JP5238465B2 - パターン形状の評価方法及びこれを利用したパターン形状の評価装置 - Google Patents
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Description
第1の実施形態について図1〜図5を用いて説明する。図1は、本実施形態に係る方法のフローチャートを示している。図2〜図5は、処理を説明するための画像イメージ(左右に延びる2つのライン端の突き当てパターン)である。図2の(a)〜図5の(a)は、ライン端が離れている正常なパターン形状の場合を示し、図2の(b)〜図5の(b)は、ライン端同士が繋がった異常なパターン形状(パターンショート)の場合を示している。
(i)読み込まれた画像データに対して二値化処理を施した後、パターン輪郭点を抽出する方法以外に、
(ii)パターンの輪郭線にほぼ直交する方向についての階調値情報のプロファイルを、画像データと照合するためのテンプレートとして用意しておき、このテンプレートに近い階調プロファイルを探索することにより、パターン輪郭点を抽出する方法でもよい。
次に、第2の実施形態について説明する。図7は、本実施形態に係るパターン形状評価装置のブロック図である。同図に示すパターン形状評価装置10は、ワークステーション(EWS)12と、入力装置14と、メモリ16と、出力装置18と、画像処理装置20とを備える。
10 パターン形状評価装置
12 ワークステーション(EWS)
14 入力装置
16 メモリ
18 出力装置
20 画像処理装置
22 CPU
24 画像処理部
26 画像メモリ制御部
28 画像メモリ
θ パターン特徴角度
Claims (5)
- 測定対象パターンが連結しているか分断しているかを判定するパターン形状の評価方法であって、
前記測定対象パターンを有する画像データに対して、所定の領域に測定対象領域を設定し、
前記測定対象領域における前記測定対象パターンの輪郭を構成する、複数のパターン輪郭点を抽出し、
前記複数のパターン輪郭点を元に、前記パターン輪郭点の集合であって隣り合う前記パターン輪郭点間の距離が全て所定の値以下である、2つのパターン輪郭点列を作成し、
前記2つのパターン輪郭点列間の最短距離を算出し、
前記最短距離を与える2つの前記パターン輪郭点を通る直線と、前記測定対象領域に対して任意に定められた基準線のなす角度を算出し、
前記角度に基づいて、前記測定対象パターンの形状の良否判定を行う、
ことを特徴とするパターン形状の評価方法。 - 請求項1に記載のパターン形状の評価方法であって、
前記良否判定は、前記角度に加えて前記最短距離に基づいて行うことを特徴とするパターン形状の評価方法。 - 請求項1又は2に記載のパターン形状の評価方法であって、
前記パターンの輪郭線と交わる方向についての階調値情報のプロファイルを、前記画像データと照合するためのテンプレートとして用意しておき、前記テンプレートに近い階調プロファイルを探索することにより、前記パターン輪郭点を抽出することを特徴とするパターン形状の評価方法。 - 請求項2又は3に記載のパターン形状の評価方法であって、
前記角度が前記角度の正常範囲内にない場合であっても、前記最短距離が前記最短距離の正常範囲内にある場合には、前記測定対象パターンの形状を正常と評価することを特徴とするパターン形状の評価方法。 - 測定対象パターンが連結しているか分断しているかを判定するパターン形状の評価装置であって、
前記測定対象パターンを有する画像データを供給するパターン測定装置とのインタフェースを有する、入力装置と、
前記測定対象パターンを評価するためのアルゴリズム、及び測定対象領域の設定情報を含むレシピファイル、並びに前記画像データを格納する、メモリと、
パターン形状の良否判定結果を表示する出力手段を有する、出力装置と、
前記メモリに格納された前記測定対象領域の設定情報に基づいて前記測定対象領域を設定し、前記測定対象領域における前記測定対象パターンの輪郭を構成する複数のパターン輪郭点を抽出し、前記複数のパターン輪郭点を元に、前記パターン輪郭点の集合であって隣り合う前記パターン輪郭点間の距離が全て所定の値以下である、2つのパターン輪郭点列を作成する、画像処理装置と、
前記入力装置を介して前記パターン測定装置から供給される前記画像データを前記メモリに格納し、前記画像データを前記画像処理装置に転送し、前記2つのパターン輪郭点列間の最短距離を算出し、前記最短距離を与える2つの前記パターン輪郭点を通る直線と前記測定対象領域に対して任意に定められた基準線のなす角度を算出し、前記角度および前記最短距離に基づいて、前記測定対象パターンの形状の良否判定を行う、ワークステーションと、
を備えることを特徴とするパターン形状の評価装置。
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