JP5043906B2 - 硬質皮膜およびその形成方法 - Google Patents
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0≦a≦0.7 --------------------- 式(1a)
0≦b≦0.5 --------------------- 式(2a)
0<1−a−b --------------------- 式(3a)
0≦c≦0.3 --------------------- 式(4a)
0≦d≦0.25 --------------------- 式(5a)
(1−d−e)/e≦1.5 ----------- 式(6a)
ただし、上記(XC , M1-C )(Ba Cb N1-a-b )、上記式(1a)〜(4a)において、aはBの原子比、bはCの原子比、1−a−bはNの原子比、cはXの原子比、1−cはMの原子比を示すものである。上記B1-d-e Cd Ne 、上記式(5a)〜(6a)において、dはCの原子比、eはNの原子比、1−d−eはBの原子比を示すものである。
0≦a≦0.7 --------------------- 式(11)
0≦b≦0.5 --------------------- 式(12)
0<1−a−b --------------------- 式(13)
0≦c≦0.3 --------------------- 式(14)
0≦f≦0.25 --------------------- 式(15)
(1−f−g)/g≦1.4 ----------- 式(16)
0≦h≦0.6 --------------------- 式(17)
ただし、上記(XC , M1-C )(Ba Cb N1-a-b )、上記式(11)〜(14)において、aはBの原子比、bはCの原子比、1−a−bはNの原子比、cはXの原子比、1−cはMの原子比を示すものである。上記Si1-f-g Cf Ng 、上記式(15)〜(16)において、fはCの原子比、gはNの原子比、1−f−gはSiの原子比を示すものである。上記C1-h Nh 、上記式(17)において、hはNの原子比、1−hはCの原子比を示すものである。
0.05≦a≦0.7 ----------------------式(1)
0≦b≦0.5 --------------------- 式(2)
0<1−a−b --------------------- 式(3)
0≦c≦0.3 ----------------------式(4)
ただし、上記(XC , M1-C )(Ba Cb N1-a-b )、上記式(1) 〜(4) において、aはBの原子比、bはCの原子比、1−a−bはNの原子比、cはXの原子比、1−cはMの原子比を示すものである。
この基礎発明に係る硬質皮膜において、MがW、Vの1種以上(W及び/又はV)であることとしたのは、これらの元素が形成する酸化物がいずれも融点が低く、軟質でしゅう動特性に優れ、このため耐焼き付き性に優れている点にある。これらの元素が含まれる場合、材料加工時に被加工材との接触が生じた部分で局所的に摩擦により温度上昇が生じ、酸化皮膜が形成される。Wの酸化物であるWO3 の融点は1400℃、Vの酸化物であるV2O5の融点は685 ℃であり、Wの酸化物の方がVの酸化物よりも融点が高い。融点が高い酸化物を形成する元素ほど、高面圧あるいは高温での使用に適する。従って、これらの元素の比率は使用目的に合わせて適時選択すれば良い。
金属元素MおよびBを含有するターゲットを使用し、アーク蒸発源およびスパッタ蒸発源を有する成膜装置にて表1のNo.4〜2Oに示す組成の皮膜を作製した。即ち、基板上に表1のNo.4〜2Oに示す組成の皮膜を形成(成膜)させた材料(以下、皮膜形成材ともいう)を得た。
金属元素MおよびBを含有するターゲット、および、B4 C、Si、Cターゲットを使用し、アーク蒸発源ならびにスパッタ蒸発源を有する成膜装置にて表2に示す組成の皮膜を作製した。即ち、基板上に表2に示す組成の皮膜を形成(成膜)させた材料(皮膜形成材)を得た。
Claims (5)
- (XC , M1-C )(Ba Cb N1-a-b )からなる皮膜と、B1-d-e Cd Ne からなる皮膜とを合計で2層以上交互に積層して形成した硬質皮膜であって、MはW、V、Moから選択される1種以上であり、Xは4A、5A族、6A族の元素およびAl、Si、Fe、Co、Niから選択される1種以上であると共に、下記の式(1a)〜(4a)および式(5a)〜(6a)を満たすことを特徴とする硬質皮膜。
0≦a≦0.7 --------------------- 式(1a)
0≦b≦0.5 --------------------- 式(2a)
0<1−a−b --------------------- 式(3a)
0≦c≦0.3 --------------------- 式(4a)
0≦d≦0.25 --------------------- 式(5a)
(1−d−e)/e≦1.5 ----------- 式(6a)
ただし、上記(XC , M1-C )(Ba Cb N1-a-b )、上記式(1a)〜(4a)において、aはBの原子比、bはCの原子比、1−a−bはNの原子比、cはXの原子比、1−cはMの原子比を示すものである。上記B1-d-e Cd Ne 、上記式(5a)〜(6a)において、dはCの原子比、eはNの原子比、1−d−eはBの原子比を示すものである。 - (XC , M1-C )(Ba Cb N1-a-b )からなる皮膜と、Si1-f-g Cf Ng からなる皮膜またはC1-h Nh からなる皮膜とを合計で2層以上交互に積層して形成した硬質皮膜であって、MはW、V、Moから選択される1種以上であり、Xは4A、5A族、6A族の元素およびAl、Si、Fe、Co、Niから選択される1種以上であると共に、下記の式(11)〜(14)、および、式(15)〜(16)または式(17)を満たすことを特徴とする硬質皮膜。
0≦a≦0.7 --------------------- 式(11)
0≦b≦0.5 --------------------- 式(12)
0<1−a−b --------------------- 式(13)
0≦c≦0.3 --------------------- 式(14)
0≦f≦0.25 --------------------- 式(15)
(1−f−g)/g≦1.4 ----------- 式(16)
0≦h≦0.6 --------------------- 式(17)
ただし、上記(XC , M1-C )(Ba Cb N1-a-b )、上記式(11)〜(14)において、aはBの原子比、bはCの原子比、1−a−bはNの原子比、cはXの原子比、1−cはMの原子比を示すものである。上記Si1-f-g Cf Ng 、上記式(15)〜(16)において、fはCの原子比、gはNの原子比、1−f−gはSiの原子比を示すものである。上記C1-h Nh 、上記式(17)において、hはNの原子比、1−hはCの原子比を示すものである。 - 前記(XC , M1-C )(Ba Cb N1-a-b )からなる皮膜層の厚みが1〜200 nmであると共に、前記B1-d-e Cd Ne からなる皮膜層、Si1-f-g Cf Ng からなる皮膜層またはC1-h Nh からなる皮膜層の厚みが0.5 〜50nmである請求項1または2記載の硬質皮膜。
- 前記皮膜の総厚みが1〜10μmである請求項1〜3のいずれかに記載の硬質皮膜。
- 請求項1〜4のいずれかに記載の硬質皮膜の形成方法であって、W、V、Moから選択される1種以上を含む金属ターゲットとB4 C、SiあるいはCターゲットを各々1個以上使用し、複数個の蒸発源を有する成膜装置を用いて成膜し、この成膜の際に基板回転速度を変化させることを特徴とする硬質皮膜の形成方法。
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