JP5116961B2 - カーボンナノウォールを用いたダイオード - Google Patents

カーボンナノウォールを用いたダイオード Download PDF

Info

Publication number
JP5116961B2
JP5116961B2 JP2005285662A JP2005285662A JP5116961B2 JP 5116961 B2 JP5116961 B2 JP 5116961B2 JP 2005285662 A JP2005285662 A JP 2005285662A JP 2005285662 A JP2005285662 A JP 2005285662A JP 5116961 B2 JP5116961 B2 JP 5116961B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carbon
electrode
carbon nanowall
diode
conduction type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2005285662A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007096135A (ja
Inventor
勝 堀
豊 徳田
浩之 加納
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nagoya University NUC
NU Eco Engineering Co Ltd
Tokai National Higher Education and Research System NUC
Original Assignee
Nagoya University NUC
NU Eco Engineering Co Ltd
Tokai National Higher Education and Research System NUC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nagoya University NUC, NU Eco Engineering Co Ltd, Tokai National Higher Education and Research System NUC filed Critical Nagoya University NUC
Priority to JP2005285662A priority Critical patent/JP5116961B2/ja
Priority to PCT/JP2006/319368 priority patent/WO2007037343A1/ja
Priority to US11/992,751 priority patent/US20100212728A1/en
Publication of JP2007096135A publication Critical patent/JP2007096135A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5116961B2 publication Critical patent/JP5116961B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

本発明は、カーボンナノウォールを用いたダイオードに関する。
カーボンを主体に構成されており所定の微細構造を有する構造体(カーボンナノ構造体)が知られている。そのようなカーボンナノ構造体にはフラーレン、カーボンナノチューブ、カーボンナノウォール等がある。下記特許文献1には、カーボンナノウォール(carbon nanowalls)と呼ばれるカーボンナノ構造体が記載されている。この特許文献1では、例えばCH4 とH2 の混合物にマイクロ波を印加して、ニッケル鉄触媒をコートしたサファイア基板上にカーボンナノウォールを形成している。また、下記特許文献2には、カーボンナノウォールを高品質に形成する方法が開示されている。
米国特許出願公開第2003/0129305号明細書 PCT出願公開WO2005/021430A1
カーボンナノチューブやカーボンナノウォールに関しては、燃料電池、フィールドエミッションなどの電子素子への応用が期待されている。しかしながら、カーボンナノウォールに関する電気的特性については、知られていない。
本発明者は、カーボンナノウォールの所定の接合構造において、電圧電流特性を測定したところ、整流特性があることを発見した。
本発明は、この発見に基づいて成されたものであり、カーボンナノウォールを用いたダイオードを実現することを目的とする。本発明の従来技術は存在しない。
請求項1の発明は、p伝導型半導体と、そのp伝導型半導体上に立設されたグラフェンシートの単層又は多重層から成る壁を有したn伝導型カーボンナノウォールと、n伝導型カーボンナノウォールの上端面に接続する第1電極と、p伝導型半導体に接続する第2電極とを有することを特徴とするダイオードである。
本発明は、p伝導型半導体とn伝導型カーボンナノウォールとによりpn接合を形成してダイオードを構成したことが特徴である。
p伝導型半導体は、シリコン、GaAsなどのIII-V 族化合物半導体、III 族窒化物半導体など任意の半導体を用いることができる。また、p伝導型半導体はバルクであっても、基板の一部領域にアクセプタ不純物を添加してp伝導型領域としたものであっても良い。
第1、第2の電極は、n伝導型カーボンナノウォール、p伝導型半導体に直接、接合していても、間に他の導電層が介在していても良い。
請求項2の発明は、基板と、基板上に立設されたグラフェンシートの単層又は多重層から成る壁を有したn伝導型カーボンナノウォールと、n伝導型カーボンナノウォールのグラフェンシートから成るそれぞれの壁面の表面に沿って壁面を覆うように形成された、グラフェンシートの単層又は多重層から成る壁を有したp伝導型カーボンナノウォールと有するダイオードである。
本発明は、n伝導型カーボンナノウォールと、そのウォールの表面に形成されたp伝導型カーボンナノウォールとにより、pn接合を形成してダイオードを構成したことが特徴である。
本発明は、pn接合に特徴があり、n伝導型カーボンナノウォールを支持する物は何であっても良い。
n伝導型カーボンナノウォールを基板上に成長させた場合には、基板は特に限定されない。半導体基板、ガラス基板、金属など任意である。基板は絶縁性でも導電性でも良い。また、基板上の電導性の拡散領域上に形成しても、絶縁基板上の金属などの導電性物質の上に形成しても、良い。
請求項3の発明は、p伝導型カーボンナノウォールの上端面に接続する第1電極と、n伝導型カーボンナノウォールに接続する第2電極とを有することを特徴とする請求項2に記載のダイオードである。
本発明は、n伝導型カーボンナノウォールを基板上に成長させて、p伝導型カーボンナノウォールに第1電極を、n伝導型カーボンナノウォールに接続する第2電極を設けたことが特徴である。
請求項1の発明と同様に、第1、第2の電極は、p伝導型カーボンナノウォール、基板に直接、それぞれ、接合していても、間に他の導電層が介在していても良い。
請求項4の発明は、前記基板は、前記n伝導型半導体であり、前記第2電極は、前記基板に形成されていることを特徴とする請求項3に記載のダイオードである。
請求項5の発明は、p伝導型カーボンナノウォールは、その表面はフッ素原子で終端されたカーボンナノウォールであることを特徴とする請求項2乃至請求項4の何れか1項に記載のダイオードである。
本発明は、カーボンナノウォールの表面の炭素原子をフッ素原子で終端させることによりp伝導型カーボンナノウォールを形成したことが特徴である。
請求項6の発明は、導電性領域と、導電性領域上に立設されたグラフェンシートの単層又は多重層から成る壁を有したn伝導型カーボンナノウォールと、n伝導型カーボンナノウォールの上端面に形成され、該n伝導型カーボンナノウォールとの界面にショットキー障壁を形成する第1電極と、導電性領域に接続する第2電極とを有するダイオードである。
本発明は、n伝導型カーボンナノウォールと、そのn伝導型カーボンナノウォールの上端面に形成された第1電極とで、ショットキー接合を形成してダイオードを構成したことが特徴である。
導電性領域は、金属、不純物を添加した導電性半導体領域など、任意である。
また、請求項7の発明は、導電性領域は、n型半導体から成ることを特徴とする請求項6に記載のダイオードである。
請求項8の発明は、n伝導型カーボンナノウォールは、窒素プラズマの存在する雰囲気におけるプラズマCVDにより形成されたものであることを特徴とする請求項1乃至請求項7の何れか1項に記載のダイオードである。
本発明は、n伝導型カーボンナノウォールを、窒素プラズマの存在する雰囲気におけるプラズマCVDにより形成したことが特徴である。
なお、この出願に係る「カーボンナノウォール」は、二次元的な広がりをもつカーボンナノ構造体である。二次元的広がりのあるグラフェンシートが基材表面上に立設されたものであり、単層、多重層で壁を構成しているものである。二次元の意味は、壁の厚さ( 幅) に比べて面の縦および横方向の長さが十分に大きいという意味で用いている。面が多層であっても、単層であっても、一対の層(中に空隙のある層)で構成されたものでも良い。また、上面が覆われもの、したがって、内部に空洞を有するものであっても良い。例えば、ウォールの厚さは0.05〜30nm程度で、面の縦横の長さは、100nm〜10μmで程度である。一般的には、面の縦方向と横方向が幅に比べて非常に大きく、制御の対象となることから二次元と表現している。
上記製造方法により得られるカーボンナノウォールの典型例は、基材の表面からほぼ一定の方向に立ち上がった壁状の構造を有するカーボンナノ構造体である。なお、フラーレン(C60等)は0次元のカーボンナノ構造体とみることができ、カーボンナノチューブは一次元のカーボンナノ構造体とみることができる。
また、カーボンナノチューブは、単層、二層以上の多層構造であっても良い。
本発明の構造において、整流特性が観測された。したがって、本発明は、整流特性を有する電子素子、すなわち、ダイオードとして機能させることができる。また、逆バイアスを印加して使用すれば、容量素子として用いることができる。
請求項5においては、カーボンナノウォールの表面をフッ素で終端することにより、p導電型とすることができる。
請求項6の構造においては、整流特性が観測された。すなわち、第1電極がn伝導型カーボンナノウォールに対してショットキー接合するので、整流特性を得ることができた。
請求項8の発明においては、窒素プラズマの存在する雰囲気におけるプラズマCVDにより、n導電型のカーボンナノウォールを製造することができる。
以下、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、本明細書において特に言及している内容以外の技術的事項であって本発明の実施に必要な事項は、従来技術に基づく当業者の設計事項として把握され得る。本発明は、本明細書によって開示されている技術内容と当該分野における技術常識とに基づいて実施することができる。
カーボンナノウォールやカーボンナノチューブなどのカーボンナノ構造体の製造に用いる原料物質としては、少なくとも炭素を構成元素とする種々の物質を選択することができる。炭素とともに原料物質を構成し得る元素の例としては、水素、フッ素、塩素、臭素、窒素、酸素等から選択される一種または二種以上が挙げられる。好ましい原料物質としては、実質的に炭素と水素から構成される原料物質、実質的に炭素とフッ素から構成される原料物質、実質的に炭素と水素とフッ素から構成される原料物質が例示される。飽和または不飽和のハイドロカーボン(例えばCH4 )、フルオロカーボン(例えばC2 6 )、フルオロハイドロカーボン(例えばCHF3 )等を好ましく用いることができる。直鎖状、分岐状、環状のいずれの分子構造のものも使用可能である。通常は、常温常圧において気体状態を呈する原料物質(原料ガス)を用いることが好ましい。原料物質として一種類の物質のみを用いてもよく、二種以上の物質を任意の割合で用いてもよい。使用する原料物質の種類(組成)は、カーボンナノウォールの製造段階(例えば成長過程)の全体を通じて一定としてもよく、製造段階に応じて異ならせてもよい。目的とするカーボンナノの性状(例えば壁の厚さ)および/または特性(例えば電気的特性)に応じて、使用する原料物質の種類(組成)や供給方法等を適宜選択することができる。
カーボンナノウォールを製造するには金属触媒を必要としないが、カーボンナノチューブを製造する場合には、Co、Co−Tiなどの金属ナノ粒子を基板上に堆積させて形成するのが良い。
プラズマ雰囲気中に注入するラジカルは、少なくとも水素ラジカル(すなわち水素原子。以下、「Hラジカル」ということもある。)を含むことが好ましい。少なくとも水素を構成元素とするラジカル源物質を分解してHラジカルを生成し、そのHラジカルをプラズマ雰囲気中に注入することが好ましい。このようなラジカル源物質として特に好ましいものは水素ガス(H2 )である。ラジカル源物質としては、少なくとも水素を構成元素とする物質を好ましく用いることができる。常温常圧において気体状態を呈するラジカル源物質(ラジカル源ガス)を用いることが好ましい。また、ハイドロカーボン(CH4 等)のように、分解によりHラジカルを生成し得る物質をラジカル源物質として用いることも可能である。ラジカル源物質として一種類の物質のみを用いてもよく、二種以上の物質を任意の割合で用いてもよい。
特に、Hラジカルのみを供給すると、カーボンナノウォールと、カーボンナノチューブを良好に生成することができる。また、適度にOHラジカルやOラジカルが存在すると、カーボンナノチューブの形成が容易となると思われる。
反応室内における少なくとも一種類のラジカルの濃度(例えば、炭素ラジカル、水素ラジカル、フッ素ラジカルのうち少なくとも一種類のラジカルの濃度)に基づいて、カーボンナノウォールやカーボンナノチューブの製造条件の少なくとも一つを調整することが望ましい。かかるラジカル濃度に基づいて調整し得る製造条件の例としては、原料物質の供給量、原料物質のプラズマ化強度(プラズマ化条件の厳しさ)、ラジカル(典型的にはHラジカル)の注入量等が挙げられる。このような製造条件を、上記ラジカル濃度をフィードバックして制御することが好ましい。かかる製造方法によると、目的に応じた性状および/または特性を有するカーボンナノウォール又はカーボンナノチューブを、より効率よく製造することが可能である。
製造方法としては、原料物質がプラズマ化されたプラズマ雰囲気中にラジカルを注入することが望ましい。これにより原料物質のプラズマとラジカル(典型的にはHラジカル)とを混在させる。すなわち、原料物質のプラズマ雰囲気中に高密度のラジカル(Hラジカル)を形成することができる。その混在領域から基材上に堆積した炭素によりカーボンナノウォールが形成される(成長する)。使用し得る基材の例としては、少なくともカーボンナノウォールの形成される領域がSi、SiO2 、Si3 4 、GaAs、Al23 等の材質により構成されている基材が挙げられる。カーボンナノウォールに対する電極を形成するために、絶縁性基板の場合には、不純物を添加して一部導電性領域とするか、表面に金属配線を形成して、その上にカーボンナノウォールを形成することになる。基材の全体が上記材質により構成されていてもよい。上記製造方法では、ニッケル鉄等の触媒を特に使用することなく、上記基材の表面に直接カーボンナノウォールを作製することができる。また、Ni,Fe,Co,Pd,Pt等の触媒(典型的には遷移金属触媒)を用いてもよい。例えば、上記基材の表面に上記触媒の薄膜(例えば厚さ1〜10nm程度の膜)を形成し、その触媒被膜の上にカーボンナノウォールを形成してもよい。カーボンナノチューブを形成する場合には、これらの触媒のナノ粒子を基板上に堆積させる。使用する基材の外形は特に限定されない。典型的には、板状の基材(基板)が用いられる。
この出願に係るカーボンナノウォール(カーボンナノ構造体)製造装置の一構成例を図1に示す。この装置1は、反応室10と、その反応室10内でプラズマを生じさせるプラズマ放電手段20と、反応室10に接続されたラジカル供給手段40とを備える。プラズマ放電手段20は、平行平板型容量結合プラズマ(CCP)発生機構として構成されている。本実施例のプラズマ放電手段20を構成する第一電極22および第二電極24は、いずれも略円板状の形状を有する。これらの電極22,24は、互いにほぼ平行になるようにして反応室10内に配置されている。典型的には、第一電極22が上側に、第二電極24がその下側になるようにして配置する。
第一電極(カソード)22には、マッチング回路(matching network)26を介して電源28が接続されている。これらの電源28およびマッチング回路26により、RF波(例えば13.56MHz)、UHF波(例えば500MHz)、VHF波(例えば、27MHz,40MHz,60MHz,100MHz,150MHz)、またはマイクロ波(例えば2.45GHz)の少なくともいずれかを発生することができる。本実施例では、少なくともRF波を発生し得るように構成されている。
第二電極(アノード)24は、反応室10内で第一電極22から離して配置される。両電極22,24の間隔は、例えば0.5〜10cm程度とすることができる。本実施例では約5cmとした。第二電極24は接地されている。カーボンナノウォールの製造時には、この第二電極24上に基板(基材)5を配置する。例えば、基材5のうちカーボンナノウォールを製造しようとする面が露出する(第一電極22に対向する)ようにして、第二電極24の表面上に基板70を配置する。第二電極24には、基材温度調節手段としてのヒータ25(例えばカーボンヒータ)が内蔵されている。必要に応じてこのヒータ25を稼動させることによって基板70の温度を調節することができる。
反応室10には、図示しない供給源から原料物質(原料ガス)を供給可能な原料導入口12が設けられている。好ましい一つの態様では、第一電極(上部電極)22と第二電極(下部電極)24との間に原料ガスを供給し得るように導入口12を配置する。また、反応室10には、後述するラジカル供給手段40からラジカルを導入可能なラジカル導入口14が設けられている。好ましい一つの態様では、第一電極22と第二電極24との間にラジカルを導入し得るように導入口14を配置する。さらに、反応室10には排気口16が設けられている。この排気口16は、反応室10内の圧力を調節する圧力調節手段(減圧手段)としての図示しない真空ポンプ等に接続されている。好ましい一つの態様では、この排気口16は第二電極24の下方に配置されている。
ラジカル供給手段40は、反応室10の上方にプラズマ生成室46を有する。プラズマ生成室46と反応室10とは、基板70のカーボンナノウォール形成面に対向して設けられた隔壁44によって仕切られている。この隔壁44には、マッチング回路26を介して電源28が接続されている。すなわち、本実施例における隔壁44は、第一電極22としての機能をも果たすものである。また、この装置2は、プラズマ生成室46の壁面と隔壁44との間にRF波、VHF波またUHF波を印加する高周波印加手段60を有する。これによりラジカル源ガス36からプラズマ33を生成することができる。なお、図1に示す高周波印加手段60において、符号62は交流電源を、符号63はバイアス電源を、符号64はフィルタをそれぞれ示している。
このプラズマ33から生じたイオンは、隔壁44で消滅し、中性化してラジカル38となる。このとき、適宜隔壁44に電界を印加して中性化率を高めることができる。また、中性化ラジカルにエネルギーを与えることもできる。隔壁44には多数の貫通孔が分散して設けられている。これらの貫通孔が多数のラジカル導入口14となって、反応室10にラジカル38が導入され、そのまま拡散してプラズマ雰囲気34中に注入される。図示するように、これらの導入口14は基板70の上面(第一電極22に対向する面、すなわちカーボンナノウォール形成面)の面方向に広がって配置されている。このような構成を有する装置2によると、反応室10内のより広い範囲に、より均一にラジカル38を導入することができる。このことによって、基板70のより広い範囲(面積)に効率よくカーボンナノウォールを形成することができる。また、面方向の各部で構造(性状、特性等)がより均一化されたカーボンナノウォールを形成することができる。本実施例によると、これらの効果のうち一または二以上の効果を実現し得る。
隔壁44は、Pt等の触媒機能性の高い材質が表面にコーティングされたもの、あるいはそのような材質自体により形成されたものとすることができる。かかる構成の隔壁44とプラズマ雰囲気34との間に電界を印加する(典型的には、隔壁44に負のバイアスを印加する)ことによって、プラズマ雰囲気34中のイオンを加速し、隔壁44をスパッタリングする。これにより、触媒機能を有する原子(Pt等)あるいはクラスターをプラズマ雰囲気34中に注入することができる。カーボンナノウォールを形成するプロセスにおいて、プラズマ生成室46から注入されるラジカル(典型的にはHラジカル)38、プラズマ雰囲気34において発生する少なくとも炭素を含むラジカルおよび/またはイオン、および、上述のように隔壁44のスパッタリングにより発生して注入される触媒機能を有する原子またはクラスターを用いる。これにより、得られるカーボンナノウォールの内部および/または表面に、触媒機能を有する原子、クラスターまたは微粒子を堆積させることができる。このようにな原子、クラスターまたは微粒子を具備するカーボンナノウォールは、高い触媒性能を発揮し得ることから、燃料電池の電極材料等として応用することが可能である。
次に、上述した装置1を用いてカーボンナノウォールを作製した。
図2に示すように、基板には0.5mmのp型シリコン基板70を用いた。この基板70の上に、n型カーボンナノウォール73を成長させた。本実験例では、原料ガス32としてC2 6 を使用した。ラジカル源ガス36としては水素ガス(H2 )と窒素ガス(N2 )を使用した。なお、カーボンナノウォールを堆積させる基板表面には、触媒(金属触媒等)を実質的に存在しない。
第二電極24上にシリコン基板70を、その(100)面が第一電極22側に向くようにしてセットした。原料導入口12から反応室10にC26 (原料ガス)32を供給するとともに、ラジカル源導入口42から水素ガスと窒素ガス(ラジカル源ガス)36を供給した。また、反応室10内のガスを排気口16から排気した。そして、反応室10内におけるC26 の分圧が約20mTorr、H2 の分圧が約80mTorr、全圧が約100mTorrとなるように、原料ガス32およびラジカル源ガス36の供給量(流量)ならびに排気条件を調節した。C26 は50sccm、H2 は100sccm、N2 は、20sccmである。
この条件で原料ガス32を供給しながら、電源28から第一電極22に13.56MHz、100WのRF電力を入力し、反応室10内の原料ガス(C26 )32にRF波を照射した。これにより原料ガス32をプラズマ化し、第一電極22と第二電極24との間にプラズマ雰囲気34を形成した。また、上記条件でラジカル源ガス36を供給しながら、電源58からコイル52に13.56MHz、50WのRF電力を入力し、ラジカル発生室40内のラジカル源ガス(H2 とN2 )36にRF波を照射した。これにより生成したHラジカル、Nラジカルを、ラジカル導入口14から反応室10内に導入した。このようにして、シリコン基板70の(100)面にカーボンナノウォールを成長(堆積)させた。本実験例ではカーボンナノウォールの成長時間を2時間とした。その間、必要に応じてヒータ25および図示しない冷却装置を用いることにより、基板70の温度を約600℃に保持した。成長時間は3時間である。このカーボンナノウォール73、74の高さは530nm、厚さは30nmである。
上記のようにしてn伝導型カーボンナノウォール73を形成した。次に、n伝導型カーボンナノウォール73の端面上に金をEB蒸着法により堆積し、第1電極75を形成した。また、p伝導型シリコン基板70の裏面に金をEB蒸着法により堆積し、第2電極76を形成した。このようにして、p伝導型シリコン基板70とn伝導型カーボンナノウォール73との接合によりpn接合を形成して、ダイオードを形成した。
このように形成したダイオードの電圧−電流特性を測定した。その結果を図3に示す。図3は、第1電極75の電位が第2電極76の電位よりも高くなる方向を電圧の正方向としている。第2電極76を正、第1電極75を負の電位とすると、電圧の増加に従って電流が指数関数的に増加することが観測された。一方、第1電極75を正、第2電極76を負の電位とすると、電圧を増加させても電流は流れなかった。このように、本実施例のダイオードは、典型的な整流特性を示した。
図4に示すように、n伝導型シリコン基板80上に、実施例1と同様にn伝導型カーボンナノウォール81を形成した。次に、N2 ガスとH2 ガスの供給を停止し、ラジカル源ガス36もオフとして、C26 ガスのみで放電を行った。このようにして、n伝導型カーボンナノウォール81の表面に、それを覆うように、p伝導型カーボンナノウォール82を成長させた。
次に、p伝導型カーボンナノウォール82の端面上に金をEB蒸着法により堆積し、第1電極85を形成した。また、n伝導型シリコン基板80の裏面に金をEB蒸着法により堆積し、第2電極86を形成した。このようにして、n伝導型カーボンナノウォール81とp伝導型カーボンナノウォール82との接合によりpn接合を形成して、ダイオードを形成した。
このように形成したダイオードの電圧−電流特性を測定した。その結果を図5に示す。図5は、第1電極85の電位が第2電極86の電位よりも高くなる方向を電圧の正方向としている。第1電極85を正、第2電極86を負の電位とすると、電圧の増加に従って電流が指数関数的に増加することが観測された。一方、第2電極86を正、第1電極85を負の電位とすると、電圧を増加させても電流は流れなかった。このように、本実施例のダイオードは、典型的な整流特性を示した。
図6に示すように、n伝導型シリコン基板90上に、実施例1と同様にn伝導型カーボンナノウォール91を形成した。次に、n伝導型カーボンナノウォール91の端面上に金をEB蒸着法により堆積し、第1電極95を形成した。また、n伝導型シリコン基板90の裏面に金をEB蒸着法により堆積し、第2電極96を形成した。このようにして、n伝導型カーボンナノウォール91と金から成る第1電極95との界面にショットキー障壁を形成した。このショットキー障壁により第1電極95を陽極、第2電極96を陰極とするダイオードを形成した。このダイオードの電圧−電流特性を測定した。その結果を図7の曲線Aに示す。
図7は、第1電極95の電位が第2電極96の電位よりも高くなる方向を電圧の正方向としている。第1電極95を正、第2電極96を負の電位とすると、電圧の増加に従って電流が指数関数的に増加することが観測された。一方、第2電極96を正、第1電極95を負の電位とすると、電圧を増加させても電流は、大きく増加しなかった。このように、本実施例のダイオードは、典型的な整流特性を示した。
なお、第1電極95を金に代えてアルミニウムにすると、電圧−電流特性は、図7の曲線Bに示すように、整流特性は見られなかった。すなわち、仕事関数の小さいアルミニウムの方が仕事関数の大きい金よりもオーミック性が良い。n型半導体に対しては、仕事関数が小さい金属の方がオーミック性が良いので、この図7の特性からもカーボンナノウォール91はn伝導型であることが分かる。
〔比較例〕
実施例1において、窒素ラジカルを導入することなく、カーボンナノウォールをn型シリコン基板、p型シリコン基板に成長させた。この場合の電圧−電流特性を図8に示す。n型シリコン基板上にカーボンナノウォールを成長させた場合には、図8の曲線Aのような特性を示し、p型シリコン基板上にカーボンナノウォールを成長させた場合には、図8の曲線Bのような特性を示した。前者の抵抗率は、1.5×104 Ω・cmであり、後者の抵抗率は4.1×104 Ω・cmで、高抵抗率を示した。
ダイオードは、図9の(a)に示すように、n−シリコン基板100の表面にアクセプタをドープしてp型領域102を形成し、そのp型領域102の上に、n導電型カーボンナノウォール105を形成して、ダイオードを形成しても良い。この場合には、第1電極103がn導電型カーボンナノウォール105の上端面に形成され、第2電極104はp型領域102に形成される。
また、ダイオードは、図9の(b)に示すように、n−シリコン基板100の上の酸化シリコン膜111の上に金属配線層112を形成し、その上に実施例2の構造のn導電型カーボンナノウォールと、その表面層に形成されたp伝導型カーボンナノウォールとの接合によるダイオード115を形成しても良い。そして、p伝導型カーボンナノウォールの上に第1電極113を形成し、金属配線層112の上に第2電極114を形成しても良い。また、図9の(a)、(b)に示すように、シリコン基板110にトランジスタTrを形成して、本実施例のダイオードと共に集積回路を構成することができる。
上記実施例では、カーボンナノウォールを用いたダイオードについて説明したが、カーボンナノチューブを用いても同様にダイオードを構成できると考えられる。カーボンナノウォールなどのカーボンナノ構造体をn伝導型にするのにN原子を用いたが、他のP、As、Sb、BiなどのV族元素、O,S,SeなどのVI族元素を用いることができる。また、p伝導型とするには、Fを用いたが、他のハロゲン原子、B、Al、Ga、In、TlなどのIII 族元素、Be,Mg,Ca,Sr,BaなどのII族元素を用いることができる。製造には、これらの元素を含む有機金属ガスを用いたプラズマCVDが用いられる。
本発明は、新規な構造のダイオードである。一般的に電子回路に用いることができる。
本発明のダイオードのカーボンナノウォールを製造する製造装置を示す模式図である。 本発明の具体的な実施例1に係るダイオードの構造を示した側面図。 実施例1のダイオードの整流特性を示す測定図。 本発明の具体的な実施例2に係るダイオードの構造を示した側面図。 実施例2のダイオードの整流特性を示す測定図。 本発明の具体的な実施例3に係るダイオードの構造を示した側面図。 実施例2のダイオードの整流特性を示す測定図。 比較例に係るダイオードの整流特性を示す測定図。 他の実施例に係るダイオードの構造を示した側面図。
2…カーボンナノウォール製造装置
70…p伝導型シリコン基板
80…n伝導型シリコン基板
73,81,91…n伝導型カーボンナノウォール
82…p伝導型カーボンナノウォール
10…反応室
14…ラジカル導入口
20…プラズマ放電手段
75,85,95…第1電極
76,86,96…第2電極

Claims (8)

  1. p伝導型半導体と、そのp伝導型半導体上に立設されたグラフェンシートの単層又は多重層から成る壁を有したn伝導型カーボンナノウォールと、
    前記n伝導型カーボンナノウォールの上端面に接続する第1電極と、
    前記p伝導型半導体に接続する第2電極と
    を有することを特徴とするダイオード。
  2. 基板と、
    前記基板上に立設されたグラフェンシートの単層又は多重層から成る壁を有したn伝導型カーボンナノウォールと、
    前記n伝導型カーボンナノウォールのグラフェンシートから成るそれぞれの壁面の表面に沿って壁面を覆うように形成された、グラフェンシートの単層又は多重層から成る壁を有したp伝導型カーボンナノウォールと
    を有するダイオード。
  3. 前記p伝導型カーボンナノウォールの上端面に接続する第1電極と、
    前記n伝導型カーボンナノウォールに接続する第2電極と
    を有することを特徴とする請求項2に記載のダイオード。
  4. 前記基板は、前記n伝導型半導体であり、前記第2電極は、前記基板に形成されていることを特徴とする請求項3に記載のダイオード。
  5. 前記p伝導型カーボンナノウォールは、その表面はフッ素原子で終端されていることを特徴とする請求項2乃至請求項4の何れか1項に記載のダイオード。
  6. 導電性領域と、
    前記導電性領域上に立設されたグラフェンシートの単層又は多重層から成る壁を有したn伝導型カーボンナノウォールと、
    前記n伝導型カーボンナノウォールの上端面に形成され、該n伝導型カーボンナノウォールとの界面にショットキー障壁を形成する第1電極と、
    前記導電性領域に接続する第2電極と
    を有するダイオード。
  7. 前記導電性領域は、n型半導体から成ることを特徴とする請求項6に記載のダイオード。
  8. 前記n伝導型カーボンナノウォールは、窒素プラズマの存在する雰囲気におけるプラズマCVDにより形成されたものであることを特徴とする請求項1乃至請求項7の何れか1項に記載のダイオード。
JP2005285662A 2005-09-29 2005-09-29 カーボンナノウォールを用いたダイオード Active JP5116961B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005285662A JP5116961B2 (ja) 2005-09-29 2005-09-29 カーボンナノウォールを用いたダイオード
PCT/JP2006/319368 WO2007037343A1 (ja) 2005-09-29 2006-09-28 カーボンナノ構造体を用いたダイオード及び光起電力素子
US11/992,751 US20100212728A1 (en) 2005-09-29 2006-09-28 Diode and Photovoltaic Device Using Carbon Nanostructure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005285662A JP5116961B2 (ja) 2005-09-29 2005-09-29 カーボンナノウォールを用いたダイオード

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007096135A JP2007096135A (ja) 2007-04-12
JP5116961B2 true JP5116961B2 (ja) 2013-01-09

Family

ID=37981449

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005285662A Active JP5116961B2 (ja) 2005-09-29 2005-09-29 カーボンナノウォールを用いたダイオード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5116961B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101479395B1 (ko) * 2013-03-08 2015-01-05 경희대학교 산학협력단 그래핀-부도체-반도체의 구조를 갖는 투과 다이오드, 투과 트랜지스터, 투과 광다이오드 및 투과 광트랜지스터

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2009143B1 (en) * 2007-05-08 2017-08-09 Imec Bipolar electroless deposition method
KR20100108351A (ko) 2007-11-27 2010-10-06 가꼬호징 조찌가꾸잉 Iii족 질화물 구조체 및 iii족 질화물 구조체의 제조방법
JPWO2009116502A1 (ja) * 2008-03-18 2011-07-21 日本電気株式会社 メンブレンスイッチ及びその製造方法
KR101294966B1 (ko) 2009-05-27 2013-08-09 주식회사 엘지화학 다이오드
JP5582744B2 (ja) * 2009-08-20 2014-09-03 日立造船株式会社 太陽電池およびその製造方法並びに太陽電池装置
JP6083191B2 (ja) * 2012-10-25 2017-02-22 株式会社Ihi 半導体デバイスの製造方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06184738A (ja) * 1992-08-26 1994-07-05 Mitsubishi Electric Corp 炭素薄膜の形成方法とその改質方法およびその改質方法を用いた電子デバイスおよびx線多層膜ミラーとその製造方法
JP3471263B2 (ja) * 1999-09-22 2003-12-02 株式会社東芝 冷陰極電子放出素子及びその製造方法
AU2003283973B2 (en) * 2002-09-30 2008-10-30 Oned Material Llc Large-area nanoenabled macroelectronic substrates and uses therefor
JP2004186245A (ja) * 2002-11-29 2004-07-02 Yyl:Kk カーボンナノチューブの製造方法とカーボンナノチューブ・デバイス
JP2004217462A (ja) * 2003-01-14 2004-08-05 National Institute For Materials Science コバルトのナノワイヤーを包含した窒化ホウ素ナノチューブとその製造方法
WO2005021430A1 (ja) * 2003-08-27 2005-03-10 Nu Eco Engineering Co., Ltd. カーボンナノウォールの製造方法、カーボンナノウォールおよび製造装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101479395B1 (ko) * 2013-03-08 2015-01-05 경희대학교 산학협력단 그래핀-부도체-반도체의 구조를 갖는 투과 다이오드, 투과 트랜지스터, 투과 광다이오드 및 투과 광트랜지스터

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007096135A (ja) 2007-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5242009B2 (ja) カーボンナノウォールを用いた光起電力素子
WO2007037343A1 (ja) カーボンナノ構造体を用いたダイオード及び光起電力素子
JP5116961B2 (ja) カーボンナノウォールを用いたダイオード
JP5054896B2 (ja) カーボンナノウォールの処理方法、カーボンナノウォール、カーボンナノウォールデバイス
JP5578548B2 (ja) カーボンナノウォールの選択成長方法および形成方法
JP3962420B2 (ja) カーボンナノウォールの製造方法、カーボンナノウォールおよび製造装置
US7589002B2 (en) Method of forming an oxygen- or nitrogen-terminated silicon nanocrystalline structure and an oxygen- or nitrogen-terminated silicon nanocrystalline structure formed by the method
US5902650A (en) Method of depositing amorphous silicon based films having controlled conductivity
JP4766895B2 (ja) カーボンナノウォールデバイス
JPH02239623A (ja) 安定化層及びその製法
US20030059968A1 (en) Method of producing field emission display
JP4762945B2 (ja) カーボンナノウォール構造体
RU2391738C2 (ru) Структура и способ изготовления полевых эмиссионных элементов с углеродными нанотрубками, используемыми в качестве катодов
JP4975289B2 (ja) カーボンナノウォールを用いた電子素子
JP5028593B2 (ja) 透明導電膜の製造方法
JP2004006205A (ja) 電極およびそれを用いた装置
JP2008239357A (ja) カーボンナノウォールの製造方法
JP2008045180A (ja) Dlc膜の形成方法及びdlc膜の製造装置
Choi et al. Field-emission characteristics of nitrogen-doped diamond-like carbon film deposited by filtered cathodic vacuum arc technique
JP5888685B2 (ja) カーボンナノウォールを用いた電子デバイス
JP2002352694A (ja) 電極、電子放出素子及びそれを用いた装置
JP4312331B2 (ja) 電子放出装置
JP3085407B2 (ja) 半導体電子放出素子
Ueda et al. Field-emission properties of Al: ZnO whisker emitters with various crystallite lengths and densities
CN117012649A (zh) 一种基于p型磊晶降低导通电阻的沟槽mosfet及制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080812

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120117

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120316

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120508

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120706

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121016

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121017

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5116961

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151026

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350