JP5292477B2 - 診断装置及び診断方法 - Google Patents

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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104797913A (zh) * 2012-09-21 2015-07-22 杭州美盛红外光电技术有限公司 热像诊断装置和热像诊断方法
JP6523815B2 (ja) * 2015-06-22 2019-06-05 株式会社日立製作所 プラント診断装置及びプラント診断方法
JP6685124B2 (ja) * 2015-12-22 2020-04-22 株式会社日立製作所 診断装置及び診断方法
US11347212B2 (en) 2016-03-09 2022-05-31 Siemens Aktiengesellschaft Smart embedded control system for a field device of an automation system
CN108369416B (zh) * 2016-03-15 2021-07-16 株式会社日立制作所 异常诊断系统
JP6426667B2 (ja) * 2016-08-10 2018-11-21 三菱重工工作機械株式会社 工作機械の工具の異常検知装置及び方法
JP6674033B2 (ja) * 2016-09-15 2020-04-01 株式会社日立製作所 プラント異常診断装置及びプラント異常診断システム
JP6951202B2 (ja) * 2017-11-13 2021-10-20 株式会社日立製作所 データ分類装置
FR3076267B1 (fr) * 2018-01-04 2020-01-17 Safran Electronics & Defense Procede pour diagnostiquer un etat d'usure d'un frein de parking d'aeronef
JP6790006B2 (ja) * 2018-02-27 2020-11-25 三菱重工マリンマシナリ株式会社 状態診断装置、状態診断方法、及び状態診断プログラム
JP7052873B2 (ja) * 2018-07-31 2022-04-12 日産自動車株式会社 異常判定装置及び異常判定方法
JP2020119267A (ja) * 2019-01-24 2020-08-06 株式会社荏原製作所 情報処理装置、情報処理プログラム、および情報処理方法
JP7272020B2 (ja) 2019-03-13 2023-05-12 オムロン株式会社 表示システム
KR102295879B1 (ko) * 2019-04-25 2021-08-31 울산대학교 산학협력단 실시간 튜브 누설 상태 인지 방법 및 시스템
JP2021149727A (ja) * 2020-03-23 2021-09-27 本田技研工業株式会社 要因分析装置および要因分析方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08287378A (ja) * 1995-04-10 1996-11-01 Hitachi Ltd プラント監視装置
JPH1049206A (ja) * 1996-07-31 1998-02-20 Kobe Steel Ltd シーケンスプログラム作成装置
JP2002330229A (ja) * 2001-05-01 2002-11-15 Omron Corp 情報収集装置
JP2004198383A (ja) * 2002-12-20 2004-07-15 Fuji Xerox Co Ltd 音源分析装置
JP2005165375A (ja) * 2003-11-28 2005-06-23 Hitachi Ltd 設備の診断装置及び診断方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201017233Y (zh) * 2006-11-23 2008-02-06 浙江大学 基于小波分析的工业生产过程故障诊断装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08287378A (ja) * 1995-04-10 1996-11-01 Hitachi Ltd プラント監視装置
JPH1049206A (ja) * 1996-07-31 1998-02-20 Kobe Steel Ltd シーケンスプログラム作成装置
JP2002330229A (ja) * 2001-05-01 2002-11-15 Omron Corp 情報収集装置
JP2004198383A (ja) * 2002-12-20 2004-07-15 Fuji Xerox Co Ltd 音源分析装置
JP2005165375A (ja) * 2003-11-28 2005-06-23 Hitachi Ltd 設備の診断装置及び診断方法

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