JP5258820B2 - ピンホール検出器 - Google Patents
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Description
2 光源部
3、30 制御部
3a ピンホール検出制御部
3a1 増幅回路
3a2 レベル判定回路
3a3 ピンホール設定回路
3a4 ピンホール出力回路
3a5 ゲイン制御回路
3b 自動校正制御部
11 光電変換ユニット
11a 円筒レンズ
11b 光検出器
11c スリット板
11d 凹面鏡
12 校正サンプル設定部
12a 校正光源駆動部
12a1 スライダー部
12a2 回転アーム部
12b1、12b2 上下機構部
12c 校正光源部
12c1 反射笠
12c2 反射鏡
12c3 LED光源
12c4LED電源
13 内箱
14 外箱
15a、15b エッジマスク
100 被検出板
101 校正板
110 検出部
120 シャッター付校正サンプル
120a 校正サンプル
120b シャッター
s1 校正開始信号
s2 位置設定完了信号
s3 点灯指令信号
s4 校正指令信号
Claims (4)
- 走行する被検出板の一方の表面側に配置され、被検出板の全幅にわたって光を照射する光源部と、前記被検出板を挟んで前記光源部と対向して配置され、前記被検出板のピンホールを通過した前記光源部からの照射光を検出する検出部と、前記被検出板の両幅端部にそれぞれ幅方向に移動可能に設定され、前記光源部からの照射光が前記被検出板の幅端部を回り込んで検出部に入り込むのを防止するためのエッジマスクと、前記検出部の信号からピンホールの有無を判定する制御部と
を備えたピンホール検出器であって、
前記検出部は、前記被検出板の幅方向に並置され、前記ピンホールの通過光を検出する複数の光電変換ユニットと、
予め設定された径の校正ピンホールが存在する校正サンプルを固定し、前記校正ピンホールを通過させる所定のパルス光を発光する校正光源部と、前記校正光源部を前記被検出板を幅方向に移動させ、予め設定された校正位置に停止させる校正光源駆動部とを備える校正サンプル設定部と
を備え、
前記光源部からの照射光がない状態において、前記校正光源部を幅方向に移動し予め設定された複数の校正位置で停止させ、前記パルス光を発光させ、前記複数の光電変換ユニットの幅方向の検出感度の校正を行うようにしたことを特徴とするピンホール検出器。 - 前記校正光源部は、ドーム型の反射笠と、前記反射笠の底部中心位置にピンホールが位置するように固定される校正サンプルと、当該ピンホールに集光されるように前記反射笠内に設ける複数のLED光源とを備える請求項1に記載のピンホール検出器。
- 前記校正サンプル設定部は、さらに、前記校正光源部を前記被検出板と前記複数の光電変換ユニットとの間の予め設定される高さ位置に設定する上下機構部と、前記校正光源駆動部は、前記校正光源部を前記上下機構部で設定された高さ位置で、予め設定される幅方向位置に設定するスライダー部と、前記被検出板が移動する軸方向に回転する回転アーム部とを備える請求項1に記載のピンホール検出器。
- 前記制御部は、前記校正サンプル設定部に対して校正指令信号を送り、その応答として予め設定される設定位置完了信号を受信して、前記校正光源部に対して発光指令信号を送る自動校正制御部を備え、
前記制御部は、前記校正サンプルのピンホールを通過した発光信号を検出し、前記複数の光電変換ユニットの検出感度の自動校正を行うようにした請求項1に記載のピンホール検出器。
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