JP5257166B2 - 光学部品計測方法および装置 - Google Patents
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図1は本発明の実施の形態1におけるレンズ収差測定装置の概略図である。図1において、13は本測定装置の光軸14と平行な光軸を有する光を出射する光源である。15は検査対象である被検レンズであり光軸14上に垂直に設置される。被検レンズ15は凸レンズに限定するものではなく、凹レンズ、非球面レンズ、シリンドリカルレンズ、組レンズ、ミラー、プリズムなど様々な光学部品が対象となる。16は干渉縞を形成するための回折格子であり、被検レンズ15の焦点位置またはほぼ焦点位置に光軸14に対して垂直に設置しており、光源13より出射された光と異なる位相を有する複数の光を形成する。回折格子16は光軸14に垂直な平面を有し、その平面上に光軸14と直交する複数の平行な溝を有している。回折格子16の回折作用により、例えば、図2に示すような3つの光(0次回折光17と+1次回折光18と−1次回折光19)が形成される。図2に示すように、0次回折光17と+1次回折光18が干渉して1つの干渉領域20を形成し、0次回折光17と−1次回折光19が干渉して1つの干渉領域21が形成される。
このとき初期位相θは、下記(式2),(式3)で表される。
14 光軸
15 被検レンズ
16 回折格子
17 0次回折光
18 +1次回折光
19 −1次回折光
20 干渉領域
21 干渉領域
22 レンズ
23 駆動装置
24 レンズ
25 撮像素子
26 演算装置
27 表示部
28a,b X軸
29a,b Y軸
30a,b +45度軸
31a,b −45度軸
32 Paの時間―強度データ
33 Pbの時間―強度データ
34 振幅A
35 振幅中心B
36 振幅a
37 振幅中心b
38 Pa、Pbの位相差φ
39 Paのある瞬間の強度Ia
40 Pbのある瞬間の強度Ib
41 初期位相の点列
42 初期位相の点列
43 位相繋ぎ後の実施の形態1により算出した初期位相の点列
44 位相繋ぎ後の従来位相シフト法により算出した初期位相の点列
Claims (4)
- 光学部品を透過した光から0次回折光と互いに異なる次数の第1回折光と第2回折光を形成し、
前記0次回折光と前記第1回折光による干渉領域の中心を第1原点とし、前記0次回折光と前記第2回折光の干渉領域の中心を第2原点とし、前記第1原点と前記第2原点を基準にした2つの座標系においてそれぞれ同一座標での輝度とその位相差を検出し、
前記輝度および前記位相差に基づいて干渉領域内の初期位相を算出し、
算出した前記初期位相に基づいて前記光学部品の光学特性を計測すること
を特徴とする光学部品計測方法。 - 前記光学部品の集光点位置に設置した回折格子を用いて前記0次回折光と前記第1回折光と前記第2回折光を同時に形成すること
を特徴とする請求項1記載の光学部品計測方法。 - 光学部品を透過した光から0次回折光と互いに異なる次数の第1回折光と第2回折光を形成する回折手段と、
前記0次回折光と前記第1回折光による干渉領域の中心を第1原点とし、前記0次回折光と前記第2回折光の干渉領域の中心を第2原点とし、前記第1原点と前記第2原点を基準にした2つの座標系においてそれぞれ同一の座標での輝度とその位相差を検出し、前記輝度および前記位相差に基づいて干渉領域内の初期位相を算出し、算出した前記初期位相に基づいて前記光学部品の特性を計測する計測手段と、を備えること
を特徴とする光学部品計測装置。 - 前記回折手段は、前記光学部品の集光点位置に設置されたこと
を特徴とする請求項3記載の光学部品計測装置。
Priority Applications (1)
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JP2009060496A JP5257166B2 (ja) | 2009-03-13 | 2009-03-13 | 光学部品計測方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2009060496A JP5257166B2 (ja) | 2009-03-13 | 2009-03-13 | 光学部品計測方法および装置 |
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JP2010216813A JP2010216813A (ja) | 2010-09-30 |
JP5257166B2 true JP5257166B2 (ja) | 2013-08-07 |
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Family Applications (1)
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JP2009060496A Active JP5257166B2 (ja) | 2009-03-13 | 2009-03-13 | 光学部品計測方法および装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP3667149B2 (ja) * | 1999-05-19 | 2005-07-06 | 松下電器産業株式会社 | レンズの評価方法、レンズの評価装置、及びレンズの調整装置 |
JP4127952B2 (ja) * | 2000-09-14 | 2008-07-30 | 松下電器産業株式会社 | 収差測定方法と収差評価装置 |
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- 2009-03-13 JP JP2009060496A patent/JP5257166B2/ja active Active
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