JP5034848B2 - 光走査装置及び画像形成装置 - Google Patents

Description

光走査装置及び画像形成装置

回転多面鏡などの偏向装置で偏向されたレーザ光を感光体ドラム上に走査露光させる光走査装置において、光源として端面発光レーザを用いたものがある。端面発光レーザを使用する場合、背面方向に出射されるレーザ光（バックビーム）の光量を光量測定装置で測定し、この測定結果に基づき端面発光レーザの光量制御を行なうことで、感光体ドラム上を走査露光する光ビームの光量を制御している。

これに対して、光源として、通称、ＶＣＳＥＬ（Vertical Cavity Surface Emitting Laser）といわれる面発光レーザを用いたものがある。面発光レーザは背面方向にレーザ光（バックビーム）が出射されない（前面方向にのみレーザ光が出射される）。

よって、面発光レーザを使用する場合は、前方に出射されたレーザ光をビームスプリッタ（例えば、ハーフミラー）で、感光体ドラム上を走査露光する露光用のレーザ光と、光量測定装置に導かれる光量測定用のレーザ光とに分割し、分割された光量測定用のレーザ光の光量を測定して光量制御を行なうことで、感光体ドラム上を走査露光する露光用のレーザ光の光量を制御している（例えば、特許文献１、特許文献２を参照）。

また、露光用のレーザ光の光量を増加させるために、光ビームの断面形状を整形する開口部が形成されたアパーチャにおける開口部外の領域を反射面とすることで、開口部を透過し整形されたレーザ光を露光用レーザ光とすると共に、反射面により反射された反射光を光量測定用のレーザ光とする構成が提案されている（例えば、特許文献３を参照）。
特開平８−３３０６６２号公報 特開平９−２４３９４９号公報 特開２００６−１９２６３３号公報

本発明は、光ビームを透過して断面形状を整形し露光用光ビームとして出射する透過部への光ビームの入射位置に変動があった場合でも、断面形状が整形された露光用光ビームの光量を適正に制御することが目的である。

請求項１の光走査装置は、光ビームを出射する光源と、前記光源から出射した光ビームが入射し、入射した光ビームを透過して断面形状を整形し露光用光ビームとして出射する透過部と、前記透過部外に入射した光ビームを反射又は屈折させ測定用光ビームとして前記露光用光ビームの出射方向とは異なる方向に出射する導光部と、を有する光学部材と、前記光学部材から出射した前記露光用光ビームを像保持体上の主走査方向に偏向させ、像保持体上を走査露光させる偏向装置と、前記光学部材から出射した前記測定用光ビームを受光し、前記測定用ビームの光量を測定すると共に前記光ビームの前記光学部材への入射位置の変動を検出する受光手段と、前記受光手段によって得られる前記測定用光ビームの光量の測定結果と前記光ビームの入射位置の変動の検出結果とに応じて、前記光源が出射する光ビームの光量を制御する制御手段と、を備え、前記光学部材は、光ビームを透過する透過型光学素子からなり、前記導光部は、光ビームの入射方向に対して交差した傾斜面における前記透過部外の領域に形成された屈折面であることを特徴としている。

請求項２の光走査装置は、前記導光部は、前記透過部の副走査方向の一方の外側領域と他方の外側領域に入射した光ビームを反射又は屈折させ、前記測定用光ビームとして出射することを特徴としている。

請求項３の光走査装置は、前記受光手段には、前記一方の外側領域に入射した光ビームが反射又は屈折されて出射された第一測定用光ビームの光量を測定する第一の光量測定部と、前記他方の外側領域に入射した光ビームが反射又は屈折されて出射された第二測定用光ビームの光量を測定する第二の光量測定部と、が設けられ、前記第一の光量測定部と前記第二の光量測定部が測定したそれぞれの光量に応じて、前記光ビームの前記光学部材への副走査方向の入射位置の変動を検出することを特徴としている。

請求項４に記載の光走査装置は、前記受光手段が入射位置変動を検出した場合に、前記制御手段は前記光源が出射する光ビームの光量を増やすことを特徴としている。

請求項５の光走査装置は、前記光学部材は、出射される前記測定用光ビームを前記光量測定手段の測定位置へ集光させる集光レンズを有していることを特徴としている。

請求項６の画像形成装置は、請求項１〜請求項５のいずれか１項に記載の光走査装置を有し、前記光走査装置から出射された前記露光用光ビームによって像保持体上に静電潜像が形成されることを特徴としている。

請求項１に記載の光走査装置は、光ビームを透過して断面形状を整形し露光用光ビームとして出射する透過部への光ビームの入射位置に変動があった場合でも、断面形状が整形された露光用光ビームの光量を適正に制御することができる、という優れた効果を有する。

請求項２の光走査装置は、露光に用いられない光ビームを用いて副走査方向の入射位置の変動を検出し、露光用光ビームの光量制御の精度を向上させることができる、という優れた効果を有する。

請求項３の光走査装置は、本構成を有しない場合に比べて、副走査方向の入射位置の変動の検出を簡単に実現することができる、という優れた効果を有する。

請求項４の光走査装置は、本構成を有しない場合に比べて、露光用光ビームの光量を適正に制御することができる、という優れた効果を有する。

請求項５の光走査装置は、測定手段の測定精度を向上させることができる、という優れた効果を有する。

請求項６の画像形成装置は、光量が適切に制御された露光用光ビームで像保持体上に静電潜像を形成することができる、という優れた効果を有する。

本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。

［画像形成装置］
まず、画像形成装置について説明する。図１は、記録用紙Ｐにフルカラー画像を形成する画像形成装置１０の概略構成を示す概略構成図である。

図１に示すように、画像形成装置１０は、図示しない駆動手段により所定の回転速度で矢印Ｊ方向に回転される感光体ドラム１２を備えている。

感光体ドラム１２の上方には、感光体ドラム１２の外周面を帯電させる帯電器１４が設けられている。帯電器１４の上方には光走査装置１００が配置されている。光走査装置１００は、複数の露光用レーザ光ＬＡ（図１では代表して一つのみ図示、詳細は後述する）を、形成すべき画像に応じて感光体ドラム１２の外周面上を感光体ドラム１２の回転軸方向と平行に走査させる（図２の矢印Ｍ方向）。これにより、感光体ドラム１２の外周面上に静電潜像が形成される。

なお、露光用レーザ光ＬＡが感光体ドラム１２上を走査する方向が主走査方向とされ、主走査方向と直交する方向（感光体ドラム１２の回転方向、すなわち矢印Ｊ方向）が副走査方向とされる。

帯電器１４よりも感光体ドラム１２の回転方向下流側（図１における感光体ドラム１２の右側）には、ロータリー式の現像装置１７が配置されている。現像装置１７にはＫ（ブラック）、Ｙ（イエロー）、Ｍ（マゼンタ）、Ｃ（シアン）の各色のトナーを収容した現像器１８Ｙ、１８Ｍ、１８Ｃ、１８Ｋを備えている。現像器１８Ｙ、１８Ｍ、１８Ｃ、１８Ｋには各々現像ローラ２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋが備えられている。ロータリー式の現像装置１７は、感光体ドラム１２の回転軸と平行の回転軸を軸心として回転する。この回転により、各現像器１８Ｙ、１８Ｍ、１８Ｃ、１８Ｋの各々の現像ローラ２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋが感光体ドラム１２と対向する位置に移動される。そして、各現像ローラ２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｋが感光体ドラム１２に対向する位置において、各色のトナーで感光体ドラム１２に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成し可視化（顕像化）する。

感光体ドラム１２の下方には、無端状の中間転写ベルト２４が配設されている。中間転写ベルト２４はローラ２６、２８、３０に巻き掛けられており、外周面が感光体ドラム１２の外周面に接触するように配置されている。ローラ２６、２８、３０は図示しないモータの駆動力が伝達されて回転し、中間転写ベルト２４が矢印Ｇ方向に回転される。

中間転写ベルト２４を挟んで感光体ドラム１２の反対側には一次転写ローラ３２が配置されており、感光体ドラム１２の外周面上に形成されたトナー像は、この一次転写ローラ３２によって中間転写ベルト２４に一次転写される。一次転写ローラ３２よりも感光体ドラム１２の回転方向下流側（図における感光体ドラム左側方）には、クリーニング装置２２が設けられている。

また、画像形成装置１０の下部には、記録用紙Ｐが積層され収容された給紙カセット３４が設けられている。給紙カセット３４に収容された記録用紙Ｐは、ピックアップローラー３６によって取り出され、搬送ローラ対３８、搬送ローラ４０、及びレジストローラ対４１等によって、所定の搬送経路１１を搬送される。そして、中間転写ベルト２４に保持されたトナー像を記録用紙Ｐに二次転写するための二次転写ローラ４２が、バックアップローラー３０と対向する位置に配設されている。また、二次転写ローラ４２よるも搬送方向下流側には、記録用紙Ｐに転写された未定着のフルカラートナー像を定着させる定着装置４４が備えられている。

つぎに、画像形成装置１０において、記録用紙Ｐにフルカラー画像を形成する画像形成プロセスについて説明する。

まず、感光体ドラム１２の外周面を帯電器１４によって所定の電位に一様に帯電する。そして、その一様に帯電された感光体ドラム１２の外周面に、光走査装置１００から出射された露光用レーザ光ＬＡが走査露光されることで、静電潜像が形成される（図２も参照）。

感光体ドラム１２に形成された静電潜像は、現像装置１７の各色現像器１８Ｙ，１８Ｍ，１８Ｃ，１８Ｋのいずれかによって現像されて各色トナー像が形成され、各色トナー像は中間転写ベルト２４に一次転写される。すなわち、感光体ドラム１２が１回転する毎に、ロータリー式の現像装置１７を９０°回転させ、Ｋ、Ｙ、Ｍ、Ｃのトナー像が感光体ドラム１２の外周面に、１つずつ順に形成されると共に、中間転写ベルト２４に一次転写ローラ３２によって順次一次転写される。このように、各色トナー像を順次、感光体ドラム１２に形成し一次転写することで、中間転写ベルト２４上に各色が重ね合わされたフルカラートナー像が形成される。

このようにして、中間転写ベルト２４上に形成されたフルカラートナー像は、二次転写ローラ４２によって、記録用紙Ｐに一括して二次転写される。フルカラートナー像が転写された記録用紙Ｐは定着装置４４に搬送され、フルカラートナー像が記録用紙Ｐに定着される。フルカラートナー像が定着された記録用紙Ｐは、図示しない排紙トレイ等に排出される。

一方、一次転写されずに感光体ドラム１２に残留する残留トナーは、クリーニング装置２２によって掻き取られて除去される。また、二次転写されずに中間転写ベルト２４に残留トナーは感光体ドラム１２に移動されクリーニング装置２２で除去される。

なお、本実施形態においては、光走査装置１００の制御等の、画像形成装置１０の全体の制御は、制御部７０によって制御されている。

［光走査装置］
つぎに、光走査装置１００について説明する。図２に示すように、本実施形態に係る光走査装置１００は、光源として、複数の発光点１１１を有する面発光レーザ１１０（面発光型レーザ素子：ＶＣＳＥＬ（Vertical Cavity Surface Emitting Laser））が使用されている。なお、面発光レーザ１１０には、ＬＤ駆動部７２が接続されており、制御部７０から入力されたコントロール信号に基づいて、ＬＤ駆動部７２が光量や発光タイミング等を制御し、レーザ光Ｌが出射される。

面発光レーザ１１０から平行に出射された複数のレーザ光Ｌは、副走査方向にパワーをもつコリメータレンズ１１２によって略平行光化（コリメート）された後、光学部材２００の入射面２００Ａから光学部材２００に入射する。

光学部材２００に入射したレーザ光Ｌの一部は、傾斜面２０２に形成された長方形状の透過部２０４を透過することで、断面形状が整形される（詳細は後述する）。なお、長方形状の透過部２０４の長手方向は、感光体ドラム１２上を露光用レーザＬＡが走査する主走査方向に対応し、幅方向は副走査方向に対応する。また、光学部材２００の透過部２２０４は、コリメータレンズ１１２の像側焦点位置に配置されており、面発光レーザ１１０から平行に出射された複数のレーザ光Ｌが、透過部２０４の位置で交差する。このため、複数のレーザ光Ｌを１つの透過部２０４で等価に整形することができる。

一方、傾斜面２０２に形成された透過部２０４外の領域に形成された反射面２０６で反射された測定用レーザ光ＬＣ１，ＬＣ２は、光学部材２００の下方に配置された測定装置３００に導かれる（詳細は後述する）。本実施形態においては導光部の一例として反射面を用いた。

このように、光学部材２００に入射したレーザ光Ｌは、透過部２０４によって断面形状が整形された露光用レーザ光ＬＡと、反射面２０６で反射されて測定装置３００に導かれる測定用レーザ光ＬＣ１，ＬＣ２とに分離される。なお、光学部材２００及び測定装置３００の詳細については後述する。

光学部材２００の透過部２０４を透過し整形された露光用レーザ光ＬＡは、シリンドリカルレンズ１１４によって副走査方向に絞り込まれ、本実施形態における偏向装置１５０の一例としての回転多面鏡１５２（ポリゴンミラー）の反射面１５４に入射する。なお、回転多面鏡１５２は、側面に複数の反射面１５４が設けられた正多角形状（本実施形態では正六角形）とされている。

回転多面鏡１５２は、ポリゴンモータ１５６（図１、図３を参照）の駆動力により、副走査方向（に対応する方向）と平行に配置された回転軸１５８（図１、図３を参照）を軸心として、所定の回転速度で矢印Ｃ方向に回転する。これにより、回転多面鏡１５２の反射面１５４への露光用レーザ光ＬＡの入射角が連続的に変化し、反射面１５４で反射された露光用レーザＬＡは感光体ドラム１２の回転軸方向、すなわち、主走査方向に偏向される。

回転多面鏡１５２の露光用レーザ光ＬＡの進行方向側には、ｆθレンズ等から構成される結像光学系１２０が配置されている。この結像光学系１２０により、感光体ドラム１２に露光用レーザ光ＬＡを走査露光する走査速度が等速度になると共に、感光体ドラム１２の外周面上にスポット像が結像される。そして、反射ミラー１２８（図２では図示省略、図１を参照）で反射され、感光体ドラム１２に露光される。

なお、本実施形態においては、複数本の露光用レーザ光ＬＡで、感光体ドラム１２を同時に走査露光させ、１回の主走査で複数本の走査線Ｓで画像を形成する構成としている。

さて、走査線Ｓ上の走査開始側の画像範囲外にはミラー１３０が配置されている。そして、このミラー１３０で反射されたレーザ光ＬＡＢが書込タイミング検知（ＳＯＳ）センサ１３２に入力される。書込タイミング検知センサ１３２には、感光体ドラム１２が露光用レーザ光ＬＡで走査される毎に入射される。書込タイミング検知センサ１３２は、感光体ドラム１２への走査線Ｓ毎の走査開始タイミング（ＳＯＳ）を検知し、検知結果を書込タイミング（ＳＯＳ）信号として出力する。そして、制御部７０は出力され書込みタイミング信号に基づき、主走査方向の画像書込みタイミングを制御する。

前述したように、面発光レーザ１１０には、ＬＤ駆動部７２が接続されており、制御部７０から入力されたコントロール信号に基づいてＬＤ駆動部７２は光量等を制御しレーザ光Ｌが出射される。また、測定装置３００も制御部７０に接続されている。そして、測定装置３００の測定結果に応じて、制御部７０がＬＤ駆動部７２の面発光レーザ１１０の駆動電流を制御することで、出射されるレーザ光Ｌの光量が制御される（光量制御に関する詳細については後述する）。

図３に示すように、光走査装置１００は、光学箱５００の内部に、各種光学部品が取り付けられている（図１も参照）。光学箱５００は、上方の開口が蓋部５０２で蓋をされた箱形状の光学箱本体５０４を有している。光学箱本体５０４の底部５０６には、偏向装置１５０が取り付けられている。なお、偏向装置１５０の回転多面鏡１５２の回転軸１５８は、光学箱本体５０４の底部５０６に対して垂直とされている。

面発光レーザ１１０は、光学箱本体５０４の底部５０６と直交する側壁５０８に固定されている。また、面発光レーザ１１０と偏向装置１５０との間の光路上に光学部材２００が、底部５０６に（底部５０６と間隔を持って）取り付けられている。そして、この光学部材２００の直下の底部５０６に、測定装置３００が固定されている。なお、光学部材２００と測定装置３００とは連結され、構造的に一体とされている。

［光学部材］
つぎに、光学部材２００について説明する。図４（Ａ）に示すように、光学部材２００は、透明樹脂などの透過型光学素子からなり、正六面体（立方体）のブロック状とされている。図４（Ａ）と図４（Ｂ）とに示すように、光学部材２００は、レーザ光Ｌの入射側の（入射面２００Ａの）上辺２００Ｈと反対側の（第一出射面２００Ｂの）下辺２００Ｌとを結ぶ面、傾斜面２０２（接合面）で分割され、側面が直角三角形の三角柱状の第一ブロック体２１０と第二ブロック体２１２とで構成される。

下側の第二ブロック体２１２の接合面（傾斜面２０２）には、長方形状の透過部２０４以外の領域にアルミ(Al)、金(Au)、銀(Ag)等が蒸着されることによって反射面２０６が形成されている。そして、この傾斜面２０２（反射面２０６）は、入射するレーザ光Ｌに対して４５°の角度を持っている（図３を参照）。

図３と図５に示すように、光学部材２００はこのような構成とされているので、前述したように、入射面２００Ａから入射したレーザ光Ｌは、反射面２０６以外の領域（アルミ(Al)、金(Au)、銀(Ag)等が蒸着されていない領域）の透過部２０４を透過することで、断面形状が整形されたのち、最終的に感光体ドラム１２を走査露光する露光用レーザ光ＬＡとして、第一出射面２００Ｂから出射される。一方、反射面２０６（アルミ(Al)、金(Au)、銀(Ag)等が蒸着されている領域）で反射され第二出射面（底面）２００Ｃから出射されることで、測定装置３００（図３、図５を参照）に入射する測定用レーザ光ＬＣ２となる。

なお、反射面２０６における透過部２０４の一方（図３では透過部２０４の上方））の外側領域２０６Ａに入射した光ビームＬは、測定用レーザ光ＬＣ１として出射され、透過部２０４の他方（図３では透過部２０４の下方）の外側領域２０６Ｂに入射した光ビームＬは、測定用レーザ光ＬＣ２として出射される。

［測定装置］
つぎに、測定装置３００について説明する。図２、図３に示すように、測定装置３００は、測定用レーザ光ＬＣ１，ＬＣ２の光量を測定する第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４とを有している。第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４とは、光学部材２００にレーザ光Ｌが入射する方向に並んで配置されている。そして、光学部材２００の反射面２０６における透過部２０４の副走査方向の一方の外側領域２０６Ａで反射された第一測定用レーザ光ＬＣ１が第一光量測定部３０２に入射する。また、反射面２０６における透過部２０４の副走査方向の他方の外側領域２０６Ｂで反射された第二測定用レーザ光ＬＣ２が第二光量測定部３０４に入射する。なお、このことから判るように、第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４とは、副走査方向に対応する方向に並んで配置されている。

［光量制御］
つぎに、制御部７０で行なわれる面発光レーザ１１０の光量制御について説明する。なお、図５等の各図では、ドット密度によって光量を表している。つまり、ドット密度が密なほど光量が大きいことを表している。また、各図の左図（グラフ）はレーザ光の光量分布（ドット密度に対応）を表している。そして、この左図（グラフ）から判るように、面発光レーザ１１０（の発光点１１１）から出射されるレーザ光Ｌは中心部の光量が最も大きく、中心部から離れるに従って光量が減少する。なお、光量測定部の一例としてはＰＩＮフォトダイオード等を挙げられる。

なお、本実施形態においては、レーザ光Ｌの中心位置が透過部２０４の副走査方向において略中心に入射する光学部材２００への入射位置を基準位置とする。つまり、図５の状態が基準位置とされる。更に、レーザ光Ｌが基準位置に入射した場合、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量と第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量は略同じとされる。

まず、面発光レーザ１１０から出射されるレーザ光Ｌの光量が増減した場合の測定装置３００の測定結果について説明する。

図６に示すように、例えば、レーザ光Ｌの発光光量が増加すると、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量及び第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量が増加する。よって、第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４が測定した測定光量の平均値が増加する。そして、測定光量の平均値が増加することで、レーザ光Ｌの光量が増加したことが判る。また、レーザ光Ｌの光量増加に伴い透過部２０４を透過する露光用レーザ光ＬＡの光量も増加する。

なお、図示は省略するが、レーザ光Ｌの光量が減少すると、第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４の測定光量が減少すると共に、露光用レーザ光ＬＡの光量も減少する。

このように、第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４の測定光量の平均値が増加又は減少すると、レーザ光Ｌの発光光量が増加又は減少したことが判る。

つぎに、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が基準位置（図５）に対して副走査方向に変動した（ずれた）場合について説明する。なお、図５における上下方向が副走査方向とされる。

図７に示すように、例えば、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が上方に変動すると、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量、すなわち第一光量測定部３０２の測定光量は増加し、第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量、すなわち第二光量測定部３０４の測定光量は減少する。一方、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が変動すると、透過部２０４を透過する露光用レーザ光ＬＡの光量は減少する。

このように、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量の、一方は増加し減少し（或いは他方は一方よりも増加してないと）、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量のバランスがくずれると、入射位置が変動した（ずれた）ことが判る。

なお、本実施形態においては、位置に変動（位置ズレ）がない場合は、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量は略同じとされているので、入射位置が変動していない場合は、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とが同じであり、入射位置が変動すると、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とに差が生じる。

「制御詳細」
つぎに、制御部７０が行なう面発光レーザ１１０の光量制御について、図８の表を用いて詳しく説明する。なお、表の上から順番に説明するが、各説明と対応する備考欄の記号を記載する。

なお、「副走査方向のずれ」の欄において、［Ｙ＝０］は基準位置であることを表し、［Ｙ＝＋］は基準位置から一方側に変動した（ずれた）場合を表し、［Ｙ＝−］は基準位置から反対側の他方側に変動した（ずれた）場合を［−］とする。なお、本実施形態においては図５における上方側に変動し場合を［＋］、下方側に変動した場合を［−］とする。また、標準（基準）とされる露光用レーザ光ＬＡの光量を設定値とする。また、制御信号は、レーザ光Ｌの光量を増減（増加又は減少）させる指示の信号である。なお、表における増減又は減増は、増加及び減少の両方の可能性があることを示している（個々の状況によって異なる、詳細は後述する）。

まず、面発光レーザ１１０からのレーザ光Ｌの発光光量自体に変動がない場合を説明する。

＜Ａ−１＞
面発光レーザ１１０（光源）から出射されるレーザ光Ｌの光量が基準光量から変動なく、入射光の副走査方向の位置変動もない場合、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量も変動しない。この場合、露光用レーザ光ＬＡの光量も変動しないので、設定値との差もないので、面発光レーザ１１０の光量は補正されない（光量を補正する制御信号は発信されない）。

＜Ａ−２＞
レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が基準位置よりも上方（副走査方向の一方側）に変動すると、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量が増加し、第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量が減少する（図７を参照）。すなわち、第一光量測定部３０２が測定する測定光量が増加し、第二光量測定部３０４が測定する測定光量が減少する。このように第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量のバランスがくずれたことにより、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が基準位置から変動したことが判る。

また、面発光レーザ１１０から出射される（光学部材２００に入射される）レーザ光Ｌの光量に変動がないので、第一光量測定部３０２が測定する測定光量と第二光量測定部３０４が測定する測定光量との平均値には変動がない。これによりレーザ光Ｌの光量に変動がないことが判る。

一方、光学部材２００への入射位置が変動すると、出射されるレーザ光Ｌの光量に変動がなくても、透過部２０４を透過する露光用レーザ光ＬＡの光量が減少する。すなわち、設定値よりも露光用レーザ光ＬＡの光量が低くなる（設定値との差がマイナス側に増大する）。

よって、「第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスがくずれる」、「平均値に変動なし」の場合は、制御部７０は、ＬＤ駆動部７２を制御し面発光レーザ１１０の出力を増大させる。なお、この増大させる量は、入射光の変動量（ずれ量）に応じて行なう。

＜Ａ−３＞
図示は省略するが、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が下方（副走査方向の他方側）に変動すると、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量が減少し、第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量が増加する。なお、光学部材２００に入射するレーザ光Ｌの光量には変動がないので、第一光量測定部３０２が測定する測定光量と第二光量測定部３０４が測定する測定光量との平均値には変動がない。

一方、光学部材２００への入射位置が変動すると、出射されるレーザ光Ｌの光量に変動がなくても、透過部２０４を透過する露光用レーザ光ＬＡの光量が減少する。すなわち、設定値よりも露光用レーザ光ＬＡの光量が低くなる（設定値との差がマイナス側に増大する）。

よって、＜Ａ−２＞と同様に、「第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスがくずれる」、「平均値に変動なし」の場合は、制御部７０は、ＬＤ駆動部７２を制御し面発光レーザ１１０の出力を増大させる。なお、この増大させる量は、入射光の変動量（ずれ量）に応じて行なう。

つぎに、面発光レーザ１１０からのレーザ光Ｌの光量が増加した場合について説明する。

＜Ｂ−１＞
図６に示すように、光学部材２００への入射位置に変動がない状態（基準位置に入射する場合）で、面発光レーザ１１０から出射されるレーザ光Ｌの光量が増加すると、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量と第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量の両方が略同じ光量、増加する。すなわち、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスが維持されつつ、平均値が増加する。

つまり、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が、基準位置から変動していないことと、レーザ光Ｌの光量が増加したことが判る。

一方、光学部材２００の透過部２０４を透過する露光用レーザ光ＬＡの光量が増加する。すなわち、設定値よりも露光用レーザ光ＬＡの光量が高くなる（設定値との差がプラス側に増大する）。

よって、「第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスが維持」、「平均値が増加」の場合は、制御部７０は、ＬＤ駆動部７２を制御し面発光レーザ１１０の出力を減少させる。なお、この減少させる量は、レーザ光Ｌの光量増加分に応じて行なう。

＜Ｂ−２＞
出射されるレーザ光Ｌの光量が増加すると共に、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が上方に変動すると、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量は、レーザ光Ｌの光量が増加した分と入射位置が変動して増加する分の両方分、増加する。

これに対して、第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量はレーザ光Ｌの光量が増加した分と、入射位置が変動して減少する減少分の差分となる。

なお、測定光量の一方の増加分が他方の増加分（或いは減少）よりも大きくなるので、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスがくずれる。よって、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が変動したことが判る。

また、光学部材２００に入射されるレーザ光Ｌの光量が増加しているので、第一光量測定部３０２が測定する測定光量と第二光量測定部３０４が測定する測定光量との平均値は増加する。これによりレーザ光Ｌの光量が増加したことが判る。

なお、光学部材２００の透過部２０４を透過する露光用レーザ光ＬＡの光量は、レーザ光Ｌの光量増加分と、入射位置が変動して減少する減少分の差分となる。つまり、入射位置の変動による光量減少が光源光量の増加よりも大きいと露光用レーザ光ＬＡの光量は減少し、逆の場合は増加する（設定値との差は、マイナス側及びプラス側のいずれにも増大する可能性がある）。

よって、「第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスがくずれる」、「平均値が増加」の場合は、制御部７０は、入射位置の変動量（ずれ量）と平均値の増加とに基づいて、面発光レーザ１１０の出力を決定する。つまり、入射位置の変動量による光量減少が光源光量の増加よりも大きいと出力を増加させ、逆の場合は減少させる。同じ場合は、出力は変動させない。

＜Ｂ−３＞
出射されるレーザ光Ｌの光量が増加すると共に、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が下方に変動すると、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量は、レーザ光Ｌの光量が増加した分と、入射位置が変動して減少する減少分の差分となる。第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量はレーザ光Ｌの光量が増加した分と入射位置が変動して増加する分の両方分、増加する。

なお、測定光量の一方の増加分が他方の増加分（或いは減少）よりも大きくなるので、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスがくずれる。よって、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が変動したことが判る。

また、レーザ光Ｌの光量が増加しているので、第一光量測定部３０２が測定する測定光量と第二光量測定部３０４が測定する測定光量との平均値は増加する。これによりレーザ光Ｌの光量が増加したことが検出される。

なお、光学部材２００の透過部２０４を透過する露光用レーザ光ＬＡの光量は、レーザ光Ｌの光量増加分と、入射位置が変動して減少する減少分の差分となる（設定値との差は、マイナス側及びプラス側のいずれにも増大する可能性がある）。

よって、＜Ｂ−２＞と同様に、「第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスがくずれる」、「平均値が増加」の場合は、制御部７０は、入射位置の変動量（ずれ量）と平均値の増加とに基づいて、面発光レーザ１１０の出力を決定する。つまり、入射位置の変動量による光量減少が光源光量の増加よりも大きいと出力を増加させ、逆の場合は減少させ、同じ場合は変動させない。

つぎに、面発光レーザ１１０から出射されるレーザ光Ｌに光量が減少した場合について説明する。

＜Ｃ−１＞
光学部材２００への入射位置に変動がない状態（基準位置に入射する場合）で、レーザ光Ｌの光量が減少すると、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量と第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量の両方が略同じ光量、減少する。すなわち、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスが維持されつつ、平均値が減少する。

つまり、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が、基準位置から変動していないことと、レーザ光Ｌの光量が減少したことが判る。

一方、光学部材２００の透過部２０４を透過する露光用レーザ光ＬＡの光量が減少する。すなわち、設定値よりも露光用レーザ光ＬＡの光量が低い（設定値との差がマイナス側に増大する）。

よって、「第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスが維持」、「平均値が減少」の場合は、制御部７０は、ＬＤ駆動部７２を制御し面発光レーザ１１０の出力を増加させる。なお、この増加させる量は、レーザ光Ｌの光量減少分に応じて行なう。

＜Ｃ−２＞
レーザ光Ｌの光量が減少すると共に、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が上方に変動すると、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量は、レーザ光Ｌの光量が減少した分と入射位置が変動して増加する分の差分となる。

第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量はレーザ光Ｌの光量が減少した分と、入射位置が変動して減少する減少分の両方分、減少する。

なお、測定光量の一方の減少分が他方の減少分（或いは増加分）よりも大きくなるので、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスがくずれる。よって、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が変動したことが判る。

また、レーザ光Ｌの光量が減少しているので、第一光量測定部３０２が測定する測定光量と第二光量測定部３０４が測定する測定光量との平均値は減少する。これによりレーザ光Ｌの光量が減少したことが判る。

なお、光学部材２００の透過部２０４を透過する露光用レーザ光ＬＡの光量は、レーザ光Ｌの光量減少分と、入射位置が変動して減少する減少分と、の合計となる（設定値との差がマイナス側に増大する）。

よって、「第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスがくずれる」、「平均値が減少」の場合は、制御部７０は、面発光レーザ１１０の出力を増加させる。なお、この増加させる光量は、レーザ光Ｌの光量減少分と変動量（ずれ量）とに応じて行なう。

＜Ｃ−３＞
出射されるレーザ光Ｌの光量が減少すると共に、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が下方に変動すると、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量は、レーザ光Ｌの光量が減少した分と入射位置が変動して減少した減少分の両方分、となる。

第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量はレーザ光Ｌの光量が減少した減少分と、入射位置が変動して増加する増加分と、の差分となる。

なお、測定光量の一方の減少分が他方の減少分（或いは増加分）よりも大きくなるので、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスがくずれる。よって、レーザ光Ｌの光学部材２００への入射位置が変動したことが判る。

また、レーザ光Ｌの光量が減少しているので、第一光量測定部３０２が測定する測定光量と第二光量測定部３０４が測定する測定光量との平均値は減少する。これによりレーザ光Ｌの光量が減少したことが判る。

なお、光学部材２００の透過部２０４を透過する露光用レーザ光ＬＡの光量は、レーザ光Ｌの光量減少分と、入射位置が変動して減少する減少分と、の合計となる（設定値との差がマイナス側に増大する）。

よって、＜Ｃ−２＞と同様に、「第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量とのバランスがくずれる」、「平均値が減少」の場合は、制御部７０は、面発光レーザ１１０の出力を増加させる。なお、この増加させる量は、レーザ光Ｌの光量減少分と変動量（ずれ量）に応じて行なう。

「制御方法例」
つぎに、制御方法の一例を、図９のフローチャートを用いて説明する。なお、本制御例においては、基準入射位置の場合（図５、図８の表［Ａ−１］）は、第一測定用レーザ光ＬＣ１の光量と第二測定用レーザ光ＬＣ２の光量は略同じとされ、第一光量測定部３０２の測定光量と第二光量測定部３０４の測定光量も略同じとされている。また、この状態における第一光量測定部３０２の測定光量を「Ａ」とし、第二光量測定部３０４の測定光量を「Ｂ」とする。

よって、図８の表＜Ａ−１＞、＜Ｂ−１＞、＜Ｃ−１＞においてＡ＝Ｂとなり（バランスが維持された状態）、図８の表＜Ａ−２＞、＜Ｂ−２＞、＜Ｃ−２＞においてＡ＞Ｂとなり、図８の表＜Ａ−３＞、＜Ｂ−３＞、＜Ｃ−３＞においてＡ＜Ｂとなる（バランスがくずれた状態）。

図９のフローチャートのステップ４０２で、光量制御がスタートする。ステップ４０４で目標とする光量を設定し（Ｖｒｅｆ値設定）、ステップ４０６でＰＣＯＮＴ（光量制御開始信号）をＬＯＷとし、面発光レーザ１１０を発光させレーザ光Ｌを出射させる。

ステップ４０８で第一光量測定部３０２の測定光量Ａと第二光量測定部３０４の測定光量Ｂが同じ（Ａ＝Ｂ）か否かを判断する。すなわち、入射位置に変動があるか否かを判断する。Ａ＝Ｂの場合、すなわち、入射位置に変動がない場合は、ステップ４１０に進む。

ステップ４１０では、Ａ（ｏｒ Ｂ）（或いはＡとＢの平均値）がＶｒｅｆ値と同じである否かを判断する。すなわち、面発光レーザ１１０から出射されるレーザ光Ｌの光量に変動があるか否かを判断する。同じである場合は、すなわち、レーザ光Ｌの光量に変動がない場合は、制御を終了する（図８の表＜Ａ−１＞に対応）。

ステップ４１０で、Ａ（ｏｒ Ｂ）（或いはＡとＢの平均値）がＶｒｅｆ値と異なっている場合は、すなわち、レーザ光Ｌの光量に変動がある場合は、ステップ４１２に進み、差分を補正する（図８の表＜Ａ−２＞と＜Ａ−３＞に対応）。

そして、ステップ４１０に戻り、Ａ（ｏｒ Ｂ）（或いはＡとＢの平均値）がＶｒｅｆ値と同じである否かを判断する。同じの場合は、すなわち、レーザ光Ｌの光量に変動がない場合は、制御を終了する。Ｖｒｅｆ値と異なっている場合は、すなわち、レーザ光Ｌの光量に変動がある場合は、再度、ステップ４１２に進み、差分を補正したのち、ステップ４１０に戻る。

さて、ステップ４０８で第一光量測定部３０２の測定光量Ａと第二光量測定部３０４の測定光量Ｂが異なっている場合（バランスがくずれている場合）、すなわち、入射位置に変動がある場合は、ステップ４１４に進む。

ステップ４１４では、ＡとＢの平均値がＶｒｅｆ値と同じであるか否かを判断する。すなわち、レーザ光Ｌの光量に変動があるか否かを判断する。同じである場合は、すなわち、光量に変動がない場合は、ステップ４１６に進む。ステップ４１６では、ＡとＢの光量差に基づいて、すなわち入射位置の変動に基づいて補正し、制御を終了する（図８の表の＜Ｂ−１＞＜Ｃ−１＞に対応）。

ステップ４１４で、ＡとＢの平均値が設定光量と異なる場合、すなわち、レーザ光Ｌの光量に変動がある場合は、ステップ４１８に進む。ステップ４１８では、ＡとＢの光量差（入射位置の変動）と平均値との差分に基づいて補正し、制御を終了する（図８の表の＜Ｂ−２＞＜Ｂ−３＞＜Ｃ−２＞＜Ｃ−３＞に対応）。

なお、本実施形態においてレーザ光の補正量及び位置変動は、ＡとＢとの差分によって求めているが、本発明はこれに限られるものではない。例えばＡとＢとの比を求める等演算によって求めてもよいし、予め記憶されたデータ（例えば、テーブル）から求めてもよい。

「入射位置の変動と測定光量の関係のデータ例」
つぎに、第一光量測定部３０２の測定光量Ａと第二光量測定部３０４の測定光量Ｂと、副走査方向の入射位置の変動と、の関係のデータの一例を、図１０のグラフを用いて説明する。

なお、面発光レーザ１１０から出射されるレーザ光Ｌの光量が基準光量の場合（変動がない場合）は、Ａ×１．０及びＢ×１．０の線で表わされている。面発光レーザ１１０から出射されるレーザ光Ｌの光量が０．８倍（２０％減少）の場合は、Ａ×０．８及びＢ×０．８の線で表されている。面発光レーザ１１０から出射されるレーザ光Ｌの光量が１．２倍（２０％増加）の場合は、Ａ×１．２及びＢ×１．２の線で表されている。また、Ａ，Ｂの値が等しい点、つまり交点が位置変動０ｍｍである。

いま、例えば、面発光レーザ１１０から出射されるレーザ光Ｌの光量に変動がなく、入射位置が＋０．１ｍｍ変動した場合、測定光量Ａが０．１１ｍＷとなり測定光量Ｂが０．１６ｍＷであることを示している。つまり、Ａの光量が０．１１ｍＷとなりＢの光量が０．１６ｍＷの時は、レーザ光Ｌの光量の変動はなく、入射位置の変動が＋方向に０．１ｍｍであることが判る。

或いは、例えば、レーザ光の光量が０．８倍、入射位置の変動が０ｍｍ（ずれ無し）の場合、測定光量Ａ及び測定光量Ｂの両方が０．１０８ｍＷとなる。つまり、測定光量Ａの測定光量Ｂの両方が０．１０８ｍＷの時は、光量が２０％減少し、位置変動は０ｍｍであることが判る。

また、例えば、レーザ光の光量が０．８倍、位置変動が−０．２ｍｍ変動した場合、測定光量Ａは１．５８ｍＷとなり測定光量Ｂは０．０７５ｍＷであることを示している。つまり、Ａの光量が０．１５８ｍＷとなりＢの光量が０．０７５ｍＷの時は、光量が０．２０％減少し、位置変動が−０．２ｍｍであることが判る。

或いは、例えば、レーザ光Ｌの光量が１．２倍、入射位置の変動が０ｍｍ（ずれ無し）の場合、測定光量Ａの及び測定光量Ｂの両方が０．１６ｍＷとなる。つまり、測定光量Ａと測定光量Ｂの両方が０．１６ｍＷ時は、光量が２０％減少し、位置変動は０mmであることが判る。また、例えば、レーザ光Ｌの光量が１．２倍、入射位置が−０．１ｍｍ変動した時、測定光量Ａは０．１９ｍＷとなり測定光量Ｂはが０．１２５ｍＷであることを示している。つまり、測定光量Ａが０．１９ｍＷとなり測定光量Ｂが０．１２５ｍＷの時は、光量が０．２０％減少し、位置変動が０．１ｍｍであることが判る。

従って、このようなデータを記憶しておけば、第一光量測定部３０２の測定光量Ａと第二光量測定部３０４の測定光量Ｂを測定することで、面発光レーザ１１０から出射されるレーザ光Ｌの光量の増加又は減少と光学部材２００への入射位置の変動（位置ズレ）を容易に求めることができる。

「光学部材のバリエーション」
つぎに、光学部材２００のバリエーションについて説明する。なお、いずれのバリエーションにおいても、光学部材は透明樹脂などの透過型光学素子からなる。

＜バリエーション１＞
図１１と図１２とに示すように、バリエーション１の光学部材６００は、側面が直角三角形の三角柱状とされている（上部が頂点）。また、面発光レーザ１１０側が垂直面６１０とされ、垂直面６１０と反対側が傾斜面６１２とされる。なお、傾斜面は４５°傾斜されている。また、垂直面６１０と傾斜面６１２とに開口された断面長方形状の透過孔６０４が形成されている。また傾斜面６１２における透過孔６０４以外の領域に、アルミ(Al)、金(Au)、銀(Ag)等が蒸着されることによって反射面６０２が形成される。

よって、図１２に示すように、レーザ光Ｌの一部が透過孔６０４を通過することで断面形状が整形され、最終的に感光体ドラム１２を走査露光する露光用レーザ光ＬＡとなる。一方、反射面６０２（アルミ(Al)、金(Au)、銀(Ag)等が蒸着されている領域）で反射され、底面６１４から出射され、測定装置３００の第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４に入射する測定用レーザ光ＬＣ１，測定用レーザ光ＬＣ２となる。

＜バリエーション２＞
図１３（Ａ）〜図１３（Ｃ）に示すように、バリエーション２の光学部材６５０は、バリエーション１と略同様の構成であるが、垂直面６１０Ａ，６１０Ｂと底面６１４Ａ，６１４Ｂとが階段状に構成されている点が異なっている。

そして、垂直面６１０Ａから反射面６０２（傾斜面６１２）までの距離Ｌ１と、垂直面６１０Ｂと反射面６０２（傾斜面６１２）までの距離Ｌ２とが等しくなっている。同様に反射面６０２から底面６１４Ａまでの距離Ｌ３と、と反射面６０２から底面６１４Ｂまでの距離Ｌ４とが等しくなっている。

このような構成とすると、第一測定用レーザ光ＬＣ１と第二測定用光量レーザ光ＬＣ２の光学部材６５０内における光路長が等しくなる。

＜バリエーション３＞
図１４と図１５とに示すように、バリエーション３の光学部材７００は、側面が直角三角形の三角柱状とされている（上部が頂点）。また、レーザ光Ｌの入射側の入射面は、４５°に傾斜した傾斜面７１０とされ、反対側が垂直の垂直面７１２とされている。また、傾斜面７１０と垂直面７１２とに開口された断面長方形状の透過孔７０４が形成されている。また、傾斜面７１０のおける透過孔７０４以外の領域が屈折面７１４とされ、光ビームを屈折させて入射方向と異なる方向に出射する機能を有する（光学部材７００は、透過孔７０４を除く全体がプリズムとされる）。本バリエーションでは導光部の一例として屈折面を用いた。

よって、図１５に示すように、レーザ光Ｌの一部が、透過孔７０４に入射し透過することで断面形状が整形され、最終的に感光体ドラム１２を走査露光する露光用レーザ光ＬＡとなる。一方、透過孔７０４以外に入射したレーザ光Ｌは、屈折され、測定装置３００の第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４とに入射する第一測定用レーザ光ＬＣ１と第二測定用レーザ光ＬＣ２となって出射される。なお、この光学部材７００を使用する場合は、図１５に示すように、第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４は、光学部材７００の直下ではなく、ずらして配置される。

なお、測定用レーザ光ＬＣを測定装置３００に対して集光させる集光レンズを、光学部材２００、６００、６５０、７００に加えた構成としてもよい。

例えば、光学部材２００に集光レンズを加えた構成例として、図１６に示すように第二出射面（底面）２００Ｃに凸レンズ部２５０、２５２を設け第一測定用レーザ光ＬＣ１と第二測定用レーザ光ＬＣ２を集光させてもよい。

或いは、光学部材６５０に集光レンズを加えた構成例として、図１７に示すように底面６１４Ａに凸レンズ部６６０、６６１を、底面６１４Ｂに凸レンズ部６６２を設け、集光させてもよい。

「測定装置の他の構成例」
つぎに測定装置３００の他の構成例について説明する。
上記実施形態においては、光量を測定する第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４とを二つ副走査方向（に対応する方向に）並べて配置することで、光量と位置変動とを測定したが、３つ以上の光量測定部を並べる構成でもあってよい。

或いは、入射する光の重心位置と光量を同時に検出できるＰＳＤ（光位置センサ：Position Sensitive Detector）を一つ用いてもよい。なお、ＰＳＤは、光のスポットの光量と重心位置とを求めることのできるセンサである。ＰＳＤは、光量に応じた電圧を発生する材料を塗布した測定面に光があたると、光量に応じた電圧が発生する。そして、光があたった重心位置から離れた点の電位は膜材質の抵抗により低下するので、測定面の両端に発生する電圧の比から、重心位置を求めることができる。

この場合、図１８に示すように、第一測定用レーザ光ＬＣ１（或いは第二測定光用レーザＬＣ２）のみを光位置センサ（ＰＳＤ）３１１で受光するだけで、光量と位置（重心位置）を測定することができる。或いは、図示は省略するが、第一測定用レーザ光ＬＣ１と第二測定光用レーザＬＣ２の両方を一つの光位置センサ（ＰＳＤ）で受光する構成としてもよい。

「その他」
なお、本発明は上記実施形態に限定されない。
例えば、上記実施形態においては、光源として面発光レーザを用いていたがこれに限定されない。例えば、端面発光レーザであってもよい。

また、例えば、上記実施形態では、測定装置３００の第一光量測定部３０２と第二光量測定部３０４とは、水平方向に並んで配置されているが、これに限定されない。例えば、測定用光ビームを、光学箱本体５０４の側壁５０８に対して角度をなすように反射又は屈折させる構成の場合は、第一光量測定部と第二光量測定部とを垂直方向（上下に）配置にする構成となる。

また、例えば、上記実施形態においては、副走査方向の入射位置の変動のみが測定可能な構成であったがこれに限定されない。主走査方向の入射位置の変動を測定可能な構成としてもよい。

なお、レーザ光Ｌの光学部材の主走査方向の入射位置の変動を測定可能な構成とする場合は、例えば、透過部の主走査査方向の一方の外側領域と他方の外側領域に入射した光ビームを反射又は屈折させ、測定用光ビームとして出射すると共に、光量測定部を主走査方向に並べることで可能とされる。また、主走査方向と副走査方向の両方を測定する構成（例えば、光量測定部に四つならべる構成）としてもよい。なお、上述したＰＳＤを用いれば、ＰＳＤひとつで主走査方向と副走査方向の両方の位置変動を測定することができる。

また、例えば、上記実施形態においては、光学部材２００は透明樹脂等などの透過型光学素子からなる、正六面体（立方体）のブロック状とされていたが、これに限定されない。例えば、板状ミラーに略四角形状の透過孔が形成された構成であってもよい。なお、上記実施形態のように、正六面体（立方体）等のブロック状とすることで、光学箱本体５０４に固定される位置決め精度や取り付け角度を容易に高精度とすることが可能となるので（バラツキを容易に小さくできるので）、好適である。

また、例えば、上記実施形態では、１つの感光体にロータリー現像装置を用いてカラー画像を形成する所謂「４サイクル方式」であったが、複数の感光体を用いてカラー画像を形成する所謂「タンデム方式」であっても良い。或いは、モノクロ画像用の画像形成装置であっても良い。

また、例えば、上記実施形態では、レーザ光Ｌの光学部材への入射位置の変動の測定結果は、光量制御（補正）のために用いたが、これに限定されない。光量制御（補正）以外のために用いることも可能である。

例えば、光走査装置の組立時等において、面発光レーザ１１０の取付位置を調整するために用いることもできる。或いは、面発光レーザ１１１０の取付位置を可動とする構成とし、測定結果に基づき位置を自動的に調整する構成としてもよい。

或いは、タンデム方式の画像形成装置における各色の露光用レーザ光ＬＡの副走査方向の露光位置を調整（補正）するリードレジストレーションに用いてもよい。

本発明の実施の形態に係る画像形成装置の概要構成を示す概要構成図である。 本発明の実施の形態に係る光走査装置の概要構成を示す概要構成図である。 本発明の実施の形態に係る光走査装置を示す断面図である。 （Ａ）は光学部材を示す図であり、（Ｂ）は光学部材が第一ブロック体と第二ブロック体に分割された状態を示す図である。 光学部材に入射したレーザ光Ｌが露光用レーザ光ＬＡと第一測定用レーザ光ＬＣ１及び第二測定用レーザ光ＬＣ２とに分割される様子を説明する説明図である。 図５に対応する説明図であり、（Ａ）は基準の状態を示し、（Ｂ）はレーザ光Ｌの光量が増加した状態の図である。 図５に対応する説明図であり、（Ａ）は基準位置に入射した状態を示し、（Ｂ）はレーザ光Ｌの入射位置が副走査方向に変動した状態の図である。 面発光レーザの光量制御をまとめた表である。 制御方法の一例を示すフローチャートである。 光学部材へのレーザ光Ｌの入射位置と第一測定部及び第二測定部の測定光量との関係のデータの一例を示すグラフである。 バリエーション１の光学部材を示す図である。 バリエーション１の光学部材に入射したレーザ光Ｌが露光用レーザ光ＬＡと第一測定用レーザ光ＬＣ１及び第二測定用レーザ光ＬＣ２とに分割される様子を説明する説明図である。 バリエーション２の光学部材を示す、（Ａ）は露光用レーザ光の出射側から見た斜視図であり、（Ｂ）はレーザ光の入射側から見た斜視図であり、（Ｃ）は縦断面図である。 バリエーション３の光学部材を示す図である。 バリエーション３の光学部材に入射したレーザ光Ｌが露光用レーザ光ＬＡと第一測定用レーザ光ＬＣ１及び第二測定用レーザ光ＬＣ２とに分割される様子を説明する説明図である。 凸レンズ部が形成された光学部材に入射したレーザ光Ｌが露光用レーザ光ＬＡと第一測定用レーザ光ＬＣ１及び第二測定用レーザ光ＬＣ２とに分割される様子を説明する説明図である。 凸レンズ部が形成されたバリエーション２の光学部材を示す、（Ａ）は露光用レーザ光の出射側から見た斜視図であり、（Ｂ）はレーザ光の入射側から見た斜視図であり、（Ｃ）は縦断面図である。 光位置センサを用いた例を示す図である。

符号の説明

１０ 画像形成装置
１２ 感光体ドラム（像保持体）
７０ 制御部（制御手段）
１００ 光走査装置
１１０ 面発光レーザ
１５０ 偏向装置
２００ 光学部材
２０２ 傾斜面
２０４ 透過部
２０６ 反射面
２０６Ａ 一方の外側領域
２０６Ｂ 他方の外側領域
２５０ 凸レンズ部（集光レンズ）
２５２ 凸レンズ部（集光レンズ）
３００ 測定装置（受光手段）
３０２ 第一光量測定部（第一の光量測定部）
３０４ 第二光量測定部（第二の光量測定部）
３１１ 光位置センサ
６００ 光学部材
６０２ 反射面
６０４ 透過孔（透過部）
６１２ 傾斜面
６５０ 光学部材
６６０ 凸レンズ部（集光レンズ）
６６１ 凸レンズ部（集光レンズ）
６６２ 凸レンズ部（集光レンズ）
７００ 光学部材
７０４ 透過孔（透過部）
７１４ 屈折面（導光部）
Ｌ レーザ光（光ビーム）
ＬＡ 露光用レーザ光（露光用光ビーム）
ＬＣ１ 第一測定用レーザ光（第一測定用光ビーム）
ＬＣ２ 第二測定用レーザ光（第二測定用光ビーム）

Claims (6)

1. 光ビームを出射する光源と、
   前記光源から出射した光ビームが入射し、入射した光ビームを透過して断面形状を整形し露光用光ビームとして出射する透過部と、前記透過部外に入射した光ビームを反射又は屈折させ測定用光ビームとして前記露光用光ビームの出射方向とは異なる方向に出射する導光部と、を有する光学部材と、
   前記光学部材から出射した前記露光用光ビームを像保持体上の主走査方向に偏向させ、像保持体上を走査露光させる偏向装置と、
   前記光学部材から出射した前記測定用光ビームを受光し、前記測定用ビームの光量を測定すると共に前記光ビームの前記光学部材への入射位置の変動を検出する受光手段と、
   前記受光手段によって得られる前記測定用光ビームの光量の測定結果と前記光ビームの入射位置の変動の検出結果とに応じて、前記光源が出射する光ビームの光量を制御する制御手段と、
   を備え、
   前記光学部材は、光ビームを透過する透過型光学素子からなり、
   前記導光部は、光ビームの入射方向に対して交差した傾斜面における前記透過部外の領域に形成された屈折面であることを特徴とする光走査装置。
2. 前記導光部は、前記透過部の副走査方向の一方の外側領域と他方の外側領域に入射した光ビームを反射又は屈折させ、前記測定用光ビームとして出射することを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
3. 前記受光手段には、
   前記一方の外側領域に入射した光ビームが反射又は屈折されて出射された第一測定用光ビームの光量を測定する第一の光量測定部と、
   前記他方の外側領域に入射した光ビームが反射又は屈折されて出射された第二測定用光ビームの光量を測定する第二の光量測定部と、
   が設けられ、
   前記第一の光量測定部と前記第二の光量測定部が測定したそれぞれの光量に応じて、前記光ビームの前記光学部材への副走査方向の入射位置の変動を検出することを特徴とする請求項２に記載の光走査装置。
4. 前記受光手段が入射位置変動を検出した場合に、前記制御手段は前記光源が出射する光ビームの光量を増やすことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか１項に記載の光走査装置。
5. 前記光学部材は、出射される前記測定用光ビームを前記受光手段の受光部へ集光させる集光レンズを有していることを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか１項に記載の光走査装置。
6. 請求項１〜請求項５のいずれか１項に記載の光走査装置を有し、
   前記光走査装置から出射された前記露光用光ビームによって像保持体上に静電潜像が形成されることを特徴とする画像形成装置。

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