JP5236192B2 - 電子部品装着装置における転写材転写検査方法 - Google Patents
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- 転写材が転写される電極をボディ上に有する電子部品を基板に装着する電子部品装着装置における転写材転写検査方法において、
前記電子部品に前記転写材を転写する転写工程と、
転写材が転写された前記電子部品を位置決めする位置決め工程と、
前記電子部品を撮像する撮像工程と、
予め記憶された電極の位置の座標に、前記撮像工程により得られた電極を含む画像データを参照させて、前記電子部品の位置データを算出し、当該電子部品の位置データから前記各電極の中心位置を算出し、当該中心位置から前記電極ごとの輝度を測定する範囲を前記電極ごとに特定し、前記電極の輝度を測定する範囲に含まれる画素の明るさの分布のうち、暗い方から所定の割合の画素を除いた範囲ごとの輝度を各電極の輝度として取得する電極輝度取得工程と、
前記各電極の輝度と電極輝度基準値とを比較して、転写材転写の良否を判定する電極輝度判定工程と、を備えることを特徴とする電子部品装着装置における転写材転写検査方法。 - 転写材が転写される電極をボディ上に有する電子部品を基板に装着する電子部品装着装置における転写材転写検査方法において、
転写材が転写される前の前記電子部品を位置決めする転写前位置決め工程と、
前記電子部品を撮像する転写前撮像工程と、
予め記憶された電極の位置の座標に、前記転写前撮像工程により得られた前記電極を含む画像データを参照させて、前記電子部品の位置データを算出し、当該電子部品の位置データから前記各電極の中心位置を算出し、当該中心位置から前記電極ごとの輝度を測定する範囲を前記電極ごとに特定し、前記電極の輝度を測定する範囲に含まれる画素の明るさの分布のうち、暗い方から所定の割合の画素を除いた範囲ごとの輝度を転写前の各電極の輝度として取得する転写前電極輝度取得工程と、
前記電子部品に前記転写材を転写する転写工程と、
転写材が転写された前記電子部品を位置決めする転写後位置決め工程と、
前記電子部品を撮像する転写後撮像工程と、
前記転写後撮像工程により得られた前記電極を含む画像データに基づいて、前記転写前電極輝度取得工程により特定された前記電極ごとの輝度を測定する範囲に含まれる画素の明るさの分布のうち、暗い方から所定の割合を除いた画素を除いた範囲ごとの輝度を転写後の各電極の輝度として取得する転写後電極輝度取得工程と、
前記転写前の各電極の輝度と前記転写後の各電極の輝度との輝度差を取得する電極輝度差取得工程と、
前記電極ごとに、前記輝度差と電極輝度差基準値とを比較して、転写材転写の良否を判定する電極輝度差判定工程と、を備えることを特徴とする電子部品装着装置における転写材転写検査方法。 - 請求項1又は請求項2において、
前記電極の輝度を測定する範囲に含まれる画素の明るさの分布のうち、暗い方から所定の割合の画素を除いた明るさの平均又は合計を求めて、前記各電極の輝度を取得することを特徴とする転写材転写検査方法。 - 請求項1乃至3のいずれか1項において、
前記電極ごとの輝度を測定する範囲は、前記電極に外接する矩形であることを特徴とする転写材転写検査方法。 - 請求項1乃至4のいずれか1項において、
前記電極はバンプであることを特徴とする電子部品装着装置における転写材転写検査方法。 - 請求項1乃至5のいずれか1項において、
前記転写材は半田であることを特徴とする電子部品装着装置における転写材転写検査方法。 - 請求項1乃至6のいずれか1項において、
前記転写材はフラックスであることを特徴とする電子部品装着装置における転写材転写検査方法。
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