JP5289667B2 - ワンチップ高電圧光電池の製造方法 - Google Patents

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本発明は、ワンチップに集積された赤外線域で高感度な高電圧光電池の製造方法に関するものである。
光電池は使用する材料により最小単位電圧以上の電圧を取り出す為には、単位発電素子を直列に複数個接続しなければならない。複数個の発電素子を直列に接続し集積化したアモルファスシリコン薄膜の太陽電池が現在多数使用されているが、欠点は照射光が可視光の範囲でしか感度がなく、赤外線領域では発電出来ない。
赤外線領域での高電圧光電池を必要とする場合は、シリコン結晶から成る単位発電素子単体一個一個を複数個直列にボンデング接続して高電圧光電池を構成していた。単位発電素子を一個一個ボンデング接続する理由は、シリコン発電素子の集積化が困難であった為である。
光通信分野で、目に見えない赤外線の波長域で大きな光エネルギーを伝送する事が必要な場合、その赤外線エネルギーを有効に受光し発電する高電圧光電池が必要になる。特に、光通信分野では大きなエネルギー数mW〜数10mW)を必要とし、シリコンチップサイズも数m角前後のチップをワイヤーボンドで接続しているのが現状であり、ワイヤーボンド用の電極パッド面積は無駄な面積を占めている。この無駄な面積を少なくして、入射光の利用率を大幅に向上させる事と、ワイヤーボンド工程を省略させる(無くす)事が本発明の課題である。
本発明は次に示す構成をもって上記課題を解決する手段と成している。すなわち、ワンチップ高電圧光電池の製造方法の発明は、表面にp型拡散層を形成したn型のシリコンウエハーとプリント基板を用意し、
シリコンウエハーはその表面を個々のフォトダイオード素子を形成する複数の単位素子領域に区分し、その各単位素子領域には、前記p型拡散層とn型のシリコンウエハーとを貫通するSi基板スルーホールを形成し、前記n型のシリコンウエハーの裏面側の同一面には各単位素子領域毎に当該n型のシリコンウエハーのn層に電気的に導通するシリコンn層電極と、前記Si基板スルーホールを介して前記p型拡散層のp層に電気的に導通するシリコンp層電極とを間隔を介して形成し、
前記プリント基板はその表面に前記n型のシリコンウエハーの各フォトダイオード素子の単位素子領域が搭載する各搭載領域に前記シリコンn層電極とシリコンp層電極とにそれぞれ位置を対応させてスルーホール孔を形成し、前記プリント基板の裏面には互いに隣り合う一方の搭載領域のシリコンn層電極側位置に対応したスルーホール孔と隣り合う他方の搭載領域のシリコンp層電極側位置に対応したスルーホール孔とを導通する配線を施し、
前記スルーホール孔と配線を形成したプリント基板の表面に、前記Si基板スルーホールとシリコンn層電極とシリコンp層電極とを形成して成るn型のシリコンウエハーの裏面を、前記シリコンn層電極とシリコンp層電極とを対応する前記スルーホール孔に位置させて搭載し、
然る後に、各シリコンn層電極とシリコンp層電極とを対応する前記スルーホール孔にハンダ付け接合して、前記n型のシリコンウエハーと前記プリント基板とを前記シリコンn層電極とシリコンp層電極のハンダ付け接合のハンダのみによって固定し、
然る後に、各フォトダイオード素子の単位素子領域の境界線に沿って前記プリント基板は切断分離せずにp型拡散層とともにn型のシリコンウエハーをダイシングソーにより前記各単位素子領域毎に切断してプリント基板上に複数のフォトダイオード素子を単位の素子毎に分離形成するとともに、予め定めた個数のフォトダイオード素子群毎の境界線に沿ってp型拡散層とともにn型のシリコンウエハー及びプリント基板を切断して、切断した各ブロックをワンチップ高電圧光電池とした複数のワンチップ高電圧光電池を切り出し製造することをもって上記課題を解決する手段としている。
本発明のワンチップ高電圧光電池は、シリコンウエハーにスルーホールを通じてp電極、n電極を同一面に構成する。
プリント基板の配線はスルーホールを通じてウエハーとの接合面の反対側に配線している為に、プリント基板に少量の切り込みが入っても良い。
フォトダイオード素子(単位発電素子間の分離はスライス溝により物理的に完全に分離する。
ウエハー上に集積された素子群は、単位素子群毎にプリント基板と同時に切断する。
フォトダイオード素子(赤外受光素子)相互の電気的素子分離が完全である。
素子間の電気的分離に要する無駄なスペースが最小限に抑えられた(従来の様に光学的に無駄な面積であるワイヤーボンドパッドが不用になった)。
シリコンウエハー基板とプリント基板を直接ハンダ付け接合(貼り合せ処理することでワイヤーボンド工程を無くしハンダ付け検査の方法も簡易化され大幅な組み立て工数の削減が実現した。
赤外線電池に限らず、シリコンウエハーとプリント基板のハンダ付け接合(貼り合せが必要なときは、本発明の工程、特に両者の位置決め法、ハンダ付け検査法などは多方面での応用が可能である。
以下に、本発明の実施の形態を図面に基き説明する。本発明のワンチップ高電圧光電池は図1に示されるように、シリコン(n型)基板1とプリント基板6とを用いて構成される。シリコン(n型)基板1はn型のシリコンウエハーによって構成され、そのウエハーの表面にp型拡散層2が形成されている。このp型拡散層2の表面は図2、図3に示されるように、複数の単位素子領域12に区分されており、各単位素子領域12に単位発電素子としてのフォトダイオード素子が形成されている。
すなわち、各単位素子領域12にp型拡散層2及びプリント基板6を貫通するシリコン基板スルーホール孔3が開けられ、各単位素子領域12の底面(底面側)には該シリコン基板スルーホール孔3を介してp型拡散層2に電気的に導通するシリコンp層電極4−2が形成されている。そして、単位素子領域12の底面(底面側)の同一面にはシリコンp層電極4−2と間隔を介してシリコン(n型)基板1(シリコンウエハー)のn層に電気的に導通するシリコンn層電極4−1が形成されており、これらの構成によって単位発電素子としてのフォトダイオード素子が構成されている。
プリント基板6はその表面に、図1、図2に示されるように、該プリント基板6の上面にシリコン(n型)基板1を相互の相対位置を合わせた状態で重ねたときに、シリコン(n型)基板1側の各単位素子領域12と対向する同じ位置に単位素子対向領域12が形成され、プリント基板6の各単位素子対向領域12の表面(上面)には前記シリコンn層電極4−1とシリコンp層電極4−2にそれぞれ対応する(対向する)位置に基板スルーホール孔が形成されている。そして、各基板スルーホール孔はスルーホールハンダ5によってシリコンn層電極4−1とシリコンp層電極4−2の対応する電極とハンダ付け接合される構成と成している。
プリント基板6の裏面には、互いに隣り合う単位素子対向領域12の一方側の領域12の前記シリコンn層電極4−1に導通する側の基板スルーホール孔と、隣り合う単位素子対向領域12の他方側の領域12のシリコンp層電極4-2に導通する側の基板スルーホールとを電気的に導通する銅配線7が施され(形成され)、この銅配線7を介して各単位素子領域12に形成されたシリコンダイオード素子が直列接続される構成と成している。
なお、シリコン(n型)基板1とプリント基板6との相対位置を合わせるために、図4−1に示されるように、シリコン(n型)基板1には複数(図では3個)の位置決め用スルーホール10が設けられ、図4−2に示されるように、プリント基板6には同数の位置決め用パターン11が形成されている。
本発明に係るワンチップ高電圧光電池の製造方法について説明すれば、表面にp型拡散層2が形成されて各単位素子領域12にシリコン基板スルーホール孔3、シリコンn層電極4−1及びシリコンp層電極4−2が形成されたシリコン(n型)基板(n型シリコンウエハー)1と、基板スルーホール孔及び銅配線7が形成されているプリント基板6とを用意し、シリコン(n型)基板に大き目に開けられた複数個の位置決め用スルーホール孔10を通して既に予備ハンダコートされたプリント基板上の位置決めパターン11を観測して、図4−3に示すように、シリコン基板とプリント基板の相対位置を決定してプリント基板6の上面にシリコン(n型)基板1の裏面を重ねる。3個所での位置決めが適当と思われる。
位置決めが決ると、シリコン(n型)基板1の各単位素子領域12はプリント基板6の各単位素子対向領域12に対応(対向)し、図1に示されるように、シリコン(n型)基板1の底面の各シリコンn層電極4−1及びシリコンp層電極4−2はプリント基板6の対応する基板スルーホール孔の上に搭載された状態となる。この状態で、互いに対応する各シリコンn層電極4−1及びシリコンp層電極4−2と、プリント基板6の対応する基板スルーホール孔とがプリント基板スルーホールハンダ5によりハンダ付け接合が行われる。
ハンダ付け接合が終了したシリコン基板1とプリント基板の貼り合せ基板(ハンダ付け接合によってシリコン(n型)基板1とプリント基板6とが一体化された基板)は、X線検査で単位素子内(単位素子対向領域12内)のハンダ接続状況を検査する。シリコン基板1にはP拡散層2をシリコンp層電極4−2に導通するスルーホール孔(位置合せ用より小さい)が開けられているが、ハンダ付けが実施されると、このシリコンp層電極4−2に対応するプリント基板のシリコンp層電極4−2のハンダがシリコン基板スルーホール孔に吸い上げられて孔の部分だけハンダ層が無くなるか、薄くなるのでX線検査するとハンダの黒い像の中に白い円形像が観測され、ハンダが溶けた事と、位置ずれ検査ができる。この検査で両基板のハンダでの貼り合せ(ハンダ付け接続)が正しく行われたことが確認できる。
次にダイシングソーにより単位素子分離の切断を行う。ダイシングソーのカットの高さ位置をシリコン基板は完全に切断するがプリント基板を切断しない程度の高さに調整して各単位素子領域12の境界線(シリコン基板分離溝8)に沿ってp型拡散層2及びシリコン(n型)基板1をカットすることで、単位素子分離カット(各フォトダイオード素子間の分離切断)が終了する。例えそのカットが終了しても単位素子(フォトダイオード素子)はプリント基板にハンダで固定されている為にプリント基板6から分離しない。
、単位素子群(フォトダイオード素子群)毎の分離切断に入る。単位素子群は必要電圧により予め決められた複数個の単位素子(フォトダイオード素子)の集団に纏められている。単位素子群毎に各単位素子群の境界線(シリコン基板及びプリント基板分離溝9)に沿って、シリコン基板1とプリント基板とを同時に切断する。ここで切断されたブロック即ち、単位素子群が、必要電圧のワンチップ高電圧光電池単体となる。
本発明に係るワンチップ高電圧光電池の構成及びワンチップ高電圧光電池の製造方法の実施形態例の説明図である。 各フォトダイオード素子の形成区分領域(単位素子領域)と各ワンチップ高電圧光電池の領域(単位素子群領域)との関係を示す図である。 各フォトダイオード素子の形成区分領域(単位素子領域)とワンチップ高電圧光電池の領域(単位素子群領域)の拡大上面図である。 シリコン基板に形成する位置決め用スルーホール孔の形成例を示す図である。 プリント基板に形成する位置決め用パターンの形成例を示す図である。 シリコン基板の位置決め用スルーホール孔とプリント基板の位置決め用パターンを用いてシリコン基板とプリント基板の位置合わせを行っている状態を示す図である。
符号の説明
シリコン(n型)基板
p型拡散層
シリコン基板スルーホール孔
−1 シリコンn層電極
−2 シリコンp層電極
プリント基板スルーホールハンダ
プリント基板
プリント基板上の銅配線(ジャンピング配線、引き出し電極等)
シリコン基板分離溝
シリコン基板及びプリント基板分離溝
10 シリコン基板内の位置決め用スルーホール孔
11 プリント基板上の位置決め用パターン
12 単位素子領域
13 単位素子群領域

Claims (3)

  1. 表面にp型拡散層を形成したn型のシリコンウエハーとプリント基板を用意し、
    シリコンウエハーはその表面を個々のフォトダイオード素子を形成する複数の単位素子領域に区分し、その各単位素子領域には、前記p型拡散層とn型のシリコンウエハーとを貫通するSi基板スルーホールを形成し、前記n型のシリコンウエハーの裏面側の同一面には各単位素子領域毎に当該n型のシリコンウエハーのn層に電気的に導通するシリコンn層電極と、前記Si基板スルーホールを介して前記p型拡散層のp層に電気的に導通するシリコンp層電極とを間隔を介して形成し、
    前記プリント基板はその表面に前記n型のシリコンウエハーの各フォトダイオード素子の単位素子領域が搭載する各搭載領域に前記シリコンn層電極とシリコンp層電極とにそれぞれ位置を対応させてスルーホール孔を形成し、前記プリント基板の裏面には互いに隣り合う一方の搭載領域のシリコンn層電極側位置に対応したスルーホール孔と隣り合う他方の搭載領域のシリコンp層電極側位置に対応したスルーホール孔とを導通する配線を施し、
    前記スルーホール孔と配線を形成したプリント基板の表面に、前記Si基板スルーホールとシリコンn層電極とシリコンp層電極とを形成して成るn型のシリコンウエハーの裏面を、前記シリコンn層電極とシリコンp層電極とを対応する前記スルーホール孔に位置させて搭載し、
    然る後に、各シリコンn層電極とシリコンp層電極とを対応する前記スルーホール孔にハンダ付け接合して、前記n型のシリコンウエハーと前記プリント基板とを前記シリコンn層電極とシリコンp層電極のハンダ付け接合のハンダのみによって固定し、
    然る後に、各フォトダイオード素子の単位素子領域の境界線に沿って前記プリント基板は切断分離せずにp型拡散層とともにn型のシリコンウエハーをダイシングソーにより前記各単位素子領域毎に切断してプリント基板上に複数のフォトダイオード素子を単位の素子毎に分離形成するとともに、予め定めた個数のフォトダイオード素子群毎の境界線に沿ってp型拡散層とともにn型のシリコンウエハー及びプリント基板を切断して、切断した各ブロックをワンチップ高電圧光電池とした複数のワンチップ高電圧光電池を切り出し製造するワンチップ高電圧光電池の製造方法。
  2. シリコンウエハー表面に複数個の位置決め用スルーホール孔を開け、それらの各孔位置に対応するプリント基板の面位置に位置出し用パターンを設け、プリント基板にシリコンウエハーを搭載する際に前記位置出し用パターンと位置決め用スルーホールを合わせることでシリコンウエハーとプリント基板との位置出しを行う請求項記載のワンチップ高電圧光電池の製造方法。
  3. シリコンn層電極とシリコンp層電極とをプリント基板の対応するスルーホール孔にハンダ付け実施し、シリコンウエハー側のSi基板スルーホールをX線透過することでハンダ付け実施時のハンダの溶け状態を観察することを特徴とする請求項1又は請求項2記載のワンチップ高電圧光電池の製造方法。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8035027B2 (en) * 2006-10-09 2011-10-11 Solexel, Inc. Solar module structures and assembly methods for pyramidal three-dimensional thin-film solar cells
JP5132191B2 (ja) * 2007-01-30 2013-01-30 株式会社ゼオシステム ワンチップ高電圧光電池の製造方法
JP4989549B2 (ja) * 2007-08-24 2012-08-01 三洋電機株式会社 太陽電池及び太陽電池モジュール
JP5242338B2 (ja) * 2008-10-29 2013-07-24 シャープ株式会社 太陽電池モジュールの製造方法および太陽電池モジュールの製造装置
JP2012060018A (ja) * 2010-09-10 2012-03-22 Sharp Corp 太陽電池モジュールの製造方法
JP5232213B2 (ja) * 2010-12-03 2013-07-10 シャープ株式会社 裏面電極型太陽電池セル、太陽電池モジュール、太陽電池ウェハおよび太陽電池モジュールの製造方法
JP2015050413A (ja) * 2013-09-04 2015-03-16 アン,ヒョン・ウー Pcbを利用した太陽電池
US9666733B2 (en) 2013-09-04 2017-05-30 Hyeon Woo AHN Solar cell using printed circuit board

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5394194A (en) * 1977-01-28 1978-08-17 Toshiba Corp Substrate for photoelectric transducer
JPH01125563U (ja) * 1988-02-22 1989-08-28
JPH01176957U (ja) * 1988-06-02 1989-12-18
JPH05304282A (ja) * 1991-07-25 1993-11-16 Nec Corp 集積回路装置
JPH08298334A (ja) * 1995-04-26 1996-11-12 Mitsubishi Electric Corp 太陽電池板
JPH1140832A (ja) * 1997-07-17 1999-02-12 Ion Kogaku Kenkyusho:Kk 薄膜太陽電池およびその製造方法
DE19854269B4 (de) * 1998-11-25 2004-07-01 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Dünnschichtsolarzellenanordnung sowie Verfahren zur Herstellung derselben
JP2001007236A (ja) * 1999-06-17 2001-01-12 Nitto Denko Corp ウェハー状積層体および半導体素子パッケージならびにウェハー状積層体の製造方法
JP2001196331A (ja) * 2000-01-12 2001-07-19 Nec Kansai Ltd チップサイズパッケージの製造方法
JP2003101049A (ja) * 2001-09-27 2003-04-04 Sanyo Electric Co Ltd 光電変換装置の製造方法
JP3922172B2 (ja) * 2002-12-17 2007-05-30 トヨタ自動車株式会社 電子部品の放熱性検査方法及びその装置
US7170001B2 (en) * 2003-06-26 2007-01-30 Advent Solar, Inc. Fabrication of back-contacted silicon solar cells using thermomigration to create conductive vias
JP2007019334A (ja) * 2005-07-08 2007-01-25 Mitsubishi Electric Corp 太陽電池装置

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