JP5172763B2 - 演算装置、部品実装装置、プログラム及び演算方法 - Google Patents
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Description
部品を基板に装着する際に、前記第一部品及び前記第二部品において異常が発生した異常回数を、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に特定する異常履歴情報と、を記憶する記憶部と、制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記異常履歴情報で特定される第一部品及び第二部品において異常が発生した異常回数を、前記装置動作情報で特定される当該第一部品及び当該第二部品の動作回数で除算することにより、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に第一異常発生率を算出する処理と、
前記異常履歴情報で特定される第一部品において異常が発生した異常回数の総和を、前記装置動作情報で特定される当該第一部品の動作回数の総和で除算することにより、前記第一部品毎に第二異常発生率を算出する処理と、
前記異常履歴情報で特定される第二部品において異常が発生した異常回数の総和を、前記装置動作情報で特定される当該第二部品の動作回数の総和で除算することにより、前記第二部品毎に第三異常発生率を算出する処理と、
前記第二異常発生率が高い第一部品を特定し、特定した第一部品の異常発生率を前記第一異常発生率より抽出して、抽出した異常発生率の分散を算出する処理と、
前記第三異常発生率が高い第二部品を特定し、特定した第二部品の異常発生率を前記第一異常発生率より抽出して、抽出した異常発生率の分散を算出する処理と、
算出した第一部品の異常発生率の分散の値と、算出した第二部品の異常発生率の分散の値と、を比較して、第一部品および第二部品を識別する種別について、分散の値の小さい方が含まれる種別を異常の原因となっている可能性が高いと判断する処理と
を行うことを特徴とする。
110 供給装置
111 フィーダベース
120 装着蔵置
121 ヘッド
122 ビーム
123 吸着ノズル
124 駆動制御部
130 異常検出装置
131 異常検出部
140 全体制御装置
141 記憶部
143 全体制御部
150 演算装置
151 記憶部
152 取得情報記憶領域
153 装置動作情報記憶領域
154 異常履歴情報記憶領域
155 異常発生率集計情報記憶領域
156 吸着ノズル異常発生率情報記憶領域
157 フィーダ異常発生率情報記憶領域
158 推定結果情報記憶領域
160 制御部
161 演算制御部
162 原因推定部
Claims (14)
- 部品を基板に装着する際に使用する第一部品及び第二部品の動作回数を、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に特定する装置動作情報と、
部品を基板に装着する際に、前記第一部品及び前記第二部品において異常が発生した異常回数を、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に特定する異常履歴情報と、を記憶する記憶部と、制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記異常履歴情報で特定される第一部品及び第二部品において異常が発生した異常回数を、前記装置動作情報で特定される当該第一部品及び当該第二部品の動作回数で除算することにより、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に第一異常発生率を算出する処理と、
前記異常履歴情報で特定される第一部品において異常が発生した異常回数の総和を、前記装置動作情報で特定される当該第一部品の動作回数の総和で除算することにより、前記第一部品毎に第二異常発生率を算出する処理と、
前記異常履歴情報で特定される第二部品において異常が発生した異常回数の総和を、前記装置動作情報で特定される当該第二部品の動作回数の総和で除算することにより、前記第二部品毎に第三異常発生率を算出する処理と、
前記第二異常発生率が高い第一部品を特定し、特定した第一部品の異常発生率を前記第一異常発生率より抽出して、抽出した異常発生率の分散を算出する処理と、
前記第三異常発生率が高い第二部品を特定し、特定した第二部品の異常発生率を前記第一異常発生率より抽出して、抽出した異常発生率の分散を算出する処理と、
算出した第一部品の異常発生率の分散の値と、算出した第二部品の異常発生率の分散の値と、を比較して、第一部品および第二部品を識別する種別について、分散の値の小さい方が含まれる種別を異常の原因となっている可能性が高いと判断する処理と
を行うことを特徴とする演算装置。 - 請求項1に記載の演算装置であって、
前記制御部は、
異常の原因となっている可能性が高いと判断された種別に含まれる部品のうち、前記第二異常発生率又は前記第三異常発生率が最も高い第一部品又は第二部品が、異常の原因となっている可能性が高い部品であると判断する処理、を行うことを特徴とする演算装置。 - 請求項1に記載の演算装置であって、
前記第一部品は吸着ノズルであり、前記第二部品はフィーダであることを特徴とする演算装置。 - 請求項1に記載の演算装置であって、
前記制御部は、
前記第二異常発生率が最も高い第一部品、および、前記第三異常発生率が最も高い第二部品、を特定して分散の値を算出することを特徴とする演算装置。 - 請求項1に記載の演算装置であって、
前記制御部は、
前記第二異常発生率が予め定められた閾値よりも高い第一部品、および、前記第三異常発生率が予め定められた閾値よりも高い第二部品、を特定して分散の値を算出することを特徴とする演算装置。 - 請求項1または2に記載の演算装置であって、
前記制御部は、
複数の判断結果を階層構造のあるツリーにて出力することを特徴とする演算装置。 - 請求項1から6の何れか一項に記載の演算装置を有する部品実装装置。
- コンピュータを、
部品を基板に装着する際に使用する第一部品及び第二部品の動作回数を、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に特定する装置動作情報と、
部品を基板に装着する際に、前記第一部品及び前記第二部品において異常が発生した異常回数を、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に特定する異常履歴情報と、を記憶する記憶手段、制御手段、として機能させるプログラムであって、
前記プログラムは、前記制御手段に、
前記異常履歴情報で特定される第一部品及び第二部品において異常が発生した異常回数を、前記装置動作情報で特定される当該第一部品及び当該第二部品の動作回数で除算することにより、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に第一異常発生率を算出する処理と、
前記異常履歴情報で特定される第一部品において異常が発生した異常回数の総和を、前記装置動作情報で特定される当該第一部品の動作回数の総和で除算することにより、前記第一部品毎に第二異常発生率を算出する処理と、
前記異常履歴情報で特定される第二部品において異常が発生した異常回数の総和を、前記装置動作情報で特定される当該第二部品の動作回数の総和で除算することにより、前記第二部品毎に第三異常発生率を算出する処理と、
前記第二異常発生率が高い第一部品を特定し、特定した第一部品の異常発生率を前記第一異常発生率より抽出して、抽出した異常発生率の分散を算出する処理と、
前記第三異常発生率が高い第二部品を特定し、特定した第二部品の異常発生率を前記第一異常発生率より抽出して、抽出した異常発生率の分散を算出する処理と、
算出した第一部品の異常発生率の分散の値と、算出した第二部品の異常発生率の分散の値と、を比較して、第一部品および第二部品を識別する種別について、分散の値の小さい方が含まれる種別を異常の原因となっている可能性が高いと判断する処理と
を行わせることを特徴とするプログラム。 - 請求項8に記載のプログラムであって、
前記制御手段に、
異常の原因となっている可能性が高いと判断された種別に含まれる部品のうち、前記第二異常発生率又は前記第三異常発生率が最も高い第一部品又は第二部品が、異常の原因となっている可能性が高い部品であると判断する処理、を行わせることを特徴とするプログラム。 - 請求項8に記載のプログラムであって、
前記第一部品は吸着ノズルであり、前記第二部品はフィーダであることを特徴とするプログラム。 - 請求項8に記載のプログラムであって、
前記制御手段に、
前記第二異常発生率が最も高い第一部品、および、前記第三異常発生率が最も高い第二部品、を特定して分散の値を算出させることを特徴とするプログラム。 - 請求項8に記載のプログラムであって、
前記制御手段に、
前記第二異常発生率が予め定められた閾値よりも高い第一部品、および、前記第三異常発生率が予め定められた閾値よりも高い第二部品、を特定して分散の値を算出させることを特徴とするプログラム。 - 請求項8または9に記載の演算装置であって、
前記制御手段に、
複数の判断結果を階層構造のあるツリーにて出力させることを特徴とするプログラム。 - 部品を基板に装着する際に使用する第一部品及び第二部品の動作回数を、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に特定する装置動作情報と、
部品を基板に装着する際に、前記第一部品及び前記第二部品において異常が発生した異常回数を、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に特定する異常履歴情報と、を記憶する記憶部と、制御部と、を備える演算装置が行う演算方法であって、
前記制御部が、前記異常履歴情報で特定される第一部品及び第二部品において異常が発生した異常回数を、前記装置動作情報で特定される当該第一部品及び当該第二部品の動作回数で除算することにより、前記第一部品及び前記第二部品の組合せ毎に第一異常発生率を算出する処理を行う過程と、
前記制御部が、前記異常履歴情報で特定される第一部品において異常が発生した異常回数の総和を、前記装置動作情報で特定される当該第一部品の動作回数の総和で除算することにより、前記第一部品毎に第二異常発生率を算出する処理を行う過程と、
前記制御部が、前記異常履歴情報で特定される第二部品において異常が発生した異常回数の総和を、前記装置動作情報で特定される当該第二部品の動作回数の総和で除算することにより、前記第二部品毎に第三異常発生率を算出する処理を行う過程と、
前記制御部が、前記第二異常発生率が高い第一部品を特定し、特定した第一部品の異常発生率を前記第一異常発生率より抽出して、抽出した異常発生率の分散を算出する処理を行う過程と、
前記制御部が、前記第三異常発生率が高い第二部品を特定し、特定した第二部品の異常発生率を前記第一異常発生率より抽出して、抽出した異常発生率の分散を算出する処理を行う過程と、
前記制御部が、算出した第一部品の異常発生率の分散の値と、算出した第二部品の異常発生率の分散の値と、を比較して、第一部品および第二部品を識別する種別について、分散の値の小さい方が含まれる種別を異常の原因となっている可能性が高いと判断する処理を行う過程と
を有することを特徴とする演算方法。
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