JP5274775B2 - 工作機械用被加工物検査システム - Google Patents
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Description
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- 被加工物製造プロセス及び被加工物検査プロセスを実行するのに動作可能な制御器(20、50、60)を有する工作機械(10)を備える被加工物検査システムであって、
前記検査プロセスは、接触式の寸法測定プローブとしてのアナログ走査プローブ(P)からの前記被加工物(W)の測定に関連する変動データを前記工作機械からの機械の位置に関連する変動データと同期させる方法を含み、
前記工作機械に前記アナログ走査プローブを搭載するステップと、
前記アナログ走査プローブに対して前記被加工物の位置を変化させるステップと、
複数の時点を画定する、時間をベースとする同期信号(22、24)を発するステップと、
前記アナログ走査プローブに対して前記被加工物の位置が変化している間、前記被加工物の測定を記録させるステップであって、
第1のシステムが前記機械の位置に関連する変動データを含む第1のデータの組を記録するステップ、
前記第1のシステムとは別個の第2のシステムが、前記アナログ走査プローブに対して前記被加工物の位置が変化している間取得される前記被加工物の測定に関連する前記アナログ走査プローブからの変動データを含む第2のデータの組を記録するステップ、を含むステップと、
を備え、
機械の位置データとアナログ走査プローブからのデータとの同時に存在するデータが決定され、続いて組み合わされるように、前記第1及び第2のシステムを使って、前記時間をベースとする同期信号が、前記第1及び第2のデータの組の記録に使用され、
前記同期信号は、一方または両方のデータの組が処理され、2つのデータの組が同時に記録された場合に期待されるデータの近似値に到達するように、一方のデータの組を他方のデータの組に対して補間するために、
前記アナログ走査プローブからのデータが、前記機械の位置に関連するデータに一致すべく、遅れ、進むように、前記アナログ走査プローブからのデータの処理を支援し、または、
前記機械の位置に関連するデータが、前記アナログ走査プローブからのデータに一致すべく、遅れ、進むように、前記機械の位置に関連するデータの処理を支援することを特徴とする被加工物検査システム。 - 前記同期信号は、前記制御器から発することを特徴とする請求項1に記載の被加工物検査システム。
- 機械の位置とアナログ走査プローブからのデータとの同時に存在するデータが決定され、続いて組み合わされるように、前記同期信号は、前記第1及び第2のデータの組の少なくともいくつかの記録された機械の位置データ及び/またはアナログ走査プローブからのデータを分類するために使用されることを特徴とする請求項1に記載の被加工物検査システム。
- 前記同期信号は、前記機械の位置データ及び前記アナログ走査プローブからのデータが、関連する実時間と組み合わされ得るように、工作機械及びアナログ走査プローブからの第1及び第2のデータの組の少なくともいくつかのメンバーが記録される実時間を認識するのに使用されることを特徴とする請求項1に記載の被加工物検査システム。
- 前記アナログ走査プローブは、前記時点の発生より短い間隔で監視され、選択されたデータのみが第2のデータの組に記録され、及び/または該データがその記録の前に処理されることを特徴とする請求項1に記載の被加工物検査システム。
- 前記システムは、前記第1及び第2のデータの組を組み合わせるソフトウエアをさらに含んでいることを特徴とする請求項1に記載の被加工物検査システム。
- 前記システムは、組み合わされたデータに基づいて、前記工作機械の前記制御器で実行される前記被加工物製造プロセスに影響を与えるソフトウエアをさらに含んでいることを特徴とする請求項6に記載の被加工物検査システム。
- 前記システムは、前記同期信号及び前記アナログ走査プローブからの変動データを受け入れるインターフェース回路をさらに含んでいることを特徴とする請求項1に記載の被加工物検査システム。
- 前記システムは、前記アナログ走査プローブから前記制御器への停止信号パスを含み、前記制御器は、停止信号が前記制御器により受け取られる場合、前記機械を停止させることを特徴とする請求項1に記載の被加工物検査システム。
- 前記アナログ走査プローブは、接触式の寸法測定プローブであり、前記変動データは、プローブに接続された被加工物接触針の撓みの変化に関連することを特徴とする請求項1に記載の被加工物検査システム。
- 前記第1及び/または第2のデータの組は、処理されたデータが2つのデータの組の要素が同時に記録された場合に取得されるデータに近似したデータを示すように処理されることを特徴とする請求項1に記載の被加工物検査システム。
- 請求項1に記載されたステップに従って前記被加工物検査システムを制御するソフトウエア。
- 被加工物(W)を支持するテーブル、該テーブルに対して相対的に移動可能なスピンドル(S)、及び被加工物製造プロセスと被加工物検査プロセスの両方を実行し、前記テーブル及び前記スピンドルの相対的位置に関連する変動データを生成するために動作可能な制御器(20、50、60)を有する工作機械(10)を備える被加工物検査システムであって、
前記システムは、また、被加工物の測定に関連する変動データを生成するために、前記スピンドルに取り付けられたアナログ走査プローブ(P)、及び同期信号生成器(22)を備え、
以下の被加工物検査ステップ、
前記工作機械のスピンドルに前記アナログ走査プローブを搭載するステップと、
前記アナログ走査プローブに対して被加工物の位置を変化させるステップと、
複数の時点を画定する、時間をベースとする同期信号を発するステップと、
前記アナログ走査プローブに対して前記被加工物の位置が変化している間、前記被加工物の測定を記録させるステップであって、
第1のシステムが前記テーブル及び前記スピンドルの相対的位置に関連する変動データを含む第1のデータの組を記録するステップ、
第1のシステムとは別個の第2のシステムが、前記アナログ走査プローブに対して被加工物の位置が変化している間取得される前記被加工物の測定に関連する前記アナログ走査プローブからの変動データを含む第2のデータの組を記録するステップ、を含むステップと、
が実行されるように動作可能であり、
機械の位置データと前記アナログ走査プローブからの同時に存在するデータが決定され、続いて組み合わされるように、前記第1及び第2のシステムを使って、前記時間をベースとする同期信号が前記第1及び第2のデータの組の記録に使用され、
前記同期信号は、一方または両方のデータの組が処理され、2つのデータの組が同時に記録された場合に期待されるデータの近似値に到達するように、一方のデータの組を他方のデータの組に対して補間するために、
前記アナログ走査プローブからのデータが、前記機械の位置に関連するデータに一致すべく、遅れ、進むように、前記アナログ走査プローブからのデータの処理を支援し、または、
前記機械の位置に関連するデータが、前記アナログ走査プローブからのデータに一致すべく、遅れ、進むように、前記機械の位置に関連するデータの処理を支援することを特徴とする被加工物検査システム。
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