JP5137379B2 - 衝突冷却器 - Google Patents

衝突冷却器 Download PDF

Info

Publication number
JP5137379B2
JP5137379B2 JP2006294961A JP2006294961A JP5137379B2 JP 5137379 B2 JP5137379 B2 JP 5137379B2 JP 2006294961 A JP2006294961 A JP 2006294961A JP 2006294961 A JP2006294961 A JP 2006294961A JP 5137379 B2 JP5137379 B2 JP 5137379B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
level
inlet
outlet
collision
level structure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006294961A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007142390A (ja
Inventor
ブルーノ・ミシェル
トーマス・ジェイ・ブランシュウィラー
ヒューゴ・イー・ロツイゼン
ウルス・クロター
ライアン・ジョセフ・リンダーマン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JP2007142390A publication Critical patent/JP2007142390A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5137379B2 publication Critical patent/JP5137379B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/46Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
    • H01L23/473Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
    • H01L23/4735Jet impingement
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Description

本発明は冷却装置に関し、特にマイクロプロセッサ・チップと接触する衝突冷却器(impingement cooler)に関する。
マイクロプロセッサ・チップ・パッケージの分野では、マイクロプロセッサ・チップの熱管理のために、マイクロプロセッサ・チップからヒート・シンクへの熱エネルギーの効果的な伝導が重要である。
既知のタイプのアクティブな冷却装置が衝突冷却器であり、ここでは、冷却剤が衝突冷却器内のチャネルを通って流れ、その後噴射口(jet)を介して送られ、マイクロプロセッサ・チップの背面に吹き付け(impinge)られる。熱が吸収されるマイクロプロセッサの背面とラジエータとの間で冷却剤を循環させるために、外部ポンプが使用される。その後、熱は、たとえばファンおよび空気熱交換器などを使用して、ラジエータから大気中へと放散される。
マイクロプロセッサ・チップを冷却するための他のタイプの知られた冷却装置は、E.G.コルガン等による「A Practical Implementation of Silicon MicrochannelCoolers for High Power Chips」21st IEEESEMI-THERM Symposium、1〜7(2005年)に記載された、マイクロチャネル冷却器である。マニホルド(manifold)部分およびチャネル部分が接着されて、複数の熱交換器ゾーンおよび冷却器フィンを形成する。冷却剤は装置内の並列チャネルを通じて流れ、冷却剤の入口から冷却剤の出口までの間の流路の長さはおよそ3mmである。
固体から液体への層対流性(convective)熱伝導(heattransfer)のための第3のタイプの知られた冷却装置は、ツリー状のマイクロチャネル網である。この構造は、従来のマイクロチャネル冷却器と同様に効率良く熱を除去するが、追加のマニホルドを必要としない(Senn and Poulikakos,J. Power Sources, 130, 178〜191(2004))。
一般に、熱エネルギーの伝導は、マイクロプロセッサ・チップの熱交換表面の面積に比例し、熱交換表面に沿って移動する冷却剤の速度にほぼ比例して増加する。熱交換量を増加させる他の手段は、交換表面に冷却剤フローを衝突させる平面形状を採用することである。これには、表面に存在する温度境界層の厚さを減少させる効果があり、それによって、高温の固体からバルクの冷却剤フローへの熱移動が増大する。
単一の噴射口を有する衝突冷却器は、衝突噴射の流れ場(flow field)によってカバーされた局部的な領域に熱伝導を提供することができる。伝熱性能は、単一の噴射直径を小さくすることによって相対的に向上させることができる。しかしながら、これによって、衝突噴射の流れ場が狭くなるという問題が発生する。この問題を克服するために、噴射衝突配列(jet impingement array)を提供することが知られている。
衝突配列は、一般に、マニホルド内に複数の衝突噴射セットの2次元格子(グリッド)パターンを有する。配列内の各衝突噴射から噴出される冷却液は、マイクロプロセッサ・チップの背面に衝突した後、1つまたは配列状の出口を介して、衝突ギャップと呼ばれる、噴射衝突配列とマイクロプロセッサ・チップとの間の空間に出る。周辺の衝突噴射の偏向(deflection)により、排出流が衝突ギャップの縁部に蓄積する可能性があり、これによって伝熱性能が低下する可能性がある。さらに、近隣の衝突噴射からの噴射流が衝突する(collision)ことにより、流速が相互に打ち消しあう可能性もある。流れが遅いかまたはまったくないこれらの局部的な領域は、停滞ポイント(stagnation point)と呼ばれる。また、衝突噴射の直下にある噴射流が流れて行かない場合も、停滞ポイントが発生する。
こうした衝突噴射は、一般に不均一な流れ場を形成する。流れ場の速度は、中央の停滞ポイントから、停滞ポイントからの半径方向の距離が長くなるにつれて、衝突噴射の直径のおよそ2〜3倍の半径距離で最大速度に達するまで上昇していく。停滞ポイントからの半径方向の距離がさらに長くなると、流れ場の速度は、衝突噴射からの半径方向の距離の2乗で低下していく。
対流熱伝達係数として知られる係数hが、流体相への対流熱伝達率を特徴付けるために使用される。この係数は、W/cm−K、すなわち平方センチメートル・ケルビンあたりのワット数単位で測定される。流体が固体に接触している状況では、流体の温度境界層が形成される場合がある。その後、hは、固体流体接触面の局部熱流束を、流体全体または温度境界層を超えた流体の温度と、固体の表面温度との間の温度差で割った値に等しい。衝突噴射またはマイクロチャネル内では、hの値と流体全体の温度値は、どちらも場所に強く依存するため、形状間での熱効率の有意な比較のために、平均量に基づいて有効な熱伝達係数heffを定義しなければならない。
Figure 0005137379
上式で、q”は流体と固体の接触面全体で平均された熱流束であり、Tfsiは、冷却中の固体上(たとえば、マイクロプロセッサ・チップの接合側上)の場所で測定された1つまたはいくつかの温度に基づいて導出されるべき、流体と固体の接触面での有効温度であり、Tinletは、冷却剤が熱交換器内に入った時点の冷却剤の質量流(mass flow)の平均温度である。
流体が水であり、衝突噴射口の配列が円形ノズルを有する、噴射衝突冷却の平均対流熱伝達係数は、マーチンの相関(1977年、マーチン Hによる「Heat and Mass Transfer Between Impinging Gas Jets and Solid Surfaces」 Advances in Heat Transfer, Academic Press,vol.13、1〜60ページ)を使用して推定されてきた。マーチンの相関は、標準的な無次元の形で、すべての重要な幾何学的パラメータの関数としての円形ノズルを有する衝突噴射口配列の予測される熱効率と、流体流れの条件との間に関係を与え、大量の実験データ・セットと対比して検証されてきた。マーチンの相関は、所与の噴射ノズルの直径に関して、衝突冷却器の幾何学的パラメータの最適化を可能にする情報を提供する。
マーチンの相関を使用して、噴射ピッチおよび噴射ノズル・サイズの減少に伴う、噴射衝突冷却器の冷却性能の向上を計算することができる。噴射衝突配列のサイズを縮小することにより、衝突噴射ノズルの直径が減少するにつれて、噴射ピッチも減少するため、マニホルドからの圧力低下の割合が拡大される。実際の可能な最小噴射ノズル直径は、およそ80μm(ミクロン)であり、衝突ギャップGはおよそ320μm、噴射ピッチPはおよそ300μmであって、これは噴射流速に応じて、10〜15W/cm―Kのheffの値に対応する。したがって、噴射流速が上昇するにつれて、必要な流量および圧力低下も増加する。
前述の噴射衝突配列は、配列の中心から外側へ向かって放射状に配置された噴射口が、より中心部に配置された噴射口からの冷却剤の放射状の流れによって偏向されることから、個々の噴射間の距離の規模で局所的にというだけでなく、冷却されることになるより大きな表面領域にわたって大域的に、不均一な流れ場を生成するという点で問題である。したがって冷却率は、中央よりもチップ周囲の方が大幅に低い。同様に、マイクロチャネル冷却器は一般に、流体が比較的長いチャネルに沿って温かくなっていくため、長距離の冷却均一性に乏しい。
閉システム内の噴射配列の排出は、蓄積する交差流(crossflow)により調整が不十分であるという概念で、1つの出口ポートによって実行される。1992年のSaad等では、スロット・ノズル配列内での交差流の悪影響は、入口ポート配列と交互配置された出口ポートによる分散戻りを使用することによって緩和される。これにより、独立型ユニットを形成し、任意の大規模配列内で使用可能な、個々のセル(cell)の集合への衝突構成が減少し、すなわちこのシステムは、冷却されることになる表面のサイズに合わせて調整する。この手法の主要な問題の1つは、入口および出口配列への一方的なアクセスに適合する方法で、個々のセルに対して供給および戻り流れ(リターン・フロー)を提供し、小さい圧力低下を保持することである。
科学文献によれば、熱効率の観点から、衝突セルの物理的な寸法を縮小することが望ましい。したがって、望ましい熱伝導性能を達成するために、噴射ノズルは20〜100μmの範囲で比較的小さいことが好ましい。
さらに、熱伝導が衝突表面を介してのみ可能であることも、噴射衝突冷却器に関連付けられた問題である。微細な構造体によって実行される表面の拡大は、それによって再循環および流れのないゾーンが作成されるため、噴射装置の全体性能をわずかに向上させるだけである。たとえば、1993年のHansenおよびWebbでは、表面の拡大によって見られる向上は1.5から4倍である。
従来の噴射衝突冷却器に関連して、一般的に、熱は冷却剤流体と高温表面との間の接触を介してのみ除去可能であり、噴射板またはマニホルド構造も熱交換に寄与することが可能な冷却器の上部には、熱が伝導されないことも問題である。さらに、従来の噴射衝突冷却器内で並列のマニホルド構造を利用する場合、ノズル・ピッチが減少するにつれて、マニホルド内の圧力低下は著しく増加する。したがって、従来のマニホルド構造は、必要な物理的縮小では適切に機能しない。
E.G.コルガン等による「A Practical Implementation of Silicon MicrochannelCoolers for High Power Chips」21st IEEESEMI-THERM Symposium、1〜7(2005年) Senn and Poulikakos,J. Power Sources, 130, 178〜191(2004) 1977年、マーチン Hによる「Heat and Mass Transfer Between Impinging Gas Jets and Solid Surfaces」 Advances in Heat Transfer, Academic Press,vol.13、1〜60ページ
本発明の目的は、既知の技術の問題を軽減する、配列型冷却装置を提供することである。
本発明の第1の態様によれば、衝突ギャップに隣接する第1のレベルを有し、この第1のレベルが、衝突ギャップに隣接する分散型配列のほぼ並列な入口および出口の層を備え、さらにこの第1のレベルが、入口から流体を供給し、出口から流体を排出するための、交互にかみ合った(interdigitated)分岐チャネルの層を備える、衝突冷却器が提供される。
好ましくは、第2のレベルは第1のレベルと接触し、第2のレベルの構造は実質的に第1のレベルの構造の複製であって、所定倍率で拡大されている。
好ましくは、他の階層レベルが第2のレベルと接触し、他の階層レベルの構造は実質的に第2のレベルの構造の複製であって、所定倍率で拡大されている。有利なことに、マニホルドとも呼ばれるこの並列レベルの階層構造は、縮小された衝突配列に冷却剤流体を供給する際の、圧力の蓄積および流れの分散の問題を最適に軽減することができる。
交互にかみ合った分岐チャネル(入力チャネルおよび出力チャネル)の層は、かみ合いディジット(digit)を形成する分離壁を有する。
好ましくは、所定の拡大倍率は5〜15の範囲である。
少なくとも1つの層の入口および出口は、ほぼ円筒形またはほぼスロット形とすることができる。
好ましくは、分散型配列は入口および出口の面心正方形(face centred square)パターンを有する。
衝突冷却器は、第1のレベルおよび加熱された本体のうちの少なくとも1つに取り付けられた衝突ギャップ内に配置された、表面拡張構造体を有することが可能であり、この表面拡張構造体は複数の突起部を備える。有利なことに、表面拡張構造体は熱交換の機能を向上させる。表面拡張構造体が目標の表面と噴射板との間に延在する場合、噴射板またはマニホルド構造も熱交換に寄与することが可能な冷却器の上部まで延在する、伝導経路が形成される。
表面拡張構造体は、それぞれがダイヤモンド形を有し、第1のレベルの入口と出口の間に規則正しく配置された、複数の突起部を備えることが可能であり、この突起部の配置構成が流れを停滞ゾーンから実質上遠ざける。
表面拡張構造体は、第1のレベルの入口および出口を結ぶ対角線に沿って規則正しく配置された、障壁(barrier)構造体をさらに備える。有利なことに、衝突ギャップ内の停滞ポイントはほぼ除去される。
表面拡張構造体は、第1のレベルの入口および出口が突起部間の線形ギャップ内に交互に配置されるように、対角線状に配置された複数の線形並列突起部を備えることができる。
好ましくは、線形並列突起部は、第1のレベルと加熱された本体との間に取り付けられ、それぞれが単一の入口と単一の出口を結ぶ複数のマイクロチャネルを形成するように変形される。有利なことに、この構造は、加熱された本体から噴射板への直接伝導経路を形成し、これによってさらに熱交換に寄与する。またこの実施形態は、入口と出口の比較的短い分離を可能にし、これによってチップ自体を熱拡散器として機能させることができる。
好ましくは、衝突冷却器は、1次チャネル・ループから供給および排出される第1のマイクロチャネル・グループと、2次チャネル・ループから供給および排出される第2のマイクロチャネル・グループとを有し、第1および第2のループの動作は互いに独立している。
好ましくは、第1のマイクロチャネル・グループおよび第2のマイクロチャネル・グループは、分散型配列内でほぼ交互に配置される。
表面拡張構造体は、線形ギャップ内の第1のレベルの入口と出口の間に規則正しく配置された障壁構造体をさらに備えることができる。
各障壁構造体は、ほぼ流れのラインに沿って配置された複数の障壁に細分することができる。表面拡張構造体は、第1のレベルの入口および出口が突起部の間の山形(chevron-form)ギャップ内に交互に位置するように配置された、複数の山形突起部を備えることができる。
本発明の第2の態様によれば、熱源から熱を伝導させるための方法が提供され、この方法は、衝突ギャップに隣接する第1のレベルを有する衝突冷却器を準備するステップであって、この第1のレベルは分散型配列の入口および出口の層を備え、この入口および出口は交互にかみ合った入力チャネルおよび出力チャネルの層から分岐しており、さらに衝突ギャップを介して衝突冷却器を熱源に接触させる、ステップと、冷却剤流体を、衝突冷却器を通じておよび衝突ギャップを介して熱源へと衝突させるステップであって、その結果として、衝突冷却器全体に最小限の圧力低下を生じさせる、ステップとを備える。有利なことに、マイクロプロセッサ・チップ上の目標の表面に冷却剤流れを供給するためのこの方法は、衝突冷却器全体の圧力低下を最小限にする。
次に、本発明の諸実施形態について、添付の図面を参照しながら単なる例として説明する。
図1は、本発明の衝突冷却器10の一部を示す断面図である。インターフェース層とも呼ばれる衝突冷却器10の第3のレベル12は、第3レベルの入口14および第3レベルの出口16を備える。第3のレベル12に隣接するのがマニホルド層とも呼ばれる第2のレベル18であり、いくつかの第2レベルの入口22に接続された第2レベルのマニホルド入力チャネル20と、いくつかの第2レベルの出口26に接続された第2レベルのマニホルド出力チャネル24を備える。第2のレベル18に隣接するのが噴出層または終端レベルとも呼ばれる第1のレベル28であり、いくつかの噴出ノズルまたは第1レベルの入口32に接続された第1レベルの入力チャネル30と、いくつかの出力ノズルまたは第1レベルの出口36に接続された第1レベルの出力チャネル34とを備える。第1レベルの入口32および第1レベルの出口36は、噴出板37が終端である。好ましくは、第1レベルの入口32および第1レベルの出口36は並列である。ターゲット表面40とも呼ばれるマイクロプロセッサ・チップ38の背面は、衝突ギャップ42によって噴出板(ジェット・プレート)37から分離されている。
図2は、図1の衝突冷却器10の一部を示す立体図であるが、前述の第3のレベルは示されていない。蛇行した第2レベルの分離壁21は、第2レベルのマニホルド出力チャネル24と第2レベルのマニホルド入力チャネル20とを分離し、その結果、交互にかみ合った形が生じる。第2レベルの出口26および第2レベルの入口22は、第2レベルのマニホルド出力チャネル24および第2レベルのマニホルド入力チャネル20の下にそれぞれ配置される。同様に、蛇行した第1レベルの分離壁35は、第1レベルの出力チャネル34と第1レベルの入力チャネル30とを分離し、その結果、ここでも交互にかみ合った形が生じるが、第2レベルの構造体に比べてサイズは小さい。第1レベルの出口36および第1レベルの入口32が図示されており、第2のレベルと同様の配列で第1レベルの入力チャネル30および第1レベルの出力チャネル34を基準に配置されている。マイクロプロセッサ・チップ38が図示されている。全体として、交互にかみ合った入力チャネルの階層および出力チャネルの階層が示されている。
後続レベルの入力チャネルの相対数は、換算係数(scale factor)sfと呼ばれる。たとえば図1を参照すると、第2レベルの入口22は、それぞれ、第1レベルの入力チャネル30を介して5つの第1レベルの入口32に供給しており、sfは5である。
動作時に、冷却剤は第3レベルの入口14から衝突冷却器10に入り、第2レベルのマニホルド入力チャネル20に供給するためにsf^2経路に分割される。その後、冷却剤は第2レベルの入口22を介して第1レベルの入力チャネル30に流れた後、複数の第1レベルの入口32のうちの1つを介して排出され、ターゲット表面40に衝突する。その後、冷却剤は、通常はマイクロプロセッサ・チップ38である、加熱された本体によって生成された熱エネルギーを吸収し、複数の第1レベルの出口36のうちの1つを介して、衝突ギャップ42へと排出される。第1レベルの出力チャネル34を通過した後、冷却剤は第2レベルの出口26へ、その後第2レベルのマニホルド出力チャネル24へと入り、最終的に第3レベルの出口16へと流れ込む。
図3は、衝突冷却器10の好ましい実施形態の第2のレベル18を示す平面概略図である。
それぞれの形に関して図2を参照しながら説明した、複数の第2レベルの分離壁21が列を成して配置されている。隣接する列の分離壁21は、鏡像レイアウトを有する。第2レベルのマニホルド出口26と、屈曲する分離壁21の間にある第2レベルの入口の位置が示されている。第2レベルのマニホルド出口26と第2レベルの入口22との関係は、面心正方形レイアウトである。たとえば、第2レベルの入口のおよその直径が28ミクロンである場合、第2レベルのマニホルド出口のおよその直径は40ミクロンである。
衝突冷却器の好ましい諸実施形態は、図1に示された3つのレベルに制限されるものではない。より多いかまたはより少ない数のレベルが利用可能である。本明細書では、噴射板37に隣接するレベルを終端レベルと呼ぶことができる。
衝突冷却器10内のレベルの設計全体が、装置内で経験する圧力低下、すなわち装置の性能を決定する。sfに加えて決定可能な他の係数は、ノズル・ピッチpitと、噴出ノズル直径riと、出力ノズル直径roと、チャネル深さ、すなわちチャネル層の厚さbと、入力チャネルの階層と出力チャネルの階層との間の壁の厚さwallである。第1レベルの入口チャネル32の有効流体力学半径は、幅2.0riおよび深さbで計算される。
第1レベルの入口32内を所与の容積量で流れる流体における理論上の圧力低下は、粘性、流れ、長さ、およびチャネル有効流体力学半径の逆4乗(inverse fourth power)に対応する。衝突冷却器全体にわたって経験される理論上の圧力低下は、以下のプロトコルを使用して計算することができる。具体的に言えば、衝突冷却器の第1から第3までの層の全体抵抗pは、すべての部分的な入力または出力チャネルのそれぞれの流れとの抵抗の合計として、以下のように計算される。
Figure 0005137379
このプロトコルでは、Nは終端レベルの出口の合計数であり、ηは動粘性率(kinematicviscosity)である。
このプロトコルは、噴射チャネルとも呼ばれる終端レベルの入口の幅と、そこから供給される噴射ノズルの幅とが、同一であることを想定しているが、こうした噴射チャネルの端部では、複数の噴射ノズルからの冷却剤流れが蓄積されるにつれて、その幅が相対的に広くなることがさらに想定される点を除く。全体の性能は、25%大きいチャネル幅およびsf/2〜1の平均チャネル長さを使用することによって近似される。この数式は圧力低下を正確に計算できない場合があるが、好ましいレイアウト、適切な換算係数、および終端レベルの入口および出口の寸法を選択する際に役立つ。
このように、出力ノズルおよび終端レベルの入口のサイズを、噴射ノズル直径を基準にして30%大きくすることによって、理論上の衝突冷却器全体の圧力低下を減少させることができる。したがって、出力チャネルの圧力低下は、入力チャネルに比べて2.8倍減じられる。
チャネル内の流れ抵抗に加えて、90度の屈曲に対する圧力を考慮に入れることができる。この圧力は、流体の減速および加速によるものであるため、流体の平均の速度および密度の平方に依存する。急カーブの場合、管の直径よりも半径が大きい屈曲の2〜3倍の圧力低下が生まれる。
衝突冷却器全体の抵抗は、衝突冷却器の各レベルの抵抗の合計によって計算される。
図4は、sfが5である衝突冷却器10の、2つのレベルの好ましい実施形態を示す図である。図3に示されたレベルと同様のレイアウトを有するように単一のレベルが示される一方で、他のレベルの構造が重ね合わされている。具体的に言えば、最大の屈曲が第3レベルの出口16および第3レベルの入口14に関連して形成されるように、2列の第3レベルの分離壁44が示されている。第2レベルの分離壁21の多数の列が、第2レベルの入口22および第2レベルの出口26に関連して重ね合わされる。第3のレベルは図示されていない。この実施形態では、第3レベルの入口14は、第2レベルの入口22より5倍大きい直径を有する。たとえば、第2レベルの入口は28ミクロンの直径を有し、第3レベルの入口は36ミクロンの直径を有することができる。このノズル直径の組み合わせにより、相対的に向上した噴射衝突性能を維持しながら、冷却器内の全体の圧力低下を減少させることができる。
第3レベルの入口14が第2レベルの入口22と同軸である場合、第3レベルの入口14は相対的に乏しい排出特性を経験し、相対的に圧力低下は小さいことに留意されたい。このような圧力低下の減少は、冷却剤が、第3レベルの入口14が第2レベルの入口22と同軸でない、角度が90度の3つの屈曲を有する間接経路に沿って移動するのに対して、直接経路を移動することによって説明することができる。具体的に言えば、間接経路は第3レベルの入口14から、第2レベルのマニホルド入力チャネル20へと垂直に流れ、さらに90度の屈曲と、その後の第3の90度の屈曲を経て、第2レベルの入口22へと流れる。たとえば、こうした間接冷却剤経路が採用される場合、第3レベルの入口14内の圧力低下は200パスカルであり、第2レベルの入口22では、圧力低下は11000パスカルである可能性がある。
衝突冷却器10の好ましい実施形態では、入力チャネルの階層および出力チャネルの階層全体を通じた90度の曲がり角は、チャネル直径のほぼ2倍のカーブ半径を有するカーブ輪郭を有することができる。この方法で、屈曲の背圧(back-pressure)を減じることができる。
図5は、衝突冷却器10の2つのレベルの代替実施形態を示す図である。第2のレベル18は、図3に示されたレベルと同様のレイアウトを有するように示され、第3のレベル12の構造が重ね合わされている。具体的に言えば、第1レベルの入口および出口は、円筒形チャネルの配列ではなく、スロット46の配列からなる。スロット46のハイドロリック(水圧)半径を大きくすると、ポワズイユ(Poiseuille)の流れに関する圧力低下を減じることができる。スロット46の配列は、何らかの流れ経路において2つの直角の曲がり角も除去することが可能であり、それによって圧力低下のさらなる削減に寄与する。例示された好ましい実施形態では、第3のレベル12は、第2レベルの列に垂直に配置された2列の第1レベルの分離壁44を有するため、隣接レベル間の交互にかみ合わされた構造が90度回転する。
図6は、衝突冷却器の他の実施形態の、第2のレベル18を示す平面概略図である。たとえば、sfが3でPが150ミクロンの場合、第2レベルの入口のおよその直径は40ミクロン、第2レベルの出口のおよその直径は52ミクロンとすることができる。
図7は、衝突冷却器の第1のレベルの代替形状を示す図であり、すなわち、第1レベルの入口32および第1レベルの出口36が六角形のレイアウトである。第1レベルの分離壁の屈曲構造が、中央幹線および規則正しい分岐セクションを有するツリー形構造48に置き換えられる。六角格子の入口の並列供給および排出が達成可能である。好ましいレイアウトでは、終端レベルの出口の数は終端レベルの入口の数の2分の1より少なく、これによって、流れが衝突することのない2つの交互にかみ合わされた供給および排出網の設計が可能になる。
有利なことに、相互に混交された(interwoven)入力チャネルの階層および出力チャネルの階層を利用することによって、前述の衝突冷却器の諸実施形態にわたる圧力低下全体が減じられる。効率の良い熱伝導を提供する他の手段は、衝突冷却器の衝突ギャップ内に配置される表面拡張構造体を追加することである。
図8は、噴射板37を示す平面図、ならびに、線A〜A’に沿ったチップ38および冷却剤流れの分散戻りを示す横断面図である。
図9は、線矢印によって示された冷却剤流れと、べた塗りの(solid)矢印によって示された熱伝導とを伴う、個々の衝突セル50を示す横断面図である。終端レベルの入口に近い流れの方が、終端レベルの出口よりも熱伝導が大きい。さらに、十字で示された終端レベルの入口、およびべた塗りの丸で示された終端レベルの出口の、平面図も示されている。流れの線は、個々の衝突セルの対称面によって境界が定められた領域内に示される。
同様に、図10も、線矢印によって示された冷却剤流れと、べた塗りの矢印によって示された熱伝導とを伴う、個々の衝突セル50を示す横断面図である。表面拡張構造体52がターゲット表面40に取り付けられる。ここでも、終端レベルの入口に近い流れの方が、終端レベルの出口よりも熱伝導が大きい。さらに、終端レベルの入口および終端レベルの出口、ならびに、べた塗りの矢印によって示された表面拡張構造体52から冷却剤への熱伝導も示される。
図11も、線矢印によって示された冷却剤流れと、べた塗りの矢印によって示された熱伝導とを伴う、個々の衝突セル50を示す横断面図である。チップ38の表面と噴射板37の表面との間に表面拡張構造体52が取り付けられ、それら2つの構造体の間に熱結合を提供する。ここでは、噴射板37から冷却剤への熱伝導も発生する。さらに、終端レベルの入口および終端レベルの出口、ならびに、べた塗りの矢印によって示された表面拡張構造体52から冷却剤への熱伝導も示される。
図12は、終端レベルの入口32と出口36との間の、規則正しいパターンでチップ40のターゲット表面上に配置されたダイヤモンド形の表面拡張構造体52を示す平面概略図である。
動作時に、冷却剤は終端レベルの入口32から、線矢印によって示された流れ経路に沿って流れ、終端レベルの出口36から出る。流れ経路は一般に、ターゲット表面40または表面拡張構造体52の近傍であるため、ターゲット表面40から冷却剤への熱伝導は、冷却剤が接触している表面領域が拡大されることによって相対的に向上する。たとえば、図12に示された表面拡張構造体が50ミクロンの衝突ギャップ内に配置された場合、熱交換用の表面領域は、平坦なターゲット表面の場合のおよそ4倍になる。ターゲット表面40と噴射板37との間に直接的な熱接触を形成する表面拡張構造体を有する諸実施形態では、加熱されたチップから冷却器ノズル板およびチャネル層への熱伝導用の経路が提供される。これによって固体表面から流体への熱伝導用の追加の経路が開かれ、多くの表面拡張構造体形状を使用すると、終端レベル内で伝導される熱量が、噴射衝突および表面拡張構造体自体によって伝導される熱量を上回る。
表面拡張構造体は、流れの停滞ポイントおよびラインが形成されるのを避けるように、流れの方向を変えるためにも機能する。また、表面拡張構造体がターゲット表面40と噴射板37との間に延在する場合、均一の衝突ギャップ42を維持するための機械的役割も有することができる。
表面拡張構造体は、好ましくは、相対的に小さな流れ抵抗を衝突冷却剤に与え、徐々に加速することによって停滞ラインから流れをそらすような形状である。たとえば、図12に示された実施形態では、表面拡張構造体の高さは50ミクロン、すなわちノズル・ピッチの半分であり、1つの入口によって供給され、ダイヤモンド形パターンによって輪郭が描かれた、4つの出口のハイドロリック半径は、およそ40ミクロンである。こうしたケースでは、いわゆる「表面拡張係数」は5である。ノズル・ピッチとは、終端レベルでの隣接する入口と出口の隔たりのことである。
他の好ましい実施形態では、入力チャネルの階層および出力チャネルの階層はそれぞれ長さ50〜100ミクロンであり、ハイドロリック直径は約10ミクロンであるものとすることができる。
図13は、表面拡張構造体の好ましい実施形態を示す概略平面図である。表面拡張構造体52はダイヤモンド形であり、入口32と出口36との間に規則正しく配置することができる。他の表面拡張構造体、具体的に言えば障壁構造体53は、楕円形であり、個々の衝突セル内の入口と出口を結ぶ線に沿って中心軸を有する。
動作時に、ダイヤモンド形構造体52は停滞ラインを避けるために流れの向きを変更するように再度配置され、細長い楕円形の構造体53は、2本のほぼ均一な狭く曲がった流れ経路を形成するように機能し、これによって、相対的に熱伝導に乏しい直線的な中央の流れ経路が除去される。これにより、熱交換用の表面全体が5倍から8〜9倍に拡大され、入口によって供給される出口の数が倍増し、ハイドロリック直径は28ミクロンまで減じられる。
図14は、表面拡張構造体の好ましい代替実施形態を示す概略平面図である。表面拡張構造体は、入口32と出口36との間に規則正しく配置されたダイヤモンド形の突起部52であるが、入口または出口と接触するように延在していない。2つの細長く曲がった狭い突起部54が、個々の衝突セルの入口と出口の間の流れラインに沿うように配置される。
動作時に、2つの細長く曲がった狭い突起部54は、熱伝導用の表面領域をさらに与えるように、および、1つの入口によって供給される12の出口のハイドロリック直径を、このような実施形態では15ミクロン未満の値まで減じるように、機能する。たとえば、Pがおよそ150ミクロンの実施形態では、細長く曲がった狭い突起部の幅はおよそ10ミクロンとすることができる。
図15は、表面拡張構造体の他の好ましい実施形態を示す概略平面図である。ダイヤモンド形の表面拡張構造体52に加えて、多数の楕円形の表面拡張構造体が、入口32と出口36との間の流れラインに沿って規則正しく配置される。
図16は、ユニット・セルの1本の対角線に沿って1つの入口32から2つの隣接する出口36へ、線形ギャップとも呼ばれる2本の並列経路を作成する、線形突起部とも呼ばれる線形フィン58を有する、いくつかの衝突セルにわたる表面拡張構造体を示す平面図である。
図17は、線形フィン58と、1つの入口32から2つの隣接する出口36へ4本の経路を形成するように配置された、障壁構造体60とも呼ばれる追加の短い楕円形フィンとを有する、いくつかの衝突セルにわたる表面拡張構造体を示す平面図である。
図18は、線形フィン58と、1つの入口32から2つの隣接する出口36へ6本の経路を形成するように配置された、1対の追加の短い楕円形フィン62とを有する、いくつかの衝突セルにわたる表面拡張構造体を示す平面図である。
図19は、線形フィン58と、1つの入口32から2つの隣接する出口36へ8本の経路を形成するように配置された、3つの追加の短い楕円形フィン64とを有する、いくつかの衝突セルにわたる表面拡張構造体を示す平面図である。
図20は、1つの入口32から2つの隣接する出口36へ、ユニット・セルの斜めの対角線に沿って2つの相対的に長い並列経路を生成する、相対的に狭い線形フィン66を有する、いくつかの衝突セルにわたる表面拡張構造体を示す平面図である。
図21は、複数の衝突セルにわたる山形の表面拡張構造体68を示す平面図である。第2レベル分離壁の例示的な列が図に重ね合わされている。
衝突セルの寸法および表面拡張方式に依存した冷却性能を示す一例として、図22および図23は、冷却剤としての水に関する噴射ノズル・ピッチPと、噴射板の1cm領域につき0.375l/分の一定の冷却剤体積流量と、3の入口噴射ノズル直径に対する入口ジェット・ノズル・ピッチの割合と、2の衝突空間(噴射板と冷却されるチップとの間の距離)に対する噴射ノズル・ピッチの割合との関数として、衝突装置の噴射板セクションにおける、算出された熱伝導係数および算出された圧力低下の記録を示すグラフである。bおよびcのケースでは、表面拡張構造は図13のレイアウトを有する。すべての部品はシリコンで作られる。データは、市販の計算流体力学ソフトウェア・パッケージを使用して取得される。ケースaの表面拡張なしの単純な噴射衝突セルの場合、熱除去率に関して、セル・サイズ、すなわちピッチおよび入口ノズル直径を減じることが好ましい。これが減少することにより、噴射板の圧力低下の増加につながるが、これはシステム内の他の場所での追加の圧力低下と複合されて、前述の関連条件で説明したように、実際には使用可能な外部ポンプの性能によって課せられた制限を超えてはならない。また部品の構成は、ある寸法より下の実際の制限に達するものと予測することができる。したがって、これまでに説明した熱交換器の好ましい諸実施形態では、入口噴射口の直径は、通常、10から200ミクロンの範囲内にあり、入口噴射口のピッチは、通常、噴射口直径の3から5倍となる。表面拡張構造体を使用することにより、追加の圧力低下を発生させることなく、単純な衝突セル全体にわたって熱伝導係数が向上する。
図24は、本発明の衝突冷却器10の一部分の代替実施形態を示す図である。冷却器の第1のレベルに入る入口チャネル70は、チップ38の背部に衝突するいくつかの第1レベルの入力チャネルに分岐し、この入口チャネル70の各分岐が、図20に示されたものと同様の線形フィン66で形成された衝突ギャップ42を通る経路を介して、出口チャネル72の分岐に供給される。線形フィン66は、図11の上部に示されるように、チップ38の背面と噴射板37の表面との間に取り付けられた表面拡張構造体である。したがって、この配置構成は、チップの背面に衝突するU字型「マイクロチャネル」とみなすことが可能であり、このようなケースでは、前述の入口と出口のノズル直径の差を小さくするかまたはなくすことができる。入口チャネル70および出口チャネル72をまとめて、第1のループが形成される。冷却器の第1のレベルに入る他の入口チャネル74は、チップ38の背部に衝突し、線形フィン66で形成された経路を介して他の出口チャネル76の分岐に供給される、いくつかの第1レベルの入力チャネルに分岐する。他の入口チャネル74および他の出口チャネル76をまとめて、第2のループが形成される。
図25は、理解しやすいように図示された線形フィン66を備えた図24の第1および第2のループを示す概略平面図であるが、これらは必ずしも噴射板37を介して見えるとは限らない。
有利なことに、この実施形態は、チップの背面に衝突する入口および出口チャネルの隔たりを相対的に短くすることができる。この隔たりはピッチとも呼ばれ、好ましい実施形態では100ミクロンとすることができる。こうした相対的に短い隔たりは、いくつかのチップおよび冷却器システムがチップそれ自体を熱拡散器として機能させる必要がある場合があるために、有用である。他の利点は、第1のループおよび第2のループが、必要であればそれぞれが独立して動作できるように分離しているという点にある。たとえば、1つのループをバックアップとして指定し、動作ループに障害が発生した場合に、このバックアップ・ループのスイッチをオンにすることができる。あるいは、チップの通常の動作に両方のループの機能が必要な場合、一方のループの障害または保守の際には、他方のループは単独で機能することになる。この冷却機能の損失を補償するために、動作可能なループを介した冷却剤の流速を上げるか、別の方法として、チップによって生成される熱エネルギーを少なくするためにチップのクロック周波数を下げることができる。
衝突冷却器の前述の諸実施形態の様々な態様の代替形態が想定される。たとえば、相互に混交された入力チャネルの階層および出力チャネルの階層の代替パターンが利用可能であることも想定される。例示された諸実施形態のダイヤモンド形、細長い楕円形、および柱形に加えて、表面拡張構造体の代替のパターンおよび形式が使用可能であることも想定される。様々な好適な材料を使用して、こうした衝突冷却器を製造することが可能であり、冷却剤の流体は気体または液体とすることができる。気体が利用される場合、好ましいピッチの寸法、層厚さ、入口/出口/チャネルのハイドロリック直径は、前述の説明で示されたような水の場合に使用される寸法に比べて、2分の1に減らすことができる。冷却剤の流体は、それらの熱容量またはそれらの温度境界層を貫通する機能によって、熱伝導を相対的に向上させるために、ナノ流体と呼ばれる追加の固体粒子を含むことも可能である。
例示された諸実施形態の構造は、加熱された表面と接触すると液体が蒸発して気体を形成する、2相冷却器に使用することもできる。より多量の気体を収容するために、低流速を維持する一方で、出力を入力より30%を上回って多くしなければならない可能性がある。
表面拡張構造体の使用範囲は、1つまたは複数の衝突噴射からの流体の流れ制御技術が必要な、任意の方法で拡張することができる。
冷却性能を発熱部分に合わせるために、入口および出口ノズルの直径は、ターゲット表面のある領域に近接して変更することができる。
本概念の衝突冷却器は、たとえば高出力レーザおよび光学コンポーネントまたはパワー・エレクトロニクスなどの、任意の複数の高パワー密度装置と接触可能であることを理解されよう。また、衝突冷却器を様々な装置に直接組み込むことも実現可能である。
本発明の範囲を逸脱することなく、前述の内容への改良および修正を実行することができる。
本発明の衝突冷却器10の一部を示す断面図である。 図1の衝突冷却器10の一部を示す立体図であるが、前述の第3のレベルは示されていない。 衝突冷却器10の好ましい実施形態の第2のレベル18を示す平面概略図である。 sfが5である衝突冷却器10の、2つのレベルの好ましい実施形態を示す図である。 衝突冷却器10の2つのレベルの代替実施形態を示す図である。 衝突冷却器の他の実施形態の、第2のレベル18を示す平面概略図である。 衝突冷却器の第1のレベルの代替形状を示す図であり、すなわち、第1レベルの入口32および第1レベルの出口36が六角形のレイアウトである。 噴射板37を示す平面図、および線A〜A’に沿ったチップ38を示す横断面図である。 個々の衝突セル50を示す横断面図である。 ターゲット表面に取り付けられた表面拡張構造体を有する、個々の衝突セルを示す横断面図である。 ターゲット表面と噴射板との間に取り付けられた表面拡張構造体を有する、個々の衝突セルを示す横断面図である。 終端レベルの入口32と出口36との間の、規則正しいパターンでチップ40のターゲット表面上に配置されたダイヤモンド形の表面拡張構造体52を示す平面概略図である。 表面拡張構造体の好ましい実施形態を示す概略平面図である。 表面拡張構造体の好ましい代替実施形態を示す概略平面図である。 表面拡張構造体の他の好ましい実施形態を示す概略平面図である。 表面拡張構造体の代替実施形態を示す平面図である。 表面拡張構造体の他の代替実施形態を示す平面図である。 表面拡張構造体の他の実施形態を示す平面図である。 表面拡張構造体の好ましい実施形態を示す平面図である。 表面拡張構造体の他の好ましい実施形態を示す平面図である。 山形の表面拡張構造体を示す平面図である。 a:表面拡張なしの衝突、b:表面拡張構造体有りの衝突、c:チップを噴射板に熱結合する表面拡張構造体有りの衝突、のケースを比較する、衝突セル入口ピッチの関数として算出された熱伝導係数を示す図である。 a:表面拡張なしの衝突、b:表面拡張構造体有りの衝突、c:チップを噴射板に熱結合する表面拡張構造体有りの衝突、のケースを比較する、衝突セル入口ピッチの関数として噴射板の圧力低下を示す図である。 衝突冷却器の一部の代替実施形態を示す、概略断面図である。 衝突冷却器の一部の代替実施形態を示す、概略平面図である。
符号の説明
10 衝突冷却器
12 第3のレベル
14 第3レベルの入口
16 第3レベルの出口
18 第2のレベル
20 第2レベルのマニホルド入力チャネル
22 第2レベルの入口
24 第2レベルのマニホルド出力チャネル
26 第2レベルの出口
28 第1のレベル
30 第1レベルの入力チャネル
32 第1レベルの入口
34 第1レベルの出力チャネル
36 第1レベルの出口
37 噴出板
38 マイクロプロセッサ・チップ
40 ターゲット表面
42 衝突ギャップ

Claims (15)

  1. 衝突ギャップ(42)を介して熱源(38)から熱を除去する衝突冷却器(10)であって、
    前記衝突ギャップ(42)に隣接する第1のレベルの構造(28)と
    前記第1のレベルの構造(28)の上に設けられた第2のレベルの構造(18)とを備え、
    前記第1のレベルの構造(28)は、
    前記衝突ギャップ(42)に冷却剤の流体を供給するための入口(32)と、前記衝突ギャップ(42)から冷却剤の流体を排出するための出口(36)とが分散して配置された第1の層と、
    前記第1の層に隣接し、前記入口(32)に前記流体を供給するための入力チャネル(30)及び前記出口(36)から前記流体を排出するための出力チャネル(34)を有し、前記入力チャネル(30)及び前記出力チャネル(34)が交互にかみ合った形状で配列されている、第2の層とを備え、
    前記第2のレベルの構造(18)は、
    前記第1のレベルの構造(28)の前記入力チャネル(30)に前記流体を供給するための入口(22)と、前記第1のレベルの構造(28)の前記出力チャネル(34)から前記流体を排出するための出口(26)とが分散して配置された第3の層と、
    前記第2のレベルの構造(18)の前記第3の層に隣接し、
    前記入口(22)に前記流体を供給するための入力チャネル(20)及び前記出口(26)から前記流体を排出するための出力チャネル(24)を有し、前記入力チャネル(20)及び前記出力チャネル(24)が交互にかみ合った形状で配列されている、第4の層とを備え、
    前記第2のレベルの構造(18)の前記入口(22)及び前記出口(26)の直径が、前記第1のレベルの構造(28)の前記入口(32)及び前記出口(36)の直径よりも所定倍率だけ大きく、
    前記第2のレベル(18)の前記入力チャネル(20)及び前記出力チャネル(24)が、前記第1のレベルの構造(28)の前記入力チャネル(30)及び前記出力チャネル(34)よりも所定倍率だけ大きい、衝突冷却器
  2. 前記第2のレベルの構造(18)の上に設けられた第3のレベルの構造(12)とを備え、
    前記第3のレベルの構造(12)は、
    前記第2のレベルの構造(18)の前記入力チャネル(20)に前記流体を供給するための入口(14)と、前記第2のレベルの構造(18)の前記出力チャネル(24)から前記流体を排出するための出口(16)とが分散して配置された第5の層と、
    前記第3のレベルの構造(12)の前記第5の層に隣接し、
    前記入口(14)に前記流体を供給するための入力チャネル及び前記出口(16)から前記流体を排出するための出力チャネルを有し、前記第3のレベルの構造(12)の前記入力チャネル及び前記出力チャネルが交互にかみ合った形状で配列されている、第6の層とを備え、
    前記第3のレベルの構造(12)の前記入口(14)及び前記出口(16)の直径が、前記第2のレベルの構造(18)の前記入口(22)及び前記出口(26)の直径よりも所定倍率だけ大きく、
    前記第3のレベルの構造(12)の前記入力チャネル及び前記出力チャネルが、前記第2のレベルの構造(18)の前記入力チャネル(20)及び前記出力チャネル(24)よりも所定倍率だけ大きい、請求項に記載の衝突冷却器。
  3. 前記第1のレベルの構造(28)の前記入力チャネル(30)及び前記出力チャネル(34)が、蛇行する分離壁(35)により前記交互にかみ合った形状で配列されており、
    前記第2のレベルの構造(18)の前記入力チャネル(20)及び前記出力チャネル(24)が、蛇行する分離壁(21)により前記交互にかみ合った形状で配列されている、請求項1に記載の衝突冷却器。
  4. 前記所定倍率が5〜15の範囲である、請求項及びのいずれかに記載の衝突冷却器。
  5. 記入口および出口が円筒形またはスロット形を有する、請求項1に記載の衝突冷却器。
  6. 記入口および前記出口は面心正方形パターンで配置されている、請求項1に記載の衝突冷却器。
  7. 前記第1のレベルの構造および前記熱源のうちの少なくとも1つに取り付けられ、前記衝突ギャップ内に配置された表面拡張構造体を有し、前記表面拡張構造体は複数の突起部を備える、請求項1に記載の衝突冷却器。
  8. 前記表面拡張構造体は、前記第1のレベルの構造の前記入口と前記出口の間に規則正しく配置されている、請求項に記載の衝突冷却器。
  9. 前記表面拡張構造体が、前記第1のレベルの構造の前記入口および前記出口を結ぶ対角線に沿って規則正しく配置された、障壁構造体をさらに備える、請求項に記載の衝突冷却器。
  10. 前記表面拡張構造体が、互いに平行な複数の線形突起部を備え、前記第1のレベルの構造の前記入口および前記出口が前記線形突起部相互間のギャップ内に交互に配置されている、請求項に記載の衝突冷却器。
  11. それぞれが前記第1のレベルの構造の前記入口と前記出口とを結ぶ複数のマイクロチャネルが前記第1のレベルの構造と前記熱源との間に形成され、
    前記複数のマイクロチャネルは、
    第1の入口チャネル(70)から前記入口および前記出口を介して第1の出口チャネル(72)へ至る第1のループにより前記流体が供給および排出される第1のマイクロチャネル・グループと、第2の入口チャネル(74)から前記入口および前記出口を介して第2の出口チャネル(76)へ至る第2のループにより前記流体が供給および排出される第2のマイクロチャネル・グループとに分けられており、
    前記第1のループおよび前記第2のループの動作は互いに独立している、請求項10に記載の衝突冷却器。
  12. 前記第1のマイクロチャネル・グループのマイクロチャネルおよび前記第2のマイクロチャネル・グループのマイクロチャネルが、交互に配置される、請求項11に記載の衝突冷却器。
  13. 前記表面拡張構造体が、前記ギャップ内の前記第1のレベルの前記入口と出口の間に規則正しく配置された障壁構造体をさらに備える、請求項10に記載の衝突冷却器。
  14. 各障壁構造体が、前記流体の流れのラインに沿って配置された複数の障壁に細分される、請求項9または13に記載の衝突冷却器。
  15. 前記熱源は、マイクロプロセッサ・チップである、請求項1に記載の衝突冷却器。
JP2006294961A 2005-11-14 2006-10-30 衝突冷却器 Expired - Fee Related JP5137379B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP05405630.4 2005-11-14
EP05405630 2005-11-14

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007142390A JP2007142390A (ja) 2007-06-07
JP5137379B2 true JP5137379B2 (ja) 2013-02-06

Family

ID=38086294

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006294961A Expired - Fee Related JP5137379B2 (ja) 2005-11-14 2006-10-30 衝突冷却器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8413712B2 (ja)
JP (1) JP5137379B2 (ja)
CN (1) CN101001516B (ja)

Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7808780B2 (en) * 2008-02-28 2010-10-05 International Business Machines Corporation Variable flow computer cooling system for a data center and method of operation
US7866173B2 (en) * 2008-02-28 2011-01-11 International Business Machines Corporation Variable performance server system and method of operation
US9347987B2 (en) 2009-11-06 2016-05-24 Intel Corporation Direct liquid-contact micro-channel heat transfer devices, methods of temperature control for semiconductive devices, and processes of forming same
JP5476585B2 (ja) * 2010-01-15 2014-04-23 株式会社豊田中央研究所 冷却器
US8305755B2 (en) * 2010-03-04 2012-11-06 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Power modules, cooling devices and methods thereof
US8077460B1 (en) 2010-07-19 2011-12-13 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Heat exchanger fluid distribution manifolds and power electronics modules incorporating the same
US8659896B2 (en) * 2010-09-13 2014-02-25 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Cooling apparatuses and power electronics modules
US8199505B2 (en) 2010-09-13 2012-06-12 Toyota Motor Engineering & Manufacturing Norh America, Inc. Jet impingement heat exchanger apparatuses and power electronics modules
US8427832B2 (en) 2011-01-05 2013-04-23 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Cold plate assemblies and power electronics modules
US8391008B2 (en) 2011-02-17 2013-03-05 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Power electronics modules and power electronics module assemblies
US8482919B2 (en) 2011-04-11 2013-07-09 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Power electronics card assemblies, power electronics modules, and power electronics devices
US8564952B2 (en) 2011-07-25 2013-10-22 International Business Machines Corporation Flow boiling heat sink structure with vapor venting and condensing
US9069532B2 (en) 2011-07-25 2015-06-30 International Business Machines Corporation Valve controlled, node-level vapor condensation for two-phase heat sink(s)
US9061382B2 (en) 2011-07-25 2015-06-23 International Business Machines Corporation Heat sink structure with a vapor-permeable membrane for two-phase cooling
GB2500703A (en) * 2012-03-30 2013-10-02 Ibm Cooling devices for photovoltaic modules
GB2500706A (en) 2012-03-30 2013-10-02 Ibm Concentrating solar photovoltaic-thermal hybrid systems
GB201205738D0 (en) 2012-03-30 2012-05-16 Ibm Photovoltaic thermal hybrid solar receivers
US9353999B2 (en) 2012-07-30 2016-05-31 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Cooling apparatuses and electronics modules having branching microchannels
US9099295B2 (en) 2012-11-21 2015-08-04 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Cooling apparatuses having sloped vapor outlet channels
US9484283B2 (en) 2013-01-04 2016-11-01 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America Inc. Modular jet impingement cooling apparatuses with exchangeable jet plates
US9460985B2 (en) 2013-01-04 2016-10-04 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Cooling apparatuses having a jet orifice surface with alternating vapor guide channels
US8643173B1 (en) 2013-01-04 2014-02-04 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Cooling apparatuses and power electronics modules with single-phase and two-phase surface enhancement features
US8981556B2 (en) 2013-03-19 2015-03-17 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Jet impingement cooling apparatuses having non-uniform jet orifice sizes
US9247679B2 (en) * 2013-05-24 2016-01-26 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Jet impingement coolers and power electronics modules comprising the same
US9803938B2 (en) 2013-07-05 2017-10-31 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Cooling assemblies having porous three dimensional surfaces
US9257365B2 (en) 2013-07-05 2016-02-09 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Cooling assemblies and power electronics modules having multiple-porosity structures
US9398721B2 (en) 2013-07-25 2016-07-19 Hamilton Sundstrand Corporation Cooling fluid flow passage matrix for electronics cooling
US20150034280A1 (en) * 2013-08-01 2015-02-05 Hamilton Sundstrand Corporation Header for electronic cooler
US9131631B2 (en) 2013-08-08 2015-09-08 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Jet impingement cooling apparatuses having enhanced heat transfer assemblies
CN103648255B (zh) * 2013-11-19 2017-01-04 中国计量大学 一种方波脉冲射流发生器
WO2016091732A1 (en) * 2014-12-12 2016-06-16 Koninklijke Philips N.V. Cooling apparatus for cooling a fluid by means of surface water
US9713284B2 (en) * 2015-07-15 2017-07-18 Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co. Ltd. Locally enhanced direct liquid cooling system for high power applications
US9443786B1 (en) * 2015-08-19 2016-09-13 Ac Propulsion, Inc. Packaging and cooling method and apparatus for power semiconductor devices
US10837718B2 (en) * 2015-09-18 2020-11-17 T.Rad Co., Ltd. Laminated core type heat sink
US10780447B2 (en) * 2016-04-26 2020-09-22 Applied Materials, Inc. Apparatus for controlling temperature uniformity of a showerhead
CN106123656B (zh) * 2016-08-05 2017-05-10 中国核动力研究设计院 立交式微通道高效紧凑型换热器
DE112017005525T5 (de) * 2016-11-01 2019-08-08 Massachusetts Institute Of Technology Wärmemanagement von HF-Vorrichtungen unter Verwendung eingebetteter Mikrojet-Anordnungen
CN108966583B (zh) 2017-05-17 2020-04-14 华为技术有限公司 散热器以及通信设备
DE112018003730T5 (de) 2017-07-21 2020-04-16 Massachusetts Institute Of Technology Modulare Mikrojet-Kühlung von gepackten elektronischen Komponenten
CN111052360B (zh) * 2017-08-29 2023-08-04 株式会社威尔康 散热片
CN107702566A (zh) * 2017-09-14 2018-02-16 华北电力大学 一种点阵式换热器
GB201808726D0 (en) 2018-05-29 2018-07-11 J A Kemp Jet impingement cooling apparatus and method
US10533809B1 (en) * 2018-07-06 2020-01-14 Keysight Technologies, Inc. Cooling apparatus and methods of use
US10901161B2 (en) 2018-09-14 2021-01-26 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Optical power transfer devices with an embedded active cooling chip
CN109637987B (zh) * 2018-11-15 2020-07-10 华中科技大学 一种浸没式射流微喷直接液冷散热装置
JP2020150170A (ja) * 2019-03-14 2020-09-17 富士通株式会社 冷却プレート、冷却装置及び電子機器
JP7231668B2 (ja) * 2021-06-10 2023-03-01 Necプラットフォームズ株式会社 冷却部品
CN113675160B (zh) * 2021-08-16 2024-01-30 西北工业大学 一种适用于高热流密度器件的冲击流双层导流微通道热沉
CN114005800B (zh) * 2021-09-29 2024-01-23 苏州浪潮智能科技有限公司 一种用于边缘服务器芯片散热的微通道结构
US11924997B2 (en) 2021-10-19 2024-03-05 Rockwell Collins, Inc. Textile weave redundant loop cold plate design
CN114280443A (zh) * 2021-11-03 2022-04-05 浙江大学杭州国际科创中心 一种功率芯片歧管式微通道换热器测试装置
US11767766B1 (en) 2022-07-29 2023-09-26 General Electric Company Turbomachine airfoil having impingement cooling passages

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3909118A (en) * 1974-03-04 1975-09-30 Textron Inc Fluid cooled mirror
US4302793A (en) 1979-11-30 1981-11-24 Submergible Oil Systems, Inc. Electronic cooling
JPS61220359A (ja) 1985-03-26 1986-09-30 Hitachi Ltd 半導体モジユ−ル冷却構造体
US4758926A (en) 1986-03-31 1988-07-19 Microelectronics And Computer Technology Corporation Fluid-cooled integrated circuit package
JPH07114250B2 (ja) * 1990-04-27 1995-12-06 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション 熱伝達システム
US5265670A (en) * 1990-04-27 1993-11-30 International Business Machines Corporation Convection transfer system
JPH06342990A (ja) * 1991-02-04 1994-12-13 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 統合冷却システム
JP2995590B2 (ja) * 1991-06-26 1999-12-27 株式会社日立製作所 半導体冷却装置
US5269372A (en) * 1992-12-21 1993-12-14 International Business Machines Corporation Intersecting flow network for a cold plate cooling system
JP2715865B2 (ja) * 1993-11-25 1998-02-18 日本電気株式会社 マルチチップモジュールの温度異常検出装置および温度異常検出方法
JPH0837260A (ja) * 1994-07-22 1996-02-06 Hitachi Ltd 半導体冷却装置
US5731954A (en) 1996-08-22 1998-03-24 Cheon; Kioan Cooling system for computer
US6234240B1 (en) 1999-07-01 2001-05-22 Kioan Cheon Fanless cooling system for computer
US6688110B2 (en) * 2000-01-18 2004-02-10 Rolls-Royce Plc Air impingement cooling system
US6474074B2 (en) * 2000-11-30 2002-11-05 International Business Machines Corporation Apparatus for dense chip packaging using heat pipes and thermoelectric coolers
US6459581B1 (en) 2000-12-19 2002-10-01 Harris Corporation Electronic device using evaporative micro-cooling and associated methods
US6606251B1 (en) 2002-02-07 2003-08-12 Cooligy Inc. Power conditioning module
US7000684B2 (en) * 2002-11-01 2006-02-21 Cooligy, Inc. Method and apparatus for efficient vertical fluid delivery for cooling a heat producing device
US6650542B1 (en) * 2003-01-06 2003-11-18 Intel Corporation Piezoelectric actuated jet impingement cooling
US7255153B2 (en) * 2005-05-25 2007-08-14 International Business Machines Corporation High performance integrated MLC cooling device for high power density ICS and method for manufacturing

Also Published As

Publication number Publication date
US20070119565A1 (en) 2007-05-31
CN101001516A (zh) 2007-07-18
CN101001516B (zh) 2012-08-29
JP2007142390A (ja) 2007-06-07
US8413712B2 (en) 2013-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5137379B2 (ja) 衝突冷却器
US5270572A (en) Liquid impingement cooling module for semiconductor devices
Kandlikar et al. Extending the heat flux limit with enhanced microchannels in direct single-phase cooling of computer chips
JP4907703B2 (ja) マイクロチャネル熱交換器、熱源を冷却する方法
JP4776032B2 (ja) 熱交換器
JP5039916B2 (ja) 熱分散アセンブリ、熱伝達のためのシステムおよび熱制御のための方法(高出力マイクロジェット・クーラー)
US8136577B2 (en) Method and apparatus for dissipating heat, and radar antenna containing heat dissipating apparatus
EP2941784B1 (en) Advanced heat exchanger with integrated coolant fluid flow deflector
US20060266497A1 (en) High performance integrated mlc cooling device for high power density ics and method for manufacturing
US20110226448A1 (en) Heat exchanger having winding channels
JP3857060B2 (ja) 発熱体冷却装置
JP2007096306A (ja) ヒートシンク
KR20120017029A (ko) 그리드 히트 싱크
US5353867A (en) Heat exchanger, a method of manufacturing same, and applications
Bhandari et al. Fluid flow and heat transfer behavior in distinct array of stepped micro-pin fin heat sink
CN114521093B (zh) 一种单元流路、换热器、液冷板
JP2009176881A (ja) 冷却装置
US9759493B1 (en) Fluid-cooled heat sink for use in cooling various devices
CN112882983A (zh) 散热装置及具有其的服务器
JP2008300447A (ja) 放熱装置
JPH0273697A (ja) 放熱フイン
JP7119200B2 (ja) 冷却装置
US10168112B2 (en) Heat exchanging apparatus and method for transferring heat
JP2008016613A (ja) 冷却装置
CN115768045B (zh) 散热器及电子设备

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090821

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111117

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111129

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120118

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121023

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121113

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5137379

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151122

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees