JP5334536B2 - プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスク搬送方法、及び表示用パネル基板の製造方法 - Google Patents

プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスク搬送方法、及び表示用パネル基板の製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、液晶ディスプレイ装置等の表示用パネル基板の製造において、プロキシミティ方式を用いて基板の露光を行うプロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスク搬送方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に係り、特に、大型のマスクを位置決めしてマスクホルダに装着するのに好適なプロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスク搬送方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に関する。
表示用パネルとして用いられる液晶ディスプレイ装置のTFT(Thin Film Transistor)基板やカラーフィルタ基板、プラズマディスプレイパネル用基板、有機EL(Electroluminescence)表示パネル用基板等の製造は、露光装置を用いて、フォトリソグラフィー技術により基板上にパターンを形成して行われる。露光装置としては、レンズ又は鏡を用いてマスクのパターンを基板上に投影するプロジェクション方式と、マスクと基板との間に微小な間隙(プロキシミティギャップ)を設けてマスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ方式とがある。プロキシミティ方式は、プロジェクション方式に比べてパターン解像性能は劣るが、照射光学系の構成が簡単で、かつ処理能力が高く量産用に適している。
プロキシミティ露光装置は、基板を搭載するチャックと、マスクを保持するマスクホルダとを備え、マスクホルダに保持されたマスクとチャックに搭載された基板とを極めて接近させて露光を行う。通常、チャックは、基板の移動及び位置決めを行うステージ上に搭載されており、基板を真空吸着して固定する。マスクホルダは、基板を搭載したチャックの上方に設けられ、マスクの周辺部を真空吸着して固定する。チャックへの基板の搬入、及びチャックからの基板の搬出は、通常、基板搬送ロボットのハンドリングアームにより行われるが、マスクと基板との接触を避けるために、マスクの下の露光位置から離れたロード/アンロード位置で行われる。ロード/アンロード位置で基板をチャックに搭載した後、ステージがマスクの下の露光位置へ移動し、露光位置で基板の位置決めを行う。
マスクホルダへのマスクの搬入、及びマスクホルダからのマスクの搬出も、従来、マスク搬送ロボットのハンドリングアームにより行われていた。しかしながら、マスク搬送ロボットのハンドリングアームは片持式であるため、マスクが大型になってその重量が増大すると、ハンドリングアームがたわんで、マスクを水平に支持することができなくなり、またハンドリングアームの揺れが大きくなって、マスクホルダの下方へ移動するためのストロークを確保することが困難になってきた。これに対し、特許文献1には、チャックの外周縁部にマスクの一時支持部材を設け、マスクを一時支持部材に載置し、ステージによりマスクの搬送ずれを補正して、チャックの下面側に連結されたZ軸方向駆動機構によりマスクをマスクホルダの下端面に押圧する技術が開示されている。
特開2003−186199号公報
近年、表示用パネルの各種基板の製造では、大型化及びサイズの多様化に対応するため、比較的大きな基板を用意し、表示用パネルのサイズに応じて、1枚の基板から1枚又は複数枚の表示用パネル基板を製造している。この場合、プロキシミティ方式では、基板の一面を一括して露光しようとすると、基板と同じ大きさのマスクが必要となり、高価なマスクのコストがさらに増大する。そこで、基板より比較的小さなマスクを用い、ステージにより基板をXY方向にステップ移動しながら、基板の一面を複数のショットに分けて露光する方式が主流となっている。この方式では、マスクがチャックに搭載する基板より小さいため、特許文献1に記載の技術を適用することができなかった。
また、マスクと基板とを接近させる際、あるいはマスクと基板とを離す際には、マスクと基板との間の空気に押され又は引っ張られて、マスクホルダに保持されたマスクがたわむ。そして、たわんだマスクが元に戻るときに、マスクの位置ずれが発生する恐れがある。従来、マスク搬送ロボットのハンドリングアームを用いてマスクを搬送する場合は、マスクホルダに複数の位置決め用のピンを設け、マスクをマスクホルダに装着した後、位置決め用のピンによりマスクの側面を押して、マスクの位置を調節していた。この位置決め用のピンが、マスクと基板とを接近させる際、あるいはマスクと基板とを離す際に、マスクの位置ずれを防止する役割も果していた。しかしながら、マスクの装着前にマスクの位置決めを行う場合、従来の位置決め用のピンでマスクの位置ずれを防止しようとすると、位置決め用のピンをマスクの側面に当てる際に、位置決めしたマスクの位置がずれてしまうという問題があった。
本発明の課題は、基板より小さいマスクを、精度良く位置決めして、マスクホルダに装着することである。また、本発明の課題は、位置決めしたマスクの位置をずらすことなく、マスクと基板とを接近させる際、あるいはマスクと基板とを離す際のマスクの位置ずれを防止することである。さらに、本発明の課題は、高品質な表示用パネル基板を製造することである。
本発明によるプロキシミティ露光装置は、基板を搭載するチャックと、マスクを保持するマスクホルダと、チャックを移動するステージとを備え、マスクと基板との間に微小なギャップを設けて、マスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ露光装置において、ステージの移動を制御する第1の制御手段と、マスクをチャックへ搬入するマスク搬送装置と、チャックの内部から上昇する突き上げピン及び突き上げピンを上下に移動するモータを有し、チャックに取り付けられた複数の突き上げピンユニットと、マスクに設けられた位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第1の画像取得装置と、第1の画像取得装置を移動する移動手段と、第1の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、マスクの位置を検出する画像処理装置とを備え、複数の突き上げピンユニットが、突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、第1の制御手段が、画像処理装置が第1の画像取得装置の画像信号を処理して検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクの位置決めを行い、複数の突き上げピンユニットが、突き上げピンによりマスクをマスクホルダに装着するものである。
また、本発明によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法は、基板を搭載するチャックと、マスクを保持するマスクホルダと、チャックを移動するステージとを備え、マスクと基板との間に微小なギャップを設けて、マスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法であって、チャックの内部から上昇する突き上げピン及び突き上げピンを上下に移動するモータを有する複数の突き上げピンユニットをチャックに設け、マスクに設けられた位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第1の画像取得装置と、第1の画像取得装置を移動する移動手段とを設け、マスクをマスク搬送装置によりチャックへ搬入し、突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、移動手段により第1の画像取得装置を移動して、第1の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第1の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクの位置決めを行い、突き上げピンによりマスクをマスクホルダに装着するものである。
チャックの内部から上昇する突き上げピン及び突き上げピンを上下に移動するモータを有する複数の突き上げピンユニットをチャックに設け、突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取るので、マスクがチャックに搭載する基板より小さくても、マスクをチャックへ搬入することができる。そして、ステージによりチャックを移動してマスクの位置決めを行い、突き上げピンによりマスクをマスクホルダに装着するので、チャックへ搬入したマスクが、ステージにより精度良く位置決めされて、マスクホルダに装着される。
マスクの位置決めを精度良く行うためには、マスクの位置を精度良く検出する必要がある。マスクの位置の検出は、マスクの位置検出用マークの画像を取得して行うが、分解能が高い画像取得装置を用いる程、検出精度が高くなる。しかしながら、高分解能の画像取得装置は視野が狭く、マスクの位置がずれている場合に、マスクの位置検出用マークが視野に入らない恐れがある。そこで、マスクに設けられた位置検出用マークの画像を取得する第1の画像取得装置と、第1の画像取得装置を移動する移動手段とを設け、移動手段により第1の画像取得装置を移動して、第1の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得する。そして、第1の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクの位置決めを行う。マスクの位置がずれていても、高分解能の画像取得装置を用いて、マスクの位置が精度良く検出され、マスクの位置決めが精度良く行われる。
さらに、本発明によるプロキシミティ露光装置は、マスクホルダの上方に固定され、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第2の画像取得装置を備え、画像処理装置が、第2の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、第1の制御手段が、画像処理装置が第2の画像取得装置の画像信号を処理して検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、位置決めしたマスクの位置を補正するものである。
また、本発明によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法は、マスクホルダの上方に固定され、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第2の画像取得装置を設け、第2の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第2の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、位置決めしたマスクの位置を補正するものである。
第1の画像取得装置を移動すると、マスクの位置の検出結果には、第1の画像取得装置の移動誤差が含まれることとなる。そこで、マスクホルダの上方に固定され、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第2の画像取得装置を設け、第2の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得する。そして、第2の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、位置決めしたマスクの位置を補正する。マスクホルダの上方に固定された第2の画像取得装置を用いて、マスクの位置がより精度良く検出され、位置決めしたマスクの位置が精度良く補正される。
さらに、本発明によるプロキシミティ露光装置は、突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取るマスク受け取り位置の上空に、第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有し、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第3の画像取得装置を備え、画像処理装置が、第3の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、第1の制御手段が、画像処理装置が第3の画像取得装置の画像信号を処理して検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクをマスク受け取り位置からマスクホルダの下のマスク装着位置へ移動するものである。
また、本発明によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法は、マスクホルダの下のマスク装着位置とは別に設けたマスク受け取り位置で突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有し、マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第3の画像取得装置をマスク受け取り位置の上方に設け、第3の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第3の画像取得装置の画像信号を処理してマスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクをマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動するものである。
マスクホルダの下のマスク装着位置とは別に設けたマスク受け取り位置で突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、マスクをマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動する場合、マスク受け取り位置でマスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクをマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動するので、マスク受け取り位置で突き上げピンによりマスク搬送装置から受け取ったマスクの位置がずれていても、マスクがマスク装着位置へ精度良く移動される。
マスク受け取り位置でのマスクの位置の検出は、マスクの位置検出用マークの画像を取得して行うが、突き上げピンによりマスク搬送装置から受け取ったマスクの位置が大きくずれている場合、第1の画像取得装置と同様に分解能が高い画像取得装置を用いると、マスクの位置検出用マークを視野に入れるのに長時間を要する恐れがある。そこで、第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有する第3の画像取得装置をマスク受け取り位置の上方に設け、第3の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得する。突き上げピンがマスク搬送装置から受け取ったマスクの位置が大きくずれていても、マスクの位置検出用マークの画像が短時間に取得され、マスク受け取り位置でマスクの位置が短時間に検出される。
さらに、本発明によるプロキシミティ露光装置は、チャックの表面に設置され、マスクを載せた突き上げピンが下降したときマスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを備えたものである。また、本発明によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法は、マスクを載せた突き上げピンが下降したときマスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを、チャックの表面に設置するものである。突き上げピンがマスク搬送装置から基板を受け取った後、何らかの原因で突き上げピンが下降すると、マスクのパターン面がチャックの表面に接触して、パターンが損傷する恐れがある。そこで、マスクを載せた突き上げピンが下降したときマスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを、チャックの表面に設置して、マスクのパターン面がチャックの表面に接触するのを防止する。
さらに、本発明によるプロキシミティ露光装置は、マスクホルダに保持されたマスクの側面に接触してマスクの位置ずれを防止する位置ずれ防止ピン、位置ずれ防止ピンを移動してマスクの側面に接触させるモータ、及び位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触したことを検出するセンサーを有し、マスクホルダに取り付けられた複数の位置ずれ防止ピンユニットと、各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御する第2の制御手段とを備え、第2の制御手段が、各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御して、位置ずれ防止ピンをマスクの側面に向かって移動させ、センサーの検出結果に基づき、位置ずれ防止ピンの移動を停止するものである。
また、本発明によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法は、マスクホルダに保持されたマスクの側面に接触してマスクの位置ずれを防止する位置ずれ防止ピン、位置ずれ防止ピンを移動してマスクの側面に接触させるモータ、及び位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触したことを検出するセンサーを有する複数の位置ずれ防止ピンユニットをマスクホルダに設け、各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御して、位置ずれ防止ピンをマスクの側面に向かって移動させ、センサーの検出結果に基づき、位置ずれ防止ピンの移動を停止するものである。
各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御して、位置ずれ防止ピンをマスクの側面に向かって移動させ、位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触したことを検出するセンサーの検出結果に基づき、位置ずれ防止ピンの移動を停止するので、位置決めしたマスクの位置をずらすことなく、位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触し、マスクと基板とを接近させる際、あるいはマスクと基板とを離す際のマスクの位置ずれが防止される。
本発明の表示用パネル基板の製造方法は、上記のいずれかのプロキシミティ露光装置を用いて基板の露光を行い、あるいは、上記のいずれかのプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法を用いてマスクをマスクホルダに装着し、基板の露光を行うものである。マスクの位置決めが精度良く行われるので、パターンの転写が精度良く行われ、高品質な表示用パネル基板が製造される。
本発明のプロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法によれば、マスクをマスク搬送装置によりチャックへ搬入し、突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、移動手段により第1の画像取得装置を移動して、第1の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第1の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクの位置決めを行い、突き上げピンによりマスクをマスクホルダに装着することにより、基板より小さいマスクを、精度良く位置決めして、マスクホルダに装着することができる。
さらに、本発明のプロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法によれば、マスクホルダの上方に固定された第2の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第2の画像取得装置の画像信号を処理して、マスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、位置決めしたマスクの位置を補正することにより、マスクホルダの上方に固定された第2の画像取得装置を用いて、マスクの位置をより精度良く検出し、位置決めしたマスクの位置を精度良く補正することができる。
さらに、本発明のプロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法によれば、マスクホルダの下のマスク装着位置とは別に設けたマスク受け取り位置で突き上げピンによりマスク搬送装置からマスクを受け取り、第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有する第3の画像取得装置によりマスクの位置検出用マークの画像を取得し、第3の画像取得装置の画像信号を処理してマスクの位置を検出し、検出したマスクの位置に基づき、ステージによりチャックを移動して、マスクをマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動することにより、突き上げピンがマスク搬送装置から受け取ったマスクの位置が大きくずれていても、マスク受け取り位置でマスクの位置を短時間に検出して、マスクをマスク装着位置へ精度良く移動することができる。
さらに、本発明のプロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法によれば、突き上げピンが下降したときマスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを、チャックの表面に設置することにより、何らかの原因で突き上げピンが下降しても、マスクのパターン面がチャックの表面に接触してパターンが損傷するのを防止することができる。
さらに、本発明のプロキシミティ露光装置及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法によれば、マスクホルダに保持されたマスクの側面に接触してマスクの位置ずれを防止する位置ずれ防止ピン、位置ずれ防止ピンを移動してマスクの側面に接触させるモータ、及び位置ずれ防止ピンがマスクの側面に接触したことを検出するセンサーを有する複数の位置ずれ防止ピンユニットをマスクホルダに設け、各位置ずれ防止ピンユニットのモータを制御して、位置ずれ防止ピンをマスクの側面に向かって移動させ、センサーの検出結果に基づき、位置ずれ防止ピンの移動を停止することにより、位置決めしたマスクの位置をずらすことなく、マスクと基板とを接近させる際、あるいはマスクと基板とを離す際のマスクの位置ずれを防止することができる。
本発明の表示用パネル基板の製造方法によれば、マスクの位置決めを精度良く行うことができるので、パターンの転写を精度良く行って、高品質な表示用パネル基板を製造することができる。
図1は、本発明の一実施の形態によるプロキシミティ露光装置の概略構成を示す図である。また、図2は、本発明の一実施の形態によるプロキシミティ露光装置の平面図である。プロキシミティ露光装置は、ベース3、Xガイド4、Xステージ5、Yガイド6、Yステージ7、θステージ8、チャック支持台9、チャック10、突き上げピンユニット、突き上げピンユニットの制御系、マスクホルダ20、マスク保護スペーサ30、スペーサ設置装置31、マスク搬送ロボット40、マスクストッカー42、広視野カメラ51、高分解能可動カメラ52、カメラ移動機構53、高分解能固定カメラ54、画像処理装置55、Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、θステージ駆動回路73、及び主制御装置80を含んで構成されている。
なお、図1では、突き上げピンユニットの制御系、マスク保護スペーサ30、スペーサ設置装置31、マスク搬送ロボット40、マスクストッカー42、及びカメラ移動機構53が省略されている。また、図2では、突き上げピンユニットの制御系、画像処理装置55、Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、θステージ駆動回路73、及び主制御装置80が省略されている。プロキシミティ露光装置は、これらの他に、露光光を照射する照射光学系、ギャップセンサー、アライメント用センサー、装置内の温度管理を行う温度制御ユニット等を備えている。
なお、以下に説明する実施の形態におけるXY方向は例示であって、X方向とY方向とを入れ替えてもよい。
図2において、チャック10は、マスク2の受け取りを行うマスク受け取り位置にある。マスク搬送ロボット40は、マスク2を、マスクストッカー42から取り出して、マスク受け取り位置にあるチャック10へ搬入し、またマスク2を、マスク受け取り位置にあるチャック10から搬出して、マスクストッカー42に収納する。マスク搬送ロボット40のハンドリングアーム41には、マスク2のパターン面(下面)のパターンが形成されていない周辺部に接触するマスク支持部41aが設けられており、ハンドリングアーム41は、マスク支持部41aによりマスク2のパターン面(下面)の周辺部を支持する。後述する突き上げピンユニットの突き上げピンは、マスク2をチャック10へ搬入する際、マスク搬送ロボット40のハンドリングアーム41からマスク2を受け取り、マスク2をチャック10から搬出する際、マスク搬送ロボット40のハンドリングアーム41へマスク2を受け渡す。チャック10へ搬入されたマスク2は、後述する様に、マスクホルダ20の下のマスク装着位置へ移動され、マスク装着位置においてマスクホルダ20へ装着される。
基板の露光を行う際、チャック10は、まず、基板のロード/アンロードを行うロード/アンロード位置へ移動される。ロード/アンロード位置において、基板がチャック10にロードされ、また基板がチャック10からアンロードされる。基板がロードされたチャック10は、ロード/アンロード位置から基板の露光を行う露光位置へ移動される。
露光位置の上空には、マスク2を保持するマスクホルダ20が設置されている。マスクホルダ20は、マスク2の周辺部を真空吸着して保持する。マスクホルダ20に保持されたマスク2の上空には、図示しない照射光学系が配置されている。露光時、照射光学系からの露光光がマスク2を透過して基板へ照射されることにより、マスク2のパターンが基板1の表面に転写され、基板1上にパターンが形成される。
図1において、チャック10は、チャック支持台9を介してθステージ8に搭載されており、θステージ8の下にはYステージ7及びXステージ5が設けられている。Xステージ5は、ベース3に設けられたXガイド4に搭載され、Xガイド4に沿ってX方向(図1の図面横方向)へ移動する。Yステージ7は、Xステージ5に設けられたYガイド6に搭載され、Yガイド6に沿ってY方向(図1の図面奥行き方向)へ移動する。θステージ8は、Yステージ7に搭載され、θ方向へ回転する。チャック支持台9は、θステージ8に搭載され、チャック10の裏面を複数の点で支持する。Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、θステージ駆動回路73は、主制御装置80の制御により、Xステージ5、Yステージ7、θステージ8をそれぞれ駆動する。
Xステージ5のX方向への移動及びYステージ7のY方向への移動により、チャック10は、ロード/アンロード位置と露光位置との間を移動される。ロード/アンロード位置において、Xステージ5のX方向への移動、Yステージ7のY方向への移動、及びθステージ8のθ方向への回転により、チャック10に搭載された基板のプリアライメントが行われる。露光位置において、Xステージ5のX方向への移動及びYステージ7のY方向への移動により、チャック10に搭載された基板のXY方向へのステップ移動が行われる。そして、Xステージ5のX方向への移動、Yステージ7のY方向への移動、及びθステージ8のθ方向への回転により、基板のアライメントが行われる。また、図示しないZ−チルト機構によりマスクホルダ20をZ方向(図1の図面上下方向)へ移動及びチルトすることにより、マスク2と基板とのギャップ合わせが行われる。
なお、本実施の形態では、マスクホルダ20をZ方向へ移動及びチルトすることにより、マスク2と基板とのギャップ合わせを行っているが、チャック支持台9にZ−チルト機構を設けて、チャック10をZ方向へ移動及びチルトすることにより、マスク2と基板とのギャップ合わせを行ってもよい。
図3は、チャックの上面図である。チャック10の表面には、図示しない凸部と土手と吸着孔とが設けられている。凸部は、直径数mmのピン形状であり、チャック10の表面に所定の間隔で複数設けられている。チャック10に基板が搭載されたとき、凸部は、基板を複数の点で支持する。このとき、チャック10の表面の凸部以外の部分と基板との間には、空間が形成される。土手は、所定の幅の連続した壁であり、チャック10の表面の凸部以外の部分と基板との間に形成された空間を、複数の真空区画に分ける。土手は、チャック10の表面形状が基板の表面に焼き付けられる裏面転写が発生したときに人間の目で認識され難い様に、直線ではなく不規則な線で構成されている。吸着孔は、チャック10の表面の凸部及び土手以外の部分に所定の間隔で複数設けられ、土手により分けられた各真空区画の真空引きを行う。
また、チャック10には、図示しない複数の基板受け取り/受け渡し用の突き上げピンが設けられている。基板受け取り/受け渡し用の突き上げピンは、チャック10の表面より上昇して、基板をチャック10にロードする際、図示しない基板搬送ロボットから基板を受け取り、また基板をチャックからアンロードする際、図示しない基板搬送ロボットへ基板を受け渡す。
図3において、チャック10の中央部付近には、後述する突き上げピンユニットが挿入される複数の開口が設けられており、開口には蓋13がはめられている。蓋13には貫通孔が設けられており、貫通孔には蓋13の下方から突き上げピン12が挿入されている。なお、本実施の形態では、チャック10の中央部付近に16個の開口が設けられているが、開口の位置及び数はこれに限定されるものではない。
図4(a)はチャックに設けられた開口の上面図、図4(b)は図4(a)のA−A部の断面図である。また、図5(a)はチャックに設けられた開口の上面図、図5(b)は図5(a)のB−B部の断面図である。突き上げピンユニットは、モータ11、突き上げピン12、蓋13、フランジ14、ボルト15,17、及び止めねじ16を含んで構成されている。
モータ11は、パルスモータと、パルスモータに接続されたボールねじと、ロッドとを含んで構成され、パルスモータでボールねじを駆動することにより、ロッド収納部11a内に収納されたロッドが、上昇及び下降する。モータ11のロッドの先端には、突き上げピン12が取り付けられている。
図4(b)において、モータ11のロッド収納部11aの上面には、フランジ14が取り付けられ、フランジ14は、ボルト15により蓋13の裏面に固定されている。一方、チャック10の裏面の開口周辺には、蓋13を支持するリング状の支持プレート18が取り付けられている。支持プレート18は、ボルト19によりチャック10の裏面に固定されている。
図4(a)及び図5(a)において、蓋13の周辺部には、止めねじ16をねじ込むねじ穴と、ボルト17を通す段差付き穴とが、複数箇所に設けられている。図4(b)において、蓋13は、蓋13の周辺部の段差付き穴に通したボルト17により、支持プレート18に固定されている。図5(b)において、止めねじ16は、蓋13の周辺部のねじ穴にねじ込まれ、蓋13の底面から突き出て、支持プレート18の上面に接触している。
本実施の形態では、突き上げピンユニットをチャック10に取り付ける際、まず、チャック10の上方から、突き上げピンユニットを開口に挿入し、止めねじ16のねじ込み量を調整して、突き上げピンユニットの取り付け高さを調整する。そして、ボルト17により蓋13を支持プレート18に固定して、突き上げピンユニットをチャック10に取り付ける。突き上げピンユニットを、チャック10の上方から、開口に挿入し、止めねじ16により取り付け高さを調整して、チャック10に取り付けるので、チャック10の外側から手又は治具が届きにくいチャックの中央部付近であっても、突き上げピンユニットの取り付け高さの調整がチャック10の上方から容易に行われる。従って、基板の大型化に伴いチャック10が大型化しても、突き上げピン12の高さが容易に調整される。
図6は、突き上げピンユニットの制御系を示す図である。突き上げピン駆動制御回路50は、主制御装置80の制御により、各突き上げピンユニットのモータ11に対して、突き上げピン12の移動先を指定して、突き上げピン12の移動先への移動を指示する。モータ11は、内部にエンコーダを有し、エンコーダは、突き上げピン12が指示された移動先から所定の範囲内に達すると、移動が終了した旨の終了信号を、突き上げピン駆動制御回路50へ出力する。
以下、本発明の一実施の形態によるプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法について説明する。図2において、マスク受け取り位置にあるチャック10の上空には、スペーサ設置装置31及び広視野カメラ51が配置されている。図7は、スペーサ設置装置及び広視野カメラの配置を示す図である。図7において、マスク搬送ロボット40により搬入されるマスク2は、破線で示されている。スペーサ設置装置31は、マスク2の周辺部の上方に配置され、後述する様に、マスク保護スペーサ30を、チャック10の上方から、チャック10の表面に設置する。広視野カメラ51は、マスク2に設けられた位置検出用マークの上方に配置され、マスク2の位置検出用マークの画像を取得する。
図8(a)はマスク保護スペーサの上面図、図8(b)は図8(a)の矢印Cの方向から見たマスク保護スペーサの側面図、図8(c)は図8(a)の矢印Dの方向から見たマスク保護スペーサの側面図である。マスク保護スペーサ30は、平坦面30aと、平坦面30aよりも高い段差面30bと、平坦面30aと段差面30bとの間に設けられた傾斜面30cとを有する。マスク保護スペーサ30の側面には、図8(b)及び図8(c)に示す様に、水平方向に伸びる溝30dが設けられている。マスク2を載せた突き上げピン12が下降したとき、マスク2のパターン面(下面)の縁が傾斜面30cにより案内され、平坦面30aがマスクのパターン面(下面)のパターンが形成されていない周辺部に接触してマスク2を支持する。
図9(a)はスペーサ設置装置の側面図、図9(b)はスペーサ設置装置の正面図である。スペーサ設置装置31は、エアシリンダテーブル32、チャックベース33、エアチャック34、ブラケット35、クランプ36、及び爪37を含んで構成されている。エアシリンダテーブル32は、図示しない空気圧回路から供給されるエアの圧力によりエアシリンダを駆動して、テーブル32aを図面下方向へ移動する。エアシリンダテーブル32のテーブル32aには、断面がL字形のチャックベース33が取り付けられており、チャックベース33の下端には、エアチャック34が取り付けられている。図9(b)に示す様に、エアチャック34に接続された2つのブラケット35には、クランプ36がそれぞれ取り付けられており、2つのクランプ36は、エアチャック34の駆動により、図9(b)の図面横方向へ移動して開閉する。各クランプ36には、マスク保護スペーサ30の側面に設けられた溝30dに引っ掛かる爪37が設けられており、2つのクランプ36は、図9(b)に示す閉じた状態で、爪37をマスク保護スペーサ30の溝30dに引っ掛けて、マスク保護スペーサ30を保持する。
図10は、スペーサ設置装置の動作を説明する図である。スペーサ設置装置31は、マスク2がチャック10へ搬入される前に、マスク保護スペーサ30をチャック10の表面に設置する。マスク保護スペーサ30を設置する前は、図10(a)に示す様に、エアシリンダテーブル32のテーブル32aが上昇した状態にあり、クランプ36がマスク保護スペーサ30をチャック10の上空で保持している。マスク保護スペーサ30を設置するとき、スペーサ設置装置31は、図10(b)に示す様に、エアシリンダテーブル32のテーブル32aを下降させ、クランプ36に保持されたマスク保護スペーサ30をチャック10の表面へ移動する。そして、クランプ36を開いて、マスク保護スペーサ30をチャック10の表面に置く。その後、スペーサ設置装置31は、図10(c)に示す様に、エアシリンダテーブル32のテーブル32aを再び上昇させて、待機する。マスク保護スペーサ30をチャック10から回収するときは、上記と逆の動作を行う。
なお、本実施の形態では、スペーサ設置装置31をチャック10の上空に配置し、マスク保護スペーサ30をチャック10の上方からチャック10の表面に設置しているが、マスク保護スペーサをチャック10に内蔵し、マスク保護スペーサをチャック10の表面から上昇させる様にしてもよい。
図11は、マスク保護スペーサが設置されたチャックの上面図である。チャック10の表面に設置されたマスク保護スペーサ30は、破線で示すマスク2を載せた突き上げピン12が下降したとき、マスク2のパターン面(下面)のパターンが形成されていない周辺部に接触してマスク2を支持する。これにより、マスク2のパターン面(下面)がチャック10の表面に接触してパターンが損傷するのが防止される。
図12は、突き上げピンユニット及びマスク搬送ロボットの動作を説明する図である。マスク2をチャック10へ搬入する際、まず、各突き上げピンユニットのモータ11は、突き上げピン12を上昇させる(図12(a))。マスク搬送ロボット40は、マスク2を載せたハンドリングアーム41を、チャック10の上空へ移動する(図12(a))。次に、マスク搬送ロボット40は、ハンドリングアーム41を下降させて、マスク2を突き上げピン12に載せ(図12(b))、ハンドリングアーム41をさらに下降させて、ハンドリングアーム41のマスク支持部41aをマスク2から離す(図12(c))。これにより、各突き上げピン12は、マスク搬送ロボット40からマスク2を受け取る。次に、マスク搬送ロボット40は、ハンドリングアーム41をチャック10の上空から退避させる(図12(d))。
チャック10の内部から上昇する突き上げピン12及び突き上げピンを上下に移動するパルスモータ11を有する複数の突き上げピンユニットをチャック10に設け、突き上げピン12によりマスク搬送ロボット40からマスク1を受け取るので、マスク2がチャック10に搭載する基板より小さくても、マスク2をチャック10へ搬入することができる。
チャック10をマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動する際、各突き上げピンユニットのモータ11は、突き上げピン12を下降させて、マスク2をマスク保護スペーサ30に載せる。マスク2をチャック10から搬出する際は、上記と逆の動作を行う。
図13は、マスク受け取り位置でマスクがチャックへ搬入された状態を示す図である。マスク受け取り位置にあるチャック10の上空に配置された広視野カメラ51は、後述する高分解能可動カメラ52及び高分解能固定カメラ54よりも分解能が低くて広い視野を有し、突き上げピン12に載せられたマスク2の位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を図1の画像処理装置55へ出力する。画像処理装置55は、広視野カメラ51が出力した画像信号を処理して、マスク2の位置を検出する。突き上げピン12がマスク搬送ロボット40から受け取ったマスク2の位置が大きくずれていても、広視野カメラ51を用いてマスク2の位置検出用マークの画像が短時間に取得され、マスク受け取り位置でマスク2の位置が短時間に検出される。
図1において、主制御装置80は、画像処理装置55が広視野カメラ51の画像信号を処理して検出したマスク2の位置の検出結果を入力し、予め記憶したマスク受け取り位置でのマスク2の基準位置と比較して、マスク2の位置のずれ量を検出する。続いて、主制御装置80は、Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、及びθステージ駆動回路73を制御して、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動し、マスク2をマスク受け取り位置からマスクホルダ20の下のマスク装着位置へ移動する。その際、主制御装置80は、予め記憶したマスク2の基準位置の座標とマスク装着位置の座標とから、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8の移動量を決定し、検出したマスク2の位置のずれ量に基づいて、決定した移動量を補正する。
マスク受け取り位置でマスク2の位置を検出し、検出したマスク2の位置に基づき、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動して、マスク2をマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動するので、マスク受け取り位置で突き上げピン12によりマスク搬送ロボット40から受け取ったマスク2の位置がずれていても、マスク2がマスク装着位置へ精度良く移動される。
図14は、マスクホルダの上面図である。マスクホルダ20には、露光光が通る開口20aよりも一回り大きな開口が設けられており、この開口の内側に、ホルダ部21a,21bによって露光光が通る開口20aが形成されている。ホルダ部21a,21bは、マスクホルダ20の下面に取り付けられており、ホルダ部21a,21bのマスクホルダ20より下の部分は破線で示されている。ホルダ部21a,21bは、破線で示すマスク2の周辺部を真空吸着して保持している。ホルダ部21aには、マスク2の位置検出用マークの位置に、後述するマスク位置検出窓が設けられており、マスク位置検出窓の上空には、高分解能可動カメラ52及び高分解能固定カメラ54が配置されている。高分解能可動カメラ52は、カメラ移動機構53に取り付けられており、カメラ移動機構53により、マスクホルダ20の上方でX方向及びY方向へ移動され、θ方向へ回転される。高分解能固定カメラ54は、マスクホルダ20の上方に固定されている。
図15は、マスクホルダにマスクを装着する動作を説明する図である。マスク装着位置において、マスクホルダにマスクを装着する際、まず、各突き上げピンユニットのモータ11は、マスク2の位置検出用マークが高分解能可動カメラ52の焦点に合う高さまで、突き上げピン12を上昇させる(図15(a))。高分解能可動カメラ52は、ホルダ部21aに設けられたマスク位置検出窓22を通して、マスク2の位置検出用マークの画像を取得する。このとき、マスク装着位置へ移動したマスク2の位置がわずかにずれて、マスク2の位置検出用マークが高分解能可動カメラ52の視野から外れている場合、カメラ移動機構53により高分解能可動カメラ52を移動して、マスク2の位置検出用マークを高分解能可動カメラ52の視野に入れる。高分解能可動カメラ52は、取得した画像の画像信号を、図1の画像処理装置55へ出力する。画像処理装置55は、高分解能可動カメラ52が出力した画像信号を処理して、マスク2の位置を検出する。
図1において、主制御装置80は、画像処理装置55が高分解能可動カメラ52の画像信号を処理して検出したマスク2の位置の検出結果を入力し、予め記憶したマスク装着位置でのマスク2の基準位置と比較して、マスク2の位置のずれ量を検出する。そして、主制御装置80は、検出したマスク2の位置のずれ量に基づいて、Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、及びθステージ駆動回路73を制御して、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動し、マスク2の位置決めを行う。マスク装着位置においてマスク2の位置がずれていても、高分解能可動カメラ52を用いて、マスク2の位置が精度良く検出され、マスク2の位置決めが精度良く行われる。
図15において、マスク2の位置決め終了後、各突き上げピンユニットのモータ11は、突き上げピン12をさらに上昇させて、マスク2をホルダ部21a,21bへ押し付ける(図15(b))。ホルダ部21a,21bへ押し付けられたマスク2の上空には、負圧ガラス23が設けられており、負圧ガラス23とマスク2との間に負圧室が形成される。ホルダ部21a,21bには図示しない吸着溝が設けられており、負圧室内の圧力が制御された後、ホルダ部21a,21bは、図示しない吸着溝によりマスク2の周辺部を真空吸着する。
Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動してマスク2の位置決めを行い、突き上げピン12によりマスク2をマスクホルダ20に装着するので、チャック10へ搬入したマスク2が、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8により精度良く位置決めされて、マスクホルダ20に装着される。
ホルダ部21a,21bがマスク2を真空吸着した後、高分解能固定カメラ54は、ホルダ部21aに設けられたマスク位置検出窓22を通して、マスク2の位置検出用マークの画像を取得し、画像信号を図1の画像処理装置55へ出力する。画像処理装置55は、高分解能固定カメラ54が出力した画像信号を処理して、マスク2の位置を検出する。
図1において、主制御装置80は、画像処理装置55が高分解能固定カメラ54の画像信号を処理して検出したマスク2の位置の検出結果を入力し、予め記憶したマスク装着位置でのマスク2の基準位置と比較して、マスク2の位置のずれ量を検出し、マスク2の位置の補正が必要か否かを判断する。本実施の形態では、高分解能可動カメラ52を移動してマスク2の位置を検出した場合、マスク2の位置の検出結果には、高分解能可動カメラ52の移動誤差が含まれることとなる。そのため、画像処理装置55が高分解能可動カメラ52の画像信号を処理して検出したマスク2の位置に基づいて位置決めされたマスク2の位置が、マスク2の基準位置からずれる恐れがある。
マスク2の位置の補正が必要な場合、マスク2の真空吸着を解除し、負圧室内の圧力を大気圧に戻した後、突き上げピン12を下降させて、マスク2をホルダ部21a,21bから離す。そして、主制御装置80は、検出したマスク2の位置のずれ量に基づいて、Xステージ駆動回路71、Yステージ駆動回路72、及びθステージ駆動回路73を制御して、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動し、マスク2の位置を補正する。マスクホルダ20の上方に固定された高分解能固定カメラ54を用いて、マスク2の位置がより精度良く検出され、位置決めしたマスク2の位置が精度良く補正される。
マスク2の位置の補正を行った後、各突き上げピンユニットのモータ11は、突き上げピン12を再び上昇させて、マスク2をホルダ部21a,21bへ押し付ける。負圧室内の圧力を制御した後、ホルダ部21a,21bは、図示しない吸着溝によりマスク2を真空吸着する。マスク2の装着が終了した後、各突き上げピンユニットのモータ11は、突き上げピン12を下降させる(図15(c))。そして、チャック10をマスク受け取り位置へ戻し、スペーサ設置装置31により、マスク保護スペーサ30をチャック10から回収する。
基板の露光において、マスク2と基板とのギャップ合わせの際、あるいはマスク2と基板とを離す際には、マスク2と基板との間の空気に押され又は引っ張られて、マスクホルダ20に保持されたマスク2がたわむ。そして、たわんだマスク2が元に戻るときに、マスク2の位置ずれが発生する恐れがある。本実施の形態では、マスクホルダの下面に位置ずれ防止ピンユニットを設け、マスク2と基板とを接近させる際、あるいはマスク2と基板とを離す際のマスク2の位置ずれを防止する。
図16は、マスクホルダの下面に設けられた位置ずれ防止ピンユニットを示す図である。本実施の形態では、位置ずれ防止ピンとして、基準ピン及び押圧ピンの二種類のピンを使用する。基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットは、基準ピン61、パルスモータ62、ボールねじ63、及び接触センサー64を含んで構成され、マスク2の向かい合う二辺の一方の側に設けられている。押圧ピンの位置ずれ防止ピンユニットは、押圧ピン66及びエアシリンダ67を含んで構成され、マスク2の向かい合う二辺の他方の側に設けられている。
なお、本実施の形態では、基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットと押圧ピンの位置ずれ防止ピンユニットとを設けているが、押圧ピンの位置ずれ防止ピンユニットの代わりに基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットを設け、全てを基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットとしてもよい。また、本実施の形態では、位置ずれ防止ピンユニットを、マスク2の長辺側に2つ、短辺側に1つ設けているが、位置ずれ防止ピンユニットの数及び位置は、マスク2の寸法に応じて適宜決定される。
図17は、基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットの動作を説明する図である。パルスモータ62にはボールねじ63が接続されており、ボールねじ63のナットには基準ピン61及び接触センサー64が取り付けられている。パルスモータ62がボールねじ63を駆動することにより、基準ピン61及び接触センサー64が、マスク2の側面に向かって移動される。図17(a)に示す様に、接触センサー64の先端部は、基準ピン61の先端よりも、距離Dだけ突き出ている。
図16の基準ピン駆動制御回路65は、パルスモータ62を制御して、基準ピン61及び接触センサー64を、マスク2の側面に向かって移動させる。接触センサー64の先端部は、マスク2の側面に突き当たると変位し、接触センサー64は、その変位量を検出して、検出信号を基準ピン駆動制御回路65へ出力する。図17(a)に示す様に、接触センサー64の先端部がマスク2の側面に接触しない状態では、接触センサー64の先端部の変位量は零となる。図17(b)に示す様に、接触センサー64の先端部がマスク2の側面に接触すると、それ以降、接触センサー64の先端部の変位量は、基準ピン61及び接触センサー64の移動量と同じになる。
基準ピン駆動制御回路65は、接触センサー64の先端部の変位量が、基準ピン61及び接触センサー64の移動量と同じになると、基準ピン61及び接触センサー64の移動速度を遅くする。基準ピン61及び接触センサー64を低速でさらに移動して、図17(c)に示す様に、基準ピン61の先端がマスク2の側面に接触すると、それ以降、基準ピン61及び接触センサー64を移動しても、接触センサー64の先端部の変位量は変化しない。基準ピン駆動制御回路65は、基準ピン61の先端がマスク2の側面に接触して接触センサー64の先端部の変位量が変化しなくなると、基準ピン61及び接触センサー64の移動を停止する。基準ピン61がマスク2の側面に接触すると、基準ピン61の移動を停止するので、マスク2が基準ピン61に押されて位置決めしたマスク2の位置がずれることがない。
図16において、基準ピン61の先端をマスク2の側面に接触させた後、押圧ピン駆動制御回路68は、エアシリンダ67へエアを供給し、エアシリンダ67は、押圧ピン66をマスク2の側面へ押し付ける。マスク2と基板とを接近させる際、あるいはマスク2と基板とを離す際に、マスクホルダ20に保持されたマスク2がたわむと、マスク2の側面は、マスクの中心方向へ移動する。基準ピン61は、マスク2の側面の移動に追従せず、マスク2の側面は、基準ピン61の先端から離れる。押圧ピン66は、マスク2の側面の移動に追従して移動する。たわんだマスク2が元に戻るとき、マスク2の基準ピン61側の側面は、基準ピン61に接触して位置決めされ、マスク2の押圧ピン66側の側面は、押圧ピン66の押す力に打ち勝って元の位置へ戻る。従って、マスク2と基板とを接近させる際、あるいはマスク2と基板とを離す際のマスクの位置ずれが防止される。
以上説明した実施の形態によれば、マスク2をマスク搬送ロボット40によりチャック10へ搬入し、突き上げピン12によりマスク搬送ロボット40からマスク2を受け取り、カメラ移動機構53により高分解能可動カメラ52を移動して、高分解能可動カメラ52によりマスク2の位置検出用マークの画像を取得し、高分解能可動カメラ52の画像信号を処理して、マスク2の位置を検出し、検出したマスク2の位置に基づき、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動して、マスク2の位置決めを行い、突き上げピン12によりマスク2をマスクホルダ20に装着することにより、基板より小さいマスク2を、精度良く位置決めして、マスクホルダ20に装着することができる。
さらに、マスクホルダ20の上方に固定された高分解能固定カメラ54によりマスク2の位置検出用マークの画像を取得し、高分解能固定カメラ54の画像信号を処理して、マスク2の位置を検出し、検出したマスク2の位置に基づき、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャック10を移動して、位置決めしたマスク2の位置を補正することにより、マスクホルダ20の上方に固定された高分解能固定カメラ54を用いて、マスク2の位置をより精度良く検出し、位置決めしたマスク2の位置を精度良く補正することができる。
さらに、マスクホルダ20の下のマスク装着位置とは別に設けたマスク受け取り位置で突き上げピン12によりマスク搬送ロボット40からマスク2を受け取り、高分解能可動カメラ52よりも分解能が低くて広い視野を有する広視野カメラ51によりマスク2の位置検出用マークの画像を取得し、広視野カメラ2の画像信号を処理してマスク2の位置を検出し、検出したマスク2の位置に基づき、Xステージ5、Yステージ7、及びθステージ8によりチャックを移動して、マスク2をマスク受け取り位置からマスク装着位置へ移動することにより、突き上げピン12がマスク搬送ロボット40から受け取ったマスク2の位置が大きくずれていても、マスク受け取り位置でマスク2の位置を短時間に検出して、マスク2をマスク装着位置へ精度良く移動することができる。
さらに、突き上げピン12が下降したときマスク2のパターン面の周辺部に接触する複数のマスク保護スペーサ30を、チャック10の表面に設置することにより、何らかの原因で突き上げピン12が下降しても、マスク2のパターン面がチャック10の表面に接触してパターンが損傷するのを防止することができる。
さらに、マスクホルダ20に保持されたマスク2の側面に接触してマスク2の位置ずれを防止する基準ピン61、基準ピン61を移動してマスク2の側面に接触させるパルスモータ62、及び基準ピン61がマスク2の側面に接触したことを検出する接触センサー64を有する複数の位置ずれ防止ピンユニットをマスクホルダ20に設け、各位置ずれ防止ピンユニットのパルスモータ62を制御して、基準ピン61をマスク2の側面に向かって移動させ、接触センサー40の検出結果に基づき、基準ピン61の移動を停止することにより、位置決めしたマスク2の位置をずらすことなく、マスク2と基板とを接近させる際、あるいはマスク2と基板とを離す際のマスク2の位置ずれを防止することができる。
本発明のプロキシミティ露光装置を用いて基板の露光を行い、あるいは、本発明のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法を用いてマスクをマスクホルダに装着し、基板の露光を行うことにより、マスクの位置決めを精度良く行うことができるので、パターンの転写を精度良く行って、高品質な表示用パネル基板を製造することができる。
例えば、図18は、液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。薄膜形成工程(ステップ101)では、スパッタ法やプラズマ化学気相成長(CVD)法等により、基板上に液晶駆動用の透明電極となる導電体膜や絶縁体膜等の薄膜を形成する。レジスト塗布工程(ステップ102)では、ロール塗布法等により感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布して、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜上にフォトレジスト膜を形成する。露光工程(ステップ103)では、プロキシミティ露光装置や投影露光装置等を用いて、マスクのパターンをフォトレジスト膜に転写する。現像工程(ステップ104)では、シャワー現像法等により現像液をフォトレジスト膜上に供給して、フォトレジスト膜の不要部分を除去する。エッチング工程(ステップ105)では、ウエットエッチングにより、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜の内、フォトレジスト膜でマスクされていない部分を除去する。剥離工程(ステップ106)では、エッチング工程(ステップ105)でのマスクの役目を終えたフォトレジスト膜を、剥離液によって剥離する。これらの各工程の前又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。これらの工程を数回繰り返して、基板上にTFTアレイが形成される。
また、図19は、液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)では、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、剥離等の処理により、基板上にブラックマトリクスを形成する。着色パターン形成工程(ステップ202)では、染色法、顔料分散法、印刷法、電着法等により、基板上に着色パターンを形成する。この工程を、R、G、Bの着色パターンについて繰り返す。保護膜形成工程(ステップ203)では、着色パターンの上に保護膜を形成し、透明電極膜形成工程(ステップ204)では、保護膜の上に透明電極膜を形成する。これらの各工程の前、途中又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。
図18に示したTFT基板の製造工程では、露光工程(ステップ103)において、図19に示したカラーフィルタ基板の製造工程では、ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)及び着色パターン形成工程(ステップ202)の露光処理において、本発明のプロキシミティ露光装置又は本発明のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法を適用することができる。
本発明の一実施の形態によるプロキシミティ露光装置の概略構成を示す図である。 本発明の一実施の形態によるプロキシミティ露光装置の平面図である。 チャックの上面図である。 図4(a)はチャックに設けられた開口の上面図、図4(b)は図4(a)のA−A部の断面図である。 図5(a)はチャックに設けられた開口の上面図、図5(b)は図5(a)のB−B部の断面図である。 突き上げピンユニットの制御系を示す図である。 スペーサ設置装置及び広視野カメラの配置を示す図である。 図8(a)はマスク保護スペーサの上面図、図8(b)は図8(a)の矢印Cの方向から見たマスク保護スペーサの側面図、図8(c)は図8(a)の矢印Dの方向から見たマスク保護スペーサの側面図である。 図9(a)はスペーサ設置装置の側面図、図9(b)はスペーサ設置装置の正面図である。 スペーサ設置装置の動作を説明する図である。 マスク保護スペーサが設置されたチャックの上面図である。 突き上げピンユニット及びマスク搬送ロボットの動作を説明する図である。 マスク受け取り位置でマスクがチャックへ搬入された状態を示す図である。 マスクホルダの上面図である。 マスクホルダにマスクを装着する動作を説明する図である。 マスクホルダの下面に設けられた位置ずれ防止ピンユニットを示す図である。 基準ピンの位置ずれ防止ピンユニットの動作を説明する図である。 液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。 液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。
符号の説明
1 基板
2 マスク
3 ベース
4 Xガイド
5 Xステージ
6 Yガイド
7 Yステージ
8 θステージ
9 チャック支持台
10 チャック
11 モータ
12 突き上げピン
13 蓋
14 フランジ
15,17,19 ボルト
16 止めねじ
18 支持プレート
20 マスクホルダ
21a、21b ホルダ部
22 マスク位置検出窓
23 負圧ガラス
30 マスク保護スペーサ
31 スペーサ設置装置
32 エアシリンダテーブル
33 チャックベース
34 エアチャック
35 ブラケット
36 クランプ
37 爪
40 マスク搬送ロボット
41 ハンドリングアーム
41a マスク支持部
42 マスクストッカー
50 突き上げピン駆動制御回路
51 広視野カメラ
52 高分解能可動カメラ
53 カメラ移動機構
54 高分解能固定カメラ
55 画像処理装置
61 基準ピン(位置ずれ防止ピン)
62 パルスモータ
63 ボールねじ
64 接触センサー
65 基準ピン駆動制御回路
66 押圧ピン(位置ずれ防止ピン)
67 エアシリンダ
68 押圧ピン駆動制御回路
71 Xステージ駆動回路
72 Yステージ駆動回路
73 θステージ駆動回路
80 主制御装置

Claims (12)

  1. 基板を搭載するチャックと、マスクを保持するマスクホルダと、前記チャックを移動するステージとを備え、前記マスクと前記基板との間に微小なギャップを設けて、前記マスクのパターンを前記基板へ転写するプロキシミティ露光装置において、
    前記マスクを前記チャックへ搬入するマスク搬送装置と、
    前記チャックの表面に設けられた複数の開口を介して複数の突き上げピンを上昇及び下降させることによって前記マスクを前記マスク搬送装置から受け取ると共に前記マスクホルダに装着する複数の突き上げピンユニットと、
    前記マスクに設けられた位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第1の画像取得装置と、
    前記第1の画像取得装置を移動する移動手段と、
    前記第1の画像取得装置が出力した前記画像信号を処理して、前記マスクの位置を検出する画像処理装置と、
    前記画像処理装置が検出した前記マスクの位置に基づき、前記ステージの移動を制御することにより前記チャックを移動して前記マスクの位置決めを行なう第1の制御手段と、
    前記マスクホルダに保持され、前記マスクの側面に接触する位置ずれ防止ピンを移動して前記マスクの側面に接触させることによって前記マスクの位置ずれを防止する複数の位置ずれ防止ピンユニットと、
    前記複数の位置ずれ防止ピンユニットの一部に設けられ、前記位置ずれ防止ピンが前記マスクの側面に接触したことを検出するセンサーと、
    前記複数の位置ずれ防止ピンユニットを駆動して、前記位置ずれ防止ピン及び前記センサーをマスクの側面に向かって移動させ、前記位置ずれ防止ピンが前記マスク側面に接触したことを前記センサーが検出した時点で前記位置ずれ防止ピンの移動を停止する第2の制御手段と
    を備えたことを特徴とするプロキシミティ露光装置。
  2. 前記マスクホルダの上方に固定され、前記マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第2の画像取得装置を備え、
    前記画像処理装置は、前記第2の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、前記マスクの位置を検出し、
    前記第1の制御手段は、前記画像処理装置が前記第2の画像取得装置の画像信号を処理して検出した前記マスクの位置に基づき、前記ステージにより前記チャックを移動して、位置決めした前記マスクの位置を補正することを特徴とする請求項1に記載のプロキシミティ露光装置。
  3. 前記突き上げピンにより前記マスク搬送装置から前記マスクを受け取るマスク受け取り位置の上空に、前記第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有し、前記マスクの位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第3の画像取得装置を備え、
    前記画像処理装置は、前記第3の画像取得装置が出力した画像信号を処理して、前記マスクの位置を検出し、
    前記第1の制御手段は、前記画像処理装置が前記第3の画像取得装置の画像信号を処理して検出した前記マスクの位置に基づき、前記ステージにより前記チャックを移動して、前記マスクを前記マスク受け取り位置から前記マスクホルダの下のマスク装着位置へ移動することを特徴とする請求項2に記載のプロキシミティ露光装置。
  4. 前記チャックの表面に設置され、前記マスクを載せた前記突き上げピンが下降したとき前記マスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを備えたことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置。
  5. 前記複数の位置ずれ防止ピンユニットは、前記センサとして前記マスクの側面に接触することによって変位し、その変位量に基づいて前記位置ずれ防止ピンが前記マスクの側面に接触したことを検出する接触センサーを備え、前記マスクの側面の移動に追従することなくモータによって駆動される基準ピンを有する位置ずれ防止基準ピンユニットと、前記センサーを備えることなく、前記マスクの側面の移動に追従して移動するように前記マスクの側面にエアシリンダによって押し付けられる押圧ピンを有する位置ずれ防止押圧ピンユニットとから構成されることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置。
  6. 基板を搭載するチャックと、前記マスクを保持するマスクホルダと、前記チャックを移動するステージと、前記チャックの表面に設けられた複数の開口を介して複数の突き上げピンを上昇及び下降させることによって前記マスクを前記マスク搬送装置から受け取ると共に前記マスクホルダに装着する複数の突き上げピンユニットと、前記マスクに設けられた位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第1の画像取得装置と、前記第1の画像取得装置を移動する移動手段と、前記マスクホルダに保持され、前記マスクの側面に接触する位置ずれ防止ピンを移動して前記マスクの側面に接触させることによって前記マスクの位置ずれを防止する複数の位置ずれ防止ピンユニットと、前記複数の位置ずれ防止ピンユニットの一部に設けられ、前記位置ずれ防止ピンが前記マスクの側面に接触したことを検出するセンサーとを備え、前記マスクと前記基板との間に微小なギャップを設けて、前記マスクのパターンを前記基板へ転写するプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法であって、
    前記マスクをマスク搬送装置により前記チャックへ搬入し、
    前記突き上げピンにより前記マスク搬送装置から前記マスクを受け取り、
    前記移動手段により前記第1の画像取得装置を移動して、前記第1の画像取得装置により前記マスクの位置検出用マークの画像を取得し、
    前記第1の画像取得装置の画像信号を処理して、前記マスクの位置を検出し、
    検出した前記マスクの位置に基づき、前記ステージにより前記チャックを移動して、前記マスクの位置決めを行い、
    前記突き上げピンにより前記マスクを前記マスクホルダに装着し、
    前記複数の位置ずれ防止ピンユニットを駆動して、前記位置ずれ防止ピン及び前記センサーをマスクの側面に向かって移動し、
    前記位置ずれ防止ピンが前記マスク側面に接触したことを前記センサーが検出した時点で前記位置ずれ防止ピンの移動を停止することを特徴とするプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法。
  7. 前記マスクホルダの上方に固定され、前記マスクの前記位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第2の画像取得装置を備えたプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法であって、
    前記第2の画像取得装置により前記マスクの前記位置検出用マークの画像を取得し、
    前記第2の画像取得装置の画像信号を処理して、前記マスクの位置を検出し、
    検出した前記マスクの位置に基づき、前記ステージにより前記チャックを移動して、位置決めした前記マスクの位置を補正することを特徴とする請求項6に記載のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法。
  8. 前記第1の画像取得装置よりも分解能が低くて広い視野を有し、前記マスクの前記位置検出用マークの画像を取得して、画像信号を出力する第3の画像取得装置をマスク受け取り位置の上方に備えたプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法であって、
    前記マスクホルダの下のマスク装着位置とは別に設けたマスク受け取り位置で前記突き上げピンにより前記マスク搬送装置から前記マスクを受け取り、
    前記第3の画像取得装置により前記マスクの前記位置検出用マークの画像を取得し、
    前記第3の画像取得装置の画像信号を処理して前記マスクの位置を検出し、
    検出した前記マスクの位置に基づき、前記ステージにより前記チャックを移動して、前記マスクを前記マスク受け取り位置から前記マスク装着位置へ移動することを特徴とする請求項7に記載のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法。
  9. 前記マスクを載せた前記突き上げピンが下降したとき前記マスクのパターン面の周辺部に接触する複数のスペーサを、前記チャックの表面に設置することを特徴とする請求項6乃至請求項8のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法。
  10. 前記複数の位置ずれ防止ピンユニットは、前記センサとして前記マスクの側面に接触することによって変位し、その変位量に基づいて前記位置ずれ防止ピンが前記マスクの側面に接触したことを検出する接触センサーを備え、前記マスクの側面の移動に追従することなくモータによって駆動される基準ピンを有する位置ずれ防止基準ピンユニットと、前記センサーを備えることなく、前記マスクの側面の移動に追従して移動するように前記マスクの側面にエアシリンダによって押し付けられる押圧ピンを有する位置ずれ防止押圧ピンユニットとから構成されることを特徴とする請求項6乃至請求項9のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法。
  11. 請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置を用いて前記基板の露光を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。
  12. 請求項6乃至請求項10のいずれか一項に記載のプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法を用いて前記マスクを前記マスクホルダに装着し、前記基板の露光を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012063514A (ja) * 2010-09-15 2012-03-29 Hitachi High-Technologies Corp プロキシミティ露光装置、及びプロキシミティ露光装置のマスク搬送方法
JP2012242630A (ja) * 2011-05-20 2012-12-10 Hitachi High-Technologies Corp 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法、並びに露光装置の検査方法
KR101876523B1 (ko) * 2012-11-29 2018-07-09 주식회사 원익아이피에스 기판이송체, 기판 처리장치 및 기판 처리방법
JP5970021B2 (ja) * 2013-08-20 2016-08-17 Hoya株式会社 フォトマスクの製造方法、描画装置、フォトマスクの検査方法、フォトマスクの検査装置、及び表示装置の製造方法
JP2017183298A (ja) * 2014-08-20 2017-10-05 株式会社ニコン 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法
CN109911589A (zh) * 2019-03-26 2019-06-21 埃华路(芜湖)机器人工程有限公司 一种发动机缸体上料定位装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3936546B2 (ja) * 2001-03-30 2007-06-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 露光装置及びその装置における基板位置決め方法並びにフラットディスプレイパネルの製造方法
JP2005310989A (ja) 2004-04-20 2005-11-04 Hitachi High-Tech Electronics Engineering Co Ltd 基板及びフォトマスクの受け渡し方法、並びに基板及びフォトマスクの受け渡し装置
JP4942401B2 (ja) * 2006-04-24 2012-05-30 Nskテクノロジー株式会社 露光装置及び露光方法
JP2008209631A (ja) * 2007-02-26 2008-09-11 Nsk Ltd 露光装置及びそのマスク装着方法
JP2008251944A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Topcon Corp 露光装置

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