JP5000052B2 - ガラス溶融物への酸素気泡形成を抑制する方法、その方法を実施するための装置及びその方法で製造されたガラスの用途 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、ガラス製造時にガラス溶融物内に存在する貴金属部品においての酸素気泡を抑制する方法、ガラス溶融物内で酸素気泡を抑制するための手段、ガラス溶融物内での酸素気泡の形成が抑制されるガラスの製造装置、及びこの方法によって得られたガラスの用途に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ガラス製造用開始材料の溶融時に、その溶融プロセスの他に、種々の化学的及び物理的プロセスがその溶融物内で生じる。飽和するまでガラス溶融物内で溶融する結晶水及びＣＯ₂の双方及びあればＳＯ₂は、微細気泡として解放、分離される。これらの気泡は、次に、気体酸素を発生する例えば化学清澄時に行なわれる他の処理時に除去される。これらの酸素気泡は、低粘性の溶融体からわき出るか生ずる。溶融物中で生成されるＣＯ₂、ＣＯ、Ｎ₂、ＮＯ_x 等の気体の分圧は初めはこの気泡中ではゼロに等しい。しかし、次に、この溶融気体が溶融物から酸素気泡内に拡散する。また、飽和限界を超えて上記気体群から形成された微細気泡は、これらの酸素気泡と合体するかあるいは吸収される。そのため、これらの酸素気泡は、より大きくなり、表面張力が小さいため小さな気泡よりはエネルギッシュである。その結果として、その小さな気泡が気泡合体プロセスあるいは拡散による解放されるまで大小気泡間には常に平衡がない。次に、この大きな気泡は、増加した浮力のため迅速に上昇し、溶融物上の大気にその中身を放出する。このプロセスは清澄（精製）又は気泡除去とも呼ばれている。
【０００３】
しかしながら、このプロセス工程において低粘度溶融物中を容易に上昇できる清澄時の所定の酸素気泡生成は、ガラス製造の他の処理工程では不必要である。ガラス内の微細な気泡は、貧弱な機械的及び光学的特性を有する品質の悪い最終製品となる。特に、気泡は、所謂、コンディショニングあるいは冷却ゾーンで望ましくなく、供給管（チャンネル）では全く望まれていない。
さらに、特に供給管での冷却あるいはコンディショニング領域では、ガラス溶融物の厚さ又は高さは、最早、大ではなく、そのため、溶融物の底部の静水圧が低下し、これが最終的に存在する気泡の成長を促す。ドイツ特許出願ＤＥ‐Ａ１９８２２４３７は、小さな気泡を抑制する十分な圧力をその溶融物にかける必要があることを示唆している。
【０００４】
例えば、H.ScholzeによるGlastechnische Berichte [Glass Technology Report],３２、１４２〜１５２頁（１９５９年）に記載されているように、水がＯＨ基の形態でガラス溶融物のＳｉＯ2の網目構造内に作られ、水がガラスに溶融する程度まで水素が結合する。この溶融形態の水は、完成ガラス製品の不具合な特性の原因とはならない。
ガラス溶融物のプロセス温度で、水は通常その成分、すなわち水と酸素に一部分けられる。例えば、１５００℃のプロセス温度で、分離された水の一部は０．２％である。
【０００５】
現在使用されている大部分のガラス製造装置は、貴金属、特に、白金クラッド、部品を備えている。望ましくないＯ₂気泡が特に供給ダクトのこれらの貴金属部品に直接形成される。理論的なモデルは、例えば、J.M.CowanらによるJ.of the American Ceramic Society４９巻、５５９〜５６２頁（１９６６年）に記載されている。従って、大きさが溶融物の組成に依存し、略３０ｍＶ／１００℃〜１００ｍＶ／１００℃である電位差が、温度傾斜があるためにガラス溶融物に生じる。高温及び低温領域が白金線のブリッジにより短絡すれば、酸素気泡がその高温領域の白金線に生じる。この気泡の形成は、白金線内を流れる短絡電流の結果である。Schott Glasでの新しい実験により、酸素気泡は、非等温溶融物の電気的短絡時に低温電極でも発生する可能性があることが示された（F.G.K.Baucke, K, Mucke:「ＺｒＯ₂ 電極による非等温ガラス溶融物での標準ゼーベック係数の測定」、J.Non−Cryst. Solids８４、１７４ー１８２（１９８６年）を参照のこと）。気泡が生じる場所は溶融物の組成に完全に依存する。
他の実験では、上記短絡熱電圧の他に、２つの別の酸素気泡形成原因があることを示している。すなわち、交流電気分解（熱交流の整流成分）と、溶融物‐白金境界面の溶融物中にある水の分解である。損害に関する限りは、水の分解の影響が広い範囲で他の全てを上回る。
【０００６】
ガラス溶融物中にある水の、酸素と水素への上記熱分解によって生じる特殊な酸素気泡の防止方法及び水素の核酸が、ＷＯ９８／１８７３１に記載されている。この方法では、酸素気泡の形成は、水素の拡散が白熱発光又は赤熱発光の白金あるいはモリブデン壁により防止されるために、回避される。より大きな水素分圧が白金壁の裏側で高まり、これにより上記分解反応に従って形成された水素の白金壁を介する移動の防止や補償に十分である。このようにして、酸素の溶融物での増加が、酸素が白金ライニングを通過できないために、防止される。しかしながら、このプロセスは、ガラス製造プラントの対応領域を白金ライニングが水素含有気体で洗滌可能なように再構築されねばならないために、高価な構造状の改良を前提としている。これは、白金部品に、３５０℃までの温度に耐え、気密であり、白金コンポーネントの電気加熱用の発熱体及び導体用の絶縁ダクトを有するジャケット又はケーシングを設ける必要があることを意味している。これは製造が複雑で、しかも高価である。
【０００７】
ガラスを溶融する方法、特にガラスを還元する方法がＤＥ‐Ｃ‐３９０６２７０に記載されており、この方法では、白金で被覆されることによって溶融物容器が腐蝕に対して保護されている。酸素を多く含んだ保護ガラス層は、ガラスから離れて面する坩堝又は容器の側面が酸素で洗われるため、坩堝又は容器の内面側に生成される。この現象は、L.R. Velho及びR.W. BartletによるMetallurg.Trans.３、６５頁（１９７２年）及びR.J. BrookらによるJ.Electrochem.Soc.118、１８５頁（１９７１年）の教示による、十分高い温度で、且つ十分高い酸素分圧で、酸素が白金壁又は本体を透過するためであると思われた。本発明を実施する中で得られた知見によれば、この従来技術方法は、白金壁を水素が拡散放出したことによる酸素富化に基づいている。
その記載が明確に本明細書に編入される他の未公開特許出願Ｐ１９９５５８２７では、電圧降下が貴金属ライニング及び／又はジャケットと、酸素気泡形成を望まない貴金属部品との間に生じ、そして電極がガラス溶融物の他の領域に浸漬されている時に、酸素気泡の形成が防止できることが教示されている。これは、マイナス極が貴金属部品及び／又はジャケットに接続され、そのプラス極が電極に接続される直流電圧源によって好適に起こる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、通常、非電気的に生成される酸素気泡の形成を防止あるいは抑制するための改善方法を提供することである。
本発明の他の目的は、通常、非電気的に生成される酸素気泡の形成を防止あるいは抑制する改善方法を実施するための装置を提供することである。
本発明の他の目的は、ガラス溶融物での酸素気泡形成が抑制された溶融物装置内のガラス溶融物からガラスを製造する方法及び装置を提供することである。
本発明の他の目的は、本発明に従う方法及び／装置を使用して得られる改善されたガラス製品を製造することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、ガラスを製造する方法が、
ａ）溶融装置内で出発材料からガラス溶融物を形成する工程であって、前記溶融装置が、前記ガラス溶融物の第１領域でガラス溶融物と接触している金属表面を有する少なくとも１つの金属部品を含み、所定の酸素分圧を前記第１領域内に存在させる工程と、
ｂ）前記第１領域を含まないガラス溶融物の第２領域に電極を浸漬する工程であって、前記接触面での前記第１領域内の前記所定の酸素分圧より低い酸素分圧をガラス溶融物の前記第２領域に存在させる工程と、
ｃ）前記第２領域の電極と前記第１領域にある少なくとも１つの金属部品を導電接続し、それによって金属表面とガラス溶融物との接触表面において、ガラス溶融物中の気泡形成を抑制する工程とを含む。
【００１０】
本発明によれば、特に冷却あるいはコンディショニングゾーンの容器ライニング又はジャケットの金属部品、特に貴金属部品での酸素気泡形成が、電極を、酸素気泡形成を避ける必要がある第１領域より低酸素分圧が存在するガラス溶融物の第２領域に、浸漬するときに完全に回避あるいは抑制可能となる。この電極は、金属、特に貴金属、酸素気泡の形成が望ましくない領域のライニング又はジャケットと電気的に接続される。本発明に従う手順は、存在している気泡を形成しそうな分子酸素を以下の式：
Ｏ²＋４ｅ → ２Ｏ^2-
により酸素の陰イオンに変えるために、酸素気泡形成を抑制する。生成される酸素陰イオンはガラス溶融物に殆どの量溶解する。従って、上記のようにしなければ気泡を生成する酸素がその発生原因とは無関係に除去される。
【００１１】
電極は、酸素ガス気泡が有害でない領域、例えば溶融領域又は清澄室の溶融物に浸漬されるのが好ましい。本発明の好ましい実施形態では、電極がガラス溶融物の表面に特に近いため、そこで偶発的に生じる酸素気泡がガラス面に昇るには僅かな距離しかなく、そこで解放されるか、あるいは酸素気泡がガラス面に集まるので、ガラス面から機械的に除去できる。特に、好ましい実施形態では、電極は、皿、ロッド、パイプ、攪拌要素、針、加熱電極、ノズル及び棒等のガラス溶融物装置の部品である。
低オーム抵抗の高導電性ケーブルは金属、特に、貴金属、ライニング又はジャケットと、電極との導電結線となる。溶融物と接触している残りの構成部品との電気的絶縁材を設けなければならない。しかしながら、特殊な場合には、電気結線としてガラス製造装置の部品を使用することは、その部品がそのシステムで短絡を招かない限り、また、電極及び金属及び／又は貴金属ライニングあるいはジャケットを介して以外、金属と電気的接触しない限り、可能である。
【００１２】
電極は、その目的を果たすことができるように、ガラス溶融物に面する側面が金属、好ましくは貴金属でコーティングあるいは被覆される。ガラス溶融物中に浸漬される電極の金属ライニングは、ガラス溶融物の接触面の少なくとも２５％になる酸素気泡の形成が回避される必要がある表面を有するのが好ましい。電極ライニング又はコーティングの金属は、酸素が生じる部品の金属と同じ金属であるが、他の適当な金属の選択によって電極電位を変えることが、ある場合には有効であることが分かった。
酸素気形成が抑制される必要がある金属ライニング又はコーティングは、他の金属部品から、勿論特に酸素分圧が高いそれら金属部品から電気的に絶縁されるのが好ましい。適切に絶縁された領域は、特に清澄領域、供給管及び溶融領域である。さらに、酸素気泡形成が防止される必要がある場所、すなわち、ガラスライニング及びその中に含まれるガラス溶融物は、電極やその周りのガラス溶融物より温度が高い。
【００１３】
電極周囲の低酸素分圧がガラス溶融物に与えられることが好ましい。この低酸素分圧は、当業者に公知の多数の方法で作り出すことができる。例えば、特に好ましい実施形態では、電極が中空体として形成される。ガラスから離れて面するこの電極周囲の金属ジャケット又は外皮（シェル）の表面又は側面は還元ガスで洗滌される。好ましい還元ガスとして水素、水蒸気又は蒸気、成形ガスあるいはこれらの混合物がある。金属コーティング又はジャケットの厚さは比較的薄いのが好ましく、通常、０．１〜２０ｍｍになる。金属コーティング又はジャケットの厚さが０．５〜１５ｍｍであるのが特に好ましい。
酸素気泡形成が防止される必要がある電極のライニング又はジャケット用金属及び／又はその部品の金属ライニングは、白金族の全金族、特に白金それ自体、及び金、レニウム、モリブデン、タングステン及びそれらの合金を含む貴金属であることが好ましい。
【００１４】
還元ガスでの電極洗滌は、任意のガス圧で、しかし１又は１．００１〜５バール、特に１．０５〜１．５バールの好ましい圧力で実施可能である。好ましい流量は０．０１〜２００リットル／分、特に０．１〜２リットル／分になる。
水素は、ガス化装置からの漏れ速度がかなりであり、その速度は、本発明の目的である実際の消耗速度より通常、かなり高い。この条件のために、流量が装置内部の水素分圧を維持あるいは設定するように、洗滌ガスを過剰供給することが必要である。
水素を使用する場合、全体のガス中の水素濃度が、０．００１〜５０％、好ましくは、０．０１〜２％になる。多くの場合、ガラスから離れて面する電極の金属コ−ティングの内側が、増加した還元ガス分圧でのみ作用を受ければ十分であることが分かった。電極の内側の常時洗滌は、漏れ損失の均衡のために必要なだけである。
【００１５】
本発明によれば、貴金属部品への非電気的に生成される酸素気泡形成は、ガラスに水が無く、あるいは少なくとも略水が無く、すなわち水分子を含んでいなきかあるいは僅かな水分子しか含まず、実際には、上記引用されたScholzによる従来技術に記載されているように、ＯＨ基としてＳｉＯ₂網目構造に作られる水分子が無くなった時にのみ終了することも証明された。
一般に、酸素気泡は、また、熱電位差が種々の温度に伴い容器部品間に、あるいは付加的な電気加熱により部分的に生じる濃度差により流れる電流間に生じたときに、ガラス溶融物それ自体の電解によっても生じる。この影響により生じる酸素分子は、溶融物内に酸素ガスとして溶解する。また、これらの場合にも、本発明に従う装置は、酸素気泡形成を抑制するために有効であることが分かった。
ガス気泡形成を回避する必要がある領域が、ガラス溶融物装置の他の金属及び／又は貴金属領域から電気的に絶縁される必要があることが好ましければ、電極へのそれらの電気結線が自然に回避されるか、外される。また、電極それ自体が溶融物容器の貴金属ライニングから適切に絶縁される。
【００１６】
本発明の特に好ましい実施形態では、ガス溶融物内の酸素分圧が直接測定される。この種の測定法は公知であり、例えば、Th.Frey及びF.G.K.Bauckeらにより、Glastechn.Ber. 53、１１６〜１２３頁（１９８０年）に記載されているようなプロ−ブで実施される。特に好ましい実施形態では、酸素分圧がこのプローブで測定され、及び／又はそのプローブで生じる信号は、電極の洗滌に使用される還元ガスのガス流量及び／又は分圧の制御と調整に直接使用される。酸素分圧は、酸素気泡形成を抑制すべき領域で好ましく測定される。しかしながら、個々の場合では、電極近くで酸素分圧を測定することによって酸素分圧、従って洗滌ガスを制御することもできる。酸素を望まない領域と電極それ自体の領域の双方の酸素分圧を測定することが最も好ましい。このように、酸素含有量、従って仕上げガラス内での酸素気泡の形成の迅速な制御が可能となる測定電圧又は電位を発生することができる。
【００１７】
本発明によれば、ガラスを製造する装置が、
出発材料からガラス溶融物を形成する手段と、
前記ガラス溶融物の第１領域のガラス溶融物と接触している少なくとも１つの金属部品と、
前記ガラス溶融物の第１領域のガラス溶融物と接触している前記少なくとも１つの金属部品で酸素気泡形成を抑制するための手段と、
前記ガラス溶融物の第１領域より低酸素分圧が存在する前記ガラス溶融物の第２領域に配置された電極と、
前記電極と前記少なくとも１つの金属部品との間の導電結線とを含む。
本発明に従う方法によって製造されるガラス及び又は本発明に従う装置によって製造されるガラスは、特にモニター、液晶ディスプレー（ＬＣＤ）、薄膜トランジスター（ＴＦＴ）、テレビスクリーン、光学レンズ、そして調理用容器、マイクロ波容器、調理用ユニット、電子ユニット等の家庭用電化製品、窓ガラス。、ランプガラス及び／又はディスプレーガラスに特に適している。
ここで、本発明の目的、特徴及び利点を、添付図面を参照して以下の好ましい実施形態によりさらに詳細に説明する。
【００１８】
【発明の実施形態】
図１に示された本発明に従う装置は、ガラス溶融物２０が入った、好ましくは貴金属でライニングされた溶融物容器を備え、また必要なら、コンディショニング又は冷却領域３０を備えている。この装置では、ガラス溶融物２０は供給ダクト４０を介して溶融ガラスを装置から分配する攪拌容器５０に通じている。ガスで洗滌される電極６０が、ガラス溶融物２０内に浸漬されている。この電極６０には、電極コア６１とその電極コア周囲の白金コーティング又はジャケット６２がある。この白金コーティング又はジャケット６２は、間にあるスペース６３がガスで洗滌できるように電極コア６１から離れて配置されている。この間のスペース６３はガス入口ライン６４及びガス出口ライン６６と流体連通状態にある。供給ダクト４０と、ガスで作用を受ける電極６０は、電気結線７０により接続及び／又は短絡されている。必要なら、電極６０と供給ダクト４０との間のＥＭＦが検出器７２で測定される。
酸素分圧を測定するためのプローブ８０が、供給ダクト４０の近くの溶融物に浸漬されている。このプローブ８０は、導線８２によってガス供給ライン６４の調整器８４に接続される。この調整器８４は、プローブ８０で測定される酸素分圧に従ってガス入口ライン６４を介して供給されるガスを制御又は調整し、それにより供給ダクト４０と電極６０との間のＥＭＦをオンラインで制御できる。原理的には、検出器７２に基づくＥＭＦオンライン手段で直接的に酸素供給を制御することもできる。
【００１９】
図２はガスで作用を受ける電極２００の一実施形態を示している。電極２００は、ガラス溶融物に浸漬されない電極ホルダー２６４と、セラミック又は金属材料から作られた電極コア２６１とを備えている。電極コア２６１にはそのコアから間隔を空けて配置された貴金属ジャケット２６２が設けられている。貴金属スリーブの、電極コア２６１、特に白金金属ジャケットからの間隔は、そのスリーブがガスで洗滌可能なように十分に大きい。ガス入口ライン２６５は、電極コア２６１とそのコアから離れて配置された貴金属ジャケット２６２との間に形成されるガス室２６３が末端となる。ガス出口２６６はガス室２６３の上部に配置される。ガス出口２６６は横向きに、また電極ホルダー２６４を通る出口ラインとしても配置することができる。
【００２０】
図３はガスで洗滌できる電極として作用する攪拌器３００を示している。この攪拌器３００はホルダー３６４とそのホルダーと接続される攪拌部材３６８とを備えており、この攪拌部材は、ガス供給ライン３６５が設けられた金属又はセラミックコア３６１を備えている。攪拌部材３６８は、その外面が貴金属スリーブ３６２で完全に包囲されている。攪拌コア３６１と貴金属スリーブ３６２との間に形成された介在スペース３６３は、ガス供給ライン３６５と流体連通状態にある。消耗ガス及び／又は反応生成物の除去のガス出口３６６が攪拌部材３６８の上端に配置されている。
高品質ガラスが、本発明に従う方法と装置で容易に製造することができる。
本発明は、ガラス製造に関連してガラス溶融物内にある貴金属部品での酸素気泡の抑制方法、ガラス溶融物内での酸素気泡の抑制装置、及びこの方法により得られたガラスの用途において具体化されたように例示され、説明されたが、種々の改良や変更が本発明の趣旨から何ら逸脱せずに実施できるため、示された詳細に限定されるものではない。
【００２１】
他の分析がなくても、前述の説明は本発明の要旨を十分に示しているため、現在の知識を適用して、他人は、従来技術の観点からこの発明の一般的あるいは特殊な態様の本質的な特性をかなり構成する特徴を削除することなく種々の用途に本発明を適用することが可能である。
請求されるものは新しく、特許請求の範囲に示されている。
【図面の簡単な説明】
【図１】 酸素気泡の形成を抑制するための手段を有する、ガラスを製造するための本発明に従う装置の概略図である。
【図２】 図１に示した酸素気泡形成を抑制するための手段の電極の簡略断面図である。
【図３】 本発明に従うプロセスで電極として使用するために形成された攪拌器の概略図である。
【符号の説明】
１０…溶融物容器、２０…ガラス溶融物、３０…冷却領域、４０…供給ダクト、５０…攪拌容器、６０…電極、６２…白金コーティング又はジャケット、６４…ガス入口ライン、６６…ガス出口ライン、７０…電気結線。

Claims (17)

1. ガラスを製造する方法であって、前記方法が、
   ａ）溶融装置内で出発材料からガラス溶融物を形成する工程であって、前記溶融装置が、前記ガラス溶融物の第１領域でガラス溶融物と接触している金属表面を有する少なくとも１つの金属部品を含み、所定の酸素分圧を前記第１領域内に存在させる工程と、
   ｂ）前記第１領域を含まないガラス溶融物の第２領域に電極を浸漬する工程であって、前記接触面での前記第１領域内の前記所定の酸素分圧より低い酸素分圧をガラス溶融物の前記第２領域に存在させる工程と、
   ｃ）前記第２領域の電極と前記第１領域にある少なくとも１つの金属部品を導電接続し、それによって金属表面とガラス溶融物との接触表面において、ガラス溶融物中の気泡形成を抑制する工程とを含む方法。
2. 前記電極を囲む前記ガラス溶融物の前記酸素分圧を下げる工程を含む請求項１記載の方法。
3. 前記電極が、ガスで洗滌可能であり、還元ガス又は還元ガス混合物で前記電極を洗滌する工程をさらに含む請求項１記載の方法。
4. 前記還元ガス又は還元ガス混合物が、水素、蒸気、水蒸気、発生ガス、又はそれらの混合物である請求項３記載の方法。
5. 前記電極が、ガスで洗滌可能であり、エア又は不活性ガスで前記電極を洗滌する工程をさらに含み、前記不活性ガスが窒素及び貴ガスからなる群から選択される請求項１記載の方法。
6. 前記溶融物の前記第２領域内の前記酸素分圧の尺度としての酸素プローブから出力信号を発生させ、電極を洗滌するための還元ガス又は還元ガス混合物内の分圧を制御する工程をさらに含む請求項３記載の方法。
7. 請求項１記載の方法でガラスを製造する装置であって、前記装置が、
   出発材料からガラス溶融物を形成する手段と、
   前記ガラス溶融物の第１領域のガラス溶融物と接触している少なくとも１つの金属部品と、
   前記ガラス溶融物の第１領域のガラス溶融物と接触している前記少なくとも１つの金属部品で酸素気泡形成を抑制するための手段と、
   前記ガラス溶融物の第１領域より低い酸素分圧が存在する前記ガラス溶融物の第２領域に配置された電極と、
   前記電極と前記少なくとも１つの金属部品との間の導電結線とを含む装置。
8. 導電部品をさらに含み、前記少なくとも１つの金属部品が前記導電部品から電気的に絶縁される請求項７記載の装置。
9. 前記電極が中空体とその中空体用の導電ジャケットとを含み、前記ガラス溶融物から離れて面する前記導電ジャケットの裏面を少なくとも１つの還元材料又は少なくとも１つの還元ガスで洗滌するための手段をさらに含む請求項７記載の装置。
10. 前記電極が、少なくとも１つの攪拌器、針、棒及び発熱体を含む請求項７記載の装置。
11. 前記導電ジャケットが、０．１〜２０ｍｍの厚さを有する請求項９記載の装置。
12. 前記導電ジャケットが、少なくとも１つの貴金属からなる請求項９記載の装置。
13. 前記少なくとも１つの貴金属が、白金族金属からなる請求項１２記載の装置。
14. 前記少なくとも１つの貴金属が、金、タングステン、レニウム又はモリブデンであるか、あるいは、前記金、前記タングステン、前記レニウム及び前記モリブデンの少なくとも２つの合金である請求項１２記載の装置。
15. 前記電極の表面を洗滌する還元ガスを流しながら前記ガラス溶融物内の酸素分圧を測定するための酸素プローブと、前記酸素プローブで測定される酸素分圧に従って前記電極で還元ガスの分圧を制御するための制御手段とをさらに含む請求項７記載の装置。
16. モニター、液晶ディスプレー、薄膜トランジスター、テレビスクリーン、光学レンズ、家庭電化製品、窓ガラス、ランプガラス、又はディスプレーガラスを製造するためのガラスであって、前記ガラスが、
    ａ）溶融装置内で出発材料からガラス溶融物を形成する工程であって、前記溶融装置が、前記ガラス溶融物の第１領域でガラス溶融物と接触している金属表面を有する少なくとも１つの金属部品を含み、所定の酸素分圧を前記第１領域内に存在させる工程と、
    ｂ）ガラス溶融物の第２領域に電極を浸漬する工程であって、接触面で酸素気泡形成が工程ｂ）で抑制される前記接触面での前記第１領域内の前記所定の酸素分圧より低い酸素分圧をガラス溶融物の前記第２領域に存在させる工程と、
    ｃ）前記第２領域の電極と前記第１領域の少なくとも１つの金属部品を導電接続する工程とを含む方請求項１記載の方法によって製造されるガラス。
17. モニター、液晶ディイスプレー、薄膜トランジスター、テレビスクリーン、光学レンズ、家庭電化製品、窓ガラス、ランプガラス、又はディスプレーガラスを製造するためのガラスであって、前記ガラスが、
    出発材料からガラス溶融物を形成する手段と、
    前記ガラス溶融物で第１領域でガラス溶融物と接触している少なくとも１つの金属部品と、
    前記少なくとも１つの金属部品で酸素気泡形成を抑制するための手段と、
    前記ガラス溶融物の第１領域より低酸素分圧が存在する前記ガラス溶融物の第２領域に配置された電極と、
    前記電極と前記少なくとも１つの金属部品との間の電気結線とを含む装置で製造されるガラス。

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