JP5270286B2 - 糸の速度を測定する方法及び装置 - Google Patents

Description

本発明は、独立請求項に上位概念として記載されている糸の速度を測定する方法及び装置とその使用に関する。

前記装置は独国特許第１０３４２３８３号明細書（特許文献１）から公知である。この公知装置はコヒーレント光源を有し、その光はビーム・スプリッタにおいて第１及び第２光ビームに分割される。これら両ビームはいずれも糸に投射される。公知装置は両ビームの散乱光波間のドップラー干渉を測定するための光検知器をも含む。これに相応するセンサーが「レーザー・ドップラー風速測定」の略語であるＬＤＡ−センサーとなる。

ドップラー干渉とは移動する物体において反射するため、周波数が僅かに異なる２つの光波の干渉を意味する。干渉信号は物体の速度に比例する周波数で振動する。

独国特許第１０３４２３８３号明細書に開示されている装置では、糸をビームの交差点に正確に位置決めしなければならず、このことが前記装置での問題となっていた。
独国特許第１０３４２３８３号明細書

従って、本発明の目的は前記装置での課題を解決することである。

この目的は独立請求項に記載の対象によって解決される。請求項に記載されているように、本発明の方法は上記ビームが予め設定された糸の移動域を通過しないことを特徴とする。

即ち、ドップラー干渉に基づいて糸の速度を測定する公知装置とは異なり、糸がビームの交差領域を通過する必要はない。従って、装置の調整も装置の構成も簡単になる。

本発明は巻取り部もしくは巻取り装置における糸の速度をモニターするのに特に好適である。欠陥部分の位置及びその長さ、巻取られた糸の長さ、そして、更に、巻取りプロセスにおける種々のパラメータ正確な測定、モニター又は制御を可能にする。

更に、糸巻きの品質改善又は糸切れ又は糸詰まりの非接触検出にも本発明を利用することができる。

本発明のその他の好ましい実施形態は従属請求項及び添付図面に基づく以下の説明から明らかになるであろう。

図１に示すＬＤＡ−センサーの実施形態は、光ビーム２（以下、「一次光ビーム」と称する）を発生するコヒーレント光源（好ましくは、半導体−レーザー）を有する。一次光ビーム２はビーム・スプリッタ３に入射し、これによって第１光ビーム４ａと第２光ビーム４ｂに分割される。光量の大部分（例えば、９０％）は第１光ビームに割当てられていることが好ましい。その光のごく僅かな部分が遅れて検出器に入射するからである。

第１光ビーム４ａは速度ｖで走行する糸５と衝突し、散乱する。散乱光波の部分６ａ（以下、「第１光波」と称する）は随意に設けられる結像光学系７を通過し、検出器８に入射する。同時に第２光ビーム（以下、「第２光波」と称する）の少なくとも一部６ｂも検出器８に入射する。

第１及び第２光波の光路差は、光源１からの光の可干渉距離よりも短く、検出器８の位置において光波が干渉し合うように選択されている。このため、糸５において散乱し（即ち、散乱するように反射又は屈折し）、その周波数が糸の移動に伴ってドップラー偏移するように散乱した、即ち、糸５の走行方向に沿って光子のパルスが散乱に伴って変化した第１光波６ａだけが検出器８に入射するように構造の幾何形状を選択する。周波数偏移は糸の速度だけでなく散乱角度にも依存する。

従って、検出器８においてドップラー干渉を観察することができる。即ち、測定される強度は糸５の速度に比例する周波数で上下する。尚、測定される周波数が不鮮明になるのを避けるため、散乱角度の限られた範囲だけが検出器に到達するように構成されている。ビーム６ａ及び６ｂ間の角度を充分狭く選択することによって検出器に空間的干渉パターンが現れるのを回避する。あるいは、干渉パターンの波長よりも明らかに小さくなるように検出器を寸法設定することも可能である。

図１から明らかなように、第１光ビームが糸５に向かって投射されるのに対して、第２光ビーム４ｂは糸と接触することなくその近傍を通過して光検出器８へ導入される。この導入を確実にするため、測定装置の起点と終点の間に、所定の糸領域からぶれないように導入する、例えば、開口及び/又はガイドロールのような糸導入手段１０を設けることができる。このような糸導入手段は、糸の長手方向速度測定に悪影響を及ぼす恐れがある糸の望ましくない横方向移動を抑制する目的にも利用できる。第１光ビーム４ａは、所定の糸領域を通過するのに対して、第２光ビーム４ｂはこれを通過しない。

前記のように、結像光学系７は任意である。結像光学系７は第１光ビーム４ａが衝突する糸の領域を検出器８又は（これと等価の）検出器８に前置されているダイヤフラムに結像する。これによって、第１光ビーム４ａが糸５において散乱するのに伴って発生した光波だけが検出器に入射することになり、同じ構成でも結像光学系７を設けない場合と比較して、検出器８に入射する光波の強度及び総量を増大させることができる。

第２光ビーム４ｂは結像光学系７によって検出器８上に結像される領域に由来するビームではないから、結像光学系の傍を通過させて直接光検出器８へ導入することが好ましい。

図２及び図３は本発明の装置の第２実施形態を示し、この実施形態ではビーム・スプリッタ３が、簡単なビーム・スプリッタではなく、やや構成の異なる、少なくとも一部が透明な物体２０で形成されている。図示されている実施形態の場合、ビーム・スプリッタ３は２つの互いに平行な面１２、１３を有する厚さ数ｍｍのプレートであり、１次光ビームの光は、プレートの表面もしくは裏面において反射されることによって、第１及び第２光ビーム４ａ、４ｂに分割される。

このため、１次光ビーム２を第１面１２上の点１４に衝突させ、ここから一部を第１光ビーム４ａとして反射させる。残りの光をさらに物体２０内に通過させ、面１２と対向する面１３で反射させる。反射した光は第１面の点１５においてビーム・スプリッタ３の物体２０から射出し、第２光ビーム４ｂを発生する。

面１２及び１３は互いに平行であるから、ビーム４ａ及び４ｂもまた互いに平行である。但し、１次光ビーム２は第１面１２に対して斜めに入射するから、ビーム４ａ及び４ｂは互いに位置ずれしている。第１光ビーム４ａだけが糸５に衝突するのに対して、第２光ビーム４ｂは所定の糸領域１１を通過して、直接検出器８に入射する。また、第１光ビーム４ａのうち、糸５において散乱させられた第１光波６ａが検出器８に入射する。ここでもドップラー干渉が起こり、この干渉を検出器８によって測定することができる。

両ビーム４ａ、４ｂの相対的な光量もしくは強度はビーム・スプリッタ３の面１２、１３を適当にコーティングすることで調整することができる。具体的には、第１面１２は点１４の領域において比較的反射率が高く、第２の点１５において極力低くなるように構成し、第２面１３では高い反射率を有するコーティングを施してある。

点１４で反射したビームを第２光ビーム４ｂとして使用し、点１５から射出するビームを第１光ビーム４ａとして使用することも考えられる。面１２のコーティングはこの場合どの位置でも反射率は低くてもよい。

ビーム・スプリッタ３として楔形物体２０を有する他の実施形態を図４及び５に示す。ここでは面１２及び１３は互いに平行ではなく、僅かな角度を形成して延びている。１次光ビームは先ず面１２を通って物体２０に入射し、第２面で反射し、一部が点１８において物体２０から射出して第２光ビーム４ｂを発生する。ビームの残り部分は再び物体２０内に反転し、再度面１３で反射し、第１面１２の点１９において第１光ビーム４ａとして射出する。ここでも第１及び第２光ビーム４ａもしくは４ｂは互いに位置ずれしているが、平行ではなく互いに斜行している。第１光ビーム４ａは糸５に衝突し、ここから第１光波６ａが検出器８へと導入されるのに対して、第２光ビーム４ｂは所定の糸領域１１の傍を通過して第２光波６ｂとして検出器８に達する。

図面ではすべての実施形態に関して、ビームを線で示してある。しかし、少なくとも第１光ビーム４ａは糸５の領域において広くなり、所定の糸領域１１をその全幅に亘って貫通し、その結果として、所定の糸領域において糸５はその瞬間的な位置に関係なく常時照射されていることが好ましい。

少なくとも第１光ビームが所定の糸領域において非集束の状態又はやや集束の状態にあって少なくとも１ｍｍ、特に、少なくとも２ｍｍの直径を有し、どんなに移動してもビームからはみ出さないことが好ましい。

単一の、一部透明な物体２０における反射によって第１及び第２光ビーム４ａもしくは４ｂを発生させることの利点として、これら両ビーム４ａ、４ｂは同様に影響を及ぼし、従って、有害な経路変化を招くことがないから、ビーム・スプリッタの振動に比較的影響されない構造が得られる。

ここに記述する装置には多様な変更を加えることができる。但し、第１及び第２光ビームはできるだけオーバーラップしないように導入することが好ましい。

装置は、例えば、独国特許第１０３４２３８３号明細書に記載されているように、かせ機に組み込むことが好ましい。本発明の装置は糸の速度を測定するとともに、速度を経時的に積分することによって、巻き取られる糸の長さを算出することをも可能にする。

特に、欠陥部分の位置及び/又は長さを検出するのに利用することができる。

欠陥部分の位置及び/又は長さを検出するため、及び/又は巻き取られた糸の長さを測定するため、測定された速度値を積分する。これは、例えば、離散時点における測定速度値それぞれにこれに対応するタイムインターバルを乗算した値の総和に相当する。

多くの場合、測定される糸の速度から糸の加速度を算出することが好ましい。加速度は糸に作用する張力の離散的な量であることが多いからである。加速度は糸の（正味）張力量として、又はその他の目安として利用できるからである。加速度が大き過ぎれば、アラーム信号を発する、及び/又は糸に作用する引張力を抑制する、及び/又は加速度を低下させる、及び/又は糸送り加速機を調整する、及び/又は巻き取りプロセスを停止することになる。

本発明の速度測定方法に従って糸を巻き取る場合、本発明の装置は、ここでも速度信号の積分によって巻き取られる糸の全長を算出するにも好適である。

この装置はまた、測定された長さ又は速度の、所期の長さ又は速度からの偏差を検出することによって糸のスリップ量を測定することができる。

独国特許第１０３４２３８３号明細書に開示されているように溝付きドラムを介して糸を巻取り部へ導入すれば、ドラムへの糸の適正な導入をモニターすることができる。糸が正しく導入されておれば、溝付きドラムが糸にドラム溝の形状によって予め規定されている既知の経過を強制することになる。糸の速度経過をこの既知経過と比較して、偏差が顕著であれば、糸が適正に導入されていないと判断することができる。

糸の速度経過は以下に述べるように、巻取りの過程において品質をモニターするためにも利用できる。

一般論として、本発明の装置によって得られた測定値は、例えば、速度経過が所期の経過と一致しないか、欠陥部分の長さ及び位置が所定の限界値又は所定の範囲を超えると巻取りプロセスを停止するなど、巻取りプロセスのモニタリング又は制御にも利用できる。

本発明の方法もしくは装置は特に下記の目的に利用することができる。

１．かせ機の巻き取り部における糸品質の検査及び/又は改善

この場合、上記装置を巻取り部に配設し、走行する糸の品質を検査させる。このためには、とくに下記のステップを採用することができる：
−離散的時点において測定された速度値を上述のように積分することによって、場合によっては他のセンサーからのデータと組み合わせて、欠陥部分の長さ及び/又は位置を検出する。このデータは欠陥部分のタイプ分類及びその他の空間的な位置検知に寄与する。特に、欠陥部分の位置及び/長さに応じて巻戻すことによって欠陥部分を正確に切除することを可能にする。
−第１光波６ａを発生させることになる散乱は多くの場合糸の毛羽立ちに起因するから、走行する糸の毛羽立ち程度をチェックすることによって糸の品質を評価することができる。毛羽立ちの顕著な糸では散乱も顕著である。個々の毛羽は原則として一時的に散乱度の上昇を招き、従って、検出可能な毛羽立ち部分として検出することができる。従って、検出器によって検出されるドップラー干渉の強度を毛羽立ちに結びつけることができる。例えば、経時的に測定されるドップラー干渉信号の振幅が平均的毛羽立ちを表わす量、又は所定の周波数を超える単位時間毛羽立ち塊の数を測定することができ、この結果から単位時間当たりの毛羽立ち数をもとめることができる。所定の毛羽立ち限界超えるとアラーム信号を発する、及び/又は巻取り速度を低下、及び/又は糸引張力を弱める、及び/又は巻取りプロセスを停止することができる。

２．紡錘品質の検証及び/又は改善

この場合にも、本発明の装置は巻き取り部に組み込まれ、糸を巻き取ることによって得られる紡錘の品質を検証する機能を果たすとともに巻き取り中の糸をチェックする。これに関連して、特に下記の手段を採用することができる：
−離散的な時点で測定された速度値を上述のように積分することによって巻き取られた糸の長さを測定する、及び/又は所定の目標長さに達すると巻き取りプロセスを停止する、及び/又は紡錘交換信号を発する、及び/又は紡錘交換ユニットを作動させる。
−糸が正しく溝付きドラムに導入され、紡錘が正しく形成されているかどうかをモニターするため、上述したように速度経過を測定する。特に、速度経過を、例えば、フーリエ変換によってスペクトル解析することができる。得られた周波数プロフィールを周波数プロフィールの下限及び/上限と比較し、上限を超えるか下限を下回ると、エラーが表示されるか、又は（例えば、巻き取り速度を低下させるような）巻き取りプロセス修正手段を講ずる。
−ほかに、紡錘の１つ又は２つ以上の直径にも関連する測定信号を評価することが好ましい。例えば、ロール形のドラムが円錐形の紡錘を駆動すると、紡錘の往復行程で見て、ドラムの周囲速度が紡錘の周速度と一致するのは極めて限られたゾーンにおいてのみである。このニュートラル・ゾーンは膨らむ直径とも呼称される。

この直径は従来、紡錘回転数とドラム回転数の比に関して算出される。この場合、欠点として、所定の直径に達すると停止される、即ち、直径に応じて停止される紡錘部分の場合、紡錘が円錐形であれば、この膨らむ直径は巻き取りプロセスにとって破断判定基準として利用される。しかし、製品の最終利用者にとって重要なのはこの直径ではなく、多くの場合、円錐の外径である。さらに、紡錘の条件に応じて膨らむ直径は種々の位置を占め、紡錘上の小径部分と大径部分の間のどの部分にも位置する可能性がある。

これに反して、本発明の方法では、糸の経路の転換点においても円錐形紡錘の外径及び/又は内径を直接算出することができる。この場合、下記の関係が成立する：
《式》

上記関係式においてｒはそれぞれの（小さい、又は大きい）紡錘直径、ｖはそれぞれの周囲速度、ω紡錘は紡錘の角速度である。

一定角速度から始めて、内外域において糸の速度が紡錘の周囲速度と一致すると想定すれば（なぜなら、糸の経路が描く三角形の方向転換点においては水平速度は極めて小さいが、殆どゼロであり、従って、存在するとしても接線速度だけであるから）、下記関係式が成立する：
《式》

巻き取り速度の測定と同時に、好ましくは紡錘に取り付けたパルス発生器を介して紡錘回転速度もしくは^ω紡錘を測定すれば、移動ストロークを考慮して円錐形紡錘の外径もしくは内径を正確に測定することができる。

その際に、所定の直径に達したら巻取りプロセスを停止するだけでなく、膨らむ直径の正確な位置を正確に検出してこれを表示することもできることが好ましい。

同様に、円錐形紡錘の直径だけでなく、移動ストロークを考慮に入れることで糸の速度からロール形紡錘の直径をも測定することができる。
−さらにまた、測定信号を利用することによって紡錘の密度をも測定することができる。糸の繊度、紡錘の形状及び巻き取られた糸の長さから得られるこの密度は巻き取られ多物品の品質を決める特性である。例えば、紡錘の密度が統計学的に比較基準となり得るグループとは著しく相違しているなら、この基準から外れた紡錘は高すぎる糸の緊張及び/又は巻き取り枠による高すぎる圧迫力などに起因し、低品質であるとされる。例えば、上記のようにして測定された紡錘の直径から紡錘の容積を求めることができ、巻き取られた糸の長さと紡錘の容積との商が糸の繊度に典型的な所定の密度であるか否かを示す。即ち、基準密度値の上限及び/又は下限が与えられ、測定された密度値をこれと比較することになる。基準値上限を上回るか基準値下限を下回れば、アラーム信号が発せられる。
−さらにまた、糸に施されているコーティングに関して、ドラムと紡錘との間のスリップをも評価することができる。上述したように転換点における速度を測定するために紡錘軸の速度を利用すれば、円錐形紡錘の膨らむ直径をダイナミックに、即ち、巻取りプロセスの過程で測定することができる。巻取り中に紡錘に作用する加速メカニズム（リボン・ブレーキング）の作用で、膨らむ直径の位置がパラフィン・コーティングを施されている場合には著しく移動し、パラフィン・コーティングがない場合には位置は比較的一定位置を保つ。パラフィン被覆が所与の目標値とは異なるか、又は所定の限界値を下回ると、アラーム信号が発せられる、及び/又は巻取りプロセスが自動的に停止することが好ましい。スリップが目標スリップ量又は所定のスリップ態様と異なる場合には、巻取りプロセスが自動的に修正又は中止される。
−さらにまた、巻取りプロセスを加速しながら、ドラムと紡錘との間のスリップをモニターすることができる。この場合、ドラムの駆動装置を所定の目標スリップ量又は所定のスリップ態様にあわせて調整するか、又はスリップが目標スリップ量又はスリップ態様とは異なる時は巻取りプロセスを自動的に修正することが好ましい。

巻取りプロセスは、複数回に亘って（材料及び紡錘直径に応じて４０回以上）給糸が中断される不連続のプロセスである。上記のようにドラムのスリップをモニターすることによって紡錘を極めて迅速に加速することができる。

センサーを介して、ドラム回転数を測定すると同時に正確な巻取り速度を測定することにより駆動ドラムと防錘との間のスリップを正確に測定し、ドラム駆動力を介してこのスリップを調整することによって、高い製造の質を維持しながら、高いプロセス速度を達成することができる。

３．走行中の糸の糸切れ又は走行中の糸の詰まり

本発明の他の実施形態では、上述した方法で走行中の糸の糸切れ又は糸の詰まりを非接触的に、特に（限定的ではないが）巻取りプロセス中に測定することができる。

走行中の糸に起こる恐れがある糸切れ及び/又は糸が巻き取られている紡錘と紡錘を駆動するドラムとに間に怒る恐れがある詰まりに関して巻き取られた製品の品質をモニターし、場合によっては、上記方法で糸速度を測定することによって最適化することができる。

巻取りロールと駆動ロール（溝付きドラム）を補助手段とする巻取りのほかにも巻取り方法がある。この巻取り方法の場合、駆動ロール又はバックアップ・ロールを紡錘駆動手段内に設け、駆動が直接紡錘軸又は駆動ロールを介して起こる。この場合、給糸は別設の手段を介して行なわれる。

巻取りプロセス中に、糸の負荷のため駆動ロールと紡錘との間の圧接点において糸切れが起こることがある。このような場合には、糸が切れたにもかかわらずそのままさらに送られ、存在する対流のため紡錘に引きずられる可能性がある。他の可能性として、糸が圧接点から後方へ送られ、どこかの場所で装置から垂れ下がったままとなる。いずれの場合にも、紡錘もしくは巻取りプロセスに望ましくない影響が顕著に現れる。

ＬＤＡ−センサーによる速度測定によって、糸切れを早期に検出できることが好ましい。即ち、糸切れの直後に糸は一瞬速度変化、特に、減速（ＬＤＡ−センサーの後方で糸切れが起こる場合）を経験するからである。この速度変化はセンサー信号を評価することによって測定することができる。

糸の速度を測定する装置の第１実施形態を示す。 この装置の第２実施形態を側面から示す。 図２の実施形態を上方から示す。 装置の第３実施形態を側面から示す。 図４の実施形態を上方から示す。

符号の説明

１・・・コヒーレント光源；２・・・１次光ビーム；３・・・ビーム・スプリッタ；
４ａ・・・第１光ビーム；４ｂ・・・第２光ビーム；５・・・糸；６ａ・・・第１光波；
６ｂ・・・第２光波；８・・・光検出器。

Claims (23)

1. 第１及び第２コヒーレント光波（６ａ、６ｂ）を干渉させる、糸（５）の速度測定方法であって、
   ここで、第１光波（６ａ）は、糸（５）によって散乱させられた光を含み、そして、糸（５）に投射される第１光ビーム（４ａ）から生じた光波であるものとし、
   第２光波（６ｂ）は、第２光ビーム（４ｂ）から生じた光波であるものとし、そして、
   糸（５）の速度を光検出器（８）において光波（６ａ、６ｂ）間のドップラー干渉から求めるものとする、前記方法において、
   糸（５）と接触させることなく、第２光ビーム（４ｂ）を光検出器（８）へ導入させ、そして、第１及び第２光ビーム（４ａ、４ｂ）が互いに平行に、しかし、互いに間隔を設けて進行することを特徴とする、前記方法。
2. 第１及び第２光ビーム（４ａ、４ｂ）が互いにオーバーラップしない、請求項１に記載の方法。
3. コヒーレント光源からの１次光ビーム（２）を少なくとも部分的に透明な物体（２０）に投射し、そして、前記物体（２０）から反射により分割することによって、第１及び第２光ビーム（４ａ、４ｂ）を発生する、請求項１又は２に記載の方法。
4. コヒーレント光源（１）からの１次光ビーム（２）を、少なくとも部分的に透明な物体（２０）に投射して、反射によって前記物体（２０）から分割して、そして、反射が物体（２０）の互いに平行な面（１２、１３）において起こり、第１及び第２光ビーム（４ａ、４ｂ）を発生する、請求項３に記載の方法。
5. １次光ビーム（２）が第１面（１２）から物体（２０）に入射し、１次光ビーム（２）の一部が反射して第１又は第２光ビーム（４ａ、４ｂ）を発生させ、そして、物体（２０）の第１面（１２）と対向する第２面（１３）において１次光ビーム（２）が反射して、次に、第１面（１２）を通って物体（２０）から射出し、第２もしくは第１光ビーム（４ｂ、４ａ）を発生する、請求項４に記載の方法。
6. 測定された速度から糸の欠陥部分の位置及び/又は長さを求める、請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
7. 糸を巻取り、そして、巻取られた糸の長さを、測定された速度から算出する、請求項１〜６のいずれか１項に記載の方法。
8. 糸を巻取り、そして、測定された速度から時間依存性の速度経過を求める、請求項１〜７のいずれか１項に記載の方法。
9. 巻取り部において、糸を溝付きドラムへ導入して、溝付きドラムの幾何形状によって予め設定された既知の経過を糸に強制し、そして、得られた速度経過と既知の経過とを比較する、請求項８に記載の方法。
10. 測定された速度から糸の加速度を測定する、請求項１〜９のいずれか１項に記載の方法。
11. 第１光ビーム（４ａ）が糸に集束しない、及び/又は、少なくとも１ｍｍの直径を有する、請求項１〜１０のいずれか１項に記載の方法。
12. 所定の糸領域（１１）を通過するように糸（５）を導入する糸導入手段（１０）と、
    １次光ビーム（２）を発生させるためのコヒーレント光源（１）と、
    １次光ビーム（２）からの第１及び第２光ビーム（４ａ、４ｂ）を発生させるビーム・スプリッタ（３）であって、ここで、前記ビーム・スプリッタは、第１光ビーム（４ａ）が、所定の糸領域を通過して、糸（５）において散乱させられる第１光波（６ａ）を発生するように配置されるものとする、前記ビーム・スプリッタ（３）と、
    第１光波（６ａ）と第２光ビーム（４ｂ）から発生する第２光波（６ｂ）との間のドップラー干渉を測定する光検出器と、
    を含む糸（５）の速度を測定する装置であって、
    ここで、
    第２光ビーム（４ｂ）が糸の所定領域を通過せず、従って、糸（５）と接触することなく光検出器（８）に入射するようにビーム・スプリッタ（３）を配置するものとする、前記装置において、
    ビーム・スプリッタ（３）が、第１及び第２面（１２、１３）を有する透明体（２０）を含み、ここで、前記第１及び第２面は、互いに平行であるものとする、
    第１及び第２面（１２、１３）における反射によって、１次光ビーム（２）が第１及び第２光ビーム（４ａ、４ｂ）に分割され、そして、
    第１及び第２光ビーム（４ａ、４ｂ）が、互いに平行に間隔を保って進行することを特徴とする、前記装置。
13. 繊維機械の巻取り部において、走行する糸の品質のモニター及び/又は改善を目的とする、請求項１〜１２のいずれか１項に記載の方法又は装置の使用。
14. 欠陥部分の位置及び/又は長さをドップラー干渉によって検出する、請求項１３に記載の使用。
15. ドップラー干渉から糸の毛羽立ち量を測定する、請求項１３又は１４に記載の使用。
16. 糸を巻取ることによって得られる紡錘の品質をモニター及び/又は改善することを目的とする、請求項１〜１２のいずれか１項に記載の方法又は装置の使用。
17. 巻取られた長さを測定し、及び/又は、所定の基準長さに達すると巻取りを停止又は巻枠交換を開始する、請求項１６に記載の使用。
18. 糸の速度経過を測定し、速度経過をスペクトル解析にかけることによって周波数プロフィールを求め、これを周波数プロフィールの上限及び/又は下限と比較して、
    周波数プロフィールの上限を超えるかもしくは下限を下回る場合に、エラーを表示するか、又は、巻取り工程の修正措置を取ることを目的とする、請求項１６又は１７に記載の使用。
19. 測定された速度と変位ストロークから紡錘の直径を求める、請求項１６〜１８のいずれか１項に記載の使用。
20. 測定された速度から紡錘の密度を求める、請求項１６〜１９のいずれか１項に記載の使用。
21. ドラムの角速度もしくは周囲速度を測定し、速度信号を利用して紡錘の周囲速度とドラムの周囲速度との間のスリップを測定する、請求項１６〜２０のいずれか１項に記載の使用。
22. 巻取りプロセスをスピードアップする際にドラムと紡錘との間のスリップをモニターする、請求項１６〜２１のいずれか１項に記載の使用。
23. 走行中の糸の糸切れ又は詰まりを非接触的に検出することを目的とする、請求項１〜１２のいずれか１項に記載の方法又は装置の使用。

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