JP5241368B2 - 処理装置及びデバイス製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、処理装置及びデバイス製造方法に関する。
半導体や液晶パネル等のデバイス製造工程で用いられる露光装置の性能は、特に、解像力、オーバーレイ精度、及び、スループットの点から評価される。ここで、解像力は微細化の指標、オーバーレイ精度はデバイス各層の位置合わせ性能、スループットは単位時間当たりのデバイスの生産能力を、それぞれ示している。
この中で、デバイスの生産性を向上させるため、従来から、露光装置のスループットを向上させる種々の方法が考えられている。例えば、単位時間あたりの露光エネルギーを増加させることや、ウエハステージのショット間移動ステップ時間を短縮すること等の方法が検討されている。また、ウエハ交換時のウエハ搬送及び交換時間を短縮することや、スキャン型露光装置におけるスキャン時間を短縮すること等の方法も検討されている。
特開2006−24682号公報
スループットを向上させようとする際、ウエハ交換時の搬送時間を短縮するためには、ウエハの搬送距離を短縮させることが効果的である。しかし、露光装置においては、高解像力及び高オーバーレイ精度を実現させるため、その装置内レイアウトを、投影レンズ、光源となる照明系ユニット、及び、露光ウエハ可動ステージとウエハ位置計測ユニットの配置を優先せざるを得ない。このような理由により、ウエハの搬送距離の短縮により搬送時間を短縮することは困難である。
その他の搬送時間の短縮方法として、搬送ロボットの駆動モータの能力を向上させることが検討されている。しかし、駆動モータの能力を向上させようとすると、モータの占有体積が大きくなる。このため、限られた装置内の空間に各部材を配置することができなくなる問題や、増加した駆動エネルギーによる発熱量の増加、搬送速度・加速度増加によるウエハ落下の危険度の増大という問題が生じる。
ウエハ搬送用に用いられる2台のロボットハンドに関し、ウエハを受け渡す受渡し方法については、例えば特許文献1に開示されている。特許文献1では、左右非対のロボットハンドが提案されている。しかし、ロボットハンドが変化して移動するウエハステージとのウエハ受渡しに係るスループットの向上課題であった。
本発明の一側面としての処理装置は、基板を保持するチャックと前記チャックに対して相対的に上昇して前記基板を保持する昇降部とを含む可動ステージと、前記可動ステージから前記基板の回収を回収位置で行う可動ハンドとを有し、前記可動ステージに保持された前記基板に対して処理を行う処理装置であって、前記可動ステージは、前記回収位置を介して第1方向から第2方向へ30度以上120度未満の角度で方向が変化して移動し、前記可動ハンドは、前記可動ステージが前記回収位置に到達する前に前記チャックから前記昇降部への前記基板の受渡しが完了する場合において、前記第1方向から前記回収位置に到達する前記可動ステージおよび前記昇降部に保持された基板、該到達の前に前記回収位置に配置された前記可動ハンドとが干渉せず、かつ、前記回収位置において前記昇降部から前記可動ハンドへの前記基板の受渡しが完了していて、かつ、前記チャックに対する前記可動ハンドの下面の距離が前記チャックに対する前記昇降部の上面の高さより小さい状態において前記第2方向へ移動を開始した前記可動ステージと、前記可動ハンドおよび前記可動ハンドに保持された基板とが干渉しない形状を有する。
また、本発明の他の側面としての処理装置は、基板に対して処理を行う処理装置であって、前記基板を保持するチャックと前記チャックに対して相対的に上昇して前記基板を保持する昇降部とを含み、基板処理位置、基板回収位置、及び、基板供給位置の間を移動する可動ステージと、前記基板回収位置において、相対的に上昇した前記昇降部により保持された前記基板を前記可動ステージから回収する第可動ハンドと、前記基板供給位置において、前記可動ステージに前記基板を供給する第可動ハンドと、を有し、前記基板回収位置及び前記基板処理位置を結ぶ第直線と前記基板回収位置及び前記基板供給位置を結ぶ第直線とのなす角度は、30度以上120度未満であり、前記第可動ハンドは、前記可動ステージが前記基板回収位置に到達する前に前記チャックから前記昇降部への前記基板の受渡しが完了する場合において、前記第1直線の方向から前記基板回収位置に到達する前記可動ステージおよび前記昇降部に保持された基板と、該到達の前に前記基板回収位置に配置された前記第1可動ハンドとが干渉せず、かつ、前記基板回収位置において前記昇降部から前記第1可動ハンドへの前記基板の受渡しが完了していて、且つ、前記チャックに対する前記第1可動ハンドの下面の距離が前記チャックに対する前記昇降部の上面の高さより小さい状態において前記第2直線の方向へ移動を開始した前記可動ステージと、前記可動ハンドおよび前記可動ハンドに保持された基板とが干渉しない、形状を有する。
また、本発明の他の側面としてのデバイス製造方法は、前記処理装置を用いて基板を露光する工程と、前記工程で露光された基板を現像する工程とを有する。
本発明のその他の目的及び特徴は、以下の実施例において説明される。
本発明によれば、スループットを向上させた処理装置を提供することができる。また、本発明によれば、そのような処理装置を用いたデバイス製造方法を提供することができる。
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
本実施例の露光装置は、半導体ウエハ等の製造工程にて用いられ、スループットの向上を目的として、ウエハの搬送ロボットのハンド形状及びウエハ搬送制御方式を改良したものである。なお、本発明は、処理装置の例示として露光装置を説明するが、基板に対する処理は、「露光」に限定されるものではなく、他の周知の計測または加工等、任意の処理とし得る。このように、基板の露光による基板へのパターンの転写は、基板に対する処理に含まれる一つである。
まず、本実施例の露光装置の概要を説明する。図1は、本実施例における露光装置100の概略構成図である。
1は照明装置である。照明装置1は、その内部に光源及びシャッタ(不図示)を備えている。2はレチクル(原版)である。レチクル2には回路パターンが描かれている。照明装置1を用いてレチクル2に光を照射することにより、レチクル2の上に形成された回路パターンがウエハ上に投影される。
3はレチクルステージである。レチクルステージ3は、その上にレチクル2を搭載するために設けられている。4はレチクル位置計測機構である。レチクル位置計測機構4は、レチクルステージ3の上に搭載されたレチクル2の位置を計測する。5は投影露光レンズである。投影露光レンズ5は、焼付け用の投影光学系を構成する。
6はXYステージ(可動ステージ)である。XYステージ6は、焼付け対象であるウエハ9(基板)を搭載し、XY平面内でX及びYの2方向に移動する。後述のように、XYステージ6は、ウエハ9を保持するチャック及びこのチャックに対して相対的に上昇してウエハ9を保持する昇降部を含む。
7はレーザ干渉計であり、XYステージ6の位置を計測する。8はウエハチャック(チャック)であり、ウエハ9を吸着保持する。10はオートフォーカスユニットであり、ウエハ9のピント位置を計測する。
また、本実施例の露光装置100は、ウエハ9を搭載して露光時におけるピントを調節する(以下、これをフォーカシングという。)ために、ウエハ9を垂直方向に移動させるウエハZ駆動機構(不図示)を有する。ウエハZ駆動機構は、ウエハチャック8の下部に設けられている。
次に、本実施例の露光装置におけるウエハ搬送経路を説明する。図2は、露光装置100におけるウエハ搬送経路を装置の上面から見た模式図である。本実施例の露光装置100は、半導体工場において外部装置と接続運用される。
図2において、20は露光装置チャンバである。露光装置100は、露光環境を一定の温度及び湿度に維持する必要があり、露光装置チャンバ20は、その内部の温度及び湿度を一定に保つ。
露光装置チャンバ20の内部には、投影露光レンズ5の下部においてウエハ9を吸着保持するウエハチャック8が配置されている。ウエハチャック8には、ウエハ9を受け渡すために上下駆動する3つのピン11a、11b、11c(昇降部)が設けられている。3つのピン11a、11b、11cは、ウエハチャック8に対して相対的に上昇してウエハ9を保持する。
XYステージ6は、ウエハ9、ウエハチャック8、及び、3つのピン11a、11b、11c(昇降部)を一体として、XY平面内におけるX及びY方向の2方向に移動させる。また、露光装置チャンバ20の内部における最終ショット露光位置をウエハ露光位置23とする。
露光装置チャンバ20の内部には、ウエハ搬入ステーション16、ウエハ搬出ステーション17が配置されている。ウエハ搬入ステーション16は、未露光ウエハを外部から露光装置チャンバ20の内部に搬入して、特定の場所に配置する。ウエハ搬出ステーション17は、露光済みウエハを露光装置チャンバ20の外部へ搬出するため、露光済みウエハを特定の場所に配置する。
また、露光装置チャンバ20の内部には、制御コンピュータ15(制御手段)が配置されている。制御コンピュータ15は、露光装置100の各動作を制御する。
13はウエハプリアライメントユニットである。ウエハプリアライメントユニット13は、ウエハの位置合わせを行う。
14はウエハ搬送ロボットハンド(第1の可動ハンド)である。ウエハ搬送ロボットハンド14は、外部から露光装置チャンバ20の内部に搬入されたウエハを、ウエハ搬入ステーション16からウエハプリアライメントユニット13まで搬送する。
また、ウエハ搬送ロボットハンド14は、3つピン11a、11b、11cの上に配置された露光済みのウエハをウエハ搬出ステーション17まで搬送する。このとき、ウエハ搬送ロボットハンド14は、3つのピン11a、11b、11cが上昇することによりこれらのピンにより保持された露光済みのウエハをXYステージ6から回収する。
12はウエハ送り込みハンド(第2の可動ハンド)である。ウエハ送り込みハンド12は、プリアライメントされたウエハ9をウエハプリアライメントユニット13から3つのピン11a、11b、11cの上へ搬送する。すなわち、ウエハ送り込みハンドは、XYステージ6にウエハを供給する。
なお、本実施例では、ウエハチャック8と3つのピン11a、11b、11cとの間のウエハの受渡し機構として、3つのピン11a、11b、11c(昇降部)が上下する構造の受渡し機構が採用されているものとして説明する。ただしこれに限定されるものではなく、3つのピン11a、11b、11cが停止した状態で、ウエハチャック8が上下する構造を採用してもよい。この場合でも、上述の実施例と同様に、ウエハの受渡しが可能である。
次に、ウエハの受渡し場所について説明する。
ウエハ送り込みハンド12は、ウエハ供給位置19(基板供給位置)において、XYステージ6に配置された3つのピン11a、11b、11cにウエハを引き渡す(供給する)。また、ウエハ搬送ロボットハンド140は、ウエハ回収位置18(基板回収位置)において、XYステージ6に配置された3つのピン11a、11b、11cからウエハを受け取る(回収する)。
XYステージ6は、ウエハチャック8に対して3つのピン11a、11b、11cが相対的に上昇した状態で、ウエハ回収位置18を介してその方向を変化して移動する。ここで、XYステージ6がウエハ回収位置18を介してその方向を変化させるとき、変化前と変化後の方向がなす角度は、30度以上120度未満の角度であることが好ましい。すなわち、ウエハ回収位置18及びウエハ露光位置23を結ぶ第1の直線とウエハ回収位置18及びウエハ供給位置19を結ぶ第2の直線とのなす角度は、30度以上120度未満の範囲に設定される。
ここで、ウエハ露光位置23、ウエハ回収位置18、及び、ウエハ供給位置19は、厳密には、それぞれの場所にXYステージ6が移動した場合に、XYステージ6の上に搭載されたウエハ9の重心位置に相当する位置である。
後述のように、ウエハ搬送ロボットハンド14がウエハ回収位置18に配置されたとき、ウエハ搬送ロボットハンド14は、上記角度で方向が変化するXYステージ6と干渉しない形状を有する。すなわち、ウエハ搬送ロボットハンド14の保持部は、ウエハ露光位置23、ウエハ回収位置18、及び、ウエハ供給位置19を頂点とする三角形の内部に侵入することなくウエハを回収する。
なお、ウエハ回収位置18及びウエハ供給位置19として図2中に示されている位置は、XYステージ6の可動平面上における特定の位置である。実際には、図2に示される形状の物体がウエハ回収位置18及びウエハ供給位置19として配置されているのではない。
次に、露光装置100(露光装置チャンバ20)と露光装置100の外部装置との間の接続について説明する。
図2に示されるように、露光装置100の外部には、塗布現像装置21及びウエハFOUP授受装置22が配置されている。
塗布現像装置21は、露光前のウエハにレジストを塗布し、また、露光後のウエハを現像処理する。
ウエハFOUP授受装置22は、露光装置100(露光装置チャンバ20)と塗布現像装置21との間を接続する。ウエハは、ウエハのキャリアとなる不図示のウエハFOUP(Front Open Unified Pod)を用いて、露光装置100と塗布現像装置21との間を搬送される。ウエハFOUP授受装置22は、露光装置100との間、及び、外部装置である塗布現像装置21との間で、ウエハが収納されたウエハFOUPを受け渡す。
次に、比較例として、従来型の露光装置において、ウエハチャックに搭載されたウエハをウエハ搬送ロボットハンドに受け渡すための受渡し機構について説明する。
図3は、ウエハチャックに搭載された露光済みのウエハを従来型のウエハ搬送ロボットハンドに受け渡す機構を示した側面図である。図3(a)〜(e)は、受渡し機構の動作を時系列に並べた模式図である。
図3(a)は、露光済みのウエハ9がウエハチャック8の上に搭載されている状態を示している。図3aの状態において、ウエハ9の吸着保持が解除される。
図3(b)は、昇降部(3つのピン)が上昇した状態を示している。3つのピン11a、11b、11cが上方に移動すると、ウエハチャック8の上に搭載されていたウエハ9はこれらのピンの先端部に保持されながら上方に移動する。すなわち、3つのピン11a、11b、11cは、ウエハチャック8の上に搭載されていたウエハ9を持ち上げる。
図3(c)は、ウエハ搬送ロボットハンド140がウエハチャック8とウエハ9との間に挿入された状態を示している。図3(b)において3つのピン11a、11b、11cが所定位置まで上昇すると、ウエハチャック8とウエハ9との間には、ウエハ搬送ロボットハンド140の厚さより広い間隔が形成される。このため、ウエハ搬送ロボットハンド140は、図3(c)に示されるように、ウエハチャック8及びウエハ9に接触することなく、ウエハチャック8とウエハ9との間の空間に挿入可能となる。
図3(d)は、ウエハ搬送ロボットハンド140が上方に移動した状態を示している。図3(d)において、ウエハ搬送ロボットハンド140が所定位置まで上方に移動すると、ウエハ搬送ロボットハンド140はウエハ9に接触する。そして、ウエハ搬送ロボットハンド140は、3つのピン11a、11b、11cから離れたウエハ9を保持する。ウエハ搬送ロボットハンド140がさらに上方に移動して所定位置に到達すると、図3(d)の側面図に示されるように、ウエハ搬送ロボットハンド140は、3つのピン11a、11b、11cの先端より高い位置に到達する。
図3(e)は、ウエハ搬送ロボットハンド140がウエハ9を引き取った状態を示している。図3(d)の状態において、ウエハ搬送ロボットハンド140が図中の右方向に移動すると、図3(e)に示されるように、3つのピン11a、11b、11cに接触することなく、ウエハ9を引き取ることができる。
図4は、ウエハチャックに搭載された露光済みのウエハを従来型のウエハ搬送ロボットハンドに受け渡す機構を示した平面図である。図4(a)〜(e)は、受渡し機構の動作を時系列に並べた模式図である。図4(a)〜(e)のそれぞれの図には、XYステージ6の移動軌跡の一例が一点鎖線の三角形で示されている。
図4(a)は、ウエハチャック8に搭載された露光済みのウエハ9の吸着保持を解除した状態を示している。昇降部(3つのピン)にウエハ9を受渡しながら、XYステージ6がウエハ回収位置18への移動を開始する。
図4(b)は、ウエハチャック8から3つのピンにウエハ9の受渡しが完了し、かつ、XYステージ6がウエハ回収位置18へ到達した状態を示している。この状態で、ウエハ搬送ロボットハンド140がウエハ回収位置18へ向けて移動し、ウエハチャック8とウエハ9との間の空間にウエハ搬送ロボットハンド140が挿入されることになる。
図4(c)は、ウエハ搬送ロボットハンド140が上方に移動した状態を示している。図4(c)において、ウエハ搬送ロボットハンド140は、ウエハ9を取得して保持する。
図4(d)は、ウエハ搬送ロボットハンド140が取得したウエハ9の引き取りを開始する状態を示している。ウエハ搬送ロボットハンド140がウエハ9の引き取りを開始すると同時に、XYステージ6が左側のウエハ供給位置19への移動を開始する。
図4(e)は、ウエハ搬送ロボットハンド140によるウエハ9の引き取りが完了した状態を示している。このとき、XYステージ6は、ウエハ供給位置19へ到達している。なお、ウエハ供給位置19では、図2に示されるウエハ送り込みハンド12が新たなウエハ9を保持し、このウエハ9を3つのピンに渡す準備をしている(不図示)。
次に、本実施例の露光装置において、ウエハチャックに搭載されたウエハをウエハ搬送ロボットハンドに受け渡すための受渡し機構について説明する。
図5は、ウエハチャックに搭載された露光済みのウエハを本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14に受け渡す機構を示した平面図である。図5(a)〜(e)は、受渡し機構の動作を時系列に並べた模式図である。図5(a)〜(e)のそれぞれの図には、XYステージ6の移動軌跡の一例が一点鎖線の三角形で示されている。
図5(a)は、ウエハチャック8に搭載された露光済みのウエハ9の吸着保持を解除した状態を示している。昇降部(3つのピン)にウエハ9を受渡しながら、XYステージ6がウエハ回収位置18への移動を開始する。
ここで、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14は、ウエハチャック8から3つのピンへのウエハ受渡し処理が完了する情報を元にウエハ回収位置18へ移動を開始する。図5(a)の状態において、ウエハ搬送ロボットハンド14は、既にウエハ回収位置18への移動を完了し、ウエハ回収位置18において待機している。
本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14が待機していても、XYステージ6がウエハ回収位置18へ最短距離で移動することで、3つのピンがウエハ搬送ロボットハンド14に接触及び衝突することはない。
一方、図4(a)〜(e)に示されるように、従来型のウエハ搬送ロボットハンド140は、ハンドの左側に保持部を有する。このため、ウエハ搬送ロボットハンド140が事前にウエハ回収位置18への移動を完了してこの場所で待機していると、XYステージ6がウエハ回収位置18へ最短距離で移動することで3つのピンがウエハ搬送ロボットハンド140に衝突してしまう。
本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14は、XYステージ6がウエハ回収位置18へ最短距離で移動する際の3つのピンの通過点に、保持部を有しない。また、本実施例では、ウエハチャック8から3つのピンへのウエハ9の受渡しは、XYステージ6のウエハ回収位置18への移動時間より早く完了する。
このため、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14によれば、ウエハ搬送ロボットハンド14がウエハ9を取得するまでの時間を短くすることができ、スループットを向上させることが可能となる。
図5(b)は、ウエハチャック8から3つのピンにウエハ9の受渡しが完了し、かつ、XYステージ6がウエハ回収位置18へ到達した状態を示している。この状態で、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14は、既にウエハ回収位置18に到達している。
また、3つのピンの上昇は完了し、ウエハ9は既にウエハチャック8との間で所定の空間すなわちウエハ搬送ロボットハンド14の厚さより広い空間が形成されている。このため、XYステージ6がウエハ回収位置18に到達した段階で、ウエハチャック8とウエハ9との間の空間にウエハ搬送ロボットハンド14が既に挿入されていることになる。
図5(c)は、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14が上方に移動した状態を示している。図5(c)において、ウエハ搬送ロボットハンド14は、ウエハ9を取得して保持する。本実施例では、ウエハ搬送ロボットハンド14の上方への移動距離は、図4(c)に示される従来型のウエハ搬送ロボットハンド140の移動距離に比べて小さい。この理由は図6(a)及び図6(b)を用いて後述する。
図5(d)は、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14が取得したウエハ9の引き取りを開始する状態を示している。ウエハ搬送ロボットハンド14がウエハ9の引き取り(図5(d)中の下方向)を開始すると同時に、XYステージ6が左側のウエハ供給位置19への移動を開始する。
図5(e)は、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14によるウエハ9の引き取りが完了した状態を示している。このとき、XYステージ6は、ウエハ供給位置19へ到達している。なお、ウエハ供給位置19では、図2に示されるウエハ送り込みハンド12が新たなウエハ9を保持し、このウエハ9を3つのピンに渡す準備をしている(不図示)。
次に、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14を用いた場合にスループットが向上することについて、従来型のウエハ搬送ロボットハンド140を用いた場合と比較して説明する。
図6(a)は、従来型のウエハ搬送ロボットハンド140が上方に移動してウエハ9を取得し、XYステージ6がウエハ供給位置19へ移動する時点の状況を示している。本図は、ウエハ供給位置19の方からウエハ回収位置18に向かって見た模式図(側面図)である。また、図7(a)は図6(a)と同様な状態を上方から見た模式図(平面図)である。
図6(b)は、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14が上方に移動してウエハ9を取得し、XYステージ6がウエハ供給位置19へ移動する時点の状況を示している。本図は、ウエハ供給位置19の方からウエハ回収位置18に向かって見た模式図(平面図)である。また、図7(b)は図6(a)と同様な状態を上方から見た模式図(平面図)である。
図7(a)において、300、310、320は、ウエハ9を吸着するために従来型のウエハ搬送ロボットハンド140に設けられている吸着パッドである。330は、3つのピン11a、11b、11cの上に配置されたウエハ9の重心位置を示している。
また、図7(b)において、30、31、32は、ウエハ9を吸着するために本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14に設けられている吸着パッドである。33は、3つのピン11a、11b、11cの上に配置されたウエハ9の重心位置を示している。
XYステージ6は、図6(a)、(b)のいずれの場合でも、ウエハ搬送ロボットハンド14、140がウエハ9を取得した後、図6(a)、(b)の左側方向に移動する。
図7(a)に示される従来型のウエハ搬送ロボットハンド140は、ハンドの右側だけでなく左側にも保持部240を有する。すなわち、保持部240は、上側が開いたU字の形状を有している。このため、ウエハ搬送ロボットハンド140が上方に十分に移動していない場合、ウエハ搬送ロボットハンド140が3つのピン11a、11b、11cに衝突するおそれがある。
そこで、図6(a)に示されるように、ハンドが完全に3つのピン11a、11b、11cの上方に離れてから、XYステージ6がウエハ供給位置19に向けて移動を開始する。すなわち、ウエハ搬送ロボットハンド140とXYステージ6(ウエハチャック8)との間の距離D1が3つのピン11a、11b、11cの高さより大きくなってから、XYステージ6は移動を開始する。
一方、図7(b)に示されるように、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14は、ハンドの左側に保持部24を有しない。すなわち、保持部24は、上側と左側が開いたL字の形状を有している。このため、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14は、XYステージ6の移動方向において障害となる部分を有しない。すなわち、XYステージ6は、ウエハ搬送ロボットハンド14の一部と衝突することなくXYステージ6のウエハ供給位置19への移動することができる。
このため、ウエハ9が3つのピン11a、11b、11cから離れた時点で、XYステージ6がウエハ供給位置19に向けて移動を開始することができる。すなわち、ウエハ搬送ロボットハンド14とXYステージ6(ウエハチャック8)との間の距離D2が3つのピン11a、11b、11cの高さより小さい場合でも、XYステージ6の移動を開始することが可能となる。
上述のとおり、従来型のウエハ搬送ロボットハンド140は距離D1だけ上昇しないとXYステージ6の移動を開始することができない。一方、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14は、距離D1より小さい距離D2だけ上昇すれば、XYステージ6の移動を開始することができる。このため、この移動距離の違いにより、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14を用いることにより、移動に要する時間が短くなり、スループットが向上する。
図7(b)に示されるように、本実施例において、ウエハ搬送ロボットハンド14は、ウエハ9を引き付ける部分である吸着パッドを3箇所有する。このとき、ウエハの重心位置33がウエハ搬送ロボットハンド14の吸着パッド30、31、32を頂点とした三角形の内部に位置するように、ウエハ9を保持することが好ましい。
この点は、図7(a)に示されるように、従来型のウエハ搬送ロボットハンド140の吸着パッド300、310、320とウエハの重心位置330との関係も同様である。しかし、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14は、その保持部のなす角度が従来型に比べて大きい。このため、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14では、特に、吸着パッド30、31、32とウエハの重心位置33との関係を上述のように構成することが重要となる。
本実施例によれば、上記構成とすることにより、ウエハの受渡し時や搬送時に装置または工場のトラブルにより十分な吸着力を維持できない状況になった場合でも、ウエハの落下の危険を最小限にすることが可能となる。
次に、本実施例の露光装置におけるウエハ搬送処理手順について説明する。図8は、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14を用いたウエハ搬送処理手順を示すフローチャートである。
まず、ステップS100において、制御コンピュータ15がウエハ回収処理を開始する。ステップS101において、制御コンピュータ15は、処理ウエハの最終ショットの露光処理が終了したか否かを判断する。制御コンピュータ15は、露光処理が終了していないと判断した場合、ステップS101の処理を再度実行し、露光処理が終了していると判断した場合、ステップS102の処理を実行する。
ステップS102において、ウエハチャック8から3つのピンへのウエハ受渡し処理を開始する。また、ステップS103において、XYステージ6がウエハ回収位置18への移動処理を開始する。
次に、制御コンピュータ15は、ステップS104において、ウエハチャック8から3つのピンへのウエハ受渡し処理が終了しているか否かを判断する。制御コンピュータ15は、ウエハ受渡し処理が終了していない場合、ステップS104の処理を再度実行する。一方、制御コンピュータ15は、ウエハ受渡し処理が終了している場合、ステップS105の処理を実行する。このように、制御コンピュータ15は、ウエハチャックに対する3つのピンの相対的な上昇に同期して、ウエハ搬送ロボットハンド14がウエハ回収位置18に配置されるように、XYステージの動作とウエハ搬送ロボットハンドの動作とを制御する。
ステップS105において、ウエハ搬送ロボットハンド14はウエハ回収位置18へ移動する。本実施例では、ウエハ搬送ロボットハンド14がウエハ回収位置18へ到着する方が、XYステージ6がウエハ回収位置18へ到着するより早い。すなわち、制御コンピュータ15は、XYステージ6がウエハ回収位置18に配置される前にウエハ搬送ロボットハンド14がウエハ回収位置18に配置されるように、XYステージ6の動作とウエハ搬送ロボットハンド14の動作とを制御する。
ステップS106において、制御コンピュータ15は、XYステージ6がウエハ回収位置18へ到着したか否かを判断する。制御コンピュータ15は、XYステージ6がウエハ回収位置18に到着していない場合、ステップS106の処理を再度実行し、到着している場合、ステップS107の処理を実行する。
ステップS107では、ウエハ搬送ロボットハンド14が上方に移動し、ウエハ9を受け取るための取得処理を開始する。ステップS108において、制御コンピュータ15は、ウエハ搬送ロボットハンド14がウエハ9の取得処理を終了したか否かを判断し、ウエハ9の取得処理が終了していない場合、ステップS108の処理を再度実行する。
一方、ウエハ9の取得処理が終了している場合、制御コンピュータ15はステップS109の処理を実行する。ステップS109では、XYステージ6がウエハ供給位置19への移動を開始する。すなわち、制御コンピュータ15は、ウエハ回収位置18においてXYステージ6に対してウエハ搬送ロボットハンド14を相対的に上昇させ、XYステージ6からウエハ搬送ロボットハンド14へウエハ9を受渡すように制御する。そして、その受渡しに同期して、XYステージがウエハ回収位置18から移動するように、XYステージの動作とウエハ搬送ロボットハンド14の動作とを制御する。
次に、ステップS110において、ウエハ搬送ロボットハンド14は、ウエハ9を取得後の処理を開始する。
ステップS111において、制御コンピュータ15は、XYステージ6がウエハ供給位置19への移動を終了したか否かを判断する。制御コンピュータ15は、ウエハ供給位置19への移動を終了していないと判断した場合、ステップS111の処理を再度実行する。一方、ウエハ供給位置19への移動を終了していると判断した場合、ステップS112の処理を実行する。
S112において、制御コンピュータ15は、ウエハ回収処理を終了する。
以上のウエハ搬送処理方法により、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14を用いたウエハ受渡し制御を実施すると、スループットを向上させることができる。
従来は、XYステージ6のX方向のウエハ回収位置18への移動処理が終了していないと、ウエハ搬送ロボットハンド140がウエハ回収位置18へ移動できなかった。しかし、本実施例では、ウエハチャック8から3つのピンへのウエハ受渡し処理が終了した時点で、ウエハ搬送ロボットハンド14がウエハ回収位置18へ移動することが可能となる。
このように、本実施例の露光装置によれば、従来装置と比較してスループットの向上を実現することができる。
次に、本実施例の露光装置における別のウエハ搬送処理手順について説明する。図9は、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14を用いた別のウエハ搬送処理手順を示すフローチャートである。図9に示されるウエハ搬送処理手順は、図8の処理手順と比較して、より早いタイミングでウエハ搬送ロボットハンド14をウエハ回収位置18へ移動する処理手順である。
ステップS200〜S203は、図8のステップS100〜S103と同一であるため、ここでの説明は省略する。
次に、ステップS204において、制御コンピュータ15は、ウエハチャック8から3つのピンへのウエハ受渡し処理開始(ステップS202)からの経過時間が予め決定されている時間T1より大きいか否かを判断する。制御コンピュータ15は、この経過時間が時間T1より大きくないと判断した場合、ステップS204の処理を再度実行する。一方、この経過時間が時間T1より大きいと判断した場合、ステップS205の処理を実行する。
ここで、時間T1の決定方法について説明する。
本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14は、ウエハチャック8から3つのピンへのウエハ受渡し処理が完了していれば、ウエハ9と衝突することはない。しかし、ウエハ受渡し処理が完了していない場合、ウエハ搬送ロボットハンド14とウエハ9が衝突する可能性がある。また、ウエハチャック8から3つのピンへのウエハ受渡し処理を、ウエハチャック8を下降させることにより実行するシステムでは、ウエハ搬送ロボットハンド14とウエハチャック8が衝突する可能性がある。
ここで、ウエハ搬送ロボットハンド14が図5aの位置P1から位置P2(ウエハ回収位置18)まで移動するのに要する時間をTIME1とする。また、ウエハチャック8から3つのピンへのウエハ受渡し処理に要する時間をTIME2とする。また、XYステージ6がウエハ回収位置18へまで移動するのに要する時間をTIME3とする。
このとき、T1=TIME2−TIME1とすると、ウエハ搬送ロボットハンド14がウエハ回収位置18への移動を完了した時点で、ウエハチャック8から3つのピンへのウエハ受渡し処理が終了する。
また、本実施例では、TIME1、TIME2、TIME3の間には通常以下の関係が成り立つ。
TIME1 < TIME2 < TIME3
なお、ステップS205〜S212は、図8のステップS105〜S112と同一であるため、ここでの説明は省略する。
以上説明したウエハ搬送処理手順により、本実施例のウエハ搬送ロボットハンド14を用いたウエハ受渡し制御を実施すると、衝突の危険を回避し、かつ、処理時間を更に短縮することができる。このため、更なるスループットの向上を実現することが可能となる。
図9に示される処理手順は、予め時間T1を決定して制御する方法である。しかし、ウエハ搬送ロボットハンド14及びXYステージ6の移動時間が常に一定でない場合、予め時間T1を決定することができない場合がある。
このような場合、ウエハ搬送ロボットハンド14及びXYステージ6の位置情報及び移動速度情報に基づいて時間T1を計算し、ウエハ搬送ロボットハンド14のウエハ回収位置18への移動タイミングを決定する方法を採用することができる。このような方法でも、スループットの向上が実現可能となる。
また、移動タイミングを決定する際には、ウエハ搬送ロボットハンド14及びXYステージ6のいずれか一方または双方の制御異常が発生した場合であっても、衝突の危険がないように移動タイミングを決定することがより好ましい。このように制御することにより、スループットの向上とともに安全性をより高めることが可能となる。
本実施例の露光装置における第1の制御方法は、ウエハの最終ショット露光位置での露光処理が終了した後、ウエハチャックから受渡し機構(昇降部)へのウエハ受渡しが終了したタイミングで、受渡しロボットハンドが受渡し位置へ進入する。XYステージは、最終ショット露光位置(基板露光位置、基板処理位置)から、ウエハ受渡し位置(基板回収位置)まで最短時間で移動する。この制御方法により、より短時間でウエハの受渡しが可能となる。
本実施例の露光装置における第2の制御方法は、XYステージが受渡し位置(基板回収位置)へ進入する際、XYステージと受渡しロボットハンドの駆動に要する時間情報、駆動速度・加速度情報、位置情報の一部又は全てを用いる。このような情報を用いて、受渡しロボットハンドがウエハチャックと受渡しロボットハンドが干渉しないタイミングで受渡し位置へ進入するように制御する。この制御方法により、より安全かつ短時間で受渡しロボットハンドが昇降部上のウエハを取得することが可能となる。
本実施例の露光装置における第3の制御方法は、XYステージ及び受渡しロボットハンドが受渡し位置へ到達し、受渡しロボットハンドがウエハを取得する。その後、ウエハがXYステージ(昇降部)に干渉しない位置まで離れたタイミングで、XYステージが退避移動を開始する。この制御方法により、より安全かつ短時間で受渡しロボットハンドがXYステージ上のウエハを取得することが可能となる。
デバイス(半導体集積回路素子、液晶表示素子等)は、前述のいずれかの実施例の露光装置を使用して感光剤を塗布した基板(ウエハ、ガラスプレート等)を露光する工程と、その基板を現像する工程と、他の周知の工程と、を経ることにより製造される。
本実施例によれば、スループットを向上させた露光装置(処理装置)を提供することができる。また、本実施例によれば、そのような露光装置を用いたデバイス製造方法を提供することができる。
以上、本発明の実施例について具体的に説明した。ただし、本発明は上記実施例として記載された事項に限定されるものではなく、本発明の技術思想を逸脱しない範囲内で適宜変更が可能である。
本実施例における露光装置の概略図である。 本実施例における露光装置のウエハ搬送経路を示す平面図である。 従来型のウエハ搬送ロボットハンドの動作を示す側面図である。 従来型のウエハ搬送ロボットハンドの動作を示す平面図である。 本実施例のウエハ搬送ロボットハンドの動作を示す平面図である。 ウエハ供給位置におけるXYステージとウエハ搬送ロボットハンドとの関係を示す側面図であり、(a)従来型と(b)本実施例とを比較している。 ウエハ搬送ロボットハンドの吸着パッドとウエハ重心位置との関係を示す平面図である。 本実施例における制御方法を示すフローチャートである。 本実施例においてさらにスループットを向上させるための制御方法を示すフローチャートである。
符号の説明
1:照明装置
2:レチクル
3:レチクルステージ
4:レチクル位置計測機構
5:投影露光レンズ
6:XYステージ
7:レーザ干渉計
8:ウエハチャック
9:ウエハ
10:オートフォーカスユニット
11a、11b、11c:ピン
12:ウエハ送り込みハンド
13:ウエハプリアライメントユニット
14:ウエハ搬送ロボットハンド
15:装置制御コンピュータ
16:ウエハ搬入ステーション
17:ウエハ搬出ステーション
18:ウエハ回収位置
19:ウエハ供給位置
20:露光装置チャンバ
21:塗布現像装置
22:ウエハFOUP授受装置
23:ウエハ露光位置
24:保持部
30、31、32:吸着パッド
33:ウエハの重心位置
100:露光装置

Claims (10)

  1. 基板を保持するチャックと前記チャックに対して相対的に上昇して前記基板を保持する昇降部とを含む可動ステージと、前記可動ステージから前記基板の回収を回収位置で行う可動ハンドとを有し、前記可動ステージに保持された前記基板に対して処理を行う処理装置であって、
    前記可動ステージは、前記回収位置を介して第1方向から第2方向へ30度以上120度未満の角度で方向が変化して移動し、
    前記可動ハンドは、
    前記可動ステージが前記回収位置に到達する前に前記チャックから前記昇降部への前記基板の受渡しが完了する場合において、前記第1方向から前記回収位置に到達する前記可動ステージおよび前記昇降部に保持された基板、該到達の前に前記回収位置に配置された前記可動ハンドとが干渉せず、かつ、
    前記回収位置において前記昇降部から前記可動ハンドへの前記基板の受渡しが完了していて、かつ、前記チャックに対する前記可動ハンドの下面の距離が前記チャックに対する前記昇降部の上面の高さより小さい状態において前記第2方向へ移動を開始した前記可動ステージと、前記可動ハンドおよび前記可動ハンドに保持された基板とが干渉しない
    形状を有する、
    ことを特徴とする処理装置。
  2. 前記可動ハンドは、前記基板を引き付ける部分を3箇所有し、前記3箇所の部分を頂点とする三角形の内部に前記基板の重心が位置するように前記基板を保持する、ことを特徴とする請求項1記載の処理装置。
  3. 前記昇降部は、3つのピンを有し、前記3つのピンで前記基板を保持する、ことを特徴とする請求項1又は2記載の処理装置。
  4. 前記可動ステージが前記回収位置に配置される前に前記可動ハンドが前記回収位置に配置されるように、前記可動ステージの動作と前記可動ハンドの動作とを制御する制御手段を有する、ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一に記載の処理装置。
  5. 前記制御手段は、前記可動ステージが前記回収位置に到達する前に前記チャックから前記昇降部への前記基板の受渡しが完了しない場合において、該完了に同期して前記可動ハンドが前記回収位置に配置されるように、前記可動ステージの動作と前記可動ハンドの動作とを制御する、ことを特徴とする請求項4記載の処理装置。
  6. 前記制御手段は、前記回収位置において前記可動ステージに対し前記可動ハンドを相対的に上昇させて前記可動ステージから前記可動ハンドへの前記基板の受渡しを行い、その受渡しに同期して前記可動ステージが前記回収位置から移動するように、前記可動ステージの動作と前記可動ハンドの動作とを制御する、ことを特徴とする請求項4又は5記載の処理装置。
  7. 基板に対して処理を行う処理装置であって、
    前記基板を保持するチャックと前記チャックに対して相対的に上昇して前記基板を保持する昇降部とを含み、基板処理位置、基板回収位置、及び、基板供給位置の間を移動する可動ステージと、
    前記基板回収位置において、相対的に上昇した前記昇降部により保持された前記基板を前記可動ステージから回収する第可動ハンドと、
    前記基板供給位置において、前記可動ステージに前記基板を供給する第可動ハンドと、を有し、
    前記基板回収位置及び前記基板処理位置を結ぶ第直線と前記基板回収位置及び前記基板供給位置を結ぶ第直線とのなす角度は、30度以上120度未満であり、
    前記第可動ハンドは、
    前記可動ステージが前記基板回収位置に到達する前に前記チャックから前記昇降部への前記基板の受渡しが完了する場合において、前記第1直線の方向から前記基板回収位置に到達する前記可動ステージおよび前記昇降部に保持された基板と、該到達の前に前記基板回収位置に配置された前記第1可動ハンドとが干渉せず、かつ、
    前記基板回収位置において前記昇降部から前記第1可動ハンドへの前記基板の受渡しが完了していて、且つ、前記チャックに対する前記第1可動ハンドの下面の距離が前記チャックに対する前記昇降部の上面の高さより小さい状態において前記第2直線の方向へ移動を開始した前記可動ステージと、前記可動ハンドおよび前記可動ハンドに保持された基板とが干渉しない、
    形状を有する、
    ことを特徴とする処理装置。
  8. 前記処理は、前記基板へのパターンの転写を含む、ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一に記載の処理装置。
  9. 前記処理は、前記基板の露光を含む、ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一に記載の処理装置。
  10. 請求項に記載の処理装置を用いて基板を露光する工程と、
    前記工程で露光された基板を現像する工程と、を有することを特徴とするデバイス製造方法。
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