JP5094769B2 - ウエハの検査方法、ウエハ検査装置および半導体集積回路装置の製造方法 - Google Patents
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(a)表面に複数の第1の回路パターン群が形成された検査対象のウエハを用意する工程、
(b)前記ウエハの表面に第1の波長の照射光を照射することで散乱する散乱光を集光し、前記複数の第1の回路パターン群のうちの1つを対象として撮像した第1の画像を取得する工程、
(c)前記ウエハの表面に前記第1の波長の前記照射光を照射することで散乱する前記散乱光を集光し、前記(b)工程で対象とした前記第1の回路パターン群以外の2つの前記第1の回路パターン群のそれぞれを対象として撮像した第2の画像および第3の画像を取得する工程、
(d)前記第1の画像と前記第2の画像とを比較し、さらに前記第1の画像と前記第3の画像とを比較して、前記第1の画像中の前記第1の回路パターン群における欠陥の有無を判別し、前記第1の画像が表示する前記第1の回路パターン群の面積から欠陥密度を算出する工程、
(e)前記(b)工程〜前記(d)工程を前記複数の第1の回路パターン群の全てに対して実施する工程、
(f)前記ウエハの前記表面における前記欠陥密度の分布から、前記欠陥を発生させた原因を解析する工程、
を含み、
前記第1の画像、前記第2の画像および前記第3の画像は、それぞれ複数の第1のポイント、複数の第2のポイントおよび複数の第3のポイントかならなる電子データとして取得し、
前記(d)工程は、
(d1)それぞれ対応する位置の前記第1のポイント、前記第2のポイントおよび前記第3のポイントのうちの2つ以上において、所定の第1の輝度以下である場合に、前記第1のポイントの1つ分に相当する面積を積算し、(d2)工程へ進む工程、
(d2)前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第2のポイントとの第1の差画像と、前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第3のポイントとの第2の差画像の両方が、予め設定したしきい値である第2の輝度以上である場合に、前記欠陥の数を積算する工程、
(d3)前記(d1)工程を前記複数の第1のポイント、前記複数の第2のポイントおよび前記複数の第3のポイントのすべてにおいて実施する工程、
(d4)前記(d3)工程後、前記(d1)で求めた前記面積の積算値と、前記(d2)工程で求めた前記欠陥の積算数とから、前記欠陥密度を算出する工程、
を含むものである。
表面に複数の第1の回路パターン群が形成された検査対象のウエハを載置するステージと、
前記ウエハの表面に第1の波長の照射光を照射する光源と、
前記照射光の前記ウエハの前記表面への照射により散乱する散乱光を集光する集光手段と、
前記集光手段が集光した前記散乱光から前記複数の第1の回路パターン群のうちの1つを対象とした第1の画像と、前記集光手段が集光した前記散乱光から前記複数の第1の回路パターン群のうちの他の2つそれぞれを対象とした第2の画像および第3の画像とを形成する画像形成手段と、
前記第1の画像と前記第2の画像とを比較し、さらに前記第1の画像と前記第3の画像とを比較して、前記第1の画像中の前記第1の回路パターン群における欠陥の有無を判別し、前記第1の画像が表示する前記第1の回路パターン群の面積から欠陥密度を算出する演算手段と、を有し、
前記第1の画像、前記第2の画像および前記第3の画像は、それぞれ複数の第1のポイント、複数の第2のポイントおよび複数の第3のポイントかならなる電子データとして取得し、
前記演算手段は、
(a)それぞれ対応する位置の前記第1のポイント、前記第2のポイントおよび前記第3のポイントのうちの2つ以上において、所定の第1の輝度以下である場合に、前記第1のポイントの1つ分に相当する面積を積算し、(b)工程へ進む工程、
(b)前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第2のポイントとの第1の差画像と、前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第3のポイントとの第2の差画像の両方が、予め設定したしきい値である第2の輝度以上である場合に、前記欠陥の数を積算する工程、
(c)前記(a)工程を前記複数の第1のポイント、前記複数の第2のポイントおよび前記複数の第3のポイントのすべてにおいて実施する工程、
(d)前記(c)工程後、前記(a)で求めた前記面積の積算値と、前記(b)工程で求めた前記欠陥の積算数とから、前記欠陥密度を算出する工程、
を含む工程から前記欠陥密度を算出し、
前記第1の画像中の前記第1の回路パターン群における前記欠陥の有無を判別し、前記第1の画像が表示する前記第1の回路パターン群の面積から前記欠陥密度を算出する処理は、前記複数の第1の回路パターン群の全てに対して実施し、
前記ウエハの前記表面における前記欠陥密度の分布から、前記欠陥を発生させた原因を解析するものである。
(a)表面に複数の第1の回路パターン群が形成された検査対象のウエハを用意する工程、
(b)前記ウエハの表面に第1の波長の照射光を照射することで散乱する散乱光を集光し、前記複数の第1の回路パターン群のうちの1つを対象として撮像した第1の画像を取得する工程、
(c)前記ウエハの表面に前記第1の波長の前記照射光を照射することで散乱する前記散乱光を集光し、前記(b)工程で対象とした前記第1の回路パターン群以外の2つの前記第1の回路パターン群のそれぞれを対象として撮像した第2の画像および第3の画像を取得する工程、
(d)前記第1の画像と前記第2の画像とを比較し、さらに前記第1の画像と前記第3の画像とを比較して、前記第1の画像中の前記第1の回路パターン群における欠陥の有無を判別し、前記第1の画像が表示する前記第1の回路パターン群の面積から欠陥密度を算出する工程、
(e)前記(b)工程〜前記(d)工程を前記複数の第1の回路パターン群の全てに対して実施する工程、
(f)前記ウエハの前記表面における前記欠陥密度の分布から、前記欠陥を発生させた原因を解析する工程、
を含み、
前記第1の画像、前記第2の画像および前記第3の画像は、それぞれ複数の第1のポイント、複数の第2のポイントおよび複数の第3のポイントかならなる電子データとして取得し、
前記(d)工程は、
(d1)それぞれ対応する位置の前記第1のポイント、前記第2のポイントおよび前記第3のポイントのうちの2つ以上において、所定の第1の輝度以下である場合に、前記第1のポイントの1つ分に相当する面積を積算し、(d2)工程へ進む工程、
(d2)前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第2のポイントとの第1の差画像と、前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第3のポイントとの第2の差画像の両方が、予め設定したしきい値である第2の輝度以上である場合に、前記欠陥の数を積算する工程、
(d3)前記(d1)工程を前記複数の第1のポイント、前記複数の第2のポイントおよび前記複数の第3のポイントのすべてにおいて実施する工程、
(d4)前記(d3)工程後、前記(d1)で求めた前記面積の積算値と、前記(d2)工程で求めた前記欠陥の積算数とから、前記欠陥密度を算出する工程、
を含むものである。
2 光源
3 反射鏡
4 集光レンズ
5 光電変換器(輝度測定手段)
6 A/D変換部
7 判定部(画像形成手段)
8 ステージコントローラ
9 全体制御部(演算手段)
10 照明光学系
11 検出光学系(集光手段)
12 ウエハ
13 照射光
14 反射光
15 散乱光
16、16A、16B、16C チップ
17 パターン部
18A、18B 欠陥部
19 パターン無し部(第1の回路パターン群)
20 メモリセル部(第1の回路パターン群)
21A、21B 差画像
22A、22B、22C、22D 差部分
23 検査設定画面
24 製造装置名
25 検査面積出力モード
26 検査スタートボタン
27 検査結果画面
28 欠陥密度トレンド
S1〜S6、S41〜S45 工程
Claims (22)
- (a)表面に複数の第1の回路パターン群が形成された検査対象のウエハを用意する工程、
(b)前記ウエハの表面に第1の波長の照射光を照射することで散乱する散乱光を集光し、前記複数の第1の回路パターン群のうちの1つを対象として撮像した第1の画像を取得する工程、
(c)前記ウエハの表面に前記第1の波長の前記照射光を照射することで散乱する前記散乱光を集光し、前記(b)工程で対象とした前記第1の回路パターン群以外の2つの前記第1の回路パターン群のそれぞれを対象として撮像した第2の画像および第3の画像を取得する工程、
(d)前記第1の画像と前記第2の画像とを比較し、さらに前記第1の画像と前記第3の画像とを比較して、前記第1の画像中の前記第1の回路パターン群における欠陥の有無を判別し、前記第1の画像が表示する前記第1の回路パターン群の面積から欠陥密度を算出する工程、
(e)前記(b)工程〜前記(d)工程を前記複数の第1の回路パターン群の全てに対して実施する工程、
(f)前記ウエハの前記表面における前記欠陥密度の分布から、前記欠陥を発生させた原因を解析する工程、
を含み、
前記第1の画像、前記第2の画像および前記第3の画像は、それぞれ複数の第1のポイント、複数の第2のポイントおよび複数の第3のポイントかならなる電子データとして取得し、
前記(d)工程は、
(d1)それぞれ対応する位置の前記第1のポイント、前記第2のポイントおよび前記第3のポイントのうちの2つ以上において、所定の第1の輝度以下である場合に、前記第1のポイントの1つ分に相当する面積を積算し、(d2)工程へ進む工程、
(d2)前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第2のポイントとの第1の差画像と、前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第3のポイントとの第2の差画像の両方が、予め設定したしきい値である第2の輝度以上である場合に、前記欠陥の数を積算する工程、
(d3)前記(d1)工程を前記複数の第1のポイント、前記複数の第2のポイントおよび前記複数の第3のポイントのすべてにおいて実施する工程、
(d4)前記(d3)工程後、前記(d2)工程で求めた前記欠陥の積算数を前記(d1)工程で求めた前記面積の積算値で除し、前記欠陥密度を算出する工程、
を含み、
前記欠陥は、前記ウエハの前記表面への異物の付着、または前記第1の回路パターン群を形成する回路パターンの形状の異常であり、
前記第1の輝度は、前記第1のポイント、前記第2のポイントおよび前記第3のポイントのそれぞれの輝度を測定する輝度測定手段による測定結果にノイズが発生し始める低さの値であり、
前記輝度測定手段においては、予め前記第1の回路パターン群の同位置における前記輝度を所定回測定することで前記ノイズが発生しているか否かを判定して、前記第1の輝度が決定されていることを特徴とするウエハの検査方法。 - 請求項1記載のウエハの検査方法において、
前記ウエハの表面には複数のチップ領域が区画され、
前記(b)工程および前記(c)工程で撮像の対象とする3つの前記第1の回路パターン群は、それぞれ異なる前記チップ領域に形成されていることを特徴とするウエハの検査方法。 - 請求項2記載のウエハの検査方法において、
前記ウエハの表面における前記欠陥が検出された前記チップ領域の位置を記録し、ウエハマップを作成することを特徴とするウエハの検査方法。 - 請求項2記載のウエハの検査方法において、
前記ウエハの表面に区画された複数のチップ領域には、異なる品種が混在し、
前記(b)〜(f)工程は、同種の前記チップ領域別に行うことを特徴とするウエハの検査方法。 - 請求項2記載のウエハの検査方法において、
前記(a)工程では、前記検査対象の前記ウエハを複数枚用意し、
前記(b)工程および前記(c)工程で撮像の対象とする3つの前記第1の回路パターン群は、それぞれ異なる前記ウエハにおける同じ位置の前記チップ領域に形成されていることを特徴とするウエハの検査方法。 - 請求項1記載のウエハの検査方法において、
前記第1の回路パターン群は、同一の回路パターンが連続して配置されることで形成されていることを特徴とするウエハの検査方法。 - 請求項6記載のウエハの検査方法において、
前記照射光の前記第1の波長は、前記回路パターンの加工寸法より大きいことを特徴とするウエハの検査方法。 - 請求項1記載のウエハの検査方法において、
前記欠陥を発生させた前記原因の解析結果を基に、前記欠陥を発生させた前記原因となるウエハ処理装置を特定し、前記ウエハ処理装置の調整を行うことを特徴とするウエハの検査方法。 - 表面に複数の第1の回路パターン群が形成された検査対象のウエハを載置するステージと、
前記ウエハの表面に第1の波長の照射光を照射する光源と、
前記照射光の前記ウエハの前記表面への照射により散乱する散乱光を集光する集光手段と、
前記集光手段が集光した前記散乱光から前記複数の第1の回路パターン群のうちの1つを対象とした第1の画像と、前記集光手段が集光した前記散乱光から前記複数の第1の回路パターン群のうちの他の2つそれぞれを対象とした第2の画像および第3の画像とを形成する画像形成手段と、
前記第1の画像と前記第2の画像とを比較し、さらに前記第1の画像と前記第3の画像とを比較して、前記第1の画像中の前記第1の回路パターン群における欠陥の有無を判別し、前記第1の画像が表示する前記第1の回路パターン群の面積から欠陥密度を算出する演算手段と、を有し、
前記第1の画像、前記第2の画像および前記第3の画像は、それぞれ複数の第1のポイント、複数の第2のポイントおよび複数の第3のポイントかならなる電子データとして取得し、
前記演算手段は、
(a)それぞれ対応する位置の前記第1のポイント、前記第2のポイントおよび前記第3のポイントのうちの2つ以上において、所定の第1の輝度以下である場合に、前記第1のポイントの1つ分に相当する面積を積算し、(b)工程へ進む工程、
(b)前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第2のポイントとの第1の差画像と、前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第3のポイントとの第2の差画像の両方が、予め設定したしきい値である第2の輝度以上である場合に、前記欠陥の数を積算する工程、
(c)前記(a)工程を前記複数の第1のポイント、前記複数の第2のポイントおよび前記複数の第3のポイントのすべてにおいて実施する工程、
(d)前記(c)工程後、前記(b)工程で求めた前記欠陥の積算数を、前記(a)工程で求めた前記面積の積算値で除し、前記欠陥密度を算出する工程、
を含む工程から前記欠陥密度を算出し、
前記欠陥は、前記ウエハの前記表面への異物の付着、または前記第1の回路パターン群を形成する回路パターンの形状の異常であり、
前記画像形成手段は、前記第1のポイント、前記第2のポイントおよび前記第3のポイントのそれぞれの輝度を測定し、
前記第1の輝度は、前記画像形成手段による測定結果にノイズが発生し始める値であり、
前記画像形成手段においては、予め前記第1の回路パターン群の同位置における前記輝度を所定回測定することで前記ノイズが発生しているか否かを判定して、前記第1の輝度が決定され、
前記第1の画像中の前記第1の回路パターン群における前記欠陥の有無を判別し、前記第1の画像が表示する前記第1の回路パターン群の面積から前記欠陥密度を算出する処理は、前記複数の第1の回路パターン群の全てに対して実施し、
前記ウエハの前記表面における前記欠陥密度の分布から、前記欠陥を発生させた原因を解析することを特徴とするウエハ検査装置。 - 請求項9記載のウエハ検査装置において、
前記ウエハの表面には複数のチップ領域が区画され、
前記第1の画像、前記第2の画像および前記第3の画像のそれぞれが対象とする前記第1の回路パターン群は、それぞれ異なる前記チップ領域に形成されていることを特徴とするウエハ検査装置。 - 請求項10記載のウエハ検査装置において、
前記ウエハの表面における前記欠陥が検出された前記チップ領域の位置を記録し、ウエハマップを作成することを特徴とするウエハ検査装置。 - 請求項10記載のウエハ検査装置において、
前記ウエハの表面に区画された複数のチップ領域には、異なる品種が混在し、
前記欠陥密度の算出および前記欠陥を発生させた原因の解析は、同種の前記チップ領域別に行うことを特徴とするウエハ検査装置。 - 請求項10記載のウエハ検査装置において、
前記第1の画像、前記第2の画像および前記第3の画像のそれぞれが対象とする前記第1の回路パターン群は、それぞれ異なる前記ウエハにおける同じ位置の前記チップ領域に形成されていることを特徴とするウエハ検査装置。 - 請求項9記載のウエハ検査装置において、
前記第1の回路パターン群は、同一の回路パターンが連続して配置されることで形成されていることを特徴とするウエハ検査装置。 - 請求項14記載のウエハ検査装置において、
前記照射光の前記第1の波長は、前記回路パターンの加工寸法より大きいことを特徴とするウエハ検査装置。 - (a)表面に複数の第1の回路パターン群が形成された検査対象のウエハを用意する工程、
(b)前記ウエハの表面に第1の波長の照射光を照射することで散乱する散乱光を集光し、前記複数の第1の回路パターン群のうちの1つを対象として撮像した第1の画像を取得する工程、
(c)前記ウエハの表面に前記第1の波長の前記照射光を照射することで散乱する前記散乱光を集光し、前記(b)工程で対象とした前記第1の回路パターン群以外の2つの前記第1の回路パターン群のそれぞれを対象として撮像した第2の画像および第3の画像を取得する工程、
(d)前記第1の画像と前記第2の画像とを比較し、さらに前記第1の画像と前記第3の画像とを比較して、前記第1の画像中の前記第1の回路パターン群における欠陥の有無を判別し、前記第1の画像が表示する前記第1の回路パターン群の面積から欠陥密度を算出する工程、
(e)前記(b)工程〜前記(d)工程を前記複数の第1の回路パターン群の全てに対して実施する工程、
(f)前記ウエハの前記表面における前記欠陥密度の分布から、前記欠陥を発生させた原因を解析する工程、
を含み、
前記第1の画像、前記第2の画像および前記第3の画像は、それぞれ複数の第1のポイント、複数の第2のポイントおよび複数の第3のポイントかならなる電子データとして取得し、
前記(d)工程は、
(d1)それぞれ対応する位置の前記第1のポイント、前記第2のポイントおよび前記第3のポイントのうちの2つ以上において、所定の第1の輝度以下である場合に、前記第1のポイントの1つ分に相当する面積を積算し、(d2)工程へ進む工程、
(d2)前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第2のポイントとの第1の差画像と、前記対応する位置の前記第1のポイントと前記第3のポイントとの第2の差画像の両方が、予め設定したしきい値である第2の輝度以上である場合に、前記欠陥の数を積算する工程、
(d3)前記(d1)工程を前記複数の第1のポイント、前記複数の第2のポイントおよび前記複数の第3のポイントのすべてにおいて実施する工程、
(d4)前記(d3)工程後、前記(d2)工程で求めた前記欠陥の積算数を前記(d1)工程で求めた前記面積の積算値で除し、前記欠陥密度を算出する工程、
を含み、
前記欠陥は、前記ウエハの前記表面への異物の付着、または前記第1の回路パターン群を形成する回路パターンの形状の異常であり、
前記第1の輝度は、前記第1のポイント、前記第2のポイントおよび前記第3のポイントのそれぞれの輝度を測定する輝度測定手段による測定結果にノイズが発生し始める値であり、
前記輝度測定手段においては、予め前記第1の回路パターン群の同位置における前記輝度を所定回測定することで前記ノイズが発生しているか否かを判定して、前記第1の輝度が決定されていることを特徴とする半導体集積回路装置の製造方法。 - 請求項16記載の半導体集積回路装置の製造方法において、
前記ウエハの表面には複数のチップ領域が区画され、
前記(b)工程および前記(c)工程で撮像の対象とする3つの前記第1の回路パターン群は、それぞれ異なる前記チップ領域に形成されていることを特徴とする半導体集積回路装置の製造方法。 - 請求項17記載の半導体集積回路装置の製造方法において、
前記ウエハの表面における前記欠陥が検出された前記チップ領域の位置を記録し、ウエハマップを作成することを特徴とする半導体集積回路装置の製造方法。 - 請求項17記載の半導体集積回路装置の製造方法において、
前記ウエハの表面に区画された複数のチップ領域には、異なる品種が混在し、
前記(b)〜(f)工程は、同種の前記チップ領域別に行うことを特徴とする半導体集積回路装置の製造方法。 - 請求項17記載の半導体集積回路装置の製造方法において、
前記(a)工程では、前記検査対象の前記ウエハを複数枚用意し、
前記(b)工程および前記(c)工程で撮像の対象とする3つの前記第1の回路パターン群は、それぞれ異なる前記ウエハにおける同じ位置の前記チップ領域に形成されていることを特徴とする半導体集積回路装置の製造方法。 - 請求項16記載の半導体集積回路装置の製造方法において、
前記第1の回路パターン群は、同一の回路パターンが連続して配置されることで形成されていることを特徴とする半導体集積回路装置の製造方法。 - 請求項21記載の半導体集積回路装置の製造方法において、
前記照射光の前記第1の波長は、前記回路パターンの加工寸法より大きいことを特徴とする半導体集積回路装置の製造方法。
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