JP5283958B2 - 電子ビーム照射装置およびこれを備えた加工装置 - Google Patents
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前記電子ビーム照射装置は、電子ビームの軌道を偏向させる偏向手段を有し、該偏向手段及び前記集束レンズ電極の表面には導電性材料による反射抑制処理がなされており、
少なくとも前記集束レンズ及び前記偏向手段は遮光部材によって覆われていることを特徴とする電子ビームの照射装置である。
本発明はフィラメント式の電子源に限らず様々な電子源に適用できる。たとえばホローカソードタイプの電子源やプラズマ式電子源など、発光を伴う電子源の光洩れを、本発明によって抑制することができる。
図1は本発明の特徴を最もよく表す図面であり、電子ビーム照射装置の断面図を示している。同図において1は電子を放出するフィラメントであり、図示しない配線により電力を供給する電源に接続されている。2はウェーネルト電極で図示しない配線により、高圧電源に接続され、−1kVの電圧を印加して、電場を形成している。3は引き出し電極で、図示しない配線が接続されアース電位となっている。又、3、4、5の電極で集束レンズとなるアインツェルレンズを構成し、電極4には+500Vを印加している。5はアース電位の電極である。6は偏向電極で半径20mmの球形の一部の形状をして、中心の角度は60°である。この偏向電極6に+950Vの電圧を掛けている。7は偏向電極6と対向する電極で、6と同心円の形状である。電圧は0Vでアース電位としている。8、9、10は偏向後の集束レンズ電極で、8、10をアース電位とし、中間の電極9に+500Vを掛け電子ビームを制御している。11は導電体からなる電子照射装置の遮光板で、フィラメントからの光洩れと、電極からの電位が外部に洩れるのを防いでいる。12は電子ビームで、13はフィラメントから出た光の光路を示している。
図2は本発明の第2の実施例を表す図面であり、電子ビーム照射装置の断面図を示している。図2において201は電子を放出するフィラメントであり、図示しない配線により電力を供給する電源に接続されている。202はウェーネルト電極で図示しない配線により、高圧電源に接続され、−1kVの電圧を掛けている。203は引き出し電極で、図示しない配線が接続されアース電位となっている。又、203、204、205の電極で集束レンズとなるアインツェルレンズを構成し、電極204には+500Vを掛けている。205はアース電位の電極である。206、207は扇形磁石で電子ビームを挟み、紙面の上下に配置してある。208、209、210は偏向後の集束レンズ電極で、208、210をアース電位とし、中間の電極209に+500Vを掛け電子ビームを制御している。211は導電体からなる電子照射装置の遮光板で、フィラメントからの光洩れと、電極からの電位が外部に洩れるのを防いでいる。212は電子ビームで、213はフィラメントから出た光の光路を示している。
図3は本発明の電子ビーム照射装置を用いた実施例を表す図面であり、適宜、断面図で示している。同図はアルゴンの正イオンビームで加工するときに負の電位を持つ電子を供給する時の実施例である。301は真空室で図示しない真空ポンプが接続され、真空に保たれている。絶縁体の被加工物304は図示しないX−Yステージ上に搭載され、必要に応じ移動できる。306は加工点モニター用カメラで、イオンビーム303が被加工物304に照射されたときに発光点305からの発光光をビューイングポート307を通してモニターする。308は電子ビーム照射装置で、被加工物304に中性化のための電子320を供給する。この電子ビーム照射装置308は、フィラメント309に電流を流して加熱した時に出る熱電子を用いている。
2、202、310 ウェーネルト電極
3、203、311 引き出し電極
4、5、8、9、10、204、205、208、209、210、312、313、316、317、318、410 レンズ電極
6、7、314、315 偏向電極
11、211、319 遮光板
12、212、320、412 電子ビーム
13、213、321、411 光路
14、214、322 ヒートパイプ
206、207 偏向磁石
301、401 真空室
302、402 イオンガン
304、404 被加工物
306、406 カメラ
Claims (5)
- 電子源と、該電子源にて生じた電子に電場を印加する引き出し電極と、前記電場によって引き出された前記電子を集束させる集束レンズ電極と、を有する電子ビーム照射装置であって、
前記電子ビーム照射装置は、電子ビームの軌道を偏向させる偏向手段を有し、該偏向手段及び前記集束レンズ電極の表面には導電性材料による前記電子源からの光に対する反射抑制処理がなされていることを特徴とする電子ビームの照射装置。 - 前記引き出し電極及び集束レンズ電極の一部もしくは全てがカーボンからなることを特徴とする請求項1記載の電子ビーム照射装置。
- 少なくとも前記集束レンズ及び前記偏向手段は遮光部材によって覆われていることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載の電子ビーム照射装置。
- 前記反射抑制処理は黒色ニッケルメッキ処理、黒色銅メッキ処理、黒色亜鉛メッキ処理、黒色化学ニッケルメッキ処理、黒色クロメートフリー皮膜処理、ハイブラック処理のすくなくとも一つであることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項記載の電子ビーム照射装置。
- 真空室と、前記真空室の内部に備えられた正イオンビーム照射器と、前記真空室の内部に備えられた請求項1から4のいずれか一項記載の電子ビーム照射装置を備えた加工装置。
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