JP5220738B2 - 漏れ検出器 - Google Patents
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Description
TN = NN + TTAT x KN
であり、ここで、TNが測定温度であり、TTATが実際の温度である。係数の記憶及び式の計算はプロセッサ57で行われる。更に、プロセッサは、不正確な測定により引き起こされる測定温度の変動を、プロセッサによるコンピューター支援低域通過によってフィルタしてもよい。温度出力は以下の方程式によって判定されてもよい。
TA = 0.99 x TF + 0.01 x TN
日付:25/02/06
各数字x に対して値y が入力されて、式y=9-x によって計算される。その結果は(9-2)=7 等である。その後、記憶された一続きの数字749793が読み込まれる。
Claims (12)
- 真空ポンプ、試験ガス検出器及び制御装置を含む基本機器と、ホースを介して前記基本機器のハウジングに接続された探知器プローブと、試験ガスを前記探知器プローブのためのプラグ・インチャンネルに、制御された方法で放出する漏れ試験装置を含むサブハウジングとを備えた漏れ検出器であり、
前記プラグ・インチャンネルは、放射エミッタ及び放射レシーバを有する放射障壁を含んでおり、前記放射エミッタ及び前記放射レシーバは前記プラグ・インチャンネルの異なる側部上に配置されており、
前記サブハウジングは、前記基本機器のハウジングに設けられた制御装置とデータ通信を行い、前記漏れ試験装置の少なくとも1つのパラメータを処理するプロセッサを含んでおり、
前記プラグ・インチャンネルは、放射線に浸透性を有する材料から形成され前記試験ガスの環境に向かって外部から密閉された管を含んでおり、
前記放射障壁は変調モードで作動し、前記プロセッサは、光の干渉及び汚染によって引き起こされる影響を除去すべく、前記放射障壁の光の強度を変調して、変調信号を用いて前記放射障壁の放射レシーバからの信号を評価するように構成されているか又はプログラムされていることを特徴とする漏れ検出器。 - 前記サブハウジングは、前記試験ガスの温度値を判定するための温度センサを含み、前記温度値はパラメータとして前記プロセッサに供給されることを特徴とする請求項1に記載の漏れ検出器。
- 前記プロセッサは、該プロセッサが前記温度センサの温度の直線の傾斜及び温度の直線の零点誤差を考慮して実際の温度を計算するように構成されているか又はプログラムされていることを特徴とする請求項2に記載の漏れ検出器。
- 前記プロセッサは、該プロセッサの不正確な測定により引き起こされる測定温度の変動をフィルタするために低域通過を用いるように構成されているか又はプログラムされていることを特徴とする請求項2又は3に記載の漏れ検出器。
- 前記プロセッサは、該プロセッサがパラメータとして試験ガス容器の充填日及び温度を処理し、未だ存在する実際の漏れ速度を前記試験ガス容器の充填日及び温度から判定するように構成されているか又はプログラムされていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の漏れ検出器。
- 前記プロセッサは、該プロセッサがパラメータとして試験ガス容器の充填日及び初期の漏れ速度を処理し、未だ存在する実際の漏れ速度を前記試験ガス容器の充填日及び初期の漏れ速度から判定するように構成されているか又はプログラムされていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の漏れ検出器。
- 前記サブハウジングは、製造日、充填体積及び/又は漏れ速度の情報が記憶されてもよい消去可能なデータ・メモリを含むことを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の漏れ検出器。
- 前記放射障壁は光障壁であり、前記管は透明であることを特徴とする請求項1乃至7に記載の漏れ検出器。
- 前記サブハウジングは、外部に開口した、前記基本機器のハウジングのレセプタクル内に着脱可能に収容されており、前記漏れ試験装置は外された状態及び挿入された状態の両方で作動可能であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載の漏れ検出器。
- カートリッジが、試験ガス容器を収容するために、前記サブハウジングに固定されていることを特徴とする請求項1乃至9のいずれかに記載の漏れ検出器。
- 前記カートリッジは、前記サブハウジングの背面壁から突出し、前記基本機器は前記カートリッジを収容するためのトンネルを含むことを特徴とする請求項10に記載の漏れ検出器。
- 前記サブハウジングは、前記基本機器のハウジングとデータケーブル又はワイヤレスプラグ・イン接続を介して任意に接続されてもよいことを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載の漏れ検出器。
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