JP5243835B2 - 垂直磁気記録媒体及びそれを用いた磁気記憶装置 - Google Patents

垂直磁気記録媒体及びそれを用いた磁気記憶装置 Download PDF

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Description

本発明は、大容量の情報記録が可能な磁気記録媒体及びそれを用いた磁気記憶装置に関するものである。
近年、ハードディスク装置の大容量化が一段と求められている。さらに、家庭用の電気製品へのハードディスク装置の搭載が進むことにより、ハードディスク装置の小型化、大容量化の要望は強くなる一方である。面内記録方式を用いたハードディスク装置は1平方センチあたり20ギガビットを超える面記録密度を達成してきたが、この方式を用いてさらに記録密度を向上させるのは困難となったため、これに代わる方式として垂直記録方式が用いられている。垂直記録方式は面内記録方式に比べて高密度記録領域での反磁界の影響が小さく、高密度化に有利と考えられている。
垂直記録方式に用いる垂直磁気記録媒体に関して、従来は面内記録媒体で用いられているCoCrPt系合金からなる記録層が検討されてきた。しかし、更にノイズを低減するために、CoCrPt合金に酸素あるいは酸化物を添加したグラニュラ型の記録層が提案され、注目を集めている。このグラニュラ型の記録層に関しては、例えば特開2001−222809号公報、特開2003−178413号公報に記載されている。従来のCoCrPt系合金からなる記録層の場合には、CoとCrの相分離を利用してCrを主とする非磁性材料を粒界に偏析させることにより、磁性結晶粒の磁気的な孤立化を図ってノイズを低減してきた。ノイズ低減の効果をより大きくするためにはCrを多く添加する必要があるが、その場合には磁性結晶粒内にもCrが多く残り、磁気異方性エネルギーが低下し、記録信号の安定性が劣化することが問題であった。それに対して、CoCrPt合金に酸素や酸化物を添加したグラニュラ型の記録層の場合には、酸化物が磁性結晶粒と容易に分離するため、酸化物粒界形成のきっかけとなるテンプレートが下地層として形成されていれば、酸化物が磁性結晶粒を取り囲む構造をCrの多量添加なしに形成することができる。磁性結晶粒に含まれるCr量を低減できるため、磁気異方性エネルギーを低下させることなくノイズの低減が可能である。
この垂直記録方式は、記録層と基板の間に軟磁性層を設けた磁気記録媒体と単磁極ヘッドを組み合わせることで、垂直方向の記録再生効率を高めることができる。この単磁極ヘッドには、記録磁界勾配を向上させるために主磁極のトレーリング側にシールドを設けた構造の磁気ヘッド(TSヘッド)や、主磁極の周囲を取り囲むようにシールドを設けた構造の磁気ヘッド(WASヘッド)がある。このようなシールドを設けた磁気ヘッドを用いると記録磁界勾配は向上するが、同時に記録磁界強度が低下するため、ノイズ低減を目的にグラニュラ記録層の粒間相互作用を十分低減したような媒体では十分なオーバーライト特性が得られない。そこでグラニュラ記録層の上に厚い非グラニュラ構造の強磁性層を形成することで、オーバーライト特性の改善が図られている(特開2004−310910号公報、特開2006−351055号公報)。
また、グラニュラ記録層の改良による低ノイズ化の検討も盛んに行われている。その一例として、グラニュラ記録層の粒界を形成する酸化物を2種類以上とすることが提案されている(特開2005−100537号公報、特開2006−164440号公報)。
特開2001−222809号公報 特開2003−178413号公報 特開2004−310910号公報 特開2006−351055号公報 特開2005−100537号公報 特開2006−164440号公報
上記のようにCoCrPt合金に酸素あるいは酸化物を添加したグラニュラ型の記録層は粒界形成が良好であり、ノイズ低減に適した記録層と言える。またグラニュラ構造の記録層の上に非グラニュラ構造の記録層を形成することで、シールドを設けた磁気ヘッドを用いても十分なオーバーライト特性が得られる。しかしながら、より高密度記録を達成するには更なる改善が要求されている。また、磁気ヘッドの狭トラック化により記録磁界強度の減少が懸念されるため、磁気ヘッドと軟磁性層の距離を狭くする必要がある。その場合、中間層を必要以上に薄くすると記録層の配向性劣化や、粒界形成のきっかけとなるテンプレート構造を形成することが困難となってノイズが増加するため、記録層、保護層の薄膜化も重要である。
本発明の第一の目的は、グラニュラ型記録層を用いた垂直磁気記録媒体において、ノイズを低減し、かつ記録層を薄膜化することで高密度記録が可能な垂直磁気記録媒体を提供することにある。
本発明の第二の目的は、この垂直磁気記録媒体の性能を十分活かした磁気記憶装置を提供することにある。
上記目的を達成するために本発明では、材料の異なる記録層を三層以上積層し、中間層に隣接するグラニュラ記録層の酸化物を複合酸化物とする。
本発明の垂直磁気記録媒体は、基板上に少なくとも軟磁性層、非磁性中間層、垂直記録層及び保護層が順次形成され、垂直記録層を三層以上で構成し、基板に近い側から第一の記録層、第二の記録層、第三の記録層とした場合、第一の記録層及び第二の記録層はCoとPtを含有する強磁性結晶粒子を酸化物の粒界が取り巻くグラニュラ構造を有し、第三の記録層はCoを主成分とし、酸化物を含有しない非グラニュラ構造を有し、第一の記録層の粒界はSi、Cr及び酸素を含有し、かつTi、Ta及びNbより選ばれた少なくとも1種の元素を含有し、第二の記録層の粒界はCr及び酸素を含有するか、あるいはCr及び酸素を含有し、かつSi、W、Vより選ばれた1種の元素を含有することで達成される。
グラニュラ記録層のノイズを低減するには粒界形成が重要であり、これまでの検討からSi、Cr、Ti、Taなどの酸化物が粒界材料に適していることがわかっている。しかしながら、粒界幅を厚くしてノイズを低減するには酸化物を多く添加する必要があり、いずれの酸化物でも多量に添加すると結晶粒の成長を阻害してサブグレイン化し、特性が劣化する問題があった。また、結晶粒がサブグレイン化していなくても粒界幅が厚くなると、その上に形成する非グラニュラ構造の記録層を厚くしなければ十分なオーバーライト特性を確保できない。非グラニュラ構造の記録層を厚く形成すると磁気的クラスタサイズが大きくなるため、ノイズ増大の要因となる。このような問題に対し、本発明者らは、中間層上に形成する第一の記録層の粒界はSi、Cr及び酸素を含有し、さらにTi、Ta及びNbから選ばれた少なくとも1種以上の元素を含有することで、多量の酸化物を添加しなくても粒間相互作用を低減できることを見出した。ただし、この複合酸化物を用いたグラニュラ記録層の上に非グラニュラ構造の記録層を直接形成すると、十分なオーバーライト特性を得るためには比較的厚い非グラニュラ構造の記録層を形成する必要があった。そこで、第一の記録層と非グラニュラ構造の記録層の間に第二の記録層を形成し、第二の記録層の粒界はCr及び酸素を含有するか、あるいはCr及び酸素を含有し、かつSi、W、Vより選ばれた1種の元素を含むことで、非グラニュラ構造の記録層を薄く形成しても十分なオーバーライト特性が得られることを見出し、本発明に至った。
上記第二の記録層の膜厚は0.2nm以上5nm以下とすることが望ましい。第二の記録層の膜厚が0.2nmよりも薄くなると非グラニュラ構造の記録層を厚く形成する必要があり、5nmよりも厚く形成すると記録層全体に占める第二の記録層の割合が増してノイズが増加するため好ましくない。
上記第一の記録層に含まれるCr濃度は4at.%よりも多く14at.%よりも少ないことが望ましい。Cr濃度を4at.%以下とすると、粒界に存在するCr酸化物の割合が減り、酸化物を複合させた効果が小さくなるため好ましくない。またCr濃度を14at.%以上とすると、結晶粒内に多量のCrが存在することとなり、結晶粒の磁気異方性定数が極端に低下して耐熱減磁特性が劣化するため好ましくない。
上記第二の記録層に含まれる酸化物濃度は10vol.%よりも多く、30vol.%よりも少なくすることが望ましい。添加濃度が10vol.%よりも少ないと第二の記録層の粒間相互作用が強くなってノイズが増大するため好ましくない。また酸化物濃度を30vol.%以上とすると第三の記録層の効果が不十分となり、オーバーライト特性が劣化するため好ましくない。
さらに、上記本発明の垂直磁気記録媒体と、磁気記録媒体を記録方向に駆動する手段と、記録部と再生部からなる磁気ヘッドと、磁気ヘッドを磁気記録媒体に対して相対的に駆動する手段と、磁気ヘッドに対する入力信号及び出力信号を波形処理する信号処理手段とを有する磁気記憶装置を構成することで、1平方センチあたり70ギガビット以上の記録密度を有する磁気記憶装置を達成することができる。
以下、本発明を実施例と比較例に基づいて詳細に説明する。
[実施例1]
図1は、本発明の一実施例である垂直磁気記録媒体の断面を模式的に表した図である。本実施例の垂直磁気記録媒体はアネルバ株式会社製のスパッタリング装置(C−3010)を用いて作製した。このスパッタリング装置は10個のプロセスチャンバーと1個の基板導入チャンバからなり、各チャンバは独立に排気されている。全てのチャンバを2×10-5Pa以下の真空度まで排気した後、基板を載せたキャリアを各プロセスチャンバーに移動させて順次プロセスを実施した。基板10上に軟磁性層11、fccシード層12、中間層13、第一の記録層14、第二の記録層15、第三の記録層16、保護層17をDCマグネトロンスパッタリング法を用いて順次積層した。基板10には厚さ0.635mm、直径65mmのガラス基板を用いた。基板の加熱は行わず、Arガス圧0.7Paの条件で、軟磁性層11として厚さ0.6nmのRu膜を介して厚さ15nmのFe−34at.%Co−10at.%Ta−5at.%Zr合金膜を2層積層した膜を、fccシード層12として厚さ7nmのNi−7at.%W膜を形成した。中間層13として厚さ8nmのRu膜をArガス圧1Paの条件で形成した上に、厚さ8nmのRu膜をArガス圧5Paの条件で積層した。第一の記録層14として、アルゴンに1.5%の酸素を混合したガスを用いてガス圧5Paの条件で10nm形成した。第二の記録層15として、Co−14at.%Cr−18at.%Pt合金にSiO2を10mol%添加したターゲットを用い、Arガス圧4Paの条件で3nm形成した。第三の記録層16として厚さ4nmのCo−12at.%Cr−12at.%Pt−10at.%B膜をArガス圧0.7Paの条件で形成し、最後に保護層17としてアルゴンに8%の窒素を混合したガスを用いて0.6Paの条件で厚さ3.5nmカーボン膜を形成した。
第一の記録層として、Co−14at.%Cr−18at.%Pt合金に5mol%SiO2+5mol%TiO2、5mol%SiO2+1.5mol%Ta25、5mol%SiO2+1.5mol%Nb25、4mol%SiO2+4mol%TiO2+0.5mol%Ta25、4mol%SiO2+1.5mol%Ta25+0.5mol%Nb25、4mol%SiO2+4mol%TiO2+0.5mol%Nb25、3mol%SiO2+4mol%TiO2+0.5mol%Ta25+0.5mol%Nb25をそれぞれ添加したターゲットを用いて媒体を作製した。
比較例1−1〜1−9として、第一の記録層14に添加する酸化物を変えた媒体を作製した。作製条件は第一の記録層14以外は全て同じであり、本実施例の媒体はSiO2とTiO2、Ta25、Nb25を混合した酸化物を用いたのに対し、比較例の媒体は単一の酸化物、あるいは異なる酸化物を混合させたことが相違点である。
媒体の磁気特性の測定にはカー効果型磁力計を用いた。磁界をサンプルの膜面垂直方向に印加しながらカー回転角を検出してカーループを測定した。磁界の掃印は一定速度でプラス2000kA/mからマイナス2000kA/m、そしてマイナス2000kA/mからプラス2000kA/mまでを30秒間で行った。
記録再生特性はスピンスタンドによって評価した。評価にはトラック幅70nmの単磁極タイプの記録素子とトラック幅60nmの巨大磁気抵抗効果を利用した再生素子を有する磁気ヘッドを用い、周速は10m/s、スキュー角0度、磁気的スペーシング約8nmの条件で行った。媒体SNRは7874fr/mmの信号を記録したときの再生出力と55120fr/mmの信号を記録したときの積分ノイズの比とした。表1に本実施例媒体と比較例媒体の磁気特性と記録再生特性を示す。
Figure 0005243835
本実施例と比較例1−1〜1−4を比較することで、各酸化物を個別に用いるよりも混合させたほうがHcは僅かに高く、媒体SNRが優れていることがわかる。また、本実施例と比較例1−5〜1−9を比較することで、媒体SNRの改善に効果のある酸化物の組み合わせがわかる。すなわちSiO2を必ず含み、さらにTiO2、Ta25、Nb25より選ばれた1種以上の酸化物を組み合わせることで、高い媒体SNRが得られた。SiO2を含まないTiO2とTa25、Ta25とNb25、TiO2とNb25のような組み合わせでは媒体SNR改善の効果がなく、SiO2を含んでもAl23やMgOでは酸化物を混合させたことによる媒体SNR改善の効果は見られない。
本実施例媒体の第一の記録層を透過型電子顕微鏡で観察したところ、実施例1−1〜1−7の平均粒径は7.9〜8.2nmであり、比較例1−1の平均粒径8.1nmと同等であった。また粒界幅を比較すると本実施例は0.6〜0.7nmであり、比較例1−1の粒界幅0.7nmと同等であった。他の比較例媒体と比べても極端な違いは見られなかった。本実施例1−1の媒体について第一の記録層をTEM−EELSで組成分析を行ったところ、粒界には結晶粒内に比べてSi、Ti、Cr、Oが多く存在することが確認された。また、結晶粒内と粒界部分それぞれのCr/Co比率を比較すると、実施例1−1は0.17と0.45であった。同様に組成分析を行った比較例1−1の媒体は0.19と0.37であった。それぞれ10%程度の分布は見られたが、本実施例媒体のほうが粒界部分におけるCo濃度が低いことが確認された。粒界部分のCo濃度が高い場合、粒界幅が広く形成されても粒間相互作用が強く働くため磁気クラスタサイズは大きくなり、ノイズ増大の要因となる。本発明のような粒界部分のCo濃度が低い記録層は、結晶粒径、粒界幅に違いは見られなくても磁気クラスタサイズが小さくなったことでノイズが低減したと考えられる。また、他の実施例媒体も同様に第一の記録層の粒界部分におけるCo濃度が低いことが確認された。
次に、上述した構造の媒体において、第一の記録層14の酸化物濃度を変えた媒体を作製した。この場合の酸化物の組み合わせはSiO2とTiO2とした。また、同様に比較例1−10〜1−14として、第一の記録層の酸化物をTiO2とTa25の組み合わせで組成を変えた媒体も作製した。表2に記録再生特性を示す。
Figure 0005243835
本実施例媒体はどの組成においても高い媒体SNRが得られることがわかった。それに対して比較例1−10〜1−14はどれも同等の媒体SNRであり、いずれの組成でも本実施例に比べて低い媒体SNRであった。よって、酸化物の混合比率は影響せず、混合させる酸化物の種類が重要であると考えられる。
[実施例2]
上記実施例1と同様な構造の媒体において、第一の記録層14と第二の記録層15を変えた媒体を作製した。比較例2−1〜2−3として、第二の記録層15の酸化物を変えた媒体を作製した。比較例2−4〜2−6として、第二の記録層15に第一の記録層と同じ(Co−14at.%Cr−18at.%Pt)−5mol%SiO2−5mol%TiO2を形成し、第三の記録層16の膜厚を変えた媒体を作製した。記録再生特性として上記実施例1と同様に評価した媒体SNRの他に、オーバーライト特性(OW)として27560fr/mmの信号の上に4590fr/mmの信号を重ね書きし、27560fr/mmの信号の消え残り成分と4590fr/mmの信号強度比を求めた。さらに、隣接トラックに記録した場合の信号劣化量(ATI)を、次の方法で評価した。まず、55120fr/mmの線記録密度でデータを記録して10の8乗ビットのデータを読み出したときのLog10(誤りビット数/読み出しビット数)を、ビット誤り率(BER)として求めた。次に、55120fr/mmの線記録密度の信号を、トラック間隔を変えて複数のトラックに記録した際、BERが−3以下となるオフトラック許容量がトラック間隔の30%となるときのトラック間隔からトラック密度を決定した。あるトラックにデータを記録し、前記トラック密度を用いてその隣接トラックにデータを1回記録した後の元のトラックのビット誤り率(BER1)を測定し、同様に隣接トラックにデータを10000回記録した後の元のトラックのビット誤り率(BER10000)を測定し、これらの差(BER10000−BER1)をATIとした。表3に記録再生特性を示す。ここで、tmag1は第一の記録層の膜厚、tmag2は第二の記録層の膜厚、tmag3は第三の記録層の膜厚を表す。
Figure 0005243835
本実施例媒体は、いずれも良好なOW、媒体SNRが得られている。それに対し、比較例2−1〜2−4はOWが不十分であり、媒体SNRも劣化している。グラニュラ構造の記録層上に非グラニュラ構造の記録層を形成する場合、酸化物粒界の上に金属粒子が成長しにくくなる。この比較例のような酸化物を用いたグラニュラ記録層は酸化物粒界の表面エネルギーが小さく、特に金属粒子が成長しにくくなったと考えられる。また、比較例2−4〜2−6のように、第二の記録層に第一の記録層のような粒界形成が良好な記録層を用いても、第三の記録層を厚く形成することで良好なOW、媒体SNRは得られるが、ATIが急激に劣化するため好ましくない。第三の記録層を厚く形成すると反転磁界が減少することで十分なOWが得られるが、それは同時に磁気的クラスタサイズが大きくなって隣接トラックの影響を受けやすくなるため好ましくない。よって、第二の記録層の粒界にはSi、Cr、W、Vなどの酸化物が適していると考えられる。他の比較例と比べると、酸化物の標準生成自由エネルギーの絶対値がSi以下であることが重要と考えられる。
次に、上述した構造の媒体において、第二の記録層15の膜厚を変えた媒体を作製した。実施例2−13〜2−17は第一の記録層14と第二の記録層15の総膜厚を13nmとし、実施例2−18〜2−22は第一の記録層14を10nmに固定して第二の記録層15の膜厚を変えた。表4に記録再生特性を示す。
Figure 0005243835
本実施例の媒体はどれも良好な媒体SNRが得られている。実施例2−13、2−18と比較例2−7を比較すると、第二の記録層を僅か0.2nmでも形成することでOWを十分改善できて高い媒体SNRが得られることがわかる。本実施例の媒体と比較例2−8〜2−11とを比較すると、第二の記録層を5nmよりも厚く形成するとOWは十分得られるが媒体SNRが低下する。よって、本発明のような媒体構造において、第二の記録層は0.2nm以上5nm以下とした場合に効果を発揮することがわかった。
次に、上述した構造の媒体において、第一の記録層14のCr濃度を変えた媒体を作製した。ターゲット組成と成膜した膜の組成は異なり、特にCr濃度は低下するため記録層の組成はエックス線光電子分光法を用いて求めた。加速電圧500Vのイオン銃でサンプル表面からスパッタして深さ方向に掘り進み、アルミニウムのKα線をエックス線源として、長さ1.5mmで幅0.1mmの範囲を分析した。Cの1s電子、Oの1s電子、Siの2s電子、Crの2p電子、Coの2p電子、Ruの3d電子、Ptの4f電子などのそれぞれに対応するエネルギー近傍のスペクトルを検出することにより各元素の含有率を求めた。図2に媒体SNR、磁気異方性定数(Ku)を示す。グラフの横軸は第一の記録層に含まれるCr濃度で表した。
図2から明らかなように、第一の記録層にCrを4%以上添加することで高い媒体SNRが得られる。しかし、第一の記録層のCr濃度が14%を超えるとKuが急激に劣化する。Kuが高い記録層は薄膜化しても高いHcが得られ、高密度化に有利である。Kuが低い記録層は薄膜化によるHcの低下が顕著になり、耐熱減磁特性の劣化が懸念されるため好ましくない。よって、第一の記録層に含まれるCr濃度は4at.%よりも多く、14at.%よりも少なくすることが好ましい。また第一の記録層の酸化物濃度は、所望の粒径、粒界幅に合わせて調節すれば良い。結晶粒径を6nm、粒界幅を1nmとするには酸化物の総量を30vol.%程度にすれば良く、その場合、添加する酸化物の分子量、密度を考慮して調節する必要がある。例えばSiO2のみでは11mol%、Ta25のみでは5.5mol%で30vol.%の粒界に相当する。ただし、記録層形成時に酸素を添加するとCr酸化物も生成されるため、Cr酸化物が増えることを考慮した酸化物濃度の調節が必要である。
本実施例では基板10に直接軟磁性層11を形成したが、基板と軟磁性層との密着性を確保するためにプリコート層を用いることも可能である。それにはNi合金、Al合金、Co合金などが適当であり、密着性を確保できれば特に材料、組成を限定するものではない。また、本実施例の軟磁性層11はFe−34at.%Co−10at.%Ta−5at.%Zr合金を用いたが、この組成に限らず、他のFeCoTaZr合金、FeCoB合金、FeCoTaZrB合金、CoTaZr合金、FeCoTaCrZr合金、CoNbZr合金などを用いることも可能である。また、本実施例ではfccシード層12としてNi−7at.%W合金を用いたが、非磁性、かつfcc構造であれば良く、この組成に限るものではない。他にもfcc構造を有する金属としてPt合金、Pd合金、Cu合金、Ni合金などを用いても良い。このfccシード層の粒径、表面凹凸はRu、記録層の微細構造に反映されるため、所望の粒径を得るために3nmから12nm程度の範囲で膜厚を変えることが可能である。また、本実施例では中間層13としてRuを用いたが、hcp構造であり、かつ記録層の酸化物粒界の偏析を促進することが可能であれば良い。それにはRu合金、あるいはCoCrを主成分とした非磁性のグラニュラ中間層などを用いることも可能である。
[実施例3]
上記実施例1と同様な構造の媒体において、第二の記録層15を変えた媒体を作製した。第二の記録層としてCo−7at.%Cr−18at.%Pt合金、Co−10at.%Cr−18at.%Pt合金、Co−17at.%Cr−18at.%Pt合金、Co−21at.%Cr−18at.%Pt合金にそれぞれSiO2添加濃度を変えたターゲットを用いて媒体を作製した。
図3にOWと媒体SNRを示す。グラフの横軸は第二の記録層に含まれる酸化物濃度で示した。図3から明らかなように、第二の記録層に含まれるCr濃度による違いは見られず、酸化物濃度が高くなるとOWが急激に劣化する。第二の記録層に多量の酸化物を添加すると、第三の記録層が連続膜となるには厚い膜厚が必要になるためと考えられる。媒体SNRはいずれのCr濃度においても酸化物濃度が10vol.%から30vol.%の範囲で良好な特性が得られる。酸化物濃度が高い場合はOWが不十分なために媒体SNRが劣化し、酸化物濃度が低すぎると第二の記録層の粒間相互作用が強くなるためにノイズが増大すると考えられる。よって、第二の記録層に含まれる酸化物濃度は10vol.%よりも多く30vol.%よりも少なくすることが好ましい。
次に上述した構造の媒体において、第二の記録層15の酸化物を変えた場合について同様に酸化物濃度を変えた媒体を作製した。表5に磁気特性と記録再生特性を示す。
Figure 0005243835
実施例媒体はいずれも良好な媒体SNRが得られることがわかる。それに対して比較例3−1、3−3、3−5は酸化物濃度が高すぎるためにOWが不十分となり、媒体SNRが劣化するため好ましくない。また比較例3−2、3−4、3−6に見るように、酸化物濃度が少ない場合は第二の記録層の粒間相互作用が大きくなるためHcが低下し、OWは十分得られるが媒体SNRが劣化する。よって、これらの酸化物を用いた場合でも第二の記録層に添加する酸化物の濃度は10vol.%よりも多く30vol.%よりも少なくすることが好ましい。
[実施例4]
上記実施例1と同様な構造の媒体において、第三の記録層16を変えた媒体を作製した。第三の記録層としてCoCrPtB合金、CoCrPtBMo合金、CoCrPtTa合金、CoCrPtTi合金を用いた。
第三の記録層の飽和磁化(Ms)は、軟磁性層がなく第三の記録層のみを形成した評価用サンプルを別に作製して、8mm角に切り出した後、振動試料型磁力計を用いて求めた。サンプル膜面の垂直方向に最大1035kA/mの磁化を印加して測定した磁化曲線から飽和磁化を求めた。記録再生特性として、上述した評価の他に分解能(Re)を評価した。27560fr/mmの信号と7874fr/mmの信号を測定し、その比率を求めた。表6に磁気特性と記録再生特性を示す。
Figure 0005243835
実施例4−1〜4−3と比較例4−1〜4−3を比較すると、同じ組成の第三の記録層を用いても膜厚を厚く形成することによって特性が大きく変わることがわかる。本実施例の媒体のほうが分解能、媒体SNRが高く、ATIが優れていることがわかる。それに対して比較例4−1〜4−3は、第三の記録層が厚いことで高いOWは得られるが、分解能が低下し、ATIも劣化する。グラニュラ記録層の粒間相互作用を十分低減しても、非グラニュラ構造の記録層を厚く形成すると磁気クラスタサイズが大きくなり、隣接トラックの影響を受けやすくなるためATIの急激な劣化を生じたと考えられる。
また、実施例4−5、4−7と比較例4−1は、第三の記録層の膜厚が同じであっても特性が大きく異なる。これらの媒体は第三の記録層のMsが異なるため、それぞれ最適な膜厚の範囲が異なる。すなわち、Msと膜厚の積(Ms・t)を調節する必要があると考えられる。実施例4−8〜4−10は、第三の記録層を構成する元素を変えた媒体だが、Ms・tを適度な範囲に調節したために良好な特性が得られている。それに対して比較例4−6〜4−9は、同じ材料を用いてもMsが低いために4nmのような薄い領域ではOWが不十分となり、厚く形成して同等のMs・tとするとOWは十分得られるが、分解能の低下、ATIの低下を招くため好ましくない。
よって第三の記録層は膜厚を厚く形成せずにMs・tを調節することが重要であり、添加する元素はそれほど重要ではない。ただし、本実施例では軟磁性層の膜厚を30nmとした条件で比較したため、軟磁性層の膜厚を変えるとヘッド磁界勾配も変わるため、それぞれの条件に合わせた調節が必要である。
[実施例5]
本発明の一実施例である磁気記憶装置の断面模式図を図4に示す。磁気記録媒体40は上記実施例の媒体で構成され、この磁気記録媒体を駆動する駆動部41と、記録部と再生部からなる磁気ヘッド42と、磁気ヘッドを磁気記録媒体に対して相対運動させる手段43と、磁気ヘッドへの信号の入出力を行うための手段44で構成した。
磁気ヘッド42と磁気記録媒体40の関係を図5に示す。磁気ヘッドの磁気的な浮上量を8nmとし、再生部50の再生素子51にはトンネル磁気抵抗効果素子(TMR)を使用しており、記録部52の主磁極53の周りにはラップアラウンドシールド54が形成されたヘッドとした。このように、記録部の主磁極の周りにシールドを形成した磁気ヘッドを用いることで高い媒体S/Nを維持しつつオーバーライト特性を改善でき、1cm当たりの線記録密度を630000ビット、1cm当たりのトラック密度を111420トラックとすることによって1平方センチあたり70.1ギガビットでの動作を確認できた。
また、図5に示す再生素子51は他にCPP−GMR素子を用いても同様の効果が得られる。
本発明によれば、グラニュラ記録層の酸化物を過度に添加することなく媒体S/Nを向上させることが出来るので、高密度記録が可能でかつ長期間の使用にも耐えうる信頼性の高い垂直磁気記録媒体を提供できる。このような垂直磁気記録媒体を用いることで、小型かつ大容量の磁気記憶装置を提供できる。
本発明の一実施例である垂直磁気記録媒体の層構成を示す断面模式図。 媒体SNR、Kuと第一の記録層のCr濃度の関係を示す図。 OW、媒体SNRと第二の記録層の酸化物濃度の関係を示す図。 本発明の一実施例である磁気記憶装置を示す断面模式図。 磁気ヘッドと磁気記録媒体の関係を示す模式図。
符号の説明
10 基板
11 軟磁性層
12 fccシード層
13 中間層
14 第一の記録層
15 第二の記録層
16 第三の記録層
17 保護層
40 磁気記録媒体
41 磁気記録媒体駆動部
42 磁気ヘッド
43 磁気ヘッド駆動部
44 信号処理系
50 再生部
51 再生素子
52 記録部
53 主磁極
54 ラップアラウンドシールド

Claims (5)

  1. 基板上に少なくとも軟磁性層、非磁性中間層、垂直記録層及び保護層が順次形成された垂直磁気記録媒体において、
    前記垂直記録層は三層以上で構成され、前記基板に近い側から第一の記録層、第二の記録層、第三の記録層とするとき、前記第一の記録層及び第二の記録層はCoとPtを含有する強磁性結晶粒子を酸化物の粒界が取り巻くグラニュラ構造を有し、前記第三の記録層はCoを主成分として酸化物を含有しない非グラニュラ構造を有し、前記第一の記録層の粒界はSi、Cr及び酸素を含有し、かつTi、Ta及びNbより選ばれた少なくとも1種の元素を含有し、前記第二の記録層の粒界は、Cr及び酸素を含有し、かつW、Vより選ばれた1種の元素を含有することを特徴とする垂直磁気記録媒体。
  2. 請求項1記載の垂直磁気記録媒体において、前記第二の記録層の膜厚は0.2nm以上5nm以下であることを特徴とする垂直磁気記録媒体。
  3. 請求項1もしくは2記載の垂直磁気記録媒体において、前記第一の記録層に含まれるCrの濃度が4at.%よりも多く、14at.%よりも少ないことを特徴とする垂直磁気記録媒体。
  4. 請求項1から3のいずれか一項に記載の垂直磁気記録媒体において、前記第二の記録層に含まれる酸化物の濃度は10vol.%よりも多く、30vol.%よりも少ないことを特徴とする垂直磁気記録媒体。
  5. 磁気記録媒体と、
    前記磁気記録媒体を記録方向に駆動する手段と、
    記録部と再生部を備える磁気ヘッドと、
    前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体に対して相対的に駆動する手段と、
    前記磁気ヘッドに対する入力信号及び出力信号を波形処理する信号処理手段とを有し、
    前記磁気記録媒体は、基板上に少なくとも軟磁性層、非磁性中間層、垂直記録層及び保護層が順次形成された垂直磁気記録媒体であり、前記垂直記録層は三層以上で構成され、前記基板に近い側から第一の記録層、第二の記録層、第三の記録層とするとき、前記第一の記録層及び第二の記録層はCoとPtを含有する強磁性結晶粒子を酸化物の粒界が取り巻くグラニュラ構造を有し、前記第三の記録層はCoを主成分として酸化物を含有しない非グラニュラ構造を有し、前記第一の記録層の粒界はSi、Cr及び酸素を含有し、かつTi、Ta及びNbより選ばれた少なくとも1種の元素を含有し、前記第二の記録層の粒界は、Cr及び酸素を含有し、かつW、Vより選ばれた1種の元素を含有することを特徴とする磁気記憶装置。
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