JP5145783B2 - 超音波による断面検査方法及び装置 - Google Patents
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Description
d=λ・F/D …(1)
ここに、λ:超音波の波長、F:集束ビームの焦点距離、D:グループ化された振動子の幅(素子ピッチ×素子数に相当)
11〜1128…超音波振動子
21〜2128…パルサ
31〜3128…受波増幅器
41〜4128…遅延素子
51〜5128…加算増幅器
61〜6128…A/D変換器
111〜11128…時間軸変換部
121〜12128…波形メモリ
131〜13384…加算合成処理部
Claims (4)
- 1次元に配列された多数の超音波振動子からなる振動子アレイを用いて金属材料でなる被検体の断面を検査するにあたり、前記振動子アレイの一部または全ての超音波振動子から超音波を送波し、該送波された超音波によって生起された反射波を、前記振動子アレイの一部または全ての超音波振動子を用いて受波し、該受波された信号をディジタルの波形信号へ変換し、前記振動子アレイの中から選択された複数の超音波振動子で構成される第1の超音波振動子群の各振動子と前記被検体内部に形成する連続的な受波焦点との距離に基づき、前記各振動子のディジタル化された受波信号の時間軸を、前記連続的な受波焦点それぞれにおいて常に位相があうように、前記距離に応じて変化する遅延量で変換し、前記各振動子の変換受波信号を同時に加算合成する超音波による断面検査方法であって、
前記振動子アレイを、複数の超音波振動子で構成される、前記第1の超音波振動子群とは異なる超音波振動子のグループにグループ分けし、
各グループにおいて、グループ内の複数の超音波振動子が受波した前記ディジタルの波形信号への変換前の複数の信号に、隣り合う素子が受波したエコー信号が加算合成において干渉を起こさない大きさを持つ相異なる遅延を加えた上で、
該遅延された複数の信号を加算することにより1つの信号にまとめることを特徴とする超音波による断面検査方法。 - 複数の超音波振動子からなる第1の超音波振動子群を複数個とし、前記複数個の超音波振動子群において加算合成を同時に行うことを特徴とする請求項1に記載の超音波による断面検査方法。
- 1次元に配列された多数の超音波振動子からなる振動子アレイを用いて金属材料でなる被検体の断面を検査する装置で、前記振動子アレイの一部または全ての超音波振動子から超音波を送波する手段と、該送波された超音波によって生起された反射波を、前記振動子アレイの一部または全ての超音波振動子を用いて受波する手段と、該受波された信号をディジタルの波形信号へ変換する手段と、前記振動子アレイの中から選択された複数の超音波振動子で構成される第1の超音波振動子群の各振動子と前記被検体内部に形成する連続的な受波焦点位置との距離に基づき、前記各振動子のディジタル化された受波信号の時間軸を、前記連続的な受波焦点それぞれにおいて常に位相があうように、前記距離に応じて変化する遅延量で変換する手段と、前記各振動子の変換受波信号を同時に加算合成する手段とを備えた超音波による断面検査装置であって、
前記振動子アレイを複数の超音波振動子で構成される、前記第1の超音波振動子群とは異なる超音波振動子のグループにグループ分けし、
各グループにおいて、グループ内の複数の超音波振動子が受波した前記ディジタルの波形信号への変換前の複数の信号に、隣り合う素子が受波したエコー信号が加算合成において干渉を起こさない大きさを持つ相異なる遅延を加える遅延手段と、
該遅延された複数の信号を加算することにより1つの信号にまとめる加算手段と、
を備えたことを特徴とする超音波による断面検査装置。 - 前記加算合成する手段は、複数個の第1の超音波振動子群における加算合成を同時に行うことを特徴とする請求項3に記載の超音波による断面検査装置。
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