JP4986761B2 - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4986761B2
JP4986761B2 JP2007203141A JP2007203141A JP4986761B2 JP 4986761 B2 JP4986761 B2 JP 4986761B2 JP 2007203141 A JP2007203141 A JP 2007203141A JP 2007203141 A JP2007203141 A JP 2007203141A JP 4986761 B2 JP4986761 B2 JP 4986761B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoelectric conversion
photometric
focus
focus detection
conversion unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007203141A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009037139A (ja
JP2009037139A5 (ja
Inventor
英則 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2007203141A priority Critical patent/JP4986761B2/ja
Priority to US12/181,001 priority patent/US7595475B2/en
Publication of JP2009037139A publication Critical patent/JP2009037139A/ja
Publication of JP2009037139A5 publication Critical patent/JP2009037139A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4986761B2 publication Critical patent/JP4986761B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers
    • H01L27/14645Colour imagers
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B17/00Details of cameras or camera bodies; Accessories therefor
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Exposure Control For Cameras (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

本発明は、いわゆるTTL位相差検出方式のオートフォーカス(AF)を行う撮像装置に関し、特に光源検出等に用いられる測色機能を有する撮像装置に関する。
TTL位相差検出方式では、撮像レンズを通った光により形成される一対の像をイメージセンサ等の焦点検出用受光素子で光電変換し、該一対の像のずれ量(位相差)に基づいて撮像レンズのデフォーカス量を求める。焦点検出用受光素子の多くは、P−N接合型フォトダイオードにより構成されている。そして、その感度は可視波長域から近赤外波長域まで広がっている。これは、暗い被写体に対して焦点検出を行う場合に被写体に照射される補助光として近赤外波長域の光が用いられるためである。
一方、一般に、撮像レンズは可視波長域において色収差が少なくなるように設計されるが、近赤外光領域では色収差が良好に補正されていない場合が多い。このため、被写体が太陽光で照明されている場合とタングステンランプ等の色温度の低い光源で照明されている場合と蛍光灯等の色温度の高い光源で照明されている場合とでは、可視光に対する近赤外光の相対的な割合が異なるため、焦点検出結果が異なる。つまり、同じ距離の被写体であっても、光源の種類によって焦点検出結果が異なり、良好なフォーカス制御が行えない。
このような問題を解消するため、光源の種類を検出(判別)し、その検出結果に基づいて焦点検出結果を補正する必要がある。
特許文献1には、RGBの原色フィルタを用いて構成された3つの測光測色センサによって、被写体が無彩色、青、緑及び赤のいずれに属するかを判別し、その判別結果に応じて焦点検出結果を補正する撮像装置が開示されている。また、この判別結果は、露出補正にも用いられる。
特開2003−241064号公報
しかしながら、特許文献1にて開示された測光測色センサは、光の入射面内方向において互いに位置が異なる3つの受光素子を用いて構成されている。このため、被写体の同一点からの光束を該3つの受光素子上に同じように結像させるための特別な光学系を設けない限り、3つの受光素子の視野が異なることになる。3つの受光素子の視野が異なると、被写体の形状(例えば、細い線)によっては該3つの受光素子のすべてに同じ被写体の像が形成されない場合が生じ得る。この場合は、被写体の色を正確に判別することができず、その結果、焦点検出結果の補正や露出補正の精度が低下する。また、3つの受光素子の視野を一致させるための特別な光学系を設けると、撮像装置の大型化につながる。
本発明は、小型でありながらも、互いに異なる分光感度特性を有する第1及び第2の光電変換部を視野のずれが少なくなるように配置し、TTL位相差検出方式による焦点検出結果の補正や露出補正の精度を向上させることができる撮像装置を提供する。
本発明の一側面としての撮像装置は、焦点検出領域からの出力に基づいて生成された焦点検出情報を用いてフォーカス制御を行うフォーカス制御手段と、焦点検出領域を含む撮像画面内の領域に対応する第1の領域で測光する第1の測光手段と、第1の領域の外側であって、焦点検出領域を含まない領域に対応する第2の領域で測光する第2の測光手段と、第1の測光手段又は第2の測光手段からの出力に基づいて生成された測光情報を用いて露出制御を行う露出制御手段とを有する。第1の測光手段及び第2の測光手段は、撮像光学系からの光が入射してくる方向において互いに少なくとも一部が重なるように形成された複数の半導体層により構成され、第1の測光手段は、半導体層のうち最も被写体側にある第1の層及び隣接する第2の層から成り可視光領域に主感度を有する第1の光電変換部と、第2の層及び隣接する第3の層から成り近赤外領域に主感度を有する第2の光電変換部を有し、第2の測光手段は、第1の層を備えず、第1の光電変換部及び第2の光電変換部より広い波長領域で特定レベル以上の感度を有する第3の光電変換部を有する。そして、フォーカス制御手段は、焦点検出情報と第1及び第2の光電変換部からの出力に基づいて生成されたフォーカス補正情報とを用いてフォーカス制御を行い、露出制御手段は、第1の領域において、第1の光電変換部からの出力に基づいて生成された測光情報と第1及び第2の光電変換部からの出力に基づいて生成された露出補正情報とを用いて露出制御を行い、第2の領域において、第3の光電変換部からの出力に基づいて生成された測光情報と、露出補正情報の平均値とを用いて露出制御を行うことを特徴とする。
本発明によれば、第1の光電変換部及び第2の光電変換部を、撮像光学系からの光が入射してくる方向において互いに少なくとも一部が重なるように形成したので、特別な光学系を用いることなく、これら光電変換部の視野のずれを少なくすることができる。したがって、被写体の色(例えば、光源の種類)に応じた焦点検出結果の補正や露出補正の精度を向上させることができる小型の撮像装置を実現することができる。
以下、本発明の好ましい実施例について図面を参照しながら説明する。
図1には、本発明の実施例1である撮像装置としての一眼レフレックスデジタルカメラと該カメラに装着される交換式の撮像レンズとによって構成されるカメラシステムの構成を示す。
同図において、1はカメラであり、その前面には撮像レンズ11が装着される。カメラ1内には、以下に説明する光学部品、機械部品、電気回路及び撮像素子が収納されている。
カメラ1内において、2は主ミラーであり、ファインダ観察状態では撮像光路内に斜設され、撮像状態では撮像光路外に退避する。また、主ミラー2はハーフミラーとなっており、撮像光路内に斜設されているときは、後述する焦点検出光学系へ被写体(撮像レンズ11)からの光束の約半分を透過させる。
3はピント板であり、後述する撮像光学系の予定結像面に配置されている。4はファインダ光路変更用のペンタプリズムである。5はアイピースであり、撮像者はアイピース5を通じてピント板3を観察することで、撮像画面を観察することができる。
7は被写体輝度を測定するための測光センサであり、6は測光センサ7上にピント板3からの光束により形成される被写体像を投影する結像レンズである。32は測光センサ7に向かう光束のうち近赤外波長よりも長い波長域の光をカットするIRカットフィルタである。該IRカットフィルタ32は、後述する焦点検出ユニット内に配置されるIRカットフィルタと同じ特性を有する。ここにいう「同じ特性」とは、全く同じ場合だけでなく、測光感度特性から見て同じとみなせる場合も含む意味である。測光センサ7は、撮像画面内に配置された複数の測光領域で測光情報を生成することができる。測光センサ7とIRカットフィルタ32とにより「測光手段」が構成される。
8はフォーカルプレーンシャッタである。9はCCDセンサやCMOSセンサ等により構成される撮像素子である。
25はサブミラーであり、主ミラー2とともにファインダ観察状態では撮像光路内に斜設され、撮像状態では撮像光路外に退避する。このサブミラー25は、撮像光路内に斜設された主ミラー2を透過した光束を下方に向けて反射し、後述する焦点検出ユニットに導く。
26は焦点検出ユニットであり、2次結像ミラー27、2次結像レンズ28、焦点検出ラインセンサ29、焦点検出回路105及びIRカットフィルタ(図示せず)を含む。2次結像ミラー27及び2次結像レンズ28は焦点検出光学系を構成し、撮像レンズ11の2次結像面を焦点検出ラインセンサ29上に形成する。また、IRカットフィルタは、可視波長域の光だけでなく、被写体が低輝度又は低コントラストである場合に不図示の補助光源から投光される近赤外光(700nm付近の光)を透過可能な特性を有する。
焦点検出ユニット26は、いわゆるTTL位相差検出方式によって撮像レンズ11の焦点状態を検出するために用いられる対の像信号を生成し、後述するカメラマイクロコンピュータに出力する。焦点検出ユニット26は、撮像画面内に配置された複数の焦点検出領域のそれぞれにおいて一対の像信号を生成することができる。
10はカメラ1と撮像レンズ11との通信インターフェイスとなるマウント接点群である。
撮像レンズ11内において、12〜14は撮像光学系を構成するレンズユニットである。被写体側から順に、第1レンズユニット(以下、フォーカスレンズという)12は光軸上を移動することでフォーカシングを行い、第2レンズユニット13は光軸上を移動して撮像レンズ11の焦点距離を変更する変倍を行う。14は固定の第3レンズユニットである。15は絞りである。
16はフォーカスモータであり、フォーカスレンズ12を光軸方向に移動させる。17は絞りモータであり、絞り15を駆動してその開口径を変化させる。
18は距離エンコーダである。フォーカスレンズ12に取り付けられたブラシ19がフォーカスレンズ12の移動とともに距離エンコーダ18に対して摺動することで、フォーカスレンズ12の位置、つまりは被写体距離に対応する信号(被写体距離情報)が出力される。
次に、図2を用いて、上記カメラシステムの電気回路構成について説明する。なお、図2において、図1と共通する構成要素には同じ符号を付している。
まず、カメラ1内の電気回路構成について説明する。CPU等により構成されるカメラマイクロコンピュータ100には、焦点検出回路105、測光センサ7、シャッタ制御回路107、モータ制御回路108及び液晶表示回路111が接続されている。カメラマイクロコンピュータ100は、撮像レンズ11内に配置されたCPU等により構成されるレンズマイクロコンピュータ112とマウント接点10を介して信号伝達を行う。
焦点検出回路105は、カメラマイクロコンピュータ100からの信号に従って焦点検出ラインセンサ29を構成する各画素の電荷蓄積制御と該電荷の読み出し制御を行う。そして、焦点検出ラインセンサ29上に形成された一対の被写体像に対応する一対の像信号を生成してこれを出力する。カメラマイクロコンピュータ100は、この一対の像信号をA/D変換し、該一対の像信号のずれ量である位相差に基づいて撮像レンズ11のデフォーカス量(焦点検出情報)を演算(生成)する。カメラマイクロコンピュータ100と焦点検出ユニット26により、「焦点検出手段」が構成される。
さらに、カメラマイクロコンピュータ100は、後述するように、演算したデフォーカス量を光源検出結果に応じて補正し、該補正後のデフォーカス量に基づいて、合焦を得るためのフォーカスレンズ12の駆動量(方向を含む)を算出する。算出されたフォーカスレンズ12の駆動量は、マウント接点10を介してレンズマイクロコンピュータ112に送信される。レンズマイクロコンピュータ112は、受信したフォーカスレンズ駆動量に応じてフォーカスモータ16を駆動し、フォーカスレンズ12を合焦位置に移動させる。カメラマイクロコンピュータ100は、「フォーカス制御手段」を構成する。
また、カメラマイクロコンピュータ100は、測光センサ7からの出力(測光情報)に基づいて、絞り15の駆動量やシャッタ速度等の露出情報を演算する。絞り15の駆動量は、マウント接点10を介してレンズマイクロコンピュータ112に送信される。カメラマイクロコンピュータ100は、「露出制御手段」を構成する。
シャッタ制御回路107は、カメラマイクロコンピュータ100からの信号に従ってフォーカルプレーンシャッタ8を構成するシャッタ先幕駆動マグネットMG−1及びシャッタ後幕駆動マグネットMG−2の通電制御を行う。これにより、シャッタ先幕及び後幕を走行させ、露出動作を行う。
モータ制御回路108は、カメラマイクロコンピュータ100からの信号に従ってモータMを制御する。これにより、主ミラー2のアップダウン及びシャッタチャージ等が行われる。
SW1は、不図示のレリーズボタンの第1ストローク(半押し)操作でonし、測光及びAF(オートフォーカス)を開始させるスイッチである。SW2は、レリーズボタンの第2ストローク(全押し)操作でonし、シャッタ走行、すなわち露光動作を開始させるスイッチである。スイッチSW1,SW2の状態は、カメラマイクロコンピュータ100によって読み取られる。
液晶表示回路111は、ファインダ内表示器24と外部表示器42とをカメラマイクロコンピュータ100からの信号に従って制御する。ファインダ内表示器24及び外部表示器42には、各種撮像情報が表示される。
次に、撮像レンズ11内の電気回路構成について説明する。マウント接点10は、撮像レンズ11内のフォーカスモータ16及び絞りモータ17の電源用接点である接点L0と、レンズマイクロコンピュータ112の電源用接点L1と、シリアルデータ通信を行うためのクロック用接点L2とを含む。また、カメラ1から撮像レンズ11へのデータ送信用接点L3と、撮像レンズ11からカメラ1へのデータ送信用接点L4と、モータ用グランド接点L5と、レンズマイクロコンピュータ用グランド接点L6とを含む。
レンズマイクロコンピュータ112は、カメラマイクロコンピュータ100からのフォーカスレンズ駆動量や絞り駆動量の情報に応じてフォーカスモータ16及び絞りモータ17を駆動する。
50と51は光検出器とパルス板であり、レンズマイクロコンピュータ112がパルス数をカウントすることによりフォーカスレンズ12の駆動時の位置情報を得る。これにより、フォーカスレンズ12をカメラマイクロコンピュータ100からのフォーカスレンズ駆動量に応じた位置に移動させることができる。また、レンズマイクロコンピュータ112は、距離エンコーダ18からのフォーカスレンズ12の位置情報を被写体距離情報に変換して、カメラマイクロコンピュータ100に送信する。
図3Aから図3Cには、本実施例における撮像画面内での焦点検出領域及び測光領域の例を示している。
図3Aは、撮像画面内での焦点検出領域の配置を示している。301は撮像画面を示す。302は複数(本実施例では21個)の焦点検出領域を示している。図3Aでは、21個の焦点検出領域に対して、A1からA21までの番号を付している。なお、本発明の実施例における焦点検出領域の数や配置は図3Aに示したものに限定されない。
図3Bは、撮像画面301内での測光領域の配置を示している。303は複数(本実施例では63個)の測光領域を示している。図3Bでは、63個の測光領域に対して、Bmn(m=0,1,2…6、n=0,1,2…8)の番号を付している。mは番号を、nは番号を示す。なお、本発明の実施例における測光領域の数や配置は図3Bに示したものに限定されない。
図3Cは、焦点検出領域と測光領域とを重ね合わせて示している。撮像画面301の中央を含むほぼ円形の領域(第1の領域)に21個の焦点検出領域302と21個の測光領域303が互いに重なり合う(一致する)ように配置され、該中央領域とその周辺の領域(第2の領域)に42個の測光領域303が配置されている。なお、焦点検出領域302と測光領域303との間には、図3Cの中央領域に示すような完全な一致関係がなくてもよく、少なくとも一部が重なっていればよい。
図4には、測光センサ7の構造の一例として、B00画素の縦断面構造を示している。B00画素以外の画素も同一の構造を有する。
図4において、401はp型の半導体基板(以下、p基板という)である。402,403は、p基板401との電気的な接続及び隣接する画素を分離するために形成されたp型領域(以下、cn領域という)である。cn領域402,403からは電極が引き出され、p基板401をGNDに接続することで電気的に画素分離が行われる。
404は、p基板401上に形成されたn型のエピタキシャル層(以下、nEpiという)である。405はnEpi404の内側に形成されたp型のwell(以下、p−wellという)である。406はp−well405の内側に形成されたn型領域(以下、n領域という)である。
407はnEpi404及びpwell405により構成される第2の光電変換部(フォトダイオード)のPN接合部に流れる光電流Ir_00を示す。Ir_00は、B00画素からの光電流Iwを意味する。第2の光電変換部は、赤領域から赤外領域にかけて分光感度ピークを有する。
408はp−well405及びn領域406により構成される第1の光電変換部(フォトダイオード)のPN接合部に流れる光電流Iw_00を示す。Iw_00は、B00画素からの光電流Iwを意味する。第1の光電変換部は、可視光領域に分光感度ピークを有する。
このように、第1及び第2の光電変換部は、互いに異なる分光感度特性を有し、撮像レンズ11からの光Lが入射してくる方向(測光センサ7の厚み(深さ)方向)において互いに重なる縦構造を有する。また、別の言い方をすれば、第1及び第2の光電変換部は、同一の半導体基板上に、該基板の厚さ方向にて互いに重なるように形成されている。
なお、図4に示すセンサ構造は例に過ぎず、本発明の実施例としては、互いに異なる分光感度特性を有する第1及び第2の光電変換部が、撮像レンズ11からの光が入射してくる方向において互いに少なくとも一部が重なる縦構造を有すればよい。つまり、第1及び第2の光電変換部が光の入射面内方向において多少ずれていてもよい。また、互いに異なる分光感度特性を有する光電変換部の数は、2つに限られない。
光電流Iw_00及びIr_00は、測光センサ7内の電気回路にて対数圧縮されて電圧Vw_00(第1の出力又は第1の信号)及びVr_00(第2の出力又は第2の信号)に変換され、カメラマイクロコンピュータ100に出力される。Vw_00及びVr_00は、B00画素からの光電流Iw,Irに対応する出力電圧Vw及びVrを意味する。
図5Aから図5Bには、図4に示した構造を有する測光センサ7単独での分光感度特性と該測光センサ7に光を導く光学系も含めた測光系全体での分光感度特性を示す。
図5Aは測光センサ7の単独での分光感度特性を、図5Bは焦点検出及び測光に使用される光学フィルタの分光透過率特性を示している。また、図5Cは、図5Aに示す測光センサ7の分光感度特性と図5Bに示す光学フィルタの分光透過率とを合わせた測定系全系の分光感度特性を示している。
図5A中の501は、本実施例に対する比較例として、従来の測光センサの分光感度特性を示す。従来の測光センサは、分光感度のピーク波長(主感度波長)が650nmである特性を有する。なお、図には800nm以上の波長に対する分光感度特性を示していないが、シリコンを用いた測光センサでは、通常、1100nm程度まで感度を有する。
502は図4に示した本実施例の測光センサ7のうち、p−well405及びn領域406のPN接合により構成されて光電流Iw_00を出力する第1の光電変換部の分光感度特性を示している。該第1の光電変換部は、500nm付近の波長に対してピーク感度(主感度)を有する。なお、第1の光電変換部のピーク感度波長は500nm付近に限られず、もう少し短波長側又は長波長側の波長であってもよい。ただし、人間の目の分光感度特性、いわゆる比視感度は、明視野では555nmにピークがあるとされているため、555nm付近がピーク感度波長であることが望ましい。
503は図4の測光センサ7のうち、nEpi404及びp−well405のPN接合により構成されて光電流Ir_00を出力する第2の光電変換部の分光感度特性を示している。該第2の光電変換部は、750nm付近の波長に対してピーク感度(主感度)を有する。なお、第2の光電変換部のピーク感度波長は750nm付近に限られず、もう少し短波長側又は長波長側の波長であってもよい。ただし、焦点検出時に用いられる補助光の波長付近に充分な感度を有することが望ましい。
図5Bにおいて、504は、図5Aに示す分光感度特性501を有する従来の測光センサの前面に配置され、該測光センサの分光感度特性を人間の目の比視感度特性に近づけるために使用される視感度補正フィルタの分光透過率特性を示す。
505は、焦点検出ラインセンサ29の前面に配置され、余分な赤外光をカットするためのIRカットフィルタの分光透過率特性を示す。該IRカットフィルタには、補助光を充分に透過させるように赤外のカット周波数が設定されている。また、測光センサ7の前面に配置される図1に示したIRカットフィルタ32も、この分光透過率特性と同じ分光透過率特性を有する。
図5Cにおいて、506は従来の測光センサに視感度補正フィルタを組み合わせた場合の分光感度特性(以下、従来特性という)を示している。図5Aに示した測光センサの分光感度特性501は、視感度補正フィルタの分光透過率特性504によって、比視感度と同様に555nm付近にピーク感度を持つように補正されている。
507は図5Aに示した第1の光電変換部(405,406)の分光感度特性502に、IRカットフィルタ32の分光透過率特性を組み合わせた場合の分光感度特性を示している。この分光感度特性では、従来特性506に対して、青及び赤成分の感度が相対的に増加している。
508は図5Aに示した第2の光電変換部(404,405)の分光感度特性503にIRカットフィルタ32の分光透過率特性を組み合わせた場合の分光感度特性を示している。この分光感度特性では、補助光の波長である700nm付近にピーク感度を有する。
図6は、図4に示した画素構造及びIRカットフィルタ32を用いた測光動作とAF動作を説明するためのフローチャートである。測光動作及びAF動作は、カメラマイクロコンピュータ100が、内部に格納したコンピュータプログラムに従って行う。
ステップ(以下、sと略記する)s601では、カメラマイクロコンピュータ100は、レリーズスイッチの状態を判別する。レリーズスイッチが半押し操作された場合(sw1 on)はs602に進み、半押し操作されていなければs601を繰り返す。
s602では、カメラマイクロコンピュータ100は、レンズマイクロコンピュータ112との通信を行い、AF及び測光に必要な、焦点距離、開放絞り値、最小絞り値、色収差データ等の撮像レンズ11に関する情報を取得し、s603に進む。
s603では、カメラマイクロコンピュータ100は、タイマーをスタートさせて、s604に進む。
s604では、カメラマイクロコンピュータ100は、前述した21個の焦点検出領域のうちカメラマイクロコンピュータ100が選択した又は撮影者により選択された焦点検出領域での焦点検出動作を行って撮像レンズ11のデフォーカス量を算出する。そして、該デフォーカス量からフォーカスレンズ12の駆動量BPを算出する。
次に、s605では、カメラマイクロコンピュータ100は、測光センサ7から可視光領域の測光出力(第1の光電変換部からの出力)を取得する。具体的には、図3に示したB00画素からB68画素までの出力電圧Vw_00〜Vw_68を順次測光センサ7から出力させ、カメラマイクロコンピュータ100内の不図示のA/D変換器によりデジタルデータに変換する。そして、該デジタルデータを、カメラマイクロコンピュータ100内の不図示のメモリに記憶する。
次に、s60では、カメラマイクロコンピュータ100は、測光センサ7から近赤外領域の測光出力(第2の光電変換部からの出力)を取得する。具体的には、B00画素からB68画素までの出力電圧Vr_00〜Vr_68を順次測光センサ7から出力させ、カメラマイクロコンピュータ100内のA/D変換器によりデジタルデータに変換し、カメラマイクロコンピュータ100内のメモリに記憶する。
s607では、カメラマイクロコンピュータ100は、s605で取得した各画素のVwデータ(測光情報)から各画素の測光演算を行い、各画素のEv値(露出情報)を算出(生成)する。
s608では、カメラマイクロコンピュータ100は、各画素のVwデータ及びVrデータの比(測色情報)に応じた露出補正値(露出補正情報)ΔEvを求める。露出補正値ΔEvは、被写体の色や被写体を照らす光源の色温度によって誤差を生じるVwデータの値を補正するための値である。露出補正値ΔEvは、演算式を用いて算出してもよいし、データテーブルから読み出してもよい。そして、この露出補正値ΔEvをs607で算出したEv値に加算することで、各画素の光源補正後Ev値を生成する。さらに、全画素の光源補正後Ev値に対して所定の重み付け演算を行い、その結果に応じて露出動作を行うための最終的な露出制御値であるシャッタ速度及び絞り値を算出する。
s609では、カメラマイクロコンピュータ100は、Vwデータ及びVrデータの比に応じて、s604で算出されたデフォーカス量を補正するためのフォーカス補正値(フォーカス補正情報)ΔBPを求める。本実施例では、撮像画面の中央領域では、焦点検出領域に対して測光領域(測光センサ7の画素)が1対1で対応しているので、焦点検出領域に対応した測光センサ7の画素のVwデータ及びVrデータの比を用いてフォーカス補正値ΔBPが求められる。具体的には、Vwデータ及びVrデータの比と撮像レンズ11の色収差情報とを用いてフォーカス補正値ΔBPを求める。フォーカス補正値ΔBPは、演算式を用いて算出してもよいし、データテーブルから読み出してもよい。
そして、カメラマイクロコンピュータ100は、s604で算出されたデフォーカス量にフォーカス補正値ΔBPを加算して、フォーカスレンズ12の最終的な駆動量を算出する。
s610で、カメラマイクロコンピュータ100は、フォーカスレンズ12の駆動量の情報をレンズマイクロコンピュータ112に送信し、フォーカスレンズ12の駆動を行わせる。
s611では、カメラマイクロコンピュータ100は、レリーズスイッチが全押し操作されたか否かを判別する。全押し操作されている場合(sw2 on)は、s612で露出動作(撮像動作)を行う。全押し操作されていなければ、s614で所定時間が経過したか否か(タイムアウトしたか否か)を判別し、タイムアウトしていれば、AF及び測光動作を完了する(s615)。また、タイムアウトしていなければ、s601に戻って、AF及び測光動作を継続する。
本実施例では、測光センサ7の画素構造を、互いに分光感度特性が異なる第1及び第2の光電変換部が測光センサ7の厚み方向にて互いに重なる縦構造とし、IRカットフィルタ32に焦点検出ユニット26内のIRカットフィルタと同じ特性を持たせている。これにより、デフォーカス量を補正するための測色情報(色温度又は光源の情報)を得ることができるとともに、色温度又は光源により生じる測光出力の誤差も補正することができる。しかも、測光センサ7の画素構造を縦構造とすることにより、特別な光学系を用いることなく、第1及び第2の光電変換部の視野のずれをほとんどなくすることができる。したがって、被写体の色に応じたデフォーカス量の補正や露出補正の精度を向上させることができる。
図7には、本発明の実施例2であるカメラにおける撮像画面内での焦点検出領域と測光領域の配置を示している。なお、本実施例において、実施例1と共通する又は同機能を有する構成要素には実施例1と同符号を付している。
301は撮像画面を、302は焦点検出ユニット26により焦点検出が可能な複数(実施例1と同様に21個)の焦点検出領域を示している。701は、測光センサ7により測光が可能な複数(実施例1と同様に63個)の測光領域を示している。
63個の測光領域701のうち図中に白抜きで示した測光領域(焦点検出領域302と重なる中央領域の測光領域と該中央領域に隣接した4つのコーナーに配置された測光領域)に対応する測光センサ7上の画素は、図4にて説明した縦構造を有する。これら測光領域は、撮像画面のうち中央を含む矩形の第1の画面領域に対応する。また、これら測光領域以外のドットを付した周辺測光領域(撮像画面のうち第1の画面領域よりも外側の第2の画面領域)に対応する測光センサ7上の画素は、図4にて説明した構造とは異なる構造を有する。
図8には、周辺領域の測光領域に対応する測光センサ7上の画素の縦断面構造を示している。図には、B00画素の縦断面構造を示すが、他の画素も同一構造を有する。
同図において、図4と同じ部分には図4と同じ符号を付している。図4に示した画素構造とは、p−well405の内側にn領域406が形成されていない点で異なる。
この画素構造によって得られる光電流801は、nEpi404及びp−well405により構成される第3の光電変換部におけるPN接合部を流れる光電流Iwr_00である。光電流Iwr_00は、n領域406が形成されていないため、図4に示した光電流Iw_00とIr_00を加算したものとなる。また、光電流Iwr_00は、測光センサ7内の電気回路にて対数圧縮されて電圧Vwr_00として出力される。
図9には、図5Cに示した第1及び第2の光電変換部とIRカットフィルタ32との組み合わせにより得られる分光感度特性に、図8に示した第3の光電変換部とのIRカットフィルタ32との組み合わせにより得られる分光感度特性901を追記している。図9において、図5Cと同じ特性を示すグラフには、図5Cと同符号を付している。IRカットフィルタ32との組み合わせにより、第3の光電変換部は、第1及び第2の光電変換部広よりも広い波長領域で特定レベル以上の感度を持つ。特定レベルは、例えば、図9に示す相対感度0.3や0.4等である。
測光センサ7の周辺領域に図9に示す分光感度特性901を持たせるのは以下の理由による。測光センサ7は、アイピース5を通過する光束をけらないように、アイピース5に向かうファインダ光軸に対してずれた位置に配置する必要がある。このため、測光センサ7に入射する光量は、周辺領域の方が中央領域に比べて少ない。したがって、焦点検出結果を補正する必要のない、すなわち焦点検出領域が存在しない周辺領域では、低輝度時の特性を改善するため、図8に示すような画素構造によって感度を上げる必要がある。
また、本実施例では、図9の分光感度特性から分かるように、従来の視感度補正された測光センサ(506)よりも近赤外光を多く取り込むために、光源による測光誤差が増加する。しかし、中央領域に配置された図4の構造を有する画素から得られる出力Vw及びVrを使って、ある程度、測光誤差を補正することが可能である。
図10は、本実施例における測光動作のフローチャートである。図10に示すフローチャート(s1001〜s1008)は、図6に示した実施例1のフローチャートのs605〜s608に代えて用いられる。つまり、AFについては、実施例1と同様の動作が行われる。
s1000で処理をスタートとすると、s1001では、カメラマイクロコンピュータ100は、測光センサ7から可視光領域の測光出力(第1の光電変換部及び第3の光電変換部からの出力)である電圧Vw,Vwrを取得する。カメラマイクロコンピュータ100は、該電圧Vw,VwrをA/D変換器によりデジタルデータに変換し、カメラマイクロコンピュータ100内の不図示のメモリに記憶する。
s1002では、カメラマイクロコンピュータ100は、測光センサ7から近赤外領域の測光出力(第2の光電変換部からの出力)である電圧Vrを取得する。カメラマイクロコンピュータ100は、該電圧VrをA/D変換器によりデジタルデータに変換し、カメラマイクロコンピュータ100内の不図示のメモリに記憶する。
s1003では、カメラマイクロコンピュータ100は、s1001で取得した各画素の測光情報であるVwデータ及びVwrデータから各画素の測光演算を行い、各画素のEv値(露出情報)を算出(生成)する。
s1004では、カメラマイクロコンピュータ100は、第1及び第2の光電変換部を有する中央領域の画素についてのみ、各画素のVwデータ及びVrデータの比(測色情報補)に応じた露出補正値(露出補正情報)ΔEvを求める。
s1005では、カメラマイクロコンピュータ100は、s1004で求めた露出補正値ΔEvを、中央領域の画素についてのみs1003にて算出したEv値に加算して、中央領域の各画素の光源補正後Ev値を生成する。
次に、s1006では、カメラマイクロコンピュータ100は、中央領域の画素についてs1004で算出したΔEv値の平均値(平均露出補正値)ΔEVaveを算出し、メモリに記憶する。
さらに、s1007では、カメラマイクロコンピュータ100は、周辺領域の各画素のEv値に対して平均露出補正値ΔEVaveを加算することで、周辺領域の各画素の光源補正後Ev値を求める。そして、カメラマイクロコンピュータ100は、全画素の光源補正後Ev値に対して所定の重み付け演算を行い、その結果に応じて露出動作を行うための最終的な露出制御値であるシャッタ速度及び絞り値を算出し、測光動作を終了する(s1008)。
本実施例では、撮像画面の中央領域では実施例1と同じ縦構造の画素を用い、周辺領域では該縦構造を構成する第1及び第2の光電変換部よりも広い波長領域で感度を持った第3の光電変換部のみ有する画素を用い、周辺領域の光量減少を補っている。これにより、測光センサの低輝度性能を高くしつつ、デフォーカス量を補正するための測色情報(色温度又は光源の情報)を得ることができるとともに、色温度又は光源により生じる測光出力の誤差も補正することができる。また、周辺領域の色による測光出力の誤差は、中央領域での測色情報を用いた補正によって小さく抑えることができる。
以上説明した各実施例は代表的な例にすぎず、本発明の実施に際しては、各実施例に対して種々の変形や変更が可能である。
本発明の実施例1であるカメラ及び撮像レンズを含むカメラシステムの構成を示す概略図。 図1のカメラシステムの電気回路構成を示すブロック図。 実施例1のカメラにおける焦点検出領域の配置例を示す図。 実施例1のカメラにおける測光領域の配置例を示す図。 図3Aに示した焦点検出領域と図3Bに示した測光領域とを重ね合わせて示す図。 実施例1における測光センサの縦構造の例を示す断面図。 実施例1における測光センサの分光感度特性を示す図。 実施例1における光学フィルタの分光透過率特性を示す図。 図5Aに示す測光センサと図5Bに示す光学フィルタとを組み合わせた場合の分光感度特性を示す図。 実施例1におけるAF及び測光動作を示すフローチャート。 本発明の実施例2であるカメラにおける焦点検出領域と測光領域の配置例を示す図。 実施例2における測光センサと光学フィルタとを組み合わせた場合の分光感度特性を示す図。 実施例2における測光の分光感度を示す図 実施例2における測光動作を示すフローチャート。
符号の説明
1 カメラ
7 測光センサ
26 焦点検出ユニット
32 IRカットフィルタ
100 カメラマイクロコンピュータ

Claims (3)

  1. 焦点検出領域からの出力に基づいて生成された焦点検出情報を用いてフォーカス制御を行うフォーカス制御手段と、
    前記焦点検出領域を含む撮像画面内の領域に対応する第1の領域で測光する第1の測光手段と、
    前記第1の領域の外側であって、前記焦点検出領域を含まない領域に対応する第2の領域で測光する第2の測光手段と、
    前記第1の測光手段又は前記第2の測光手段からの出力に基づいて生成された測光情報を用いて露出制御を行う露出制御手段とを有し、
    前記第1の測光手段及び前記第2の測光手段は、前記撮像光学系からの光が入射してくる方向において互いに少なくとも一部が重なるように形成された複数の半導体層により構成され、
    前記第1の測光手段は、前記半導体層のうち最も被写体側にある第1の層及び隣接する第2の層から成り可視光領域に主感度を有する第1の光電変換部と、前記第2の層及び隣接する第3の層から成り近赤外領域に主感度を有する第2の光電変換部を有し、
    前記第2の測光手段は、前記第1の層を備えず、前記第1の光電変換部及び前記第2の光電変換部より広い波長領域で特定レベル以上の感度を有する第3の光電変換部を有し、
    前記フォーカス制御手段は、前記焦点検出情報と前記第1及び第2の光電変換部からの出力に基づいて生成されたフォーカス補正情報とを用いてフォーカス制御を行い、
    前記露出制御手段は、前記第1の領域において、前記第1の光電変換部からの出力に基づいて生成された前記測光情報と前記第1及び第2の光電変換部からの出力に基づいて生成された露出補正情報とを用いて前記露出制御を行い、
    前記第2の領域において、前記第3の光電変換部からの出力に基づいて生成された前記測光情報と、前記露出補正情報の平均値とを用いて前記露出制御を行うことを特徴とする撮像装置。
  2. 前記フォーカス補正情報及び前記露出補正情報は、前記第1及び第2の光電変換部からの出力の比に基づいて生成されることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記第1及び第2の光電変換部は、同一の半導体基板上に、該基板の厚さ方向にて互いに少なくとも一部が重なるように形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
JP2007203141A 2007-08-03 2007-08-03 撮像装置 Expired - Fee Related JP4986761B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007203141A JP4986761B2 (ja) 2007-08-03 2007-08-03 撮像装置
US12/181,001 US7595475B2 (en) 2007-08-03 2008-07-28 Image-pickup apparatus having a focus controller and an exposure controller

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007203141A JP4986761B2 (ja) 2007-08-03 2007-08-03 撮像装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009037139A JP2009037139A (ja) 2009-02-19
JP2009037139A5 JP2009037139A5 (ja) 2010-09-02
JP4986761B2 true JP4986761B2 (ja) 2012-07-25

Family

ID=40337216

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007203141A Expired - Fee Related JP4986761B2 (ja) 2007-08-03 2007-08-03 撮像装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7595475B2 (ja)
JP (1) JP4986761B2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5190537B2 (ja) * 2009-02-23 2013-04-24 パナソニック株式会社 撮像素子及びそれを備えた撮像装置
JP5436139B2 (ja) * 2009-10-20 2014-03-05 キヤノン株式会社 撮像装置
JP5464982B2 (ja) * 2009-11-20 2014-04-09 キヤノン株式会社 撮像装置および画像処理方法
JP6202866B2 (ja) * 2013-04-11 2017-09-27 キヤノン株式会社 撮像装置およびその制御プログラム
JP6223055B2 (ja) * 2013-08-12 2017-11-01 キヤノン株式会社 光電変換装置
JP6529214B2 (ja) * 2013-10-30 2019-06-12 キヤノン株式会社 撮像装置
US10488262B2 (en) * 2015-04-20 2019-11-26 Sharp Kabushiki Kaisha Integrated circuit and measuring device
JP2019053315A (ja) * 2018-11-19 2019-04-04 株式会社ニコン 焦点調節装置および撮像装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3118849B2 (ja) * 1991-03-06 2000-12-18 株式会社ニコン 焦点検出装置
US5751354A (en) * 1994-04-28 1998-05-12 Canon Kabushiki Kaisha Image sensing apparatus and method with exposure performed based on focus evaluation values
JP2003241064A (ja) * 2002-02-14 2003-08-27 Pentax Corp 焦点検出装置
JP2004309701A (ja) * 2003-04-04 2004-11-04 Olympus Corp 測距測光用センサ及びカメラ
JP2006071741A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Olympus Corp 焦点検出装置
JP4612869B2 (ja) * 2005-06-08 2011-01-12 キヤノン株式会社 焦点検出装置、撮像装置、および合焦方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009037139A (ja) 2009-02-19
US20090032678A1 (en) 2009-02-05
US7595475B2 (en) 2009-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4986761B2 (ja) 撮像装置
CN107249097B (zh) 摄像设备及其控制方法
US7936986B2 (en) Image pickup apparatus control method thereof and image pickup system
JP4826507B2 (ja) 焦点検出装置および撮像装置
US20110304765A1 (en) Imaging apparatus
JP4077577B2 (ja) 撮像素子
US8384815B2 (en) Imaging apparatus
RU2548050C2 (ru) Устройство захвата изображения
JP4992481B2 (ja) 焦点検出装置および撮像装置
US8077233B2 (en) Imaging apparatus
JP2007317951A (ja) 光検出素子および撮像装置
JP2011176715A (ja) 裏面照射型撮像素子および撮像装置
JP2012123404A (ja) 撮像装置
JP2008040087A (ja) 撮像素子、撮像装置および焦点検出装置
JP2007163545A (ja) 撮像装置
JP6740666B2 (ja) 撮像素子、焦点検出装置および撮像装置
JP2009053568A (ja) 撮像装置及び撮像システム
JP5845660B2 (ja) 焦点検出装置および撮像装置
JP2006071741A (ja) 焦点検出装置
JP5436139B2 (ja) 撮像装置
JP4950634B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム
JP2012168429A (ja) 撮像装置
JP2006072084A (ja) 自動焦点検出装置およびカメラシステム
JP5171124B2 (ja) 焦点調節装置、撮像装置および、焦点調節方法
JP2014137449A (ja) 撮像装置、制御方法、及びプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100721

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100721

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110614

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110615

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110805

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120327

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120424

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees