JP5077265B2 - 記憶装置及び半導体試験装置 - Google Patents
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Description
この発明によると、記憶容量が同じである複数のメモリのうちの第1メモリの記憶領域が複数の領域に分割されて、これら複数の領域についてメモリコントローラの制御の下でインターリーブが行われるとともに、残りの第2メモリの記憶領域がそれぞれ1つの領域とされて、これら第2メモリについてメモリコントローラの制御の下でインターリーブが行われる。
また、本発明の記憶装置は、前記メモリが、前記メモリコントローラに対して個別に接続されており、前記メモリコントローラは、前記メモリの全てに対して同時にアクセス可能であることを特徴としている。
また、本発明の記憶装置は、前記第2メモリが、2n個(nは1以上の整数)設けられることを特徴としている。
また、本発明の記憶装置は、前記第1メモリの記憶領域が、前記第2メモリの数の分だけ分割されることを特徴としている。
また、本発明の記憶装置は、前記メモリコントローラが、前記第2メモリについてインターリーブを行わずに前記第2メモリをまとめて1つのメモリとして用い、前記第1メモリの記憶領域を1つの領域として用いることが可能であることを特徴としている。
本発明の半導体試験装置は、半導体デバイス(30)に試験信号(D1)を印加して得られる信号(D2)と所定の期待値(D3)とを比較してパス/フェイルを判定し、当該判定の結果であるフェイルデータ(FD)を得ることにより前記半導体デバイスの試験を行う半導体試験装置(2)において、前記フェイルデータを前記所定のデータとして記憶する上記の何れかに記載の記憶装置を備えることを特徴としている。
かかる場合には、メモリコントローラ11は、4つのメインフェイルメモリ12a〜12dを利用してインターリーブを行い、また、スペアフェイルメモリ13の分割された4つのメモリバンクB1〜B4を利用してインターリーブを行う。
かかる場合には、メモリコントローラ11は、4つのメインフェイルメモリ12a〜12dのうちの何れか2つ又は残りの2つを利用してインターリーブを行い、また、スペアフェイルメモリ13の分割された4つのメモリバンクB1〜B4のうちの何れか2つ又は残りの2つを利用してインターリーブを行う。例えば、メインフェイルメモリ12a,12b又はメインフェイルメモリ12c,12dを利用してインターリーブを行い、また、スペアフェイルメモリ13のメモリバンクB1,B2又はメモリバンクB3,B4を利用してインターリーブを行う。
かかる場合には、メモリコントローラ11は、メインフェイルメモリ12a〜12dについてインラーリーブを行わずにメインフェイルメモリ12a〜12dをまとめて1つのメモリとして用い、また、スペアフェイルメモリ13の記憶領域をメモリバンクB1〜B4に分割せずに1つの領域として用いる。
2 半導体試験装置
11 メモリコントローラ
12a〜12d メインフェイルメモリ
13 スペアフェイルメモリ
30 DUT
B1〜B4 メモリバンク
D1 試験パターン
D2 データ
D3 期待値
FD フェイルデータ
Claims (6)
- 所定のデータを記憶する記憶装置において、
各々の記憶容量が同じであるとともに各々の記憶領域を1つの領域として又は複数の領域に分割して管理可能な少なくとも3つのメモリと、
前記メモリのうちの第1メモリの記憶領域を複数の領域に分割し、当該第1メモリの複数の領域についてインターリーブを行うとともに、前記メモリのうちの残りの第2メモリの記憶領域をそれぞれ1つの領域とし、当該第2メモリについてインターリーブを行うメモリコントローラと
を備えることを特徴とする記憶装置。 - 前記メモリは、前記メモリコントローラに対して個別に接続されており、
前記メモリコントローラは、前記メモリの全てに対して同時にアクセス可能である
ことを特徴とする請求項1記載の記憶装置。 - 前記第2メモリは、2n個(nは1以上の整数)設けられることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の記憶装置。
- 前記第1メモリの記憶領域は、前記第2メモリの数の分だけ分割されることを特徴とする請求項1から請求項3の何れか一項に記載の記憶装置。
- 前記メモリコントローラは、前記第2メモリについてインターリーブを行わずに前記第2メモリをまとめて1つのメモリとして用い、前記第1メモリの記憶領域を1つの領域として用いることが可能であることを特徴とする請求項1から請求項4の何れか一項に記載の記憶装置。
- 半導体デバイスに試験信号を印加して得られる信号と所定の期待値とを比較してパス/フェイルを判定し、当該判定の結果であるフェイルデータを得ることにより前記半導体デバイスの試験を行う半導体試験装置において、
前記フェイルデータを前記所定のデータとして記憶する請求項1から請求項5の何れか一項に記載の記憶装置を備えることを特徴とする半導体試験装置。
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