JP5048535B2 - センスアンプ回路、及びそれを用いた半導体記憶装置 - Google Patents
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図3から図6を参照して、本発明による半導体記憶装置、及びセンスアンプ回路の第1の実施の形態を説明する。
図3は、第1の実施の形態における半導体記憶装置902の構成を示す図である。図3を参照して、第1の実施の形態における半導体記憶装置902は、複数のメモリセル2を備えるメモリセルアレイ911、列ゲート912、複数の非同期型センス回路101(以下、センス回路101と称す)を内蔵する入出力バッファ913、入出力バッファ913に接続された入出力端子914、読み出し制御回路915、列デコーダ916、行レコーダ917、アドレスバッファ918、基準電圧発生回路103、及びダミー電流源4を具備する。
次に、図4を参照して、本発明によるセンスアンプ回路100の構成を説明する。第1の実施の形態におけるセンスアンプ回路100は、センス回路101と基準電圧発生回路103とを含む。基準電圧発生回路103は、基準電圧を、端子9を介してセンス回路101に供給する。又、センス回路101には、相互に逆相関係の第1信号STOP及び第2信号STOPBと、モード切り替え信号HS(第3信号)とが入力される。
以上のような構成により、センスアンプ回路100は、負荷回路2(メモリセル)に流れる電流とダミー電流源4(リファレンスセル)に流れる電流とに基づいて、端子7(ビット線)を介して負荷回路2(メモリセル)に記録されたデータを読み取り、出力端子8に出力する。このとき、信号切り替え回路102は、入力される第3信号HSに応じて、負荷回路2(メモリセル)に高速にアクセス可能な高速動作モードと、低消費電力の低速動作モードとを切り替える。
図7から図10を参照して、本発明による半導体記憶装置、及びセンスアンプ回路の第2の実施の形態を説明する。
図7は、第2の実施の形態における半導体記憶装置922の構成を示す図である。図7を参照して、第2の実施の形態における半導体記憶装置922は、第1の実施の形態における入出力バッファ903と読み出し制御回路905に替えて、複数の非同期型センス回路201(以下、センス回路201と称す)を備える入出力バッファ923と読み出し制御回路925を備え、その他の構成は、第1の実施の形態と同様である。
次に、図8を参照して、本発明によるセンスアンプ回路200の構成を説明する。第2の実施の形態におけるセンスアンプ回路200は、センス回路201と基準電圧発生回路103とを含む。センス回路201には端子9を介して基準電圧が供給される。センス回路201には、相互に逆相関係の第4信号STOP1及び第5信号STOP1Bと、モード切り替え信号HS(第3信号)と、相互に逆相関係の第6信号STOP2及び第7信号STOP2Bと、第8信号PRECHBが入力される。第2の実施の形態におけるセンス回路201は、第1の実施の形態におけるセンス回路101の構成に加えて、ONセルデータ確定検出回路250、2入力ORゲートOR200、インバータINV200、201、P型FETQ9、トランスファゲートCTRS3、2入力ANDゲートAND200、201を備える。又、第2の実施の形態におけるセンス回路201における端子11には、第6信号STOP2が入力され、トランスファゲートCTRS2は、端子210と端子109との間の電圧の伝搬を制御する。尚、出力端子8は、図7における入出力端子914に接続される。
以上のような構成により、センスアンプ回路200は、端子7(ビット線)を介して負荷回路2(メモリセル)に記録されたデータを読み取り、出力端子8に出力する。このとき、信号切り替え回路102は、入力される第3信号HSに応じて、負荷回路2(メモリセル)に高速にアクセス可能な高速動作モードと、低消費電力の低速動作モードとを切り替える。
2:負荷回路
3、103:基準電圧発生回路
4:ダミー電流源
5:第1電源電圧供給端子
6:第2電源電圧供給端子
7、11、12、13、14、104、105、106、107、108、109、202、203、204、205、206、207、208、209、210、251、252、253、301:端子
8:出力端子
9:基準電圧出力端子
10、100、200:センスアンプ回路
102:信号切り替え回路
250:ONセルデータ確定検出回路
Q1、Q3、Q5、Q7、Q9、Q10、Q11、Q100、QX、QY:P型電界効果トランジスタ
Q2、Q4、Q6、Q8、Q12、Q200:N型電界効果トランジスタ
OR101、OR102、OR103、OR200:2入力ORゲート
NOR101、NOR102、NOR2:2入力NORゲート
AND200、AND201:2入力ANDゲート
NAND250:3入力NANDゲート
NAND251、NAND252:2入力NANDゲート
CTRS1、CTRS2、CTRS3、CTRS10:トランスファゲート
INV101、INV102、INV200、INV201、INV200、INV251:インバータ
N1、N2、N3:節点
HS:モード切り替え信号
Claims (18)
- 負荷回路に印加する電圧を制御するセンス回路と、
前記センス回路に基準電圧を供給する基準電圧発生回路と、
を具備し、
高速動作モードにおいて、前記センス回路は、前記センス回路に含まれる第1帰還制御回路の出力電圧に応じて前記負荷回路に印加する電圧を制御し、
低速動作モードにおいて、前記センス回路は、前記第1帰還制御回路の動作を停止し、前記基準電圧発生回路に含まれる第2帰還制御回路の出力電圧に応じて前記負荷回路に印加する電圧を制御する
センスアンプ回路。 - 請求項1に記載のセンスアンプ回路において、
前記センス回路は、ソースが前記負荷回路に接続される第1トランジスタを備え、
前記基準電圧発生回路は、ソースがダミー電流源に接続される第2トランジスタを備え、
前記第1トランジスタのソースは、前記第1帰還制御回路を介して前記第1トランジスタのゲートに接続され、
前記第2トランジスタのソースは、前記第2帰還制御回路を介して前記第1トランジスタのゲートに接続され、
前記高速動作モードにおいて、前記第1トランジスタのゲートと第2帰還制御回路との間の接続は切断され、
前記低速動作モードにおいて、前記第1トランジスタのゲートと第1帰還制御回路との間の接続は切断される
センスアンプ回路。 - 請求項2に記載のセンスアンプ回路において、
前記高速動作モードと前記低速動作モードを切り替えるモード切り替え信号に応じて、前記第1帰還制御回路と前記第2帰還制御回路の一方の出力端と前記第1トランジスタのゲートとを接続し、他方の出力端と前記第1トランジスタのゲートとの接続を遮断する選択回路を備える
センスアンプ回路。 - 請求項3に記載のセンスアンプ回路において、
前記センス回路は、前記第1トランジスタを含む第1電流ミラー回路を備え、
前記基準電圧発生回路は、前記第2トランジスタを含む第2電流ミラー回路を備え、
前記第1帰還制御回路は、前記モード切り替え信号に基づく信号レベルと、前記負荷回路に印加する電圧に基づく信号レベルとの論理演算結果を出力し、
前記第2帰還制御回路は、前記負荷回路に対応するダミー電流源に印加する信号レベルに基づく論理演算結果を、前記第2電流ミラー回路において前記第1トランジスタに対応する第2トランジスタに出力する
センスアンプ回路。 - 請求項4に記載のセンスアンプ回路において、
前記第1電流ミラー回路は、前記負荷回路の状態に応じた検出信号が出力される出力端子を含み、
前記センス回路は、第1電源電圧と第2電源電圧とに応じて動作し、
前記検出信号に応じて、前記第1電源電圧が供給される第1端子と前記第2電源電圧が供給される第2端子との間の前記センス回路における電流パスを遮断するONセルデータ確定検出回路を更に具備する
センスアンプ回路。 - メモリセルに流れる電流と、リファレンスセルに流れる電流とに基づいて、前記メモリセルに格納された値を読み出すセンスアンプ回路であって、
電源から前記メモリセルへ流れ込む電流量を制御する第1回路と、
前記電源からリファレンスセルへ流れ込む電流量を制御する第2回路と、
を備え、
第1動作モードにおいては、前記メモリセルに流れる電流量に応じて前記第1回路の電流量が調整されるとともに、前記リファレンスセルに流れる電流量に応じて前記第2回路の電流量が調整され、
第2動作モードにおいては、前記リファレンスセルに流れる電流量に応じて前記第1及び第2回路の電流量が調整される
センスアンプ回路。 - 請求項6に記載のセンスアンプ回路において、
前記第1回路は、ソースが前記メモリセルに接続される第1トランジスタを備え、
前記第2回路は、ソースが前記リファレンスセルに接続される第2トランジスタを備え、
前記第1動作モードにおいて、前記第1トランジスタのソース電圧が前記第1トランジスタのゲートに帰還し、
前記第2動作モードにおいて、前記第1トランジスタのゲートとソースとの間の接続が切断され、前記第2トランジスタのソース電圧が前記第1トランジスタのゲートに帰還する
センスアンプ回路。 - 請求項7に記載のセンスアンプ回路において、
前記第1トランジスタのソース電圧と、前記値の読み出しを制御する信号の読み出し信号レベルとに基づく論理演算結果を出力する第1論理回路と、
前記第2トランジスタのソース電圧と、前記読み出し信号の信号レベルとに基づく論理演算結果を出力する第2論理回路と、
モード切り替え信号に応じて前記第1論理回路と前記第2論理回路の一方と前記第1トランジスタのゲートとの接続を遮断するモード切り替え回路と、
を更に具備する
センスアンプ回路。 - 請求項6から8のいずれか1項に記載のセンスアンプ回路において、
前記メモリセルから読み出された値に応じて、第1電源電圧が供給される第1電源端子と第2電源電圧が供給される第2電源端子との間の電流パスを遮断するONセルデータ確定検出回路を更に具備する
センスアンプ回路。 - ビット線に接続されるメモリセルを複数備えるメモリセルアレイと、
前記ビット線に印加する電圧を制御するセンス回路を複数備える入出力バッファと、
前記センス回路に基準電圧を供給する基準電圧発生回路と、
を具備し、
高速動作モードにおいて、前記センス回路は、前記センス回路に含まれる第1帰還制御回路の出力電圧に応じて前記ビット線に印加する電圧を制御し、
低速動作モードにおいて、前記センス回路は、前記第1帰還制御回路の動作を停止し、前記基準電圧発生回路に含まれる第2帰還制御回路の出力電圧に応じて前記ビット線に印加する電圧を制御する
半導体記憶装置。 - 請求項10に記載の半導体記憶装置において、
前記センス回路は、ソースが前記ビット線に接続される第1トランジスタを備え、
前記基準電圧発生回路は、ソースがダミー電流源に接続される第2トランジスタを備え、
前記第1トランジスタのソースは、前記第1帰還制御回路を介して前記第1トランジスタのゲートに接続され、
前記第2トランジスタのソースは、前記第2帰還制御回路を介して前記第1トランジスタのゲートに接続され、
前記高速動作モードにおいて、前記第1トランジスタのゲートと第2帰還制御回路との間の接続は切断され、
前記低速動作モードにおいて、前記第1トランジスタのゲートと第1帰還制御回路との間の接続は切断される
半導体記憶装置。 - 請求項11に記載の半導体記憶装置において、
前記高速動作モードと前記低速動作モードを切り替えるモード切り替え信号に応じて、前記第1帰還制御回路と前記第2帰還制御回路の一方の出力端と、前記第1トランジスタのゲートとを接続し、他方の出力端と前記第1トランジスタのゲートとの接続を遮断する選択回路を備える
半導体記憶装置。 - 請求項12に記載の半導体記憶装置において、
前記センス回路は、前記第1トランジスタを含む第1電流ミラー回路を備え、
前記基準電圧発生回路は、前記第2トランジスタを含む第2電流ミラー回路を備え、
前記第1帰還制御回路は、前記モード切り替え信号に基づく信号レベルと、前記ビット線に印加する電圧に基づく信号レベルとの論理演算結果を出力し、
前記第2帰還制御回路は、前記ビット線に対応するダミー電流源に印加する信号レベルに基づく論理演算結果を、前記第2電流ミラー回路において前記第1トランジスタに対応する第2トランジスタに出力する
半導体記憶装置。 - 請求項13に記載の半導体記憶装置において、
前記第1電流ミラー回路は、前記ビット線の状態に応じた検出信号が出力される出力端子を含み、
前記センス回路は、第1電源電圧と第2電源電圧とに応じて動作し、
前記検出信号に応じて、前記第1電源電圧が供給される第1端子と前記第2電源電圧が供給される第2端子との間の前記センス回路における電流パスを遮断するONセルデータ確定検出回路を更に具備する
半導体記憶装置。 - メモリセルを複数備えるメモリセルアレイと、
前記メモリセルに流れる電流と、リファレンスセルに流れる電流とに基づいて、前記メモリセルに格納された値を読み出すセンスアンプ回路と、
を具備し、
前記センスアンプ回路は、
電源から前記メモリセルへ流れ込む電流量を制御する第1回路と、
前記電源からリファレンスセルへ流れ込む電流量を制御する第2回路と、
を備え、
第1動作モードにおいては、前記メモリセルに流れる電流量に応じて前記第1回路の電流量が調整されるとともに、前記リファレンスセルに流れる電流量に応じて前記第2回路の電流量が調整され、
第2動作モードにおいては、前記リファレンスセルに流れる電流量に応じて前記第1及び第2回路の電流量が調整される
半導体記憶装置。 - 請求項15に記載の半導体記憶装置において、
前記第1回路は、ソースが前記メモリセルに接続される第1トランジスタを備え、
前記第2回路は、ソースが前記リファレンスセルに接続される第2トランジスタを備え、
前記第1動作モードにおいて、前記第1トランジスタのソース電圧が前記第1トランジスタのゲートに帰還し、
前記第2動作モードにおいて、前記第1トランジスタのゲートとソースとの間の接続が切断され、前記第2トランジスタのソース電圧が前記第1トランジスタのゲートに帰還する
半導体記憶装置。 - 請求項16に記載の半導体記憶装置において、
前記センスアンプ回路は、
前記第1トランジスタのソース電圧と、前記値の読み出しを制御する信号の読み出し信号レベルとに基づく論理演算結果を出力する第1論理回路と、
前記第2トランジスタのソース電圧と、前記読み出し信号の信号レベルとに基づく論理演算結果を出力する第2論理回路と、
モード切り替え信号に応じて前記第1論理回路と前記第2論理回路の一方と前記第1トランジスタのゲートとの接続を遮断するモード切り替え回路と、
を更に具備する
半導体記憶装置。 - 請求項15から17のいずれか1項に記載の半導体記憶装置において、
前記センスアンプ回路は、
前記メモリセルから読み出された値に応じて、第1電源電圧が供給される第1電源端子と第2電源電圧が供給される第2電源端子との間の電流パスを遮断するONセルデータ確定検出回路を更に具備する
半導体記憶装置。
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