位の像が存在する場合に、その交点に存在する特異部位の像、並びにその交点を形成する第1および第2の透視方向の直線を求めたときの各々の特異部位の像を透視方向間で対応する特異部位の像であるとして、透視方向間で対応付けし、各透視方向のX線透視像上の特異部位の像と、これらの各X線透視像を取得したときのX線源とX線検出器の試料ステージに対する相対的な3次元位置情報とを用い、透視方向間で対応付けられた特異部位について3次元位置および/または3次元形状を算出する演算手段を備えていることを特徴とするX線透視装置。 - 上記各透視方向からのX線透視像を同時に、もしくは選択的に個別に表示するとともに、その各X線透視像のうち、任意の一つのX線透視像上で特異部位の像を指定することにより、他の透視方向からのX線透視像上に、指定された特異部位の像を指し示すマークを表示器に表示する表示制御手段を備えていることを特徴とする請求項4に記載のX線透視装置。
- 透視対象物のサーフェースモデルを表示するとともに、そのサーフェースモデルに重ね合わせて、上記演算手段により演算された特異部位の3次元位置および/または3次元形状を表示する表示制御手段を備えていることを特徴とする請求項5に記載のX線透視装置。
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