JP5038361B2 - 真空計 - Google Patents
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Description
1.遮蔽極とイオン引出し極は半密閉の円筒形に構成される。アナログ計算の結果により、電子はこのような領域において発振しやすいので、高い感度を実現できる。
2.イオン反射極を増設して、より多くのイオンがコレクタに達して、さらに高感度を実現するようにする。
3.イオン引出し極は大部分のX線と電子誘導脱離によるイオンを遮蔽するので、真空計の測定の下限を、より高い真空度を実現するように延伸することができる。
1.遮蔽極とイオン引出し極は半密閉の円筒形に構成される。アナログ計算の結果により、電子はこのような領域において発振しやすいので、高感度を実現できる。
2.イオン反射極を増設して、より多くのイオンがコレクタに達して、さらに高感度を実現するようにする。
3.イオン引出し極は大部分のX線と電子誘導脱離のイオンを遮蔽するので、真空計の測定の下限がをより高い真空度を実現するように延伸することができる。
4.陰極ユニット素子を冷陰極ユニット電子源とすると、さらに真空計の電子誘導による排気及びエネルギーの消耗を低下する。
32、42 遮蔽極
34、44 イオン引出し極
36、46 コレクタ
31 熱陰極ユニット
33、43 陽極環
35、45 反射極
37、47 電子引出し穴
41 冷陰極ユニット
312 フィラメント
314 フィラメントの支持棒
341、441 イオン引出し穴
Claims (3)
- 第一開口及び第二開口を備える遮蔽極と、
前記第一開口に対向する陰極ユニットと、
前記第二開口に対応するイオン引出し極と、
前記イオン引出し極の中央に設置されたイオン引出し穴と、
前記遮蔽極の第二開口を囲んで設置された反射極と、
前記イオン引出し穴に対向して、前記反射極の中心に設置されたコレクタと、
前記遮蔽極の中央に設置されている陽極環と、
を含み、
前記陰極ユニットから発射させた電子を、前記遮蔽極に入射させ、前記陽極環に電圧を印加して前記遮蔽極の内部に対称のサドルフィールドを形成し、前記サドルフィールドによって前記電子を発振させてガス分子にぶつけて電離させることでイオン流を形成し、前記イオン流を前記コレクタで捕集して電流信号に変換することを特徴とする真空計。 - 前記陽極環の直径が200μmであることを特徴とする請求項1に記載の真空計。
- 前記陽極環と、前記イオン引出し極と、前記反射極とは、全て前記遮蔽極の軸線を中心に対称となるように設置されることを特徴とする請求項1又は2に記載の真空計。
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JP2000315474A (ja) * | 1999-04-30 | 2000-11-14 | Shimadzu Corp | 質量分析計 |
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