JP5044070B2 - 磁界検出デバイス - Google Patents

磁界検出デバイス Download PDF

Info

Publication number
JP5044070B2
JP5044070B2 JP2000510038A JP2000510038A JP5044070B2 JP 5044070 B2 JP5044070 B2 JP 5044070B2 JP 2000510038 A JP2000510038 A JP 2000510038A JP 2000510038 A JP2000510038 A JP 2000510038A JP 5044070 B2 JP5044070 B2 JP 5044070B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
magnetization
field detection
magnetoresistive
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2000510038A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001516031A (ja
Inventor
ワン,ホン
Original Assignee
ハネウエル・インコーポレーテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ハネウエル・インコーポレーテッド filed Critical ハネウエル・インコーポレーテッド
Publication of JP2001516031A publication Critical patent/JP2001516031A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5044070B2 publication Critical patent/JP5044070B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • G01R33/093Magnetoresistive devices using multilayer structures, e.g. giant magnetoresistance sensors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y25/00Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • G01R33/096Magnetoresistive devices anisotropic magnetoresistance sensors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Description

【0001】
(発明の背景)
本発明は、広義には磁界センサに関し、より詳しくは、単一の半導体チップ上に形成され、ドメイン設定、バイアス又はオフセット磁界の形成、フィードバック磁界の供給、センサ伝達特性の測定のような機能、あるいは磁界を必要とする他の機能のために磁界の利用が必要な集積型磁界センサに関する。
【0002】
本発明の用途は、種々の磁気センサあるいはトランスデューサである。これらの用途には、磁気抵抗トランスデューサ、大型磁気抵抗トランスデューサ、磁気ダイオード、磁気トランジスタやホール効果トランスデューサが含まれるが、これらに限定されるものではない。
【0003】
磁界検出デバイスは、例えば自動車におけるソリッドステート・コンパス技術、シグナチャー検出、例えば金属検出、偏差検出、例えば位置検出等を含めて多くの用途に用いられるが、これらに限定されるものではない。
【0004】
ソリッドステート・コンパス技術は、個人向け商品アイテム、例えば腕時計で利用することができる。位置検出は、患者の体内におけるカテーテルのような医療機器の位置を検出するために使用することが可能である。上記及びその他の用途のために、従来のものに比べて小形で電力消費が少ない磁気検出素子が必要とされるようになってきた。
【0005】
PermalloyTMのようなNiFe材料の磁気抵抗膜の細長いストリップを利用して超小型磁界検出デバイスを作ることができる。磁気抵抗膜の磁化は、一般に電流と角度をなし、磁気抵抗膜の抵抗はこの角度によって決まる。磁気抵抗膜の磁化が電流と平行なとき、抵抗は最大になり、電流に対して直角なとき、抵抗は最小になる。これらの膜の磁化は、磁界を検出することが可能になるには、まずシングルドメイン状態にしなければならない。磁気抵抗トランスデューサは、多ドメイン状態にあっても、磁界を検出することができる状況があるかもしれないが、再現性を確保するためには、磁気抵抗トランスデューサの磁気検出素子の磁化がシングルドメイン状態にあることが不可欠である。そのセット−リセット機能については、米国特許第5,247,278号に記載されている。
【0006】
磁界検出デバイスは、ホイートストンブリッジの4つの個別素子、すなわち脚を形成する磁気抵抗ストリップで構成することが可能である。そして、これらの脚はストリップに直角な磁界に対して感度を示すように配向され、その結果全てのストリップはブリッジ構造の中で互いに平行になる。スペースが節約されるブリッジ構造には、4つの素子を一平面内で1列または1行に列べる1x4型とも呼ばれる構造、あるいは4つの素子を各々2つの素子からなる2つ互いに並列な組にして列べる2x2型とも呼ばれる構造がある。セット−リセット導体12及び素子13を有する1x4型構造が図6aに示されている。また、セット−リセット導体14及び素子15を有する2x2型構造が図6bに示されている。これらの構造は両方とも米国特許第5,247,278号に説明されている。
【0007】
磁界検出デバイスの試験、セットアップ、補償、あるいは較正は重要な領域になっている。もう一つの重要な領域は、フィードバック制御における検出デバイスの利用である。これらの両領域で必要とされる機能は、磁界センサの位置に既知磁界を作り出す能力である。この既知磁界とその磁界を変化させる機能によって、磁界センサの応答を測定して、セットアップ、感度測定及び較正作業を行い、センサをフィードバック用に利用することが可能になる。
【0008】
このように、非常に小さくかつ電力消費が非常に少なくて、センサの磁気ドメインをセット/リセットするため、及び試験、セットアップ及び較正用、さらには磁界センサのフィードバック用の既知磁界を作り出すための磁界が得られる簡単な自蔵型デバイスが必要とされている。
【0009】
(要旨)
上記及びその他の必要に対応するためになされた本発明は、ブリッジ回路網の形に構成された磁気抵抗型磁界検出素子の磁気ドメインをセット/リセットするための手段と、該ブリッジ回路網の相対向する磁界検出素子の磁化方向を特別な設計に基づき同方向あるいは逆方向に設定するよう構成された電流ストラップと、を具備した非常に小さい低電力用デバイスである。
【0010】
電流ストラップは磁界検出素子の位置に既知磁界を生じさせる。既知磁界は、試験、セットアップ及び較正のような機能のため、またフィードバックに用いられる。
【0011】
本発明は、セット/リセット機能、及び独特のコイル配置を用いることによって磁気検出素子の位置に既知磁界を生じさせるという独立した機能の両方を共に具備したものである。磁界センサにこれらの機能が両方とも具備される結果、2つの機能の個別機能を足し合わせたよりもはるかにセンサの機能性が改善される。
【0012】
(好ましい実施形態の説明)
本発明の磁界を検出するためのデバイスは、添付図面に全体として符号10で示されている。図1は、本発明の磁界センサ用の集積回路パターンを示したものである。磁界センサ10は、集積回路技術を用いて半導体基板22上に形成される。「バーバーポール」バイアス方式を採用した4つの磁気抵抗素子24、26、28及び30は、ホイートストンブリッジ回路構成で配置されている。各磁気抵抗素子24、26、28及び30は、互い電気的に直列に接続された9本の互いに平行に配置されれた磁気抵抗ストリップ32のアレイよりなる。個々の磁気抵抗ストリップ32は、相互配線(図示省略)によって磁気抵抗素子24、26、28及び30の内部で接続されている。各アレイの外側の10番目のストリップは電気的には接続されていない。基板22は、通常、二酸化ケイ素及び/または窒化ケイ素の絶縁層24を有する。磁気抵抗センサについての背景情報及び基板22上に平行配置された磁気ストリップ32を形成して磁気抵抗素子24、26、28と30を得る技術の詳細は、1989年7月11日付けでバーラット・ビー・パント(BharatB.Pant)に対して許可され、本願と同じ譲受人に譲渡された米国特許第4,847,584号に記載されている。この米国特許第4,847,584号は参照によって本願に援用される。1993年9月21日付け発行で、本発明と同じ譲受人に譲渡された米国特許号5,247,278号は、集積型磁界検出デバイスの利用に関する背景情報が記載されており、参照によって本願に援用される。
【0013】
相互配線34は、素子24と素子26の接合部をパッド36に接続する。相互配線38は、素子26の端部をパッド40に接続する。相互配線42は、パッド44を素子24及び素子28に接続する。相互配線46は、パッド48を素子30に接続する。相互配線50は、素子28と素子30をパッド52に接続する。
【0014】
素子24、26、28及び30はホイートストンブリッジ回路に接続され、組み込まれる。パッド44と、パッド40及びパッド48の共通接続部との間には電圧を印加することができる。すると、パッド36とパッド52との間にブリッジ出力が得られる。
【0015】
セット−リセット導体あるいは電流ストラップ54がパッド56とパッド58の間に接続されている。 導体54は、パッド58とパッド56との間に時計回り方向に引かれたらせん形状を有する。導体54は、磁気抵抗素子28及び30の上方を通るセグメント60と磁気抵抗素子24と26の上方を通るセグメント62からなる。電流がパッド56から入ってパッド58から出るように流れる際、セグメント60中の電流は、素子28及び30にチップ20の中心部に向かう方向の磁化を生じさせる。セグメント62中を流れる電流は素子24及び26にチップ20の中心部に向かう方向の磁化を生じさせる。電流の方向が反転すると、セグメント62中を流れる電流は素子24及び26にチップ20の中心部から離れる方向の磁化を生じさせ、セグメント60中の電流は素子28及び30にチップ20の中心部から離れる方向の磁化を生じさせる。
【0016】
導体あるいは電流ストラップ70は、磁気抵抗素子24、26、28及び30の有感方向の磁界を生じさせる。導体70は、パッド66とパッド68と間に引かれ、部分72及び部分74からなる。部分72のセグメント76は、素子24及び28から離間して配置され、かつこれらの素子と直線方向が互いに位置合わせされている。部分74のセグメント78は、素子26及び30から離間して配置され、かつこれらの素子と直線方向が互いに位置合わせされている。
【0017】
導体70は、磁気抵抗素子24、26、28及び30の有感方向に予測可能な磁界を発生させるとともに、そのような磁界を得るのに必要な電流を低減し、かつデバイスのサイズを小さくするよう一意に対応した構成を有する。例えば、部分72は、パッド66を始端とする時計回りのらせん形状をなしている。セグメント76は2本の磁気抵抗ストリップ32の幅にほぼ等しい幅を有する。部分74は、パッド68に終端する反時計回りのらせん形状をなすという点が部分72と異なっている。直流電流がパッド68から入ってパッド66から出るように流れる際、図1に矢印80で示すような方向に磁界が作り出される。
【0018】
本発明は、導体70に必要な占有スペース及び電力消費を低減することを考慮したものである。例えば、部分72のセグメント76はその残りの部分より幅が広い。そのためにその残りの部分の抵抗はセグメント76の抵抗より少し高い。本発明の結果得られる利点は、導体70の前記残りの部分の必要スペースがより少なくなるということである。本発明の導体70は、同じ性格の単らせんコイルと比較して必要な占有スペースが約25%少なく、消費電力が約10%少ない。
【0019】
電流がパッド66から導体70を通ってパッド68へ、あるいはこれと反対方向に流れると、この電流は、磁気抵抗ストリップ32に直角な方向あるいは磁気抵抗ストリップ32の有感方向に磁界を発生させる。そして、この電流はブリッジを不均衡にし、パッド36と52の間に出力電圧が生じる。従って、デバイス10の幾何学的特徴が既知の場合、導体70を流れる所与の電流によって磁気抵抗素子24、26、28及び30にどのような磁界が作り出されるかを計算によって求めることができる。次に、導体70に所与の電流を流し、パッド36と52で出力電圧を測定することによって、既知の入力またはテスト磁界と出力電圧との間の関係を求めることができる。あるいは、導体70を既知の磁界内に置き、出力電圧をゼロにするのに必要な電流を測定することによって導体70を較正することができる。
【0020】
導体70は、既存の外部磁界を相殺する、あるいはうち消す目的で磁気抵抗素子の位置に磁界を生じさせるために用いることもできる。例えば、デバイス10が一方向に1.0ガウスの外部磁界が検出されている位置に置かれていて、デバイス10にかかる磁界が基本的に「0」磁界となるようにこの外部磁界を相殺してゼロにする、すなわち中和することが望ましい場合が考えられる。そのような場合は、逆方向に1.0ガウスの磁界を発生させ、外部磁界をゼロに相殺するように導体70に通電すればよい。
【0021】
フィードバック用途においては、例えば、導体70はデバイス10を「0」出力状態に保つような形態で使用することができる。その場合は、導体70に変動外部磁界に抗するのに十分な可変電流を流すことになろう。そして、導体70に流すことが必要な電流を測定すれば、その電流が変動外部磁界を表すはずである。フィードバック回路に必要な電子回路は、デバイス10の外部に設けることもできるし、あるいはデバイス10に集積した形で設けることも可能である。
【0022】
図1aは、切断線a−aに沿って切断した図1の拡大断面図である。デバイス10は、シリコン基板100、磁気抵抗ストリップ32、第1の誘電体102、導体70のセグメント78、第2の誘電体104、セグメント60の中の1つ、及びパッシベーション層106を有する。検出素子、セット−リセット・ストラップ及びオフセット・ストラップを含む層の相対位置は、ストラップにより生じる磁界を考慮して、様々に変わり得る。
【0023】
本発明は、4脚ホイートストンブリッジ構成によって説明したが、単一電流源あるいは2つの電流源を用いた2素子型ブリッジを使用することも可能であることは理解されよう。
【0024】
必要電流が従来の電流ストラップの必要電流と比較して格段に小さいことに加えて、本発明には他にも非常に重要な長所がいくつかある。第1の長所は、ヌル電圧に関連したものである。方向80の磁界がゼロ磁界の場合にパッド36と52の間に電圧があれば、それは素子24、26、28及び30の抵抗の何らかの不整合によるヌル電圧である。
【0025】
次に、図5を参照して、磁気抵抗センサはNiFe材料82及び84のような磁気抵抗材料を使用する。NiFe材料は非線形伝達関数を有する。短絡バー、例えばAlCuのような高良導体の短絡バー86及び88を約45度の角度でNiFe材料82及び84の上に置くことにより、ハーバーポール技術を用いてこの材料を線形領域においてバイアスする。すると、材料82と84の抵抗は、NiFeストリップの大きさ、バーバーポールの数と大きさ、及びバーバーポールと磁気抵抗材料との間の間隔によって決まる。磁化方向は、最初方向90及び92に設定される。符号94の方向に磁界が存在すると、磁化は方向96及び98へ回転し、材料82及び84がホイートストンブリッジの上半部を形成するよう接続された2つの素子を表すとすると、ブリッジから出力電圧が生じることになる。
【0026】
磁界がない場合、ブリッジから何らかの電圧出力があれば、それはブリッジ素子の抵抗の不整合に起因するものである。この不整合は、NiFe材料の厚さとNiFe及びバーバーポール材料の線幅の変動によって生じる。この抵抗の不整合は0.2%以下と推定される。しかしながら、例えば1×4型構造のブリッジの上半部の脚についてバーバーポールの配向が異なっている場合、抵抗の不整合が約0.7%になることもある。
【0027】
第2の長所は、交差磁界効果の低減に関連したものである。交差磁界は、センサのチップ平面内の磁界で、このセンサの有感方向を横切る方向に形成される。磁気センサはこの方向に無感であるが、既存の交差磁界はセンサの感度とヌル電圧の変化を生じさせることが起こり得る。1×4型構造あるいは2×2型構造の出力電圧Voutは、例えば次式で表すことができる:
【0028】
Vout=Vbridge・S・H
式中、Vbridgeはセンサの供給電圧であり、Sは感度、Hは有感方向の磁界である。感度は、結晶と形状異方性磁界との組合せによりセンサ材料のMR比ΔR/Rと飽和磁界Hsによって決まり、次式で与えられる:
S=(ΔR/R)/Hs
【0029】
デバイス10は2×2型設計であり、このことはブリッジの2組の脚、24と28あるいは26と30がそれぞれ互いに逆方向の飽和磁界を持つことを意味する。交差磁界はこれらの飽和磁界に平行であり、一方向の飽和磁界を強め反対方向の飽和磁界を弱めるように作用する。センサの感度Sは交差磁界Hc によって変化する。交差磁界1エルステッド(Oe)に対して、感度は約0.3%変化することが明らかにされている。
【0030】
1×4型構成の場合、交差磁界は飽和磁界に加算される磁界であり、その極性によって感度を増加あるいは低下させる。このように交差磁界Hc ともにセンサの感度は変化する。交差磁界1 Oeに対して、感度は約12%変化することが明らかにされている。セット/リセット・パルスを用いて各測定毎にセンサ出力極性を切り換え、それらの各測定における2つの測定値を互いに減算するならば、1×4型構造のブリッジにおける交差磁界誤差は大きく低減される。
【0031】
以上説明したように、本願出願人等は、磁化方向を設定して、磁界センサの有感方向に磁界を生じさせる簡単な構成を達成したものである。本願の構成は、容易に集積型磁界センサの設計に取り入れられる。本願の磁化方向設定及び磁界発生のための構成を例示説明のために特定実施例により詳細に説明したが、当業者にとっては多くの変形態様及び修正態様が自明であろう。従って、本発明の範囲は、本願で開示した実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載するところによってのみ限定されるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の開示技術に従って磁界検出デバイスの上面図である。
【図1a】 図1のデバイスの一部を線a−aに沿って切断した拡大断面図である。
【図2】 図1に示す磁界検出デバイスの一部の平面図である。
【図3】 図1に示す磁界検出デバイスの一部の平面図である。
【図4】 図1に示す磁界検出デバイスの一部の平面図である。
【図5】 磁気抵抗ストリップと磁化方向を示す概略図である。
【図6】 a及びbは、ブリッジ構造の概略図である。

Claims (6)

  1. 外部磁界を検出するための集積型デバイスにおいて、
    少なくとも第1及び第2の磁界検出素子と出力終端領域を有し、第1の方向の磁界成分に対して有感となりかつ前記出力終端領域出力信号を供給するよう構成された界検出手段と、
    前記第1の磁界検出素子の磁化方向を第2の方向に設定、前記第2の磁界検出素子の磁化方向を前記第2の方向と逆方向をなす第3の方向に設定するとともに、前記第1及び第2の磁界検出素子の前記磁化方向を反転する磁化方向設定手段と、 そして
    前記第1の磁界検出素子から離間して配置されていて時計回り方向に第1の電流を導通させる第1のコイルと、前記第2の磁界検出素子から離間して配置されていて反時計回り方向に前記第1の電流を導通させる第2のコイルとを含み、前記磁界検出手段の所に前記第1の方向に磁界を発生する磁界発生手段と
    を具備し、
    前記磁界検出手段は、第1のレベルの出力信号を供給し、かつ、前記第1及び第2の磁界検出素子の磁化方向の反転に応じて第2のレベルの出力信号を供給し、前記第1のレベルの出力信号と前記第2のレベルの出力信号との差が第1の方向の前記外部磁界成分を表す
    ことを特徴とする集積型デバイス。
  2. 上記磁界検出手段が鉄−ニッケル合金製であることを特徴とする請求項1記載の集積型デバイス。
  3. 上記磁界発生手段が、磁化方向を設定するための、上記磁化方向設定手段よりなる層と上記磁界検出手段よりなる層との間に設けられていることを特徴とする請求項2記載の集積型デバイス。
  4. 外部磁界を検出する集積型デバイスにおいて、
    各々第1及び第2の終端領域を有し、第1の方向の磁界成分に対して有感である第1、第2、第3、及び第4の磁気抵抗素子を有する磁界検出手段であって、第1の磁気抵抗素子の第1の終端領域が第3の磁気抵抗素子の第1の終端領域に接続されており、第1の磁気抵抗素子の第2の終端領域が第2の磁気抵抗素子の第2の終端領域に接続されており、第3の磁気抵抗素子の第2の終端領域が第4の磁気抵抗素子の第2の終端領域に接続されており、第2の磁気抵抗素子の第1の終端領域が第4の磁気抵抗素子の第1の終端領域に接続されている磁界検出手段と、
    螺旋形状を有して、前記第1及び第2の磁気抵抗素子の磁化方向を第2の方向に設定する磁界を発生させかつ前記第3及び第4の磁気抵抗素子の磁化方向を前記第2の方向と逆方向をなす第3の方向に設定する磁界を発生させるとともに、前記第1、第2、第3、及び第4の磁気抵抗素子の前記磁化方向を反転させるような位置に設けられた第1のコイルと、そして
    前記第1及び第3の磁気抵抗素子から離間して配置されていて、時計回り方向に第1の電流を導通させる第2のコイル及び前記第2及び第4の磁気抵抗素子から離間して配置されていて、前記第1の電流を反時計回り方向に導通させる第3のコイルを含み、前記磁界検出手段の所に前記第1の方向に磁界を発生する磁界発生手段と
    を具備したことを特徴とする集積型デバイス。
  5. 外部磁界を検出する集積型デバイスにおいて、
    基板と、
    少なくとも第1及び第2の磁界検出素子と出力終端領域を具備し、第1の方向の磁界成分に対して有感となりかつ前記出力終端領域において出力信号を供給するよう構成された磁界検出層と、
    前記第1の磁界検出素子の磁化方向を第2の方向に設定し、前記第2の磁界検出素子の磁化方向を第2の方向と逆方向に設定するとともに、前記第1及び第2の磁界検出素子の前記磁化方向を反転する磁化設定層と、そして
    前記第1の磁界検出素子から離間して配置されていて、時計回り方向に第1の電流を導通させる第1のコイルと、前記第2の磁界検出素子から離間して配置されていて、反時計回り方向に前記第1の電流を導通させる第2のコイルとを具備し、前記第1及び第2の磁界検出素子に前記第1の方向の磁界を生じさせる磁界発生層と
    を具備し、
    前記磁界検出層、磁化設定層あるいは磁界発生層の中の1つが前記基板上に形成されていることを特徴とする集積型デバイス。
  6. 外部磁界を検出するための集積型デバイスにおいて、
    各々第1及び第2の終端領域を有し、第1の方向の磁界成分に対して有感である第1、第2、第3、及び第4の磁気抵抗素子を有する磁界検出層であって、第1の磁気抵抗素子の第1の終端領域が第3の磁気抵抗素子の第1の終端領域に接続されており、第1の磁気抵抗素子の第2の終端領域が第2の磁気抵抗素子の第2の終端領域に接続されており、第3の磁気抵抗素子の第2の終端領域が第4の磁気抵抗素子の第2の終端領域に接続されており、第2の磁気抵抗素子の第1の終端領域が第4の磁気抵抗素子の第1の終端領域に接続されている磁界検出層と、
    前記第1及び第3の磁界検出素子の磁化方向を第2の方向に設定し、前記第2及び第4の磁界検出素子の磁化方向を第2の方向と逆方向に設定するとともに、前記第1、第2、第3、及び第4の前記磁化方向を反転させるための磁化設定層と、そして
    前記第1の磁界検出素子から離間して配置されていて、時計回り方向に第1の電流を導通させる第1のコイルと、前記第2の磁界検出素子から離間して配置されていて、反時計回り方向に前記第1の電流を導通させる第2のコイルを含み、前記第1、第2、第3、及び第4の磁界検出素子に前記第1の方向の磁界を生じさせる磁界発生層と
    を具備し、
    前記磁界検出層、前記磁化設定層あるいは前記磁界発生層の中の1つが基板上に形成されている
    ことを特徴とする集積型デバイス。
JP2000510038A 1997-08-14 1998-08-14 磁界検出デバイス Expired - Lifetime JP5044070B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/911,550 1997-08-14
US08/911,550 US5952825A (en) 1997-08-14 1997-08-14 Magnetic field sensing device having integral coils for producing magnetic fields
PCT/US1998/016922 WO1999009427A1 (en) 1997-08-14 1998-08-14 Magnetic field sensing device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001516031A JP2001516031A (ja) 2001-09-25
JP5044070B2 true JP5044070B2 (ja) 2012-10-10

Family

ID=25430448

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000510038A Expired - Lifetime JP5044070B2 (ja) 1997-08-14 1998-08-14 磁界検出デバイス

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5952825A (ja)
EP (1) EP1004033B1 (ja)
JP (1) JP5044070B2 (ja)
DE (1) DE69808776T2 (ja)
WO (1) WO1999009427A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10816615B2 (en) 2017-05-19 2020-10-27 Asahi Kasei Microdevices Corporation Magnetic sensor

Families Citing this family (83)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6297628B1 (en) * 1998-11-17 2001-10-02 Honeywell Inc Magnetoresistive bridge array
JP3872262B2 (ja) * 2000-01-25 2007-01-24 セイコーインスツル株式会社 電子方位計及び電子方位計付電子時計
JP2001281308A (ja) * 2000-03-29 2001-10-10 Sony Precision Technology Inc 磁気センサ及び位置検出装置
JP2001339109A (ja) * 2000-05-26 2001-12-07 Sanken Electric Co Ltd ホ−ル素子を備えた電流検出装置
US20020103430A1 (en) 2001-01-29 2002-08-01 Hastings Roger N. Catheter navigation within an MR imaging device
DE10104116A1 (de) * 2001-01-31 2002-08-01 Philips Corp Intellectual Pty Anordnung zum Erfassen des Drehwinkels eines drehbaren Elements
US6756782B2 (en) * 2001-06-01 2004-06-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Magnetic field measuring sensor having a shunt resistor and method of regulating the sensor
JP2003008101A (ja) * 2001-06-20 2003-01-10 Ricoh Co Ltd トンネル磁気抵抗効果素子及びこの素子を用いた方位検知システム
US6949927B2 (en) 2001-08-27 2005-09-27 International Rectifier Corporation Magnetoresistive magnetic field sensors and motor control devices using same
US6700371B2 (en) * 2001-09-05 2004-03-02 Honeywell International Inc. Three dimensional conductive strap for a magnetorestrictive sensor
US6717403B2 (en) * 2001-09-06 2004-04-06 Honeywell International Inc. Method and system for improving the efficiency of the set and offset straps on a magnetic sensor
DE10149776B4 (de) * 2001-10-09 2006-06-29 Robert Bosch Gmbh Sensorvorrichtung zur Messung von Magnetfeldern und Herstellungsverfahren derselben
US7208940B2 (en) * 2001-11-15 2007-04-24 Honeywell International Inc. 360-Degree magnetoresistive rotary position sensor
US6667682B2 (en) * 2001-12-26 2003-12-23 Honeywell International Inc. System and method for using magneto-resistive sensors as dual purpose sensors
US7046117B2 (en) * 2002-01-15 2006-05-16 Honeywell International Inc. Integrated magnetic field strap for signal isolator
US7005958B2 (en) * 2002-06-14 2006-02-28 Honeywell International Inc. Dual axis magnetic sensor
US6750751B2 (en) 2002-08-01 2004-06-15 Honeywell International, Inc. Integrated magnetic signal isolator with feedback
US7259545B2 (en) * 2003-02-11 2007-08-21 Allegro Microsystems, Inc. Integrated sensor
US7016163B2 (en) * 2003-02-20 2006-03-21 Honeywell International Inc. Magnetic field sensor
US20050190507A1 (en) * 2004-03-01 2005-09-01 Peter Littlewood Magnetic field sensor
US7126330B2 (en) * 2004-06-03 2006-10-24 Honeywell International, Inc. Integrated three-dimensional magnetic sensing device and method to fabricate an integrated three-dimensional magnetic sensing device
FR2874703B1 (fr) * 2004-08-27 2007-02-09 Centre Nat Rech Scient Cnrse Capteur de champ magnetique et module elementaire incorporant ce capteur
US7777607B2 (en) * 2004-10-12 2010-08-17 Allegro Microsystems, Inc. Resistor having a predetermined temperature coefficient
US7271587B2 (en) * 2004-12-16 2007-09-18 Honeywell International Inc. High resolution and low power magnetometer using magnetoresistive sensors
US7154267B2 (en) 2005-01-07 2006-12-26 Honeywell International, Inc. Method and system for electronic compass calibration and verification
DE102005047413B8 (de) * 2005-02-23 2012-05-10 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensorelement und Verfahren zum Durchführen eines On-Wafer-Funktionstests, sowie Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen und Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen mit On-Wafer-Funktionstest
US7768083B2 (en) 2006-01-20 2010-08-03 Allegro Microsystems, Inc. Arrangements for an integrated sensor
US7388372B2 (en) * 2006-05-31 2008-06-17 Caterpillar Inc. Electrical system with magnetoresistive sensors
US7528592B2 (en) * 2006-05-31 2009-05-05 Caterpillar Inc. Magnetoresistive sensor for current sensing
EP2115482A2 (en) * 2007-02-14 2009-11-11 Nxp B.V. Mr magnetometer with combined flip coil and compensation coil
WO2008120118A2 (en) * 2007-03-30 2008-10-09 Nxp B.V. Magneto-resistive sensor
CN101680740B (zh) * 2007-05-29 2011-06-01 Nxp股份有限公司 外部磁场角度确定
DE102007041230B3 (de) * 2007-08-31 2009-04-09 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Kalibrierbarer mehrdimensionaler magnetischer Punktsensor sowie entsprechendes Verfahren und Computerprogramm dafür
US20090072823A1 (en) * 2007-09-17 2009-03-19 Honeywell International Inc. 3d integrated compass package
US7795862B2 (en) 2007-10-22 2010-09-14 Allegro Microsystems, Inc. Matching of GMR sensors in a bridge
US20090152356A1 (en) * 2007-12-14 2009-06-18 Honeywell International Inc. Non-contact magnetic pattern recognition sensor
US8253414B2 (en) * 2007-12-27 2012-08-28 Infineon Technologies Ag Integrated circuit including a magnetic field sensitive element and a coil
JP2009180608A (ja) * 2008-01-30 2009-08-13 U R D:Kk Icチップ形電流センサ
US8242776B2 (en) 2008-03-26 2012-08-14 Everspin Technologies, Inc. Magnetic sensor design for suppression of barkhausen noise
US7816905B2 (en) * 2008-06-02 2010-10-19 Allegro Microsystems, Inc. Arrangements for a current sensing circuit and integrated current sensor
US20090315554A1 (en) * 2008-06-20 2009-12-24 Honeywell International Inc. Integrated three-dimensional magnetic sensing device and method to fabricate an integrated three-dimensional magnetic sensing device
US20100113918A1 (en) * 2008-10-31 2010-05-06 General Electric Company System and method for tracking object
DE102009028956A1 (de) * 2009-08-28 2011-03-03 Robert Bosch Gmbh Magnetfeldsensor
US20110169488A1 (en) * 2010-01-08 2011-07-14 Everspin Technologies, Inc. Method and structure for testing and calibrating magnetic field sensing device
JP5594915B2 (ja) * 2010-03-12 2014-09-24 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
US8525514B2 (en) * 2010-03-19 2013-09-03 Memsic, Inc. Magnetometer
US8698490B2 (en) * 2010-12-15 2014-04-15 Infineon Technologies Ag Magnetoresistive angle sensors having conductors arranged in multiple planes
IT1403433B1 (it) 2010-12-27 2013-10-17 St Microelectronics Srl Sensore magnetoresistivo con capacita' parassita ridotta, e metodo
IT1403434B1 (it) 2010-12-27 2013-10-17 St Microelectronics Srl Sensore di campo magnetico avente elementi magnetoresistivi anisotropi, con disposizione perfezionata di relativi elementi di magnetizzazione
US20130320972A1 (en) * 2011-02-03 2013-12-05 Uwe Loreit Magnetic field sensing device
US20140347047A1 (en) * 2011-02-22 2014-11-27 Voltafield Technology Corporation Magnetoresistive sensor
CN102540113B (zh) * 2011-11-11 2014-07-02 江苏多维科技有限公司 磁场传感器
US20130207645A1 (en) * 2012-02-09 2013-08-15 Xiao-Qiao KONG Magnetic sensor apparatus
US20130207644A1 (en) * 2012-02-09 2013-08-15 Xiao-Qiao KONG Magnetic sensor apparatus
US20130207646A1 (en) * 2012-02-09 2013-08-15 Xiao-Qiao KONG Magnetic sensor apparatus
US9279865B2 (en) 2012-05-09 2016-03-08 Everspin Technologies, Inc. Method and structure for testing and calibrating three axis magnetic field sensing devices
US9372242B2 (en) * 2012-05-11 2016-06-21 Memsic, Inc. Magnetometer with angled set/reset coil
ITTO20120614A1 (it) 2012-07-11 2014-01-12 St Microelectronics Srl Sensore magnetoresistivo integrato multistrato e relativo metodo di fabbricazione
TWI468716B (zh) * 2012-11-12 2015-01-11 Voltafield Technology Corp 整合式磁阻感測裝置
US9134385B2 (en) 2013-05-09 2015-09-15 Honeywell International Inc. Magnetic-field sensing device
WO2015156260A1 (ja) * 2014-04-07 2015-10-15 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流検知装置
JP2016001118A (ja) * 2014-06-11 2016-01-07 三菱電機株式会社 電流検出装置、磁界検出装置及びこれらの方法
JP6203409B2 (ja) * 2014-08-07 2017-09-27 アルプス電気株式会社 磁気センサーおよびその磁気センサーを備えた電流センサー
CN104280700B (zh) * 2014-09-28 2017-09-08 江苏多维科技有限公司 一种单芯片差分自由层推挽式磁场传感器电桥及制备方法
CN106125020B (zh) * 2015-05-08 2019-02-26 爱盛科技股份有限公司 磁场感测装置及磁场感测模块
RU2617454C1 (ru) * 2016-02-17 2017-04-25 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" Способ изготовления магниторезистивного датчика
US10782153B2 (en) * 2016-03-08 2020-09-22 Analog Devices Global Multiturn sensor arrangement and readout
CN205581283U (zh) 2016-04-11 2016-09-14 江苏多维科技有限公司 一种具有初始化线圈封装的磁电阻传感器
CN105911490B (zh) * 2016-05-12 2018-06-15 美新半导体(无锡)有限公司 具有自检重置导线的磁场传感器
US10564228B2 (en) 2017-01-27 2020-02-18 Mitsubishi Electric Corporation Magnetoresistive effect element unit and magnetoresistive effect element device
CN107015171B (zh) 2017-03-24 2023-10-24 江苏多维科技有限公司 一种具有磁滞线圈的磁传感器封装结构
US10935612B2 (en) 2018-08-20 2021-03-02 Allegro Microsystems, Llc Current sensor having multiple sensitivity ranges
JP6993956B2 (ja) * 2018-12-12 2022-01-14 Tdk株式会社 磁気センサ装置
CN111586960B (zh) 2019-02-15 2021-09-14 华为技术有限公司 一种抗干扰电路板及终端
US11460521B2 (en) 2019-03-18 2022-10-04 Analog Devices International Unlimited Company Multiturn sensor arrangement
RU2738998C1 (ru) * 2019-07-10 2020-12-21 Общество с ограниченной ответственностью "Корпорация "Аксион" (ООО "Корпорация "Аксион") Магниторезистивный датчик магнитного поля
CN110780243A (zh) * 2019-11-19 2020-02-11 中国电子科技集团公司第四十九研究所 用于水下导航的高灵敏度微型磁传感单元、含有该传感单元的传感器及传感单元的制备方法
JP2021148625A (ja) 2020-03-19 2021-09-27 Tdk株式会社 磁気センサ装置
US11187764B2 (en) 2020-03-20 2021-11-30 Allegro Microsystems, Llc Layout of magnetoresistance element
US11567108B2 (en) 2021-03-31 2023-01-31 Allegro Microsystems, Llc Multi-gain channels for multi-range sensor
CN113257511A (zh) * 2021-05-11 2021-08-13 电子科技大学 一种Set/Reset线圈及其设计方法
US12061247B2 (en) 2021-09-21 2024-08-13 Tdk Corporation Magnetic sensor
US11994541B2 (en) 2022-04-15 2024-05-28 Allegro Microsystems, Llc Current sensor assemblies for low currents

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4847584A (en) * 1988-10-14 1989-07-11 Honeywell Inc. Magnetoresistive magnetic sensor
US5247278A (en) * 1991-11-26 1993-09-21 Honeywell Inc. Magnetic field sensing device
US5583424A (en) * 1993-03-15 1996-12-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic element for power supply and dc-to-dc converter
JP3347452B2 (ja) * 1993-03-15 2002-11-20 株式会社東芝 電源用磁気素子およびdc−dcコンバータ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10816615B2 (en) 2017-05-19 2020-10-27 Asahi Kasei Microdevices Corporation Magnetic sensor

Also Published As

Publication number Publication date
DE69808776D1 (de) 2002-11-21
US5952825A (en) 1999-09-14
DE69808776T2 (de) 2003-12-11
WO1999009427A1 (en) 1999-02-25
EP1004033B1 (en) 2002-10-16
JP2001516031A (ja) 2001-09-25
EP1004033A1 (en) 2000-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5044070B2 (ja) 磁界検出デバイス
US6529114B1 (en) Magnetic field sensing device
JP4458849B2 (ja) 多重目的センサとして磁気抵抗センサを使用するシステム及び装置
US6949927B2 (en) Magnetoresistive magnetic field sensors and motor control devices using same
JP3465059B2 (ja) 磁化反転導体と一又は複数の磁気抵抗レジスタとからなる磁界センサ
US7859255B2 (en) Matching of GMR sensors in a bridge
US5247278A (en) Magnetic field sensing device
JP2936140B2 (ja) 磁界センサ
US7737678B2 (en) Magnetic sensor and current sensor
US7902811B2 (en) Current sensor
US5500590A (en) Apparatus for sensing magnetic fields using a coupled film magnetoresistive transducer
US20060114098A1 (en) Current sensor
JP2016001118A (ja) 電流検出装置、磁界検出装置及びこれらの方法
US9372242B2 (en) Magnetometer with angled set/reset coil
US20200300943A1 (en) Magnetic field sensing device
KR102693271B1 (ko) 낮은 각도 오차로 고자기장을 감지하기 위한 자기 각도 센서 장치
CA2329209C (en) Magnetic field sensing device
NL8303305A (nl) Dunne-film-magnetometer.
JPH05248868A (ja) 磁気センサ及び電子式方位計
JPH0571714U (ja) 磁気センサ及び電子式方位計

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050714

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071119

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081021

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090804

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20091204

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20110928

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111003

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111028

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120510

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120522

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120713

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150720

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term