JP4960378B2 - 不揮発性メモリの読み出し外乱を低減する方法 - Google Patents
不揮発性メモリの読み出し外乱を低減する方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4960378B2 JP4960378B2 JP2008544399A JP2008544399A JP4960378B2 JP 4960378 B2 JP4960378 B2 JP 4960378B2 JP 2008544399 A JP2008544399 A JP 2008544399A JP 2008544399 A JP2008544399 A JP 2008544399A JP 4960378 B2 JP4960378 B2 JP 4960378B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- volatile storage
- data
- voltage
- storage element
- read state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 252
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 63
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 47
- 238000007667 floating Methods 0.000 claims description 31
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 claims 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002784 hot electron Substances 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001808 coupling effect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- LPQOADBMXVRBNX-UHFFFAOYSA-N ac1ldcw0 Chemical compound Cl.C1CN(C)CCN1C1=C(F)C=C2C(=O)C(C(O)=O)=CN3CCSC1=C32 LPQOADBMXVRBNX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/04—Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS
- G11C16/0483—Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS comprising cells having several storage transistors connected in series
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/56—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
- G11C11/5621—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
- G11C11/5642—Sensing or reading circuits; Data output circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/08—Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3418—Disturbance prevention or evaluation; Refreshing of disturbed memory data
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3418—Disturbance prevention or evaluation; Refreshing of disturbed memory data
- G11C16/3427—Circuits or methods to prevent or reduce disturbance of the state of a memory cell when neighbouring cells are read or written
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
- G11C16/3454—Arrangements for verifying correct programming or for detecting overprogrammed cells
- G11C16/3459—Circuits or methods to verify correct programming of nonvolatile memory cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2211/00—Indexing scheme relating to digital stores characterized by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C2211/56—Indexing scheme relating to G11C11/56 and sub-groups for features not covered by these groups
- G11C2211/564—Miscellaneous aspects
- G11C2211/5642—Multilevel memory with buffers, latches, registers at input or output
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Non-Volatile Memory (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Micro-Organisms Or Cultivation Processes Thereof (AREA)
Description
Claims (18)
- 不揮発性メモリを読み出す方法であって、
NANDストリングの一部である不揮発性記憶要素のグループに対して読み出し状態を設定する工程と、
前記読み出し状態を設定している間、前記不揮発性記憶要素の昇圧を防止する工程と、
前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの不揮発性記憶要素のデータを判定する工程とを備えており、
前記NANDストリングは、第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記読み出し状態を設定する工程は、
非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加することを含み、
前記昇圧を防止する工程は、
前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートと前記第2選択ゲートをオンすることと、
前記非選択不揮発性記憶要素に前記パス電圧を印加した後で、且つ、前記データを検知する前に前記第1選択ゲートをオフすることを含み、
前記データを判定する工程は、
前記第1選択ゲートを前記のようにオフした後で前記NANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加することと、
前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンすることと、
前記電荷が変化したかどうかを検知することと、を含む不揮発性メモリを読み出す方法。 - 前記不揮発性記憶要素が浮遊ゲートを有しており、
前記検知は、前記NANDストリングに対するセンス増幅器によって実行される請求項1に記載の方法。 - 不揮発性メモリを読み出す方法であって、
NANDストリングの一部である不揮発性記憶要素のグループに対して読み出し状態を設定する工程と、
前記読み出し状態を設定している間、前記不揮発性記憶要素の昇圧を防止する工程と、
前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの不揮発性記憶要素のデータを判定する工程とを備えており、
前記NANDストリングは、第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記読み出し状態を設定する工程は、
非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加することを含み、
前記昇圧を防止する工程は、
前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートをオフするとともに前記第2選択ゲートをオンすることと、
前記非選択不揮発性記憶要素に対して前記パス電圧を印加している間に、選択不揮発性記憶要素に対する制御ゲート電圧として前記パス電圧を印加することと、
次に、前記選択不揮発性記憶要素に対する前記制御ゲート電圧を前記パス電圧から読み出し比較電圧に低下させることと、を含み、
前記データを判定する工程は、
前記選択不揮発性記憶要素の前記制御ゲート電圧を低下した後で前記NANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加することと、
前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンすることと、
前記電荷が変化したかどうかを検知することと、を含む不揮発性メモリを読み出す方法。 - 前記検知が、前記NANDストリングに対するセンス増幅器によって実行される請求項3に記載の方法。
- 前記不揮発性記憶要素がNANDフラッシュメモリデバイスである請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記不揮発性記憶要素が、マルチステートフラッシュメモリデバイスである請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 不揮発性記憶システムであって、
複数の不揮発性記憶要素と、
前記不揮発性記憶要素と通信している1つ以上の管理回路とを備えており、
前記不揮発性記憶要素はNANDストリングの一部であり、そのNANDストリングは第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記1つ以上の管理回路は、読み出し状態を設定し、前記読み出し状態を設定している間に前記不揮発性記憶要素が昇圧しないようにし、
前記1つ以上の管理回路は、前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの要素のデータを判定し、
前記1つ以上の管理回路は、非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加することによって、読み出し状態を設定し、
前記1つ以上の管理回路は、前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートと前記第2選択ゲートをオンし、前記非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加した後で、且つ、前記データを検知する前に前記第1選択ゲートをオフすることによって、昇圧を防止し、
前記1つ以上の管理回路は、前記第1選択ゲートがオフした後で前記NANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加し、前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンし、前記電荷が変化したかどうかを検知することによってデータを検知する不揮発性記憶システム。 - 前記1つ以上の管理回路は、
前記NANDストリングに対するビット線と通信するセンス増幅器を含み、前記検知が前記センス増幅器によって実行される請求項7に記載の不揮発性記憶システム。 - 不揮発性記憶システムであって、
複数の不揮発性記憶要素と、
前記不揮発性記憶要素と通信している1つ以上の管理回路とを備えており、
前記不揮発性記憶要素はNANDストリングの一部であり、そのNANDストリングは第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記1つ以上の管理回路は、読み出し状態を設定し、前記読み出し状態を設定している間に前記不揮発性記憶要素が昇圧しないようにし、
前記1つ以上の管理回路は、前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの要素のデータを判定し、
前記1つ以上の管理回路は、非選択不揮発性記憶要素に対してパス電圧を印加することによって読み出し状態を設定し、
前記1つ以上の管理回路は、前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートをオフするとともに前記第2選択ゲートをオンし、前記非選択不揮発性記憶要素に対して前記パス電圧を印加している間に、選択不揮発性記憶要素に対する制御ゲート電圧として前記パス電圧を印加することによって昇圧を防止し、次いで、前記データ検知動作する前に、前記選択不揮発性記憶要素に対する前記制御ゲート電圧を前記パス電圧から読み出し比較電圧に低下させ、
前記1つ以上の管理回路は、前記選択不揮発性記憶要素に対する制御ゲート電圧を低下させた後にNANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加し、前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンし、前記電荷が変化したかどうかを検知することによってデータを検知する不揮発性記憶システム。 - 前記1つ以上の管理回路は、前記NANDストリングに対するビット線と通信するセンス増幅器を含み、前記検知が、前記センス増幅器によって実行される請求項7〜9のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記複数の不揮発性記憶要素は、マルチステートフラッシュメモリデバイスであり、
前記1つ以上の管理回路は、読み出し状態を設定し、昇圧を防止し、互いに異なったプログラミング状態のデータを検知する請求項7〜10のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記1つ以上の管理回路は、読み出し要求に応答して、読み出し状態を設定し、昇圧を防止し、データを検知する請求項7〜10のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記1つ以上の管理回路は、プログラミングプロセス中の検証動作の一部として、読み出し状態を設定し、昇圧を防止し、データを検知する請求項7〜10のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記1つ以上の管理回路は、状態マシン、デコーダ、検知回路、センス増幅器およびコントローラのうちの1つ以上を含む請求項7〜13のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記複数の不揮発性記憶要素は、NANDフラッシュメモリデバイスである請求項7〜14のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記複数の不揮発性記憶要素は、浮遊ゲートを含む請求項7〜15のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 不揮発性記憶システムであって、
複数の不揮発性メモリ要素と、
前記不揮発性記憶要素に対して読み出し状態を設定する手段と、
前記読み出し状態を設定している間、前記不揮発性記憶要素の昇圧を防止する手段と、
前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの不揮発性記憶要素のデータを判定する手段とを備えており、
前記不揮発性記憶要素はNANDストリングの一部であり、そのNANDストリングは第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記読み出し状態を設定する手段は、非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加することによって、読み出し状態を設定し、
前記不揮発性記憶要素の昇圧を防止する手段は、前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートと前記第2選択ゲートをオンし、前記非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加した後で、且つ、前記データを検知する前に前記第1選択ゲートをオフすることによって、昇圧を防止し、
前記データを判定する手段は、前記第1選択ゲートがオフした後で前記NANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加し、前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンし、前記電荷が変化したかどうかを検知することによってデータを検知する不揮発性記憶システム。 - 不揮発性記憶システムであって、
複数の不揮発性メモリ要素と、
前記不揮発性記憶要素に対して読み出し状態を設定する手段と、
前記読み出し状態を設定している間、前記不揮発性記憶要素の昇圧を防止する手段と、
前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの不揮発性記憶要素のデータを判定する手段とを備えており、
前記不揮発性記憶要素はNANDストリングの一部であり、そのNANDストリングは第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記読み出し状態を設定する手段は、非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加することによって、読み出し状態を設定し、
前記昇圧を防止する手段は、前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートをオフするとともに前記第2選択ゲートをオンし、前記非選択不揮発性記憶要素に対して前記パス電圧を印加している間に、選択不揮発性記憶要素に対する制御ゲート電圧として前記パス電圧を印加することによって昇圧を防止し、次いで、前記データ検知動作する前に、前記選択不揮発性記憶要素に対する前記制御ゲート電圧を前記パス電圧から読み出し比較電圧に低下させ、
前記データを判定する手段は、前記選択不揮発性記憶要素に対する制御ゲート電圧を低下させた後にNANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加し、前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンし、前記電荷が変化したかどうかを検知することによってデータを検知する不揮発性記憶システム。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/295,776 US7349258B2 (en) | 2005-12-06 | 2005-12-06 | Reducing read disturb for non-volatile storage |
US11/296,087 US7262994B2 (en) | 2005-12-06 | 2005-12-06 | System for reducing read disturb for non-volatile storage |
US11/296,087 | 2005-12-06 | ||
US11/295,776 | 2005-12-06 | ||
PCT/US2006/046126 WO2007067447A1 (en) | 2005-12-06 | 2006-11-30 | Reducing read disturb for non-volatile storage |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009518774A JP2009518774A (ja) | 2009-05-07 |
JP4960378B2 true JP4960378B2 (ja) | 2012-06-27 |
Family
ID=37836814
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008544399A Active JP4960378B2 (ja) | 2005-12-06 | 2006-11-30 | 不揮発性メモリの読み出し外乱を低減する方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
EP (2) | EP1958206B1 (ja) |
JP (1) | JP4960378B2 (ja) |
KR (1) | KR100948200B1 (ja) |
AT (1) | ATE504065T1 (ja) |
DE (1) | DE602006021058D1 (ja) |
TW (1) | TWI315524B (ja) |
WO (1) | WO2007067447A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101301140B1 (ko) | 2007-07-13 | 2013-09-03 | 삼성전자주식회사 | 읽기 디스터브가 방지되는 불휘발성 반도체 메모리 장치 및그것의 읽기 방법 |
KR101001449B1 (ko) * | 2009-04-14 | 2010-12-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 불휘발성 소자의 독출 동작 방법 |
JP5044624B2 (ja) | 2009-09-25 | 2012-10-10 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
WO2012082880A1 (en) * | 2010-12-14 | 2012-06-21 | University Of Massachusetts | Methods and systems for low-power storage |
JP5385435B1 (ja) * | 2012-07-18 | 2014-01-08 | 力晶科技股▲ふん▼有限公司 | 不揮発性半導体記憶装置とその読み出し方法 |
KR102067755B1 (ko) * | 2013-02-12 | 2020-01-17 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 제어 방법 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR960002006B1 (ko) | 1991-03-12 | 1996-02-09 | 가부시끼가이샤 도시바 | 2개의 기준 레벨을 사용하는 기록 검증 제어기를 갖는 전기적으로 소거 가능하고 프로그램 가능한 불휘발성 메모리 장치 |
US6222762B1 (en) | 1992-01-14 | 2001-04-24 | Sandisk Corporation | Multi-state memory |
US5555204A (en) | 1993-06-29 | 1996-09-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device |
KR0169267B1 (ko) | 1993-09-21 | 1999-02-01 | 사토 후미오 | 불휘발성 반도체 기억장치 |
US5903495A (en) | 1996-03-18 | 1999-05-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device and memory system |
JPH09251791A (ja) * | 1996-03-18 | 1997-09-22 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP3679970B2 (ja) | 2000-03-28 | 2005-08-03 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置及びその製造方法 |
JP3829088B2 (ja) * | 2001-03-29 | 2006-10-04 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US6522580B2 (en) | 2001-06-27 | 2003-02-18 | Sandisk Corporation | Operating techniques for reducing effects of coupling between storage elements of a non-volatile memory operated in multiple data states |
US6456528B1 (en) | 2001-09-17 | 2002-09-24 | Sandisk Corporation | Selective operation of a multi-state non-volatile memory system in a binary mode |
US6657891B1 (en) | 2002-11-29 | 2003-12-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device for storing multivalued data |
US6859397B2 (en) | 2003-03-05 | 2005-02-22 | Sandisk Corporation | Source side self boosting technique for non-volatile memory |
JP3913704B2 (ja) | 2003-04-22 | 2007-05-09 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置及びこれを用いた電子装置 |
US7237074B2 (en) | 2003-06-13 | 2007-06-26 | Sandisk Corporation | Tracking cells for a memory system |
US6917542B2 (en) | 2003-07-29 | 2005-07-12 | Sandisk Corporation | Detecting over programmed memory |
KR100515060B1 (ko) | 2003-08-13 | 2005-09-14 | 삼성전자주식회사 | 비트 라인의 프리차지 레벨을 일정하게 유지하는 불휘발성반도체 메모리 장치 |
KR100630535B1 (ko) * | 2004-03-23 | 2006-09-29 | 에스티마이크로일렉트로닉스 엔.브이. | 멀티 레벨 낸드 플래시 메모리 셀의 독출 방법 및 회로 |
US7120051B2 (en) | 2004-12-14 | 2006-10-10 | Sandisk Corporation | Pipelined programming of non-volatile memories using early data |
-
2006
- 2006-11-30 JP JP2008544399A patent/JP4960378B2/ja active Active
- 2006-11-30 DE DE602006021058T patent/DE602006021058D1/de active Active
- 2006-11-30 WO PCT/US2006/046126 patent/WO2007067447A1/en active Application Filing
- 2006-11-30 EP EP06844753A patent/EP1958206B1/en active Active
- 2006-11-30 AT AT06844753T patent/ATE504065T1/de not_active IP Right Cessation
- 2006-11-30 EP EP10007990.4A patent/EP2256748B1/en active Active
- 2006-11-30 KR KR1020087016534A patent/KR100948200B1/ko active IP Right Grant
- 2006-12-05 TW TW095145185A patent/TWI315524B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE602006021058D1 (de) | 2011-05-12 |
JP2009518774A (ja) | 2009-05-07 |
KR100948200B1 (ko) | 2010-03-17 |
WO2007067447A1 (en) | 2007-06-14 |
TWI315524B (en) | 2009-10-01 |
EP2256748B1 (en) | 2013-09-11 |
EP1958206B1 (en) | 2011-03-30 |
KR20080080621A (ko) | 2008-09-04 |
TW200741719A (en) | 2007-11-01 |
ATE504065T1 (de) | 2011-04-15 |
EP1958206A1 (en) | 2008-08-20 |
EP2256748A1 (en) | 2010-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4931915B2 (ja) | 不揮発性メモリを繰返すに連れてプログラム電圧のシフトを開始する方法 | |
US7349258B2 (en) | Reducing read disturb for non-volatile storage | |
US7295473B2 (en) | System for reducing read disturb for non-volatile storage | |
JP4754631B2 (ja) | 不揮発性メモリを自己調整式の最大プログラムループでプログラムする方法 | |
KR101314306B1 (ko) | 스마트 검증을 이용한 다중 상태 비휘발성 메모리프로그래밍 방법 | |
JP2013525938A (ja) | 不揮発性記憶素子の検出におけるチャネル結合効果の低減 | |
JP2008541331A (ja) | 非揮発性メモリのプログラミング禁止スキームの選択的な使用 | |
WO2007078793A1 (en) | Method for programming non-volatile memory with reduced program disturb using modified pass voltages | |
JP4938020B2 (ja) | タイミング情報による逆結合効果 | |
KR101012132B1 (ko) | 다른 전압들을 이용한 비휘발성 저장 장치에 대한 검증 동작 | |
JP4726958B2 (ja) | プログラム外乱を低減させたnandタイプの不揮発性メモリをプログラムするラスト―ファーストモードと方法 | |
JP4995264B2 (ja) | 読み出し中におけるプログラム外乱による影響の軽減 | |
JP2009522703A (ja) | 不揮発性メモリの書込動作における継続的な検証 | |
JP4960378B2 (ja) | 不揮発性メモリの読み出し外乱を低減する方法 | |
JP4723000B2 (ja) | ビット線結合を生じる不揮発性メモリを制御してプログラムする方法 | |
JP4995265B2 (ja) | 読み出し中におけるプログラム外乱による影響の軽減 | |
JP4820879B2 (ja) | 非選択ワード線を効果的に制御して不揮発性メモリを読み出す方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090126 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110304 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110412 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110530 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111206 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120306 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120322 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150330 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4960378 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150330 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |