JP5113986B2 - 適応制御光学ミラー用mems素子 - Google Patents

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Description

本発明は、適応制御光学に関し、より詳細には適応制御光学に用いられる微小電子機械システム(MEMS)に関する。
本願の主題は、2004年2月5日出願の米国特許出願第10/772,847号、整理番号Greywall31の主題に関連し、同出願は参照により本明細書に組み込まれる。
適応制御光学は、光信号が伝播する環境が信号に及ぼすひずみについての情報を用いて、光信号を改善する光学の一分野である。この主題についての優れた入門書として「Principles of Adaptive Optics」by R.K.Tyson、Academic Press、San Diego、1991があり、その教示は参照により本明細書に組み込まれる。
適応制御光学要素の代表的な例は、波面センサによって駆動され、望遠鏡の像に影響を与える環境ひずみを補償するように構成された可変形ミラーである。自然に発生する大気中の小さな温度変化(約1℃)が、不規則に乱れた空気の動きを引き起こし、また大気密度の変化を引き起こし、その結果屈折率の変化を引き起こす。光線が伝播する経路に沿ったこれら変化の累積効果により、光線がふらついたり、広がったり、強度が変動したりすることが起こり得て、そのどれもが像の品質を低下させる。波面センサは、大気中で受けたひずみを測定し、可変形ミラーへのフィードバック信号を生成する素子である。フィードバック信号に基いて、光線のひずみを大幅に減少させるように可変形ミラーが変形し、それによって像の品質が改善される。
可変形ミラーでよく用いられるタイプの1つはセグメントに分割したミラーであり、このミラーでは、各セグメント(ピクセル)が個々に平行移動し、かつ/または回転することができる。多くの用途では、分割型ミラーは、(1)セグメントごとの平行移動/回転の大きさがそれぞれ1μm/10°程度であり、(2)ミラー全体としては、充填率が少なくとも98%である必要がある。しかし、従来技術による多くの設計では、これらの要求が互いに直接対立してしまい、満足することが難しく不可能なことすらある。たとえば、高充填率の要求に対する解決法としては、ミラー支持要素および駆動体をミラーの下に(下に隠して)配置することが考えられる。この配置による結果の一つとして、各セグメントがミラー面の下方に位置する軸の周りを回転することになり、その結果、回転中、ミラー面内の横方向変位を伴うことになる。この変位によって生じる隣接するミラー・セグメントとの物理的干渉を避けるために、セグメント同士の間に比較的大きな間隔が必要になる。しかしこうすると、充填率が大幅に低下する。
米国特許出願第10/772,847号 「Principles of Adaptive Optics」by R.K.Tyson、Academic Press、San Diego、1991 米国特許第6,201,631号 米国特許第5,629,790号 米国特許第5,501,893号
本発明の原理によれば、従来技術における問題点は、ミラー平面内に位置する軸まわりで可動ミラー・ピクセルが回転できるように、基板上に支持され、ミラー・ピクセルと基板の間に配置された作動アクチュエータに結合された、可動ミラー・ピクセルを有するMEMS素子によって対処される。
本発明の一つの実施形態では、作動アクチュエータが可動電極を有し、その可動電極上にミラー・ピクセルが取り付けられている。可動電極は1対の直立ばねによって基板上に支持されており、直立ばねのそれぞれが、ばねの一方の端部で互いに結合し、他方の端部では分離している平行な2つのセグメントを有する。分離しているセグメント端部の一方は基板に結合され、分離しているセグメント端部の他方は可動電極に結合されている。結合しているセグメント端部に対応する直立ばねの端部が基板から遠ざかる方に向けられて、(i)ミラー・ピクセル中の狭いスロットを貫通してばね本体が突き出し、(ii)直立ばねのほぼ中央にミラー面が来るようになっている。有利には、本発明の実施形態に従って実現されたミラー・ピクセルは、回転中の横方向変位が比較的小さく、ミラー支持構造体がミラー面内で占める表面積が比較的小さい。それにより、ミラー・ピクセルの間隔が密で約98%以上の充填率をもたらすセグメント型ミラーが実現できる。
本発明の別の実施形態では、MEMS素子は基板上に支持された直立ばねを有する。直立ばねは、ばねの一方の端部で互いに結合し、他方の端部では分離している2つのセグメントを有する。直立ばねは、結合しているセグメント端部の方が、分離しているセグメント端部より基板から遠くなるように基板に対して配置される。分離しているセグメント端部の一方は基板に結合され、分離している端部の他方ははさみ型動作により最初の一方の端部に対して移動できるようになされている。
図1は、本発明の原理にしたがって構成された、適応制御光学ミラーのピクセルを動かすのに用いることができる例示的なMEMS素子100を示す3次元透視図である。素子100は、作動アクチュエータ110に結合された可動プレート102を有する。プレート102は、プレートと、基板170に取り付けられた支柱104a、bの1つとの間にそれぞれ連結された1対のトーション・ロッド106a、bによって支持される。ロッド106a、bは、図1の破線ABで示されるプレート102の回転軸を規定する。
アクチュエータ110は、2個の側方電極112a、bおよび中間電極114で形成されるフリンジフィールドアクチュエータである。側方電極112aおよびbは基板170に取り付けられ、したがって静止している。それとは逆に、中間電極114は、リンク・ロッド116によってプレート102に取り付けられ、したがってプレートと共に基板170に対して動くことができる。中間電極114が側方電極112の1つに向かって動くと、リンク・ロッド116が中間電極の動きをプレート102に伝え、それによりプレートが軸ABの周りを回転する。
側方電極112のそれぞれは、絶縁層180によって基板170から電気的に絶縁されており、基板に対して電気的にバイアスさせることができる。それとは逆に、中間電極114は、リンク・ロッド116、プレート102、トーション・ロッド106、および支柱104を介して基板170に電気的に接触している。したがって、電極112および114を相互に電気的にバイアスさせて、プレート102を動かすことができる。たとえば、側方電極112aを中間電極114に対してバイアスさせ側方電極112bはバイアスさせずにおくと、中間電極はバイアスさせた電極に向かって引き寄せられ、それにより、それに対応する方向にプレート102が回転する。トーション・ロッド106の歪弾性力が電極間の静電引力と釣り合うと、プレート102が静止する。バイアスが除かれると、弾性力によってプレート102および中間電極114は初期位置に戻る。同様に、側方電極112bを中間電極114に対してバイアスさせ側方電極112aはバイアスさせずにおくと、プレート102は反対方向へ回転する。
図2A〜Cに本発明の別の実施形態を示す。より具体的には、図2AはMEMS素子200の3次元透視図であり、図2Bは素子200に用いられるばね206の3次元透視図であり、図2Cはプレートの回転可能範囲を示す素子200の側面図である。
図2Aを参照すると、素子200は図1の素子100に類似しており、同様に適応制御光学ミラーのピクセルを実現するのに用いることができる。素子200は、基板270上に支持され、素子100のアクチュエータ110と同様な作動アクチュエータ210に結合された可動プレート202を有する。ただし、素子100のトーション・ロッド106a、bの代わりに、素子200では直立ばね206a、bが使用され、図2Bにその1つを詳細に示す。次に図2Aおよび図2Bを参照すると、各直立ばね206は2つの基部226a、bを有し、その一方は支持柱204a、bのうちの対応する1本に結合され、他方はアクチュエータ210の中間電極214に結合されている。各直立ばね206は、2つのばねセグメント228a、bを有し、そのばねセグメント228a、bは、図2Cに示すように、プレート202には接触せずに、プレートのスロット(開口)208を通って突き出ている。ばねセグメント228aとbは直立ばね206の上端でブリッジ230によって結合されている。好ましい実装形態では、セグメント228の幅および厚さ(Wsegおよびtseg)は、直立ばね206が、図2Cに示す「はさみ」型のばね変形を比較的容易に許しながら、基板270の面に直交する方向に沿う圧縮に耐える(すなわち長手方向に高い剛性を有する)ような幅および厚さである。
次に図2Cを参照すると、中間電極214が図2Aに示すバイアスされていない位置から動かされると、直立ばね206の一方の基部は中間電極と一緒に動くが、支柱204にしっかり取り付けられた他方の基部は静止したままである。直立ばね206が長手方向の剛性をもつので、このばねの可動基部に取り付けられた構造物の動きは、図2Cに符号Pで示すばねの中間点(すなわち、半分の長さ)を通る軸周りの単なる回転によって極めて良く近似されることが分かる。したがって、リンク・ロッド216が直立ばね206の約半分の長さLをもつ場合には、プレート202は、素子100(図1)のプレート102と同様にプレート202の面内に位置する軸の周りを回転する。素子200のいくつかの実装形態では、プレート202の面内でスロット208が占める表面積を、素子100で、プレート102の面内で支柱104およびトーション・ロッド106が占有する対応する面積より大幅に小さくすることができる。これにより、素子200の充填率が素子100の充填率に比べて増加する。
図3に、本発明のさらに別の実施形態によるMEMS素子300を示す。素子300と素子200(図2)は類似しており、両素子の類似の構成要素には、最後の2桁が同じ符号が付されている。ただし、素子300と200の違いの1つは、素子300が、中間電極214の代わりにクレードル構造物334をもつことである。電極214(図2)と同様に、直立ばね306a、bが変形すると、クレードル構造物334が全体として動くことができ、それによりプレート302が基板370に対して回転することができる。しかも、基板370に対する回転に加えて、クレードル構造物334によって、プレート302がZ軸に沿ってクレードル構造物に対するピストン運動ができるようになる。
クレードル構造物334は、可動プレート332を有し、その上にプレート302が、リンク・ロッド316を用いて取り付けられている。プレート332は、プレート332の面外への変位を許容する1対の蛇行ばね336でクレードル基底338の上に懸架されている。プレート332下方でクレードル基底338に取り付けられた駆動電極342が、プレート332と一緒になって、プレート302を変位させるのに使用できる平行板アクチュエータを形成する。たとえば、電極342がプレート332に対してバイアスされると、静電引力を発生してプレート332を電極に向かって引き付け、それによりプレート302がクレードル構造物334に対して変位する。バイアスが除かれると、ばね336がプレート332および302を初期位置に戻す。
図4に、本発明のさらに別の実施形態によるMEMS素子400の3次元透視図を示す。図2の素子200と同様に、素子400は可動プレートをそのプレートの面内に位置する軸周りに回転させる。ただし、可動プレートが単一の軸周りに回転する素子200とは違って、素子400の可動プレートは異なる2軸の周りを回転することができ、それにより、プレートを所望のいかなる方向にでも傾けられる能力が得られる。
素子400は、基板470上に支持され、作動アクチュエータ410に結合された可動プレート402を有する。プレート402は、外側リング452および内側ディスク454を有するジンバル構造450上にリンク・ロッド416を用いて取り付けられている。外側リング452は1対の直立ばね406a、bによって支持され、直立ばねはそれぞれ、外側リングと、基板470に取り付けられた支柱404a、bの1つとの間に取り付けられている。内側ディスク454は、内側ディスクと外側リング452との間にそれぞれ取り付けられたもう1対の直立ばね406c、dによって支持される。直立ばね406a〜dはそれぞれ、図2Bに示された直立ばね206に類似し、プレート402の対応するスロット408を通って突き出ている。好ましい実装形態では、リンク・ロッド416の長さはばね406の長さの約半分であり、その結果、ばね406a、bで規定される回転軸(図4の軸AB)および軸406c、dで規定される回転軸(図4の軸CD)がプレート402の面内に来る。図4の実施形態では軸ABと軸CDは互いに直交しているが、別の軸方向を用いることもできる。
アクチュエータ410は、3個の側方電極412a〜cおよび中間電極414を備えるフリンジフィールドアクチュエータである。各側方アクチュエータ412は、たとえば図2Aの側方電極212に類似し、中間電極414は図2Aの中間電極214に類似している。中間電極414が初期位置から側方電極412に向かって偏位すると、リンク・ロッド456が中間電極の動きをジンバル構造450の内側ディスク454に伝え、それにより、さらに以下に説明するように内側ディスクを回転させる。
中間電極414が偏位する方向は、側方電極412a〜cに加えられる電圧によって決まる。一般に、中間電極414は、バイアス電圧を適切に組み合わせて加えることによって、選択されたいかなる方向にでも偏位させることができる。たとえば、基板470に直交し軸ABを通る平面が側方電極412bの対称面であると仮定する。すると、側方電極412bが中間電極414に対してバイアスされ、他の側方電極412aおよび412cはバイアスされていないときは、中間電極は電極412bに向かって、軸ABの基板470上への投影に沿って引き寄せられる。その結果、ディスク454が、したがってプレート402が軸CD周りに回転する。同様に、中間電極414を軸CDの投影に沿って引き寄せるように電極412a〜cをバイアスさせると、ディスク454とプレート402は軸AB周りに回転する。中間電極414を任意の方向に偏位させることにより、一般に、ディスク454とプレート402が軸ABおよび軸CD両方の周りを回転することが、当業者には理解されよう。
本発明の素子を製造するのに種々の製造技術を使用することができる。ある実施形態では、上記で参照した米国特許出願第10/772,847号に開示されているのと同様な製造方法が使用できる。簡潔にいうと、製造方法はシリコン・オン・インシュレータ(SOI)ウェーハで始まり、当業者には周知の一連のパターニング、エッチング、およびデポジション工程に続く。パターニング工程はリソグラフィを用いて実施する。エッチング工程は材質に特定のエッチング、たとえば種々のシリコン層に対してはリアクティブ・イオン・エッチング(RIE)、また種々の酸化シリコン層に対してはフッ素をベースにしたエッチングを用いて実施する。デポジション工程は、たとえば化学的気相成長を用いて実施する。さらに別の様々な製造工程の記述を、米国特許第6,201,631号、第5,629,790号、および第5,501,893号に見ることができ、それらの教示は参照により本明細書に組み込まれる。
米国特許出願第10/772,847号でも可撓性の垂直ビームの製造法を開示しており、その垂直ビームは、どちらのタイプの構造も基板の面に実質的に垂直に延びているという点で、本発明のいくつかの実施形態(たとえば図2のばね206)の垂直ばねと類似している。ただし、可撓性垂直ビームは可動プレートと基板の間の空間内に限られているが、垂直ばねは対応する可動プレートを貫通して突き出している。この違いがあるので、垂直ばねの突き出し構造を作り出すことに関連する製造工程を以下により詳しく説明する。
図5A〜Fに、本発明の一実施形態による素子200の代表的な製造工程を概略的に示す。より具体的には、図5A、5C、および5Eは、それぞれの製造工程中の素子200の上面図であり、図5B、5D、および5Fはそれらに対応する側面断面図である。
図5A、Bを参照すると、ある実施形態では、(i)2つのシリコン層、すなわちハンドル・レイヤ562およびオーバ・レイヤ566と、(ii)オーバ・レイヤ566とハンドル・レイヤ562の間に配置された酸化シリコン層564とを有するシリコン・オン・インシュレータ(SOI)ウェーハから、素子500の製造が始まる。プレート502を、リアクティブ・エッチングを用いてオーバ・レイヤ566中に形成する。そのエッチングは酸化シリコン層で止まる。開口208a、b(図2も参照)を、オーバ・レイヤ566および酸化シリコン層564の対応する部分をエッチングで取り除いて作り出す。時限式のエッチングをハンドル・レイヤ562に適用して、将来の直立ばね206がプレート202の上に突き出す(図2参照)長さに対応する深さを有する縦穴を作り出す。
図5C、Dを参照すると、先ず、相対的に厚い(たとえば5μm)酸化シリコン層568を、図5A、Bの構造上に堆積させる。次いで、プレート202と中間電極214を連結するリンク・ロッド216用の開口580を形成するために、層568をパターニングし、エッチングする。次いで、薄い(たとえば1μm)多結晶シリコン層572を、層568の上に堆積させる。層572の開口580を満たす部分が、リンク・ロッド216を作り出す。最後に、開口208に対応する縦穴から多結晶シリコンを取り除くために、層572をパターニングし、エッチングする。
図5E、Fを参照すると、先ず、薄い(たとえば0.5μm)多結晶シリコン層574を、図5C、Dの構造上に堆積する。この層は、開口208に対応する縦穴の縦壁を含めて、その構造の露出面を全て覆う。次いで、層572および574を含む複合シリコン層を、パターニングしエッチングして、中間電極214、側方電極212、および直立ばね206を形成する。詳細には、直立ばね206のブリッジ230(図2B参照)は、レイヤ574の、対応する縦穴の底部に位置する部分から形成され、直立ばね206のばねセグメント228a、b(図2B参照)は、層574の、縦穴の縦壁の1つに位置する部分から形成され、直立ばね206の2つの基部226a、bは、層574の、縦穴の上端周辺近くに堆積した部分から形成される。酸化シリコン568が、直立ばね206がプレート202に接触するのを防いでいることに留意されたい。
製造工程はさらに直截的に続き、支持柱204a,bおよび基板270を図5E、Fの構造の上に形成(図2も参照)する。酸化層を全て取り除く(たとえばエッチングで取り除く)と、素子200の最終構造が現れる。酸化シリコン層564および568が取り除かれた後は、ハンドル(・シリコン)・レイヤ562が最終構造からすっかり分離することに留意されたい。また、図5B、5D、および5Fに示した図は、図2Aに示した図に対し転倒している(逆さになっている)ことにも留意されたい。
本発明を例示的な実施形態に関して説明してきたが、この説明を限定的な意味に解釈すべきではない。本発明に関する技術分野の技術者にとって明らかな、ここに記述された実施形態に対する様々な変更形態、ならびに本発明の他の実施形態は、添付の特許請求の範囲に記述された本発明の原理および範囲に含まれるものとみなされる。
本発明によるMEMS素子の製造法を、シリコン/酸化シリコンSOIを使用する場合について説明してきたが、ゲルマニウム補償シリコンのような他の適切な材料を同様に用いてもよい。材料は、公知のように適当に不純物を添加してもよい。それぞれの表面は、たとえば反射率および/または導電率を向上させるために金属を堆積したり、機械的強度を向上するためにイオンを注入したりして、修正してもよい。異なる形状のプレート、ばね、セグメント、ロッド、支柱、アクチュエータ、電極および/または他の素子要素/構造物を、本発明の原理および範囲から逸脱することなく用いることができる。ばねは、種々の形状および大きさを取ることができ、ここで、用語「ばね」とは、一般に、変形した後に元の形状に戻ることができる適切な弾性構造体の全てを指す。直立ばねのばねセグメントは、互いに平行でも、平行でなくてもよい。ミラー・セグメント中の開口(たとえば図2の開口208)は、前記ミラー・セグメントにすっかり囲まれていても、そうでなくてもよい。あるいは、ミラー・セグメントは、直立ばねが前記ミラー・セグメントの外縁の外側を通るような形状でもよい。リンク・ロッド(たとえば図2のリンク・ロッド216)の長さは、対応するミラー・セグメントの回転軸がそのセグメントの面内に来ないように選択してもよい。本発明の様々なMEMS素子を、必要に応じて、かつ/または当分野の技術者にとって自明なように配列することができる。
本発明の一実施形態に従うMEMS素子の3次元透視図である。 本発明の別の実施形態によるMEMS素子の図である。 本発明の別の実施形態によるMEMS素子の図である。 本発明の別の実施形態によるMEMS素子の図である。 本発明のさらに別の実施形態によるMEMS素子の断面図である。 本発明のさらに別の実施形態によるMEMS素子の3次元透視図である。 図2に示す本発明の一実施形態による素子の代表的な製造工程を示す図である。 図2に示す本発明の一実施形態による素子の代表的な製造工程を示す図である。 図2に示す本発明の一実施形態による素子の代表的な製造工程を示す図である。 図2に示す本発明の一実施形態による素子の代表的な製造工程を示す図である。 図2に示す本発明の一実施形態による素子の代表的な製造工程を示す図である。 図2に示す本発明の一実施形態による素子の代表的な製造工程を示す図である。

Claims (13)

  1. 基板から第1の偏位距離のところに懸架された回転可能な物体を備え、前記回転可能な物体は、前記基板に対して前記物体を移動するようになされた作動アクチュエータの一部であり、さらに、
    前記回転可能な物体に取り付けられ、前記第1の偏位距離よりも遠い前記基板からの第2の偏位距離のところに位置する第1のプレートを備え、前記第1のプレートは、前記第1のプレートの面内に位置する回転軸の周りで前記回転可能な物体とともに前記基板に対して回転するようになされており、さらに、
    前記回転可能な物体と前記基板との間に結合された直立ばねを備え、
    前記直立ばねが、前記直立ばねの一方の端部で互いに結合し、前記直立ばねの他方の端部では分離している2つのセグメントを含み、
    分離しているセグメント端部の一方が前記基板に結合され、分離しているセグメント端部の他方が、前記回転可能な物体に結合され、前記基板に対して移動できるようになされ、
    前記直立ばねと前記作動アクチュエータとは、前記回転軸の周りで前記回転可能な物体と前記第1のプレートとを回転させることができ、そして、
    前記回転可能な物体は、前記第1のプレートに結合され、前記第1のプレートと前記基板の間に配置された可動電極であり、前記可動電極が前記基板に対して移動するとき、前記第1のプレートが前記回転軸の周りで回転する、MEMS素子。
  2. 前記回転可能な物体が前記基板上に1対の直立ばねによって支持され、各ばねが前記可動電極と前記基板の間に結合され、前記1対の直立ばねが回転軸を規定する、請求項1に記載の素子。
  3. 前記基板に結合された1つまたは複数の静止電極をさらに備え、
    前記可動電極が前記静止電極の1つに向かって移動するとき、前記第1のプレートが前記回転軸周りに回転し、
    前記可動電極と前記1つまたは複数の静止電極がフリンジアクチュエータを形成し、
    前記可動電極および前記1つまたは複数の静止電極が、積層ウェーハのただ1つの層を用いて形成される、請求項1に記載の素子。
  4. 基板から第1の偏位距離のところに懸架された回転可能な物体を備え、前記回転可能な物体は、前記基板に対して前記物体を移動するようになされた作動アクチュエータの一部であり、さらに、
    前記回転可能な物体と前記基板との間に結合された直立ばねを備え、
    前記直立ばねが、前記直立ばねの一方の端部で互いに結合し、前記直立ばねの他方の端部では分離している2つのセグメントを含み、
    分離しているセグメント端部の一方が前記基板に結合され、分離しているセグメント端部の他方が、前記回転可能な物体に結合され、前記基板に対して移動できるようになされ、
    前記直立ばねと前記作動アクチュエータとは、前記第1の偏位距離より遠い距離だけ前記基板から偏位する回転軸の周りで前記物体を回転させることができる、MEMS素子。
  5. 前記回転可能な物体上に取り付けられ、前記第1の偏位距離より遠い、前記基板から第2の偏位距離のところに配置された構造物をさらに備え、
    前記直立ばねが、前記基板から前記構造物の先まで延び、前記構造物中の開口を貫通して突き出る、請求項4に記載の素子。
  6. 前記回転可能な物体が、外側の部分構造体と内側の部分構造体とを備え、
    前記内側の部分構造体は、前記外側の部分構造体に対して移動できるようになされ、前記外側の構造体は、前記基板に対して移動できるようになされ、
    前記素子が2対の直立ばねを備え、一方の対の各ばねは、前記基板と前記外側の部分構造体の間に結合され、他方の対の各ばねは、前記外側の部分構造体と前記内側の部分構造体の間に結合されている、請求項4に記載の素子。
  7. 前記回転可能な物体が、
    基部と、
    前記基部に移動可能に結合された部分構造体と、
    前記部分構造体を前記基部に対して平行移動させるようになされた作動アクチュエータとを備え、
    前記作動アクチュエータが平行板アクチュエータである、請求項4に記載の素子。
  8. 結合しているセグメント端部の方が、分離しているセグメント端部より前記基板から遠い距離のところに来るように、前記直立ばねが前記基板に対して配置され、
    前記直立ばねが、分離しているセグメント端部をはさみ型の動作で開くようになされる、請求項に記載の素子。
  9. 前記回転可能な物体に取り付けられ、前記第1の偏位距離よりも遠い前記基板からの第2の偏位距離のところに位置する構造体をさらに含み、前記構造体は、前記回転可能な物体とともに移動するよう機械的に結合される、請求項4に記載の素子。
  10. 前記構造体はプレートを備え、前記回転軸は前記プレートの面内に位置する、請求項に記載の素子。
  11. 前記回転可能な物体と前記構造体とが、リンク・ロッドで結合された2つの平行なプレートを備える、請求項に記載の素子。
  12. 前記構造体が、セグメント化されたミラーのピクセルである、請求項に記載の素子。
  13. 前記回転可能な物体は前記作動アクチュエータの可動電極であり、前記作動アクチュエータはさらに、前記基板に結合された1つまたは複数の静止電極をさらに備える、請求項4に記載の素子。
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