JP5249098B2 - 基板処理システム及び基板処理方法 - Google Patents
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Description
2 カセットステーション
3 処理ステーション
4 制御装置
11 搬送室
13 搬送レール
14 基板搬送体
15 アーム
16 基板保持体
20 ロードロック室
22、23 処理装置
24 基板搬送装置
25 開口部
26 開口部
27、28 ゲートバルブ
40 処理チャンバ
41 基板載置台
42 昇降ピン
50、51 基板収容部
52、53 搬送機構
54、55 昇降機構
56、57 基板保持部
58、59 移動機構
60 移動機構
60a 駆動部a
61 連結部材
61a 垂直部
61b 水平部
70 支持部
70h 支持部
70b 支持部
71 支持部移動機構
80、81 支持ピン
Claims (11)
- 基板の処理システムであって、
複数の基板に所定の処理をバッチ式に施す処理チャンバと、
前記処理チャンバの内部に設けられ、複数の基板を同心円上に載置する正転及び逆転自在な基板載置台と、
複数の基板を鉛直方向に多段に収容可能な第1の基板収容部と、
複数の基板を鉛直方向に多段に収容可能な第2の基板収容部と、
前記第1の基板収容部と前記処理チャンバとの間で搬送する基板を保持する第1の基板保持部と、
前記第2の基板収容部と前記処理チャンバとの間で搬送する基板を保持する第2の基板保持部と、
前記第1の基板収容部と前記第1の基板保持部とを相対的に上下方向に移動させ、前記第1の基板収容部と前記第1の基板保持部との間で基板の受け渡しを行う第1の昇降機構と、
前記第2の基板収容部と前記第2の基板保持部とを相対的に上下方向に移動させ、前記第2の基板収容部と前記第2の基板保持部との間で基板の受け渡しを行う第2の昇降機構と、
前記基板載置台の回転と、前記第1の昇降機構及び前記第2の昇降機構の上下の移動と、前記第1の基板保持部及び前記第2の基板保持部による基板の搬送を制御する制御装置と、を有し、
前記制御装置は、
未処理基板の収容された前記第1の基板収容部を前記第1の基板保持部に対して相対的に下降させて前記第1の基板収容部から前記第1の基板保持部に前記未処理基板を受け渡すと共に、前記基板載置台を一の方向に順次所定の角度で回転させながら、前記第1の基板保持部により順次前記未処理基板を前記処理チャンバに搬入する制御と、
前記処理チャンバ内で前記複数の基板に所定の処理を実行する制御と、
前記基板処理の完了後に、前記第1の基板保持部により前記処理チャンバから処理済基板を搬出した後、前記第1の基板収容部を前記第1の基板保持部に対して相対的に上昇させ、前記第1の基板保持部から前記第1の基板収容部に前記処理済基板の受け渡しを行うと共に、前記基板載置台を他の方向に順次所定の角度で回転させながら、未処理基板の収容された前記第2の基板収容部を前記第2の基板保持部に対して相対的に下降させて前記第2の基板収容部から前記第2の基板保持部に前記未処理基板を受け渡し、前記第2の基板保持部により順次前記未処理基板を前記処理チャンバに搬入する制御と、を行うことを特徴とする基板処理システム。 - 前記第1の基板収容部及び前記第2の基板収容部と、基板収容容器との間で基板の搬送を行う基板搬送体を有し、
前記基板搬送体には、基板を保持する基板保持体が鉛直方向に多段に設けられていることを特徴とする、請求項1に記載の基板処理システム。 - 前記第1の基板収容部の内側には、基板を支持する支持部が、平面視で前記第1の基板保持部と重ならない位置に設けられ、
前記第2の基板収容部の内側には、基板を支持する支持部が、平面視で前記第2の基板保持部と重ならない位置に設けられていることを特徴とする、請求項1または2のいずれかに記載の基板処理システム。 - 前記第1の昇降機構は前記第1の基板収容部を上下方向に移動させ、
前記第2の昇降機構は前記第2の基板収容部を上下方向に移動させることを特徴とする、請求項3に記載の基板処理システム。 - 前記第1の基板収容部は、前記支持部を基板の内側と外側との間で移動させる第1の支持部移動機構を備え、
前記第2の基板収容部は、前記支持部を基板の内側と外側との間で移動させる第2の支持部移動機構を備え、
前記第1の昇降機構は前記第1の基板保持部を上下方向に移動させ、
前記第2の昇降機構は前記第2の基板保持部を上下方向に移動させることを特徴とする、請求項3に記載の基板処理システム。 - 前記第1の基板収容部の基板を支持する第1の支持ピンと、
前記第2の基板収容部の基板を支持する第2の支持ピンと、を有し、
前記第1の基板収容部は、前記支持部を基板の内側と外側との間で移動させる第1の支持部移動機構を備え、
前記第2の基板収容部は、前記支持部を基板の内側と外側との間で移動させる第2の支持部移動機構を備え、
前記第1の昇降機構は、前記第1の支持ピンを上下方向に移動させ、
前記第2の昇降機構は、前記第2の支持ピンを上下方向に移動させることを特徴とする、請求項3に記載の基板処理システム。 - 複数の基板に所定の処理を施す処理チャンバと、
前記処理チャンバに設けられ、複数の基板を同心円上に載置する正転及び逆転自在な基板載置台と、
複数の基板を鉛直方向に多段に収容可能な第1の基板収容部と、
複数の基板を鉛直方向に多段に収容可能な第2の基板収容部と、
前記第1の基板収容部と前記処理チャンバとの間で基板の搬送を行う第1の基板保持部と、
前記第2の基板収容部と前記処理チャンバとの間で基板の搬送を行う第2の基板保持部と、
前記第1の基板収容部と前記第1の基板保持部とを相対的に上下方向に移動させる第1の昇降機構と、
前記第2の基板収容部と前記第2の基板保持部とを相対的に上下方向に移動させる第2の昇降機構と、を有する基板処理装置を用いた基板処理方法であって、
未処理基板の収容された前記第1の基板収容部を前記第1の基板保持部に対して相対的に下降させて前記第1の基板収容部から前記第1の基板保持部に前記未処理基板を受け渡すと共に、前記基板載置台を一の方向に順次所定の角度で回転させながら、前記第1の基板保持部により順次前記未処理基板を前記処理チャンバに搬入する工程と、
前記処理チャンバ内で前記複数の基板に所定の処理を施すバッチ処理工程と、
前記基板処理の完了後に、前記第1の基板保持部により前記処理チャンバから処理済基板を搬出した後、前記第1の基板収容部を前記第1の基板保持部の処理済基板に対して相対的に上昇させ、前記第1の基板保持部から前記第1の基板収容部に前記処理済基板の受け渡しを行うと共に、前記基板載置台を他の方向に順次所定の角度で回転させながら、前記第2の基板収容部を前記第2の基板保持部に対して相対的に下降させて前記第2の基板収容部から前記第2の基板保持部に前記未処理基板を受け渡し、前記第2の基板保持部により順次前記未処理基板を前記処理チャンバに搬入する工程と、を有することを特徴とする、基板処理方法。 - 前記第1の基板収容部の内側には、基板を支持する支持部が、平面視で前記第1の基板保持部と重ならない位置に設けられ、
前記第2の基板収容部の内側には、基板を支持する支持部が、平面視で前記第2の基板保持部と重ならない位置に設けられ、
前記第1の基板収容部と前記第1の基板保持部、及び前記第1の基板保持部と前記第1の基板収容部との相対的な上下方向の移動は、前記第1の基板収容部を上下方向に移動させることにより行い、
前記第2の基板収容部と前記第2の基板保持部、及び前記第2の基板保持部と前記第2の基板収容部との相対的な上下方向の移動は、前記第2の基板収容部を上下方向に移動させることにより行うことを特徴とする、請求項7に記載の基板処理方法 - 前記第1の基板収容部は、前記支持部を基板の内側と外側との間で移動させる第1の支持部移動機構を備え、
前記第2の基板収容部は、前記支持部を基板の内側と外側との間で移動させる第2の支持部移動機構を備え、
前記第1の基板収容部の内側には、基板を支持する支持部が、平面視で前記第1の基板保持部と重ならない位置に設けられ、
前記第2の基板収容部の内側には、基板を支持する支持部が、平面視で前記第2の基板保持部と重ならない位置に設けられ、
前記第1の基板収容部と前記第1の基板保持部、及び前記第1の基板保持部と前記第1の基板収容部との相対的な上下方向の移動は、前記第1の基板保持部を上下方向に移動させることにより行い、
前記第2の基板収容部と前記第2の基板保持部、及び前記第2の基板保持部と前記第2の基板収容部との相対的な上下方向の移動は、前記第2の基板保持部を上下方向に移動させることにより行い、
前記支持部は、基板を支持していない状態では平面視で基板と重ならない位置に退避し、基板が当該支持部の下方から当該支持部の上方に移動した際に、基板を支持する位置に移動することを特徴とする、請求項7に記載の基板処理方法。 - 前記第1の基板収容部の基板を支持する第1の支持ピンと、
前記第2の基板収容部の基板を支持する第2の支持ピンと、を有し、
前記第1の基板収容部は、前記支持部を基板の内側と外側との間で移動させる第1の支持部移動機構を備え、
前記第2の基板収容部は、前記支持部を基板の内側と外側との間で移動させる第2の支持部移動機構を備え、
前記第1の基板収容部の内側には、基板を支持する支持部が、平面視で前記第1の基板保持部と重ならない位置に設けられ、
前記第2の基板収容部の内側には、基板を支持する支持部が、平面視で前記第2の基板保持部と重ならない位置に設けられ、
前記第1の基板収容部と前記第1の基板保持部、及び前記第1の基板保持部と前記第1の基板収容部との相対的な上下方向の移動は、前記第1の支持ピンを上下方向に移動させることにより行い、
前記第2の基板収容部と前記第2の基板保持部、及び前記第2の基板保持部と前記第2の基板収容部との相対的な上下方向の移動は、前記第2の支持ピンを上下方向に移動させることにより行い、
前記支持部は、基板を支持していない状態では平面視で基板と重ならない位置に退避し、基板が当該支持部の下方から当該支持部の上方に移動した際に、基板を支持する位置に移動することを特徴とする、請求項7に記載の基板処理方法。 - 複数の基板に所定の処理をバッチ式に施す処理チャンバと、前記処理チャンバの内部に設けられ、複数の基板を同心円上に載置する正転及び逆転自在な基板載置台と、
複数の基板を鉛直方向多段に収容可能な第1の基板収容部と、
複数の基板を鉛直方向多段に収容可能な第2の基板収容部と、
前記基板載置台と前記第1の基板収容部との間で基板を搬送する第1の基板保持部と、
前記基板載置台と前記第2の基板収容部との間で基板を搬送する第2の基板保持部と、を備えた基板処理装置の基板処理方法であって、
前記第1の基板収容部に複数の未処理基板を収容する工程と、
前記基板載置台から処理済基板の一枚を前記第2の基板保持部に受け渡し、前記第2の基板収容部に搬送する工程と、
前記第1の基板収容部から前記第1の基板保持部に未処理基板を受け渡すと共に前記第2の基板保持部から前記第2の基板収容部に処理済基板を受け渡す動作、前記第1の基板保持部に受け渡された未処理基板を前記基板載置台に搬送する動作、前記基板載置台に搬送された未処理基板を前記載置台に載置すると共に前記基板載置台に載置されている処理済基板を前記第2の基板保持部で受け取る動作、前記基板載置台から受け取った処理済基板を前記第2の基板収容部に搬送する動作、および前記基板載置台を所定の角度だけ一方向に回転させる動作、を複数回行う工程と、
前記第1の基板収容部から未処理基板を前記第1の基板保持部に受け渡し、前記基板載置台に載置する工程と、
前記処理チャンバで前記複数の基板に所定の処理を施すバッチ処理工程と、
前記第2の基板収容部から処理済基板を搬出すると共に当該第2の基板収容部に複数の未処理基板を収容する工程と、
前記基板載置台から処理済基板の一枚を前記第1の基板保持部に受け渡し、前記第1の基板収容部に搬送する工程と、
前記第2の基板収容部から前記第2の基板保持部に未処理基板を受け渡すと共に前記第1の基板保持部から前記第1の基板収容部に処理済基板を受け渡す動作、前記第2の基板保持部に受け渡された未処理基板を前記基板載置台に搬送する動作、前記基板載置台に搬送された未処理基板を前記載置台に載置すると共に前記基板載置台に載置されている処理済基板を前記第1の基板保持部で受け取る動作、前記基板載置台から受け取った処理済基板を前記第1の基板収容部に搬送する動作、および前記基板載置台を所定の角度だけ他方向に回転させる動作、を複数回行う工程と、を有することを特徴とする、基板処理方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009064171A JP5249098B2 (ja) | 2009-03-17 | 2009-03-17 | 基板処理システム及び基板処理方法 |
KR20100021369A KR101127048B1 (ko) | 2009-03-17 | 2010-03-10 | 기판 처리 시스템 및 기판 처리 방법 |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009064171A JP5249098B2 (ja) | 2009-03-17 | 2009-03-17 | 基板処理システム及び基板処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010219281A JP2010219281A (ja) | 2010-09-30 |
JP5249098B2 true JP5249098B2 (ja) | 2013-07-31 |
Family
ID=42738026
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009064171A Expired - Fee Related JP5249098B2 (ja) | 2009-03-17 | 2009-03-17 | 基板処理システム及び基板処理方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8814489B2 (ja) |
JP (1) | JP5249098B2 (ja) |
KR (1) | KR101127048B1 (ja) |
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-
2009
- 2009-03-17 JP JP2009064171A patent/JP5249098B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-03-10 KR KR20100021369A patent/KR101127048B1/ko active IP Right Grant
- 2010-03-16 US US12/724,763 patent/US8814489B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-04-18 US US13/449,409 patent/US9011075B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010219281A (ja) | 2010-09-30 |
KR101127048B1 (ko) | 2012-03-27 |
KR20100105395A (ko) | 2010-09-29 |
US20120201646A1 (en) | 2012-08-09 |
US20100240200A1 (en) | 2010-09-23 |
US9011075B2 (en) | 2015-04-21 |
US8814489B2 (en) | 2014-08-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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