JP5117080B2 - 試料観察条件設定方法及び装置、並びに試料観察方法及び装置 - Google Patents
試料観察条件設定方法及び装置、並びに試料観察方法及び装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5117080B2 JP5117080B2 JP2007057552A JP2007057552A JP5117080B2 JP 5117080 B2 JP5117080 B2 JP 5117080B2 JP 2007057552 A JP2007057552 A JP 2007057552A JP 2007057552 A JP2007057552 A JP 2007057552A JP 5117080 B2 JP5117080 B2 JP 5117080B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- observation
- profile
- observation condition
- predetermined
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 36
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 30
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 30
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 23
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 76
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 12
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 10
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/225—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion
- G01N23/2251—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion using incident electron beams, e.g. scanning electron microscopy [SEM]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/004—Charge control of objects or beams
- H01J2237/0041—Neutralising arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/22—Treatment of data
- H01J2237/221—Image processing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/248—Components associated with the control of the tube
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/26—Electron or ion microscopes
- H01J2237/28—Scanning microscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
図4は、本発明の実施形態による走査型電子顕微鏡100の概略構成を示す図である。走査型電子顕微鏡100において、電子源であるフィラメント4から発生する一次電子5は、ウェーネルト6およびアノード7により制御され加速される。これらは一次電子5の試料への照射速度である加速電圧や一次電子5の試料への照射電流量であるプローブ電流を制御するものである。加速された一次電子5は、コンデンサレンズ8および対物レンズ9によって試料10に収束される。試料電圧印加装置11で発生した電圧はステージ12および試料10に印加され、試料10に照射される際の一次電子5の加速電圧を制御する働きを持っている。
図5は、図4で示される操作型電子顕微鏡における観察条件の設定処理を説明するためのフローチャートである。なお、図5において、特に断らない限り、各ステップの処理制御主体は、データ演算装置18である。
図6乃至図12を用いて、本発明による測定方法による実施例を説明する。図6は本実施例におけるサンプルの構造である。このサンプルはパターンサイズつまりスロープ部22およびボトム部23の幅と比較してパターンの深さ24が深くなっている。また、評価対象であるパターンの材質は、上部がSiO225・下部がSi26となっており、プレドーズによりSiO225の表面を極端に帯電させると、静電破壊を生じさせる可能性がある。
本実施形態において、試料観察条件設定は、まず、電子線装置によって基準となる観察条件の下、試料の所定の評価箇所におけるプロファイルが取得される。そして、処理部が、上記取得されたプロファイルが所定の設定範囲内にあるか否かを判定し、この判定結果に基づいて、試料観察に用いる最適な観察条件を設定することによって実現される。これにより、最初に設定された観察条件が最適なものか否かが判り、最適なものと判断されれば、その観察条件を用いれば適切に試料を観察できるという確信を持って試料を観察することができるようになる。また、最適なものではないと判断されると、変更する必要があると認識することができる。
Claims (14)
- 電子線装置における試料の観察条件を設定するための試料観察条件設定方法であって、
前記電子線装置によって、基準となる観察条件の下、前記試料の所定の評価箇所におけるプロファイルを取得する第1の工程と、
処理部が、前記第1の工程で取得された前記プロファイルが所定の設定範囲内にあるか否かを判定する第2の工程と、
前記処理部が、前記プロファイルが前記所定の設定範囲を外れている場合に、試料の表面帯電量を調節することにより前記基準となる観察条件を変更し、試料観察に用いる最適な観察条件を設定する第3の工程と、
前記所定の評価箇所を別の評価箇所に移動して、前記変更された観察条件を用いて再度プロファイルを取得する第4の工程と、
を備えることを特徴とする試料観察条件設定方法。 - 前記第3の工程は、
前記プロファイルが前記所定の設定範囲内にある場合には、前記処理部が、前記基準となる観察条件を前記最適な観察条件とする工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の試料観察条件設定方法。 - 前記第3の工程において、前記プロファイルが前記所定の設定範囲の下限より小さい場合には、前記処理部が、前記基準となる観察条件を、試料の表面帯電量が多くなるように変更することを特徴とする請求項1に記載の試料観察条件設定方法。
- 前記第3の工程において、前記プロファイルが前記所定の設定範囲の上限より大きい場合には、前記処理部が、前記基準となる観察条件を、試料の表面帯電量が少なくなるように変更することを特徴とする請求項1に記載の試料観察条件設定方法。
- さらに、前記変更された観察条件での試料の観察が前記電子線装置において可能か否かを判定し、不可能な場合には処理を終了する工程を含むことを特徴とする請求項3又は4に記載の試料観察条件設定方法。
- 前記試料はボトム部を有する高アスペクト比のパターンを含み、
前記第1の工程では、プレドーズ後における前記ボトム部のプロファイルが取得されることを特徴とする請求項1に記載の試料観察条件設定方法。 - 請求項1に記載の試料観察条件設定方法によって得られた前記最適な観察条件を用いて試料を観察する試料観察方法。
- 電子線装置と処理装置を備え、試料の観察条件を設定するための試料観察条件設定装置であって、
前記電子線装置によって、基準となる観察条件の下、前記試料の所定の評価箇所におけるプロファイルを取得し、
前記処理装置が、前記取得されたプロファイルが所定の設定範囲内にあるか否かを判定し、前記プロファイルが前記所定の設定範囲外にある場合には、試料の表面帯電量を調節することにより前記基準となる観察条件を変更し、試料観察に用いる最適な観察条件を設定し、前記所定の評価箇所を別の評価箇所に移動して、前記変更された観察条件を用いて再度プロファイルを取得することを特徴とする試料観察条件設定装置。 - 前記処理装置は、前記プロファイルが前記所定の設定範囲内にある場合には、前記基準となる観察条件を前記最適な観察条件とすることを特徴とする請求項8に記載の試料観察条件設定装置。
- 前記処理装置は、前記プロファイルが前記所定の設定範囲の下限より小さい場合には、前記基準となる観察条件を、試料の表面帯電量が多くなるように変更することを特徴とする請求項8に記載の試料観察条件設定装置。
- 前記処理装置は、前記プロファイルが前記所定の設定範囲の上限より大きい場合には、前記基準となる観察条件を、試料の表面帯電量が少なくなるように変更することを特徴とする請求項8に記載の試料観察条件設定装置。
- 前記処置装置は、さらに、前記変更された観察条件での試料の観察が前記電子線装置において可能か否かを判定し、不可能な場合には処理を終了することを特徴とする請求項10又は11に記載の試料観察条件設定装置。
- 前記試料はボトム部を有する高アスペクト比のパターンを含み、
前記電子線装置は、プレドーズ後における前記ボトム部のプロファイルを取得することを特徴とする請求項8に記載の試料観察条件設定装置。 - 試料を観察するための試料観察装置であって、
基準となる観察条件の下、前記試料の所定の評価箇所におけるプロファイルを取得するプロファイル取得手段と、
前記取得されたプロファイルが所定の設定範囲内にあるか否かを判定し、この判定結果に基づいて、試料観察に用いる最適な観察条件を設定する処理手段と、を備え、
前記処理手段は、前記プロファイルが前記所定の設定範囲外にある場合には、試料の表面帯電量を調節することにより前記基準となる観察条件を変更し、
前記プロファイル取得手段は、前記所定の評価箇所を別の評価箇所に移動して、前記変更された観察条件を用いて再度プロファイルを取得し、
前記最適な観察条件を用いて前記試料を観察することを特徴とする試料観察装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007057552A JP5117080B2 (ja) | 2007-03-07 | 2007-03-07 | 試料観察条件設定方法及び装置、並びに試料観察方法及び装置 |
US12/043,946 US8384030B2 (en) | 2007-03-07 | 2008-03-06 | Method and apparatus for setting sample observation condition, and method and apparatus for sample observation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007057552A JP5117080B2 (ja) | 2007-03-07 | 2007-03-07 | 試料観察条件設定方法及び装置、並びに試料観察方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008216198A JP2008216198A (ja) | 2008-09-18 |
JP5117080B2 true JP5117080B2 (ja) | 2013-01-09 |
Family
ID=39740698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007057552A Expired - Fee Related JP5117080B2 (ja) | 2007-03-07 | 2007-03-07 | 試料観察条件設定方法及び装置、並びに試料観察方法及び装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8384030B2 (ja) |
JP (1) | JP5117080B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010175249A (ja) * | 2009-01-27 | 2010-08-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 試料高さ測定方法及び試料高さ測定装置 |
JP5583417B2 (ja) * | 2010-01-29 | 2014-09-03 | 公益財団法人神奈川科学技術アカデミー | 薄膜状元素の識別方法 |
JP5712073B2 (ja) * | 2011-07-19 | 2015-05-07 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 試料の検査条件・測定条件の自動判定方法及び走査型顕微鏡 |
JP5619118B2 (ja) * | 2012-11-30 | 2014-11-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
JP6251525B2 (ja) * | 2013-09-13 | 2017-12-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2789399B2 (ja) | 1991-11-27 | 1998-08-20 | 株式会社日立製作所 | 走査型電子顕微鏡およびその観察方法 |
JPH0714537A (ja) | 1993-06-22 | 1995-01-17 | Hitachi Ltd | 走査型電子顕微鏡による計測方法 |
FR2710983B1 (fr) * | 1993-10-08 | 1996-02-16 | Commissariat Energie Atomique | Procédé de caractérisation d'un isolant et microscope électronique correspondant. |
US6366688B1 (en) * | 1998-06-13 | 2002-04-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for contact failure inspection in semiconductor devices |
JP4093662B2 (ja) * | 1999-01-04 | 2008-06-04 | 株式会社日立製作所 | 走査形電子顕微鏡 |
US6326618B1 (en) * | 1999-07-02 | 2001-12-04 | Agere Systems Guardian Corp. | Method of analyzing semiconductor surface with patterned feature using line width metrology |
JP4218171B2 (ja) * | 2000-02-29 | 2009-02-04 | 株式会社日立製作所 | 走査電子顕微鏡,マッチング方法、及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
US6946656B2 (en) * | 2001-07-12 | 2005-09-20 | Hitachi, Ltd. | Sample electrification measurement method and charged particle beam apparatus |
US20030045098A1 (en) * | 2001-08-31 | 2003-03-06 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for processing a wafer |
JP2003331774A (ja) * | 2002-05-16 | 2003-11-21 | Toshiba Corp | 電子ビーム装置およびその装置を用いたデバイス製造方法 |
JP4095510B2 (ja) | 2003-08-12 | 2008-06-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 表面電位測定方法及び試料観察方法 |
JP4248382B2 (ja) * | 2003-12-04 | 2009-04-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子ビームによる検査方法および検査装置 |
JP4528014B2 (ja) * | 2004-04-05 | 2010-08-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 試料検査方法 |
JP4500646B2 (ja) * | 2004-10-18 | 2010-07-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 試料観察方法及び電子顕微鏡 |
JP4901196B2 (ja) * | 2005-07-29 | 2012-03-21 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 画像形成方法、及び荷電粒子線装置 |
JP4147233B2 (ja) | 2005-08-19 | 2008-09-10 | 株式会社日立製作所 | 電子線装置 |
-
2007
- 2007-03-07 JP JP2007057552A patent/JP5117080B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-03-06 US US12/043,946 patent/US8384030B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8384030B2 (en) | 2013-02-26 |
JP2008216198A (ja) | 2008-09-18 |
US20080217532A1 (en) | 2008-09-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7973282B2 (en) | Charged particle beam apparatus and dimension measuring method | |
WO2016002341A1 (ja) | パターン測定方法、及びパターン測定装置 | |
US20160379798A1 (en) | Scanning Electron Microscope System, Pattern Measurement Method Using Same, and Scanning Electron Microscope | |
JP6479303B2 (ja) | 適応走査を有する走査顕微鏡 | |
US7521678B2 (en) | Charged particle beam apparatus, charged particle beam focusing method, microstructure measuring method, microstructure inspecting method, semiconductor device manufacturing method, and program | |
JP5117080B2 (ja) | 試料観察条件設定方法及び装置、並びに試料観察方法及び装置 | |
JP5188529B2 (ja) | 電子ビーム照射方法、及び走査電子顕微鏡 | |
KR20200118756A (ko) | 패턴 단면 형상 추정 시스템, 및 프로그램 | |
WO2019082497A1 (ja) | 荷電粒子線装置、断面形状推定プログラム | |
JP2005005055A (ja) | 試料の高さ情報取得方法 | |
KR102478945B1 (ko) | 하전 입자선 장치의 조사 조건 결정 방법, 및 하전 입자선 장치 | |
JP2005147671A (ja) | 荷電粒子線調整方法および装置 | |
TWI809319B (zh) | 圖像調整方法及帶電粒子束系統 | |
US20140021350A1 (en) | Pattern measuring apparatus | |
JP2005201810A (ja) | 寸法測定装置、寸法測定方法およびプログラム | |
JP2016139531A (ja) | 試料の観察、検査、測定方法、及び走査電子顕微鏡 | |
JP2006172919A (ja) | 三次元形状解析機能を有する走査型電子顕微鏡 | |
US20230032587A1 (en) | Method, apparatus, and program for determining condition related to captured image of charged particle beam apparatus | |
JP4053913B2 (ja) | 試料観察装置、エッジ位置算出装置、及びプログラム | |
JP2002075263A (ja) | 電子線装置 | |
WO2021149117A1 (ja) | 荷電粒子線画像用解析装置、検査システムおよびプログラム | |
US20230307206A1 (en) | Charged Particle Beam Apparatus | |
JP2009110969A (ja) | パターン寸法測定方法、及びパターン寸法測定装置 | |
JP6356551B2 (ja) | パターン高さ測定装置及びパターン高さ測定方法 | |
KR20230141597A (ko) | 하전 입자빔 시스템 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100219 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111128 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120110 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120312 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121016 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121017 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151026 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |