JP5068498B2 - クロマトグラフ分析装置 - Google Patents
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- 試料に含まれる成分を分離するクロマトグラフユニットと、該クロマトグラフユニットから得られるクロマトグラフデータを処理するデータ処理装置と、を有し、
前記データ処理装置は、前記クロマトグラフデータに現れる不分離ピークを分離するベースライン設定条件を保存する記憶装置を有し、
当該ベースライン設定条件を作成する編集画面を表示装置上に表示し、前記編集画面上で作成された、サンプル波形と不分離ピークの分離条件とを含むベースライン設定条件を前記記憶装置に保存し、前記クロマトグラフデータ上の不分離ピークの形状と前記ベースライン設定条件のサンプル波形の形状との比較情報に基づき、前記不分離ピークを前記記憶装置に保存されたベースライン設定条件のいずれかの分離条件で分離することを特徴とするクロマトグラフ分析装置。 - 請求項1に記載のクロマトグラフ分析装置において、
前記編集画面は、前記ベースライン設定条件のサンプル波形の形状を編集する機能を有することを特徴とするクロマトグラフ分析装置。 - 請求項1に記載のクロマトグラフ分析装置において、
前記編集画面は、前記ベースライン設定条件の分離条件を設定する機能を有することを特徴とするクロマトグラフ分析装置。 - 請求項1に記載のクロマトグラフ分析装置において、
前記編集画面は、前記ベースライン設定条件のサンプル波形に対してベースラインを描画する機能を有し、当該描画されたベースラインを用いて前記不分離ピークを分離することを特徴とするクロマトグラフ分析装置。 - 請求項1に記載のクロマトグラフ分析装置において、
前記編集画面は、前記分離条件を決定するモデルのパラメータを設定する機能を有することを特徴とするクロマトグラフ分析装置。 - 請求項1に記載のクロマトグラフ分析装置において、
前記表示装置は、前記クロマトグラフデータを表示し、前記データ処理装置は、前記クロマトグラフデータに対して前記ベースライン設定条件にてピーク分離処理を行う時間を設定することを特徴とするクロマトグラフ分析装置。 - 請求項1に記載のクロマトグラフ分析装置において、
前記表示装置は、前記クロマトグラフデータを表示し、前記データ処理装置は、前記クロマトグラフデータに対して前記ベースライン設定条件にてピーク分離処理を行う時間を複数設定し、当該各時間において異なる前記ベースライン設定条件でピーク分離処理を行うことを特徴とするクロマトグラフ分析装置。 - 試料に含まれる成分を分離するクロマトグラフユニットと、該クロマトグラフユニットから得られるクロマトグラフデータを処理するデータ処理装置と、上記クロマトグラフデータに現れる不分離ピークを分離するベースライン設定条件を保存する記憶装置と、上記クロマトグラフデータを表示する表示装置と、有し、
前記不分離ピークを分離するベースライン設定条件は、サンプル波形と不分離ピークの分離条件とを含み、
前記表示装置は、前記サンプル波形と不分離ピークの分離条件とを含むベースライン設定条件を作成する編集画面を表示し、
前記記憶装置は、前記サンプル波形を保存するサンプル波形ライブラリを有し、該サンプル波形ライブラリには標準で装備されたサンプル波形とユーザが前記編集画面で作成したサンプル波形を保存することを特徴とするクロマトグラフ分析装置。 - 請求項8に記載のクロマトグラフ分析装置において、
前記編集画面は、前記分離条件を決定するモデルのパラメータを設定する設定フィールドを有することを特徴とするクロマトグラフ分析装置。
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