JP5038273B2 - 樹脂モールド半導体センサ及び製造方法 - Google Patents

樹脂モールド半導体センサ及び製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、リードフレーム上に固定された半導体センサ素子を樹脂モールドによりパッケージ化した樹脂モールド半導体センサと、その製造方法に関し、例えば自動車用の加速度センサモジュールや振動センサモジュールに適用可能な樹脂モールド半導体センサ及びその製造方法に関する。
従来、加速度センサは、例えば次のように構成されている。即ち、リードフレーム上に実装され固定された、加速度を検出する半導体センサ素子及びその制御回路は、ワイヤを介して出力端子やコネクタに結線される。さらに、半導体センサ素子及びワイヤが大気に直接触れて腐食することで加速度センサが劣化するのを防止するため、半導体センサ素子及びワイヤ等は、樹脂材料にて封止される。このようにして樹脂モールドされパッケージ化された加速度センサが作製される。
上述の、樹脂モールドされパッケージ化された加速度センサを備えた、従来の加速度センサユニットでは、上記加速度センサを実装した基板がハウジングに固定され、さらにハウジングには、加速度センサを密閉する蓋となるプレートが取り付けられ、防水性を維持している(例えば特許文献1)。
又、上述のような従来の加速度センサユニットに対し、加速度センサを実装した基板や蓋となるプレートを無くし、低コスト化を図ったセンサ構造も存在する。該センサ構造では、外部出力端子を備えたリードフレームが樹脂材にてモールドされ、リードフレームと上記樹脂材にてなるパッケージ部材とが一体化される。さらに、パッケージ部材に形成された素子搭載部に半導体センサ素子が固定されている。
このような樹脂製パッケージでは、パッケージ部材でリードフレームをモールドするときの初期応力や、リードフレーム、半導体センサ素子及びパッケージ部材の各部材間における熱膨張係数差による歪みに起因して、センサ特性に変動が生じる。
そこで、上記センサ構造では、パッケージ部材のクリープ変形に伴い発生しセンサ特性を変動させるクリープ応力が、小さくなるもしくは半導体センサ素子へ伝わりにくくなるように、センサ素子搭載部が凹形状にて形成され、樹脂の薄肉化が図られている。さらに、半導体センサ素子が搭載されたリードフレームの反搭載側において、パッケージ部材には、空間部を形成している。該空間部を設けることで、パッケージ部材にクリープ変形が発生した場合でも、クリープ応力が半導体センサ素子へ伝わるのを抑制している(例えば特許文献2)。
特開2005−106584号公報 特開2000−356561号公報
しかしながら、上記特許文献2に開示される構造では、上記空間部は、リードフレームと接しており、又、上記特許文献2は、半導体センサ素子を封止したパッケージをさらに別の樹脂材で封止する構造を開示していない。さらに、上記空間部が開放状態である場合には、外部から水分等が空間部に浸入し、半導体センサ素子やワイヤに腐食劣化が発生してしまう。一方、上記空間部を外部から遮断した封止構造を採るためには、空間部に蓋を取り付け密閉する封止工程が必要であり、コストアップにつながるという問題点が生じる。
本発明では、上述したような問題点を解決するためになされたものであり、従来に比べセンサ特性変動が少ない樹脂モールド半導体センサ及びその製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は以下のように構成する。
即ち、本発明の第1態様における樹脂モールド半導体センサは、半導体センサ素子及び該半導体センサ素子を実装したリードフレームを第1樹脂材料にて封止して成型されるセンサユニットと、熱可塑性であって硬化収縮性のある第2樹脂材料にて上記センサユニットを封止して成型されるハウジングケースと、を備えた樹脂モールド半導体センサであって、上記ハウジングケースは、上記センサユニットを形成する側面の内、最も大きな面積を有する大面積側面との間に空隙部を有することを特徴とする。
本発明の第1態様における樹脂モールド半導体センサによれば、半導体センサ素子を第1樹脂材料にて封止したセンサユニットを内部に保持して、第1樹脂材料とは異なる第2樹脂材料にてなるハウジングケースがインサート成型される。インサート成型されるハウジングケースに用いられる第2樹脂材料は、熱可塑性であって硬化収縮性のある材料である。よって、ハウジングケースの第2樹脂材料の硬化時に生じる収縮により、センサユニットと第2樹脂材料との界面部分、特にセンサユニットにて最も大きな面積を有する大面積側面部分には、空隙部が形成される。この空隙部により、ハウジングケースに生じた応力は、半導体センサ素子を有するセンサユニットに伝わりにくくなる。したがって、従来に比べセンサ特性変動が少ない安定した樹脂モールド半導体センサ及びその製造方法を提供することが可能となる。
本発明の実施形態である、樹脂モールド半導体センサ及びその製造方法について、図を参照しながら以下に説明する。尚、各図において、同一又は同様の構成部分については同じ符号を付している。
実施の形態1.
図1Aは、本発明の実施の形態1による樹脂モールド半導体センサ1の概略構成図であり、図1Bは、図1Aに示すA−A’部における断面図である。尚、図1Aは、図1Bに示す樹脂モールド半導体センサ1の水平方向における断面状態を示しているが、図示の明瞭化のため断面用ハッチングの図示を省略している。又、図2Aは、樹脂モールド半導体センサ1内に埋め込まれる、以下に詳細を説明する、センサユニット10の概略構成図であり、図2Bは、図2Aに示すB−B’部における断面図である。
図1A及び図1Bに示すように、樹脂モールド半導体センサ1は、例えば加速度等の力学量を検出するセンサ部分であるセンサユニット10をモールド樹脂13にて封止し成型した構造を有するセンサモジュールである。以下に、樹脂モールド半導体センサ1の製造工程に従いながら、樹脂モールド半導体センサ1の各構成部分について説明を行う。
センサユニット10には、リードフレーム2、半導体センサ素子3、信号処理回路4、ワイヤ5、コネクタピン6、及びモールド樹脂7が含まれる。
リードフレーム2は、例えば42アロイ(Fe−42%Ni合金)と呼ばれる合金板を型抜き成型した基板である。
半導体センサ素子3は、主にシリコンなどの半導体にて構成され上記力学量を検出する素子であり、本実施形態では加速度を検出する素子である。尚、半導体センサ素子3としては、加速度センサ素子に限らず、外力歪みや変形を検出して信号を出力する圧力センサ又は歪みセンサ等の様々な力学量センサ素子が使用可能である。信号処理回路4は、半導体センサ素子3が出力する力学量情報を処理する回路部分である。
これらの半導体センサ素子3及び信号処理回路4は、導電性ペーストやハンダ材などを接着剤としてリードフレーム2に固定され、半導体センサ素子3、信号処理回路4、及びリードフレーム2は、ボンディング工程にて、金等の低電気抵抗材料の部材にてなるワイヤ5にて相互に電気的に接続される。
コネクタピン6は、当該樹脂モールド半導体センサ1と外部機器とを電気的に接続する端子であり、本実施形態では、リードフレーム2とは別に設けられた細長い板状の部材にてなり、リードフレーム2の延在方向41に沿って延在する。コネクタピン6は、2本設けられ、平行に並設される。各コネクタピン6は、リードフレーム2とワイヤ5にて電気的に接続され、信号処理回路4が出力する電気信号を当該樹脂モールド半導体センサ1の外部機器へ送出する。尚、リードフレーム2及びコネクタピン6は、ワイヤ接続ではなく同一部材で一体形成してもよい。
このように構成されたリードフレーム2、半導体センサ素子3、信号処理回路4、ワイヤ5、及びコネクタピン6は、上述のボンディング工程後、第1モールド工程において、モールド樹脂7により封止され成型され、センサユニット10が形成される。モールド樹脂7は、第1樹脂材料の一例に相当する樹脂材であり、半導体センサ素子3の構造材、例えばシリコン、と熱膨張係数が近い材料が選択される。具体的には、モールド樹脂7は、例えばエポキシ系の熱硬化性樹脂材である。エポキシ系の熱硬化性樹脂材は、耐水性、耐薬品性、電気絶縁性に優れ、硬化の際における収縮が少なく、強度があり、半導体封止材料として用いられている樹脂材料である。
又、モールド樹脂7は、ほぼ直方体形状となるように成型され、リードフレーム2に平行又は略平行に位置する平坦なモールド樹脂7の各側面Z1、Z2が、その他の平坦な各側面X1、X2、Y1、Y2よりも面積においてそれぞれ広くなるように、成型される。ここで、側面Z1,Z2が大面積側面に相当し、側面X1、X2、Y1、Y2は、リードフレーム2の厚み方向42に平行又は略平行に位置する側面である。又、側面X1及び側面X2は、上記延在方向41に位置する側面であり互いに対向し、側面Y1及び側面Y2は、延在方向41及び厚み方向42に直交する幅方向43に位置する側面であり互いに対向する。又、コネクタピン6は、側面X1から延在方向41に沿って突出する。
又、センサユニット10では、図示するように、大面積側面Z1、Z2に対して側面X1、X2を厚み方向42に突出させて、リブ9を形成している。リブ9は、センサユニット10の剛性を高めるために設けたもので、必要に応じて設ければよい。又、リブ9の位置や形状は、図示の形態に限定されるものではない。例えば、側面Y1、Y2部分に設けても良く、あるいは、側面X1、X2、及び側面Y1、Y2の両方の部分に設けても良い。尚、側面Y1、Y2の周辺端部にリブ9を形成した構造としたため、図2Aに示すように、側面Y1、Y2は、僅かにセンサユニット10の内部側へ入った形状になっている。
又、センサユニット10のインサート成型後、必要により、センサユニット10を形成するモールド樹脂7の表面に対して、バリの除去、研磨、検査などが実施される。
上述のように第1モールド工程にてセンサユニット10を作製した後、第2モールド工程にて、モールド樹脂13にてセンサユニット10がモールドされ、当該樹脂モールド半導体センサ1がインサート成型される。成型されたモールド樹脂13は、樹脂モールド半導体センサ1のハウジングケース14となる。ハウジングケース14は、当該樹脂モールド半導体センサ1と外部機器との接合部分である凹状のコネクタ部12を有する。センサユニット10から突出しているコネクタピン6は、凹状のコネクタ部12内へ突出する。
モールド樹脂13は、第2樹脂材料の一例に相当する樹脂材であり、例えばエンジニアリングプラスチックの熱可塑性飽和ポリエステル樹脂であるポリブチレンテレフタレート(PBT)や、汎用プラスチックのポリプロピレン(PP)、ポリスチレン(PS)などである。PBT樹脂は、センサユニット10を成型するのに用いたエポキシ系の熱硬化性樹脂にてなるモールド樹脂7に対して接合することなく密着性が低い材料であり、また、硬化収縮性が大きい材料である。
したがって、モールド樹脂13では、モールド樹脂13が冷却固化するとき、その表面が先に固化しその中心部の固化が遅れることで、いわゆる「ひけ」と呼ばれる凹形状が樹脂表面に形成される。このような樹脂材の硬化収縮による凹形状は、モールド樹脂13がセンサユニット10と接している領域の中央部や肉厚部で発生する。
このようなモールド樹脂13の特性により、センサユニット10を内部に保持してモールド樹脂13にてハウジングケース14をインサート成型したとき、センサユニット10の外表面の内、特に、最も大きな面積を有する側面Z1,Z2に接する樹脂13の領域では、冷却されやすいことから、上記凹形状が比較的容易に形成される。即ち、図1Bに示すように、センサユニット10の側面Z1,Z2とモールド樹脂13との間には、上記凹形状にてなる空隙部8が形成される。換言すると、モールド樹脂13つまりハウジングケース14は、側面Z1,Z2に対応する部分に空隙部8を有する。このように、センサユニット10の側面Z1,Z2と、ハウジングケース14とは、空隙部8にて非接触となり分離される。
一方、センサユニット10におけるその他の側面X1,X2,Y1,Y2は、側面Z1,Z2に比べて面積が小さいことから、比較的冷却が穏やかに進むことから、空隙部8の形成は無いか、僅かである。よって、側面X1,X2,Y1,Y2は、モールド樹脂13つまりハウジングケース14と接し、あるいはハウジングケース14にて保持される。したがって、例えば衝突時等に発生する加速度は、ハウジングケース14を介して、ハウジングケース14内のセンサユニット10、具体的には半導体センサ素子3に、効果的に伝達されることが可能である。
又、出願人によりなされた、種々のPBT樹脂厚と上記凹形状形成との関係の検討によれば、凹形状の空隙部8が形成されるには、センサユニット10の側面Z1,Z2に対応したモールド樹脂13の領域において、上記厚さ方向42にて、少なくとも1mm以上のモールド樹脂13の厚さが必要であることが判った。よって、本実施形態においても、センサユニット10の側面Z1,Z2に対応したモールド樹脂13の領域は、上記厚み方向42において1mm以上の厚みを有している。
上述のように、上記厚み方向42に対応する半導体センサ素子3の上下方向におけるセンサユニット10の側面Z1,Z2に、即ちセンサユニット10において最も大きな面積を有する側面Z1,Z2に対応して空隙部8を形成することで、ハウジングケース14等からセンサユニット10に作用する熱応力の影響を低減することができ、例えば温度変化に伴うハウジングケース14等の変形や歪みがセンサユニット10に作用するのを低減することができる。したがって、樹脂モールド半導体センサ1におけるセンサ特性の変動を従来に比べて低減することができる。
尚、センサユニット10におけるその他の側面X1,X2,Y1,Y2は、側面Z1,Z2に比べて面積が小さいことから、側面X1,X2,Y1,Y2からセンサユニット10に対する上記熱応力の影響は、元々小さく、無視可能である。したがって、上述のように側面X1,X2,Y1,Y2に対応した部分に空隙部8が形成されていなくてもよい。
又、上述のように、半導体センサ素子3及び信号処理回路4等がモールド樹脂7にて封止されて、センサユニット10が形成され、かつ、当該樹脂モールド半導体センサ1は、センサユニット10を内側に埋め込んでインサート成型にて作製されている。したがって、本実施形態では、従来のように半導体センサ素子収納用の凹部を形成する必要はなく、小型の樹脂モールド半導体センサの作製が可能であり、かつ上記凹部を密閉する封止工程も不要となることから、低コストでの作製が可能である。
尚、第2樹脂材料であるモールド樹脂13について、第1樹脂材料であるモールド樹脂7に対する低密着性のみに着目して比較的小さい空隙部8を形成させる場合には、第2樹脂として、硬化収縮が比較的小さい樹脂材料である、ガラス繊維で補強した不飽和ポリエステル樹脂のFRP(繊維補強プラスチック)であるBMC(バルクモールディングコンパウンド)や、SMC(シートモールディングコンパウンド)などを用いることができる。
又、センサユニット10における大面積側面Z1,Z2に対応して、より良好に空隙部8が形成されるように、センサユニット10の作製後、ハウジングケース14をインサート成型する前に、側面Z1,Z2を予め研磨して平坦化する、又、図2Bに示すように、側面Z1,Z2とモールド樹脂13との密着性を低下させる離型剤16、例えばシリコーン系離型剤16を予め側面Z1,Z2に塗布する、等の処理を行うことは好ましい。
一方、例えば衝突時等に生じる加速度を、樹脂モールド半導体センサ1内のセンサユニット10に確実に伝達させるため、センサユニット10端部、つまり側面X1,X2や、側面Y1,Y2は、モールド樹脂13と密着させる必要がある。したがって、センサユニット10の側面X1,X2、Y1,Y2は、モールド樹脂13との密着性を増すため粗面化しておくのが望ましい。又、上述したリブ9の構造も、センサユニット10の側面X1,X2、Y1,Y2をモールド樹脂13に密着させるという観点において有効な手段である。
以上説明したように作製、構成された、本実施形態では加速度を検出する樹脂モールド半導体センサ1は、自動車の側部や前部等に設置され、例えばエアバックシステムにおいて加速度を検出する加速度センサとして用いられる。このため、樹脂モールド半導体センサ1には、車両取付箇所への取り付け固定用のボルト孔11が設けられている。尚、このように樹脂モールド半導体センサ1が自動車に取り付けられたとき、本実施形態では、検出すべき加速度は、リードフレーム2に平行又はほぼ平行な方向、つまり上記延在方向41及び上記幅方向43又はこれらに近似する方向に作用する。又、コネクタ部12には、外部コネクタが接続され、半導体センサ素子3にて検出された加速度情報が上記外部コネクタを介してエアバッグ展開用のECU等に送出され、所定時には、エアバッグの展開が行われる。尚、コネクタ部12は、外部コネクタとの接続により防水性を有する構造である。
実施の形態2.
図3には、本発明の実施の形態2による樹脂モールド半導体センサ15の断面図が示されている。上述した実施の形態1における樹脂モールド半導体センサ1と、本実施の形態2による樹脂モールド半導体センサ15との相違点は、センサユニット10の大面積側面Z1,Z2に対応するハウジングケースにおける領域の厚み方向42における厚さが相違する点のみである。本実施の形態2による樹脂モールド半導体センサ15におけるその他の構成は、実施の形態1における樹脂モールド半導体センサ1の構成と同じである。
本実施の形態2による樹脂モールド半導体センサ15に備わる、第2樹脂材料のモールド樹脂13にてなるハウジングケース14−1では、空隙部8が形成されているセンサユニット10の側面Z1,Z2に対応した領域14aの厚み方向42における厚さは、実施の形態1の樹脂モールド半導体センサ1に備わるハウジングケース14の対応領域の厚さに比べて厚い。このように、領域14aの厚みを大きくすることで、ハウジングケース14−1の成型時における硬化収縮量が大きくなり、空隙部8の隙間量を大きくすることができる。
したがって、樹脂モールド半導体センサ15では、実施の形態1の樹脂モールド半導体センサ1に比べて、センサユニット10に対する熱応力の影響をさらに低減することができ、より安定したセンサ特性を得ることができる。
実施の形態3.
本発明の実施の形態3は、第2モールド工程における樹脂モールド半導体センサの製造方法に関し、ここでは、図4に示すように実施の形態1の樹脂モールド半導体センサ1を例に採り、説明を行う。
上述したように、第2モールド工程では、例えば熱可塑性飽和ポリエステル樹脂であるPBTのようなモールド樹脂13を用いて、センサユニット10を包囲したインサート成型が行われる。結晶性樹脂であるPBTは、耐熱性が高く、耐溶剤性に優れ、流れ良好、という特性を有する樹脂材料であるが、収縮率が大きい。よって熱可塑性飽和ポリエステル樹脂の成型時には、成型圧を制御するとともに金型温度の均一化を図ることが一般的に行われる。上述したように本発明では、PBTなどの熱可塑性樹脂の特徴である硬化収縮性を利用し、センサユニット10における大面積の平面と接する熱可塑性樹脂部分に空隙部8を形成する。
上述の実施の形態1では、第2モールド工程においてインサート成型にて樹脂モールド半導体センサ1を作製するとき、上述のように金型の温度を均一に保ってハウジングケース14の成型が行われている。これに対し、本実施の形態3では、図4に示すように、第2モールド工程において、ハウジングケース14の上下の外形用モールド金型21,22とは別に、コネクタ部用金型23を設けてインサート成型を行う。コネクタ部用金型23は、樹脂モールド半導体センサ1のハウジングケース14に備わる凹状のコネクタ部12に嵌合し、さらにセンサユニット10よりコネクタ部12内へ突出しているコネクタピン6と接触する金型であり、金型21,22と共にセンサユニット10を保持する。
そして本実施の形態3では、第2モールド工程におけるモールド樹脂13によるハウジングケース14の成型の際、コネクタ部用金型23を、外形用モールド金型21,22に比べて低温に設定する。これにより、金属製で熱伝導性がよいコネクタピン6からコネクタ部用金型23への放熱が促進され、コネクタピン6が挿入されているセンサユニット10の温度を低下させることができる。
したがって、センサユニット10における側面Z1,Z2に接するモールド樹脂13の界面部分14bの温度は、比較的低く、一方、側面Z1,Z2に対応したハウジングケース14の領域14aの内、界面部分14b以外の部分14cの温度は、外形用モールド金型21,22の熱影響を受け、比較的高い。このように、モールド樹脂13が硬化する際、界面部分14bと、部分14cとの温度差は、本実施の形態3では実施の形態1の場合に比べて大きくなる。つまり、温度分布の不均一さが本実施の形態3では大きい。その結果、温度の低い界面部分14bにて、モールド樹脂13に大きな硬化収縮が生じ、本実施の形態3では実施の形態1の場合に比べて大きな隙間量にてなる空隙部8を形成することができる。したがって本実施の形態3では、実施の形態1の場合に比べて、より安定したセンサ特性を得ることができる。
又、コネクタ部用金型23によるセンサユニット10の放熱性能、特にセンサユニット10の側面Z1,Z2における放熱性能をより向上させるため、図5A及び図5Bに示すようなセンサユニット10−1を構成することもできる。センサユニット10−1は、コネクタピン6−1、6−2を有する点でセンサユニット10と相違する。即ち、センサユニット10に備わるコネクタピン6は、図2B等に示すように短冊状平板の端子部のみからなるが、センサユニット10−1のコネクタピン6−1、6−2は、端子部6a、及び該端子部6aと一体的に成形されている放熱部24,25を有する。尚、コネクタピン6−1,6−2は、コネクタピン6と同じ材料にて形成される。
コネクタピン6−1における放熱部24は、図5A及び図5Bに示すように、センサユニット10−1の側面Z1のほぼ全面に相当する面積を有し、側面Z1と同一面になるように側面Z1に露出して配置される。又、コネクタピン6−2における放熱部25は、図5Bに示すように、センサユニット10−1の側面Z2のほぼ全面に相当する面積を有し、側面Z2と同一面になるように側面Z2に露出して配置される。
このように構成されたセンサユニット10−1を用いて実施の形態3による第2モールド工程を実施することで、センサユニット10−1の側面Z1、Z2に接するモールド樹脂13の界面部分14bの温度は、センサユニット10の場合に比べてさらに低くなる。したがって、モールド樹脂13には、さらに大きな硬化収縮が生じ、さらに大きな隙間量にてなる空隙部8を形成することができる。その結果、さらに安定したセンサ特性を得ることができる。
さらに又、コネクタ部用金型23によるセンサユニット10の放熱性能、特にセンサユニット10の側面Z1,Z2における放熱性能をより向上させるため、図4に示すように、コネクタ部用金型23を冷却するための冷却部26を接続してもよい。ここで冷却部26は、例えば、積極的にコネクタ部用金型23を冷却する冷却装置や、コネクタ部用金型23の放熱性を良くするための空冷フィン等が相当する。
又、要するに、ハウジングケース14をインサート成型するとき、内部のセンサユニット10、10−1を冷却することができればよく、その具体的手段は、コネクタ部用金型23や冷却部26に限定されるものではない。
尚、上述した各実施形態を適宜組み合わせて構成することも可能である。
本発明の実施の形態1における樹脂モールド半導体センサを示す概略構成図である。 図1Aに示す樹脂モールド半導体センサにおけるA−A’部の断面図である。 図1Aに示す樹脂モールド半導体センサに備わるセンサユニットの概略の斜視図である。 図2Aに示すセンサユニットにおけるB−B’部の断面図である。 本発明の実施の形態2における樹脂モールド半導体センサを示す断面図である。 本発明の実施の形態3による、樹脂モールド半導体センサ製造方法における第2モールド工程の実行状態を示す図である。 本発明の実施の形態3による、樹脂モールド半導体センサ製造方法における第2モールド工程の実行に適したセンサユニットの概略の斜視図である。 図5Aに示すセンサユニットにおけるC−C’部の断面図である。
符号の説明
1 樹脂モールド半導体センサ、2 リードフレーム、3 半導体センサ素子、
7 モールド樹脂、8 空隙部、10、10−1 センサユニット、
13 モールド樹脂、14 ハウジングケース、14b 界面部分、
15 樹脂モールド半導体センサ、16 離型剤、
Z1,Z2 側面。

Claims (6)

  1. 半導体センサ素子及び該半導体センサ素子を実装したリードフレームを第1樹脂材料にて封止して成型されるセンサユニットと、
    熱可塑性であって硬化収縮性のある第2樹脂材料にて上記センサユニットを封止して成型されるハウジングケースと、を備えた樹脂モールド半導体センサであって、
    上記ハウジングケースは、上記センサユニットを形成する側面の内、最も大きな面積を有する大面積側面との間に空隙部を有することを特徴とする樹脂モールド半導体センサ。
  2. 上記大面積側面は、上記リードフレームに平行又は略平行な上記センサユニットの側面である、請求項1に記載の樹脂モールド半導体センサ。
  3. 上記第1樹脂材料は、エポキシ系熱硬化性樹脂であり、上記第2樹脂材料は、熱可塑性飽和ポリエステル樹脂である、請求項1又は2記載の樹脂モールド半導体センサ。
  4. 上記大面積側面に対応する上記ハウジングケースにおける領域の厚さは、その他の領域における厚さよりも厚い、請求項1から3のいずれか1項に記載の樹脂モールド半導体センサ。
  5. 半導体センサ素子及び該半導体センサ素子を実装したリードフレームを第1樹脂材料にて封止してセンサユニットを成型するとき、上記リードフレームに平行又は略平行な側面の面積をその他の側面の面積に比べて大きくしてセンサユニットを成型し、
    上記センサユニットを第2樹脂材料にて封止してハウジングケースを成型する、樹脂モールド半導体センサの製造方法であって、
    上記第2樹脂材料は、熱可塑性であって硬化収縮性のある材料であり、
    上記ハウジングケースを成型するとき、上記センサユニットにおける放熱を促進し、上記センサユニットにおける大面積側面に接する上記第2樹脂材料の界面部分に硬化収縮を生じさせる、
    ことを特徴とする樹脂モールド半導体センサの製造方法。
  6. 上記センサユニットの成型後、上記ハウジングケースの成型前に、上記センサユニットにおける大面積側面に上記第2樹脂材料の密着力を低下させる離型剤を塗布する、請求項記載の樹脂モールド半導体センサの製造方法。
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