JP5051506B2 - 平面型squidセンサ - Google Patents
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Description
しかし、ガラス基板は、4.2K(平面型SQUIDセンサの使用時温度=液体ヘリウム温度)←→室温(不使用時温度)のサーマルサイクルで破損しやすい問題点があった。また、ガラス基板にSQUIDチップをマウントしてモールドするが、モールド材とガラス基板の熱膨張の違いによって、ガラス基板が割れるという問題点もあった。さらに、ガラス基板には外部接続半田付け用銅端子がないため、外部接続用ケーブルを半田付けで接続することができない問題点があった。
そこで、本発明の目的は、サーマルサイクルや熱膨張の違いによる破損がなく且つ外部接続用ケーブルを半田付けで接続することが出来る平面型SQUIDセンサを提供することにある。
上記構成において、ポリイミド基材入り基板とは、ガラスエポキシ基板におけるエポキシ樹脂の代わりにポリイミドを用いた基板である。
上記第1の観点による平面型SQUIDセンサでは、ポリイミド基板またはポリイミド基材入り基板(1)を用い、その表面にスパッタリングによりNb薄膜検出コイル(4)を形成する。ポリイミド基板またはポリイミド基材入り基板(1)は、耐熱性が高いため、スパッタリングのプロセスに耐えられる。そして、サーマルサイクルによる破損がない。また、基板(1)にマウントしたSQUIDチップ(5)をモールドしても、基板(1)とモールド材の熱膨張の違いによって基板(1)が割れることもない。さらに、基板(1)に外部接続半田付け用銅端子(2,2’)を積層してあるため、外部接続用ケーブルを半田付けで接続することが出来る。
上記第2の観点による平面型SQUIDセンサでは、Nb薄膜検出コイル(4)の端部の土台となる検出コイルパッド用銅端子(3,3’)を基板(1)に積層しておくから、SQUIDチップ(5)と安定に接続しうる厚さをNb薄膜検出コイル(4)の端部に得ることが出来る。
上記第3の観点による平面型SQUIDセンサでは、SQUIDチップ(5)を局所的に加熱して超伝導を壊すためのヒータ抵抗を半田付けでマウントすることが出来る。
上記第4の観点による平面型SQUIDセンサ(20)では、SQUIDチップ(5)をフリップチップ実装としたため、ワイヤボンディングによるよりも製造作業が簡便になる。
この平面型SQUIDセンサ10は、外部接続半田付け用銅端子2、検出コイルパッド用銅端子3およびヒータ抵抗半田付け用銅端子2aを積層したポリイミド基板1の表面にNb薄膜検出コイル4をスパッタリングにより形成し、ポリイミド基板1にSQUIDチップ5をマウントし、Nb薄膜検出コイル4とSQUIDチップ5とを超伝導ボンディング6により接続し、外部接続半田付け用銅端子2とSQUIDチップ5とをAl(またはAu)ボンディング7により接続した構成である。
(1)図3に示すように、ポリイミド基板1の表面に外部接続半田付け用銅端子2、検出コイルパッド用銅端子3およびヒータ抵抗半田付け用銅端子2aを積層する。
(2)図4に示すように、Nb薄膜検出コイル4をスパッタリングにより形成する。検出コイルパッド用銅端子3は、Nb薄膜検出コイル4の端部の土台とする。
(3)図1に示すように、SQUIDチップ5をマウントし、Nb薄膜検出コイル4とSQUIDチップ5とを超伝導ボンディング6により接続し、外部接続半田付け用銅端子2とSQUIDチップ5とをAlボンディング7により接続する。
(a)ポリイミド基板1の表面にスパッタリングによりNb薄膜検出コイル4を形成するが、ポリイミド基板1は耐熱性が高いため、スパッタリングのプロセスに耐えられる。
(b)サーマルサイクルによる破損がない。また、ポリイミド基板1にマウントしたSQUIDチップ5をモールドしても、ポリイミド基板1とモールド材の熱膨張の違いによってポリイミド基板1が割れることもない。
(c)ポリイミド基板1に外部接続半田付け用銅端子2を積層してあるため、外部接続用ケーブルを半田付けで接続することが出来る。
(d)SQUIDチップ5を局所的に加熱して超伝導を壊すためのヒータ抵抗を半田付けでマウントすることが出来る。
この平面型SQUIDセンサ10は、外部接続半田付け用銅端子2,2’、検出コイルパッド用銅端子3’およびヒータ抵抗半田付け用銅端子2aを積層したポリイミド基材入り基板1’の表面にNb薄膜検出コイル4をスパッタリングにより形成し、ポリイミド基材入り基板1’にSQUIDチップ5をマウントし、フリップチップ接続によりNb薄膜検出コイル4とSQUIDチップ5を接続すると共に外部接続半田付け用銅端子2’とSQUIDチップ5を接続した構成である。
図6で、5aはSQUIDチップ5のパッド部であり、8はバンプである。
(1)図7に示すように、ポリイミド基材入り基板1’の表面に外部接続半田付け用銅端子2,2’、検出コイルパッド用銅端子3およびヒータ抵抗半田付け用銅端子2aを積層する。
(2)図8に示すように、Nb薄膜検出コイル4をスパッタリングにより形成する。検出コイルパッド用銅端子3’は、Nb薄膜検出コイル4の端部の土台とする。
(3)図5に示すように、SQUIDチップ5をマウントし、フリップチップ接続によりNb薄膜検出コイル4とSQUIDチップ5を接続すると共に外部接続半田付け用銅端子2’とSQUIDチップ5を接続する。
1’ ポリイミド基材入り基板
2,2’ 外部接続半田付け用銅端子
3,3’ 検出コイルパッド用銅端子
4 Nb薄膜検出コイル
5 SQUIDチップ
10,20 平面型SQUIDセンサ
Claims (3)
- 外部接続半田付け用銅端子(2,2’)を積層したポリイミド基板またはポリイミド基材入り基板(1)の表面にNb薄膜検出コイル(4)をスパッタリングにより形成し、前記基板(1)にSQUIDチップ(5)をマウントし、前記Nb薄膜検出コイル(4)と前記SQUIDチップ(5)とを接続したことを特徴とする平面型SQUIDセンサであって、前記基板(1)に検出コイルパッド用銅端子(3,3’)を積層しておき、その検出コイルパッド用銅端子(3,3’)を前記Nb薄膜検出コイル(4)の端部の土台としたことを特徴とする平面型SQUIDセンサ(10,20)。
- 請求項1に記載の平面型SQUIDセンサにおいて、前記基板(1)にヒータ抵抗用半田付け銅端子(2a)を積層したことを特徴とする平面型SQUIDセンサ(10,20)。
- 請求項1または請求項2に記載の平面型SQUIDセンサにおいて、前記基板(1)に前記SQUIDチップ(5)をフリップチップ実装したことを特徴とする平面型SQUIDセンサ(20)。
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