JP4960378B2 - 不揮発性メモリの読み出し外乱を低減する方法 - Google Patents
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Description
Claims (18)
- 不揮発性メモリを読み出す方法であって、
NANDストリングの一部である不揮発性記憶要素のグループに対して読み出し状態を設定する工程と、
前記読み出し状態を設定している間、前記不揮発性記憶要素の昇圧を防止する工程と、
前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの不揮発性記憶要素のデータを判定する工程とを備えており、
前記NANDストリングは、第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記読み出し状態を設定する工程は、
非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加することを含み、
前記昇圧を防止する工程は、
前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートと前記第2選択ゲートをオンすることと、
前記非選択不揮発性記憶要素に前記パス電圧を印加した後で、且つ、前記データを検知する前に前記第1選択ゲートをオフすることを含み、
前記データを判定する工程は、
前記第1選択ゲートを前記のようにオフした後で前記NANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加することと、
前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンすることと、
前記電荷が変化したかどうかを検知することと、を含む不揮発性メモリを読み出す方法。 - 前記不揮発性記憶要素が浮遊ゲートを有しており、
前記検知は、前記NANDストリングに対するセンス増幅器によって実行される請求項1に記載の方法。 - 不揮発性メモリを読み出す方法であって、
NANDストリングの一部である不揮発性記憶要素のグループに対して読み出し状態を設定する工程と、
前記読み出し状態を設定している間、前記不揮発性記憶要素の昇圧を防止する工程と、
前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの不揮発性記憶要素のデータを判定する工程とを備えており、
前記NANDストリングは、第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記読み出し状態を設定する工程は、
非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加することを含み、
前記昇圧を防止する工程は、
前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートをオフするとともに前記第2選択ゲートをオンすることと、
前記非選択不揮発性記憶要素に対して前記パス電圧を印加している間に、選択不揮発性記憶要素に対する制御ゲート電圧として前記パス電圧を印加することと、
次に、前記選択不揮発性記憶要素に対する前記制御ゲート電圧を前記パス電圧から読み出し比較電圧に低下させることと、を含み、
前記データを判定する工程は、
前記選択不揮発性記憶要素の前記制御ゲート電圧を低下した後で前記NANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加することと、
前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンすることと、
前記電荷が変化したかどうかを検知することと、を含む不揮発性メモリを読み出す方法。 - 前記検知が、前記NANDストリングに対するセンス増幅器によって実行される請求項3に記載の方法。
- 前記不揮発性記憶要素がNANDフラッシュメモリデバイスである請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記不揮発性記憶要素が、マルチステートフラッシュメモリデバイスである請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 不揮発性記憶システムであって、
複数の不揮発性記憶要素と、
前記不揮発性記憶要素と通信している1つ以上の管理回路とを備えており、
前記不揮発性記憶要素はNANDストリングの一部であり、そのNANDストリングは第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記1つ以上の管理回路は、読み出し状態を設定し、前記読み出し状態を設定している間に前記不揮発性記憶要素が昇圧しないようにし、
前記1つ以上の管理回路は、前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの要素のデータを判定し、
前記1つ以上の管理回路は、非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加することによって、読み出し状態を設定し、
前記1つ以上の管理回路は、前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートと前記第2選択ゲートをオンし、前記非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加した後で、且つ、前記データを検知する前に前記第1選択ゲートをオフすることによって、昇圧を防止し、
前記1つ以上の管理回路は、前記第1選択ゲートがオフした後で前記NANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加し、前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンし、前記電荷が変化したかどうかを検知することによってデータを検知する不揮発性記憶システム。 - 前記1つ以上の管理回路は、
前記NANDストリングに対するビット線と通信するセンス増幅器を含み、前記検知が前記センス増幅器によって実行される請求項7に記載の不揮発性記憶システム。 - 不揮発性記憶システムであって、
複数の不揮発性記憶要素と、
前記不揮発性記憶要素と通信している1つ以上の管理回路とを備えており、
前記不揮発性記憶要素はNANDストリングの一部であり、そのNANDストリングは第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記1つ以上の管理回路は、読み出し状態を設定し、前記読み出し状態を設定している間に前記不揮発性記憶要素が昇圧しないようにし、
前記1つ以上の管理回路は、前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの要素のデータを判定し、
前記1つ以上の管理回路は、非選択不揮発性記憶要素に対してパス電圧を印加することによって読み出し状態を設定し、
前記1つ以上の管理回路は、前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートをオフするとともに前記第2選択ゲートをオンし、前記非選択不揮発性記憶要素に対して前記パス電圧を印加している間に、選択不揮発性記憶要素に対する制御ゲート電圧として前記パス電圧を印加することによって昇圧を防止し、次いで、前記データ検知動作する前に、前記選択不揮発性記憶要素に対する前記制御ゲート電圧を前記パス電圧から読み出し比較電圧に低下させ、
前記1つ以上の管理回路は、前記選択不揮発性記憶要素に対する制御ゲート電圧を低下させた後にNANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加し、前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンし、前記電荷が変化したかどうかを検知することによってデータを検知する不揮発性記憶システム。 - 前記1つ以上の管理回路は、前記NANDストリングに対するビット線と通信するセンス増幅器を含み、前記検知が、前記センス増幅器によって実行される請求項7〜9のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記複数の不揮発性記憶要素は、マルチステートフラッシュメモリデバイスであり、
前記1つ以上の管理回路は、読み出し状態を設定し、昇圧を防止し、互いに異なったプログラミング状態のデータを検知する請求項7〜10のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記1つ以上の管理回路は、読み出し要求に応答して、読み出し状態を設定し、昇圧を防止し、データを検知する請求項7〜10のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記1つ以上の管理回路は、プログラミングプロセス中の検証動作の一部として、読み出し状態を設定し、昇圧を防止し、データを検知する請求項7〜10のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記1つ以上の管理回路は、状態マシン、デコーダ、検知回路、センス増幅器およびコントローラのうちの1つ以上を含む請求項7〜13のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記複数の不揮発性記憶要素は、NANDフラッシュメモリデバイスである請求項7〜14のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記複数の不揮発性記憶要素は、浮遊ゲートを含む請求項7〜15のいずれか一項に記載の不揮発性記憶システム。
- 不揮発性記憶システムであって、
複数の不揮発性メモリ要素と、
前記不揮発性記憶要素に対して読み出し状態を設定する手段と、
前記読み出し状態を設定している間、前記不揮発性記憶要素の昇圧を防止する手段と、
前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの不揮発性記憶要素のデータを判定する手段とを備えており、
前記不揮発性記憶要素はNANDストリングの一部であり、そのNANDストリングは第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記読み出し状態を設定する手段は、非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加することによって、読み出し状態を設定し、
前記不揮発性記憶要素の昇圧を防止する手段は、前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートと前記第2選択ゲートをオンし、前記非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加した後で、且つ、前記データを検知する前に前記第1選択ゲートをオフすることによって、昇圧を防止し、
前記データを判定する手段は、前記第1選択ゲートがオフした後で前記NANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加し、前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンし、前記電荷が変化したかどうかを検知することによってデータを検知する不揮発性記憶システム。 - 不揮発性記憶システムであって、
複数の不揮発性メモリ要素と、
前記不揮発性記憶要素に対して読み出し状態を設定する手段と、
前記読み出し状態を設定している間、前記不揮発性記憶要素の昇圧を防止する手段と、
前記読み出し状態の前記不揮発性記憶要素に関連する電荷が消滅したことを検知することによって、前記不揮発性記憶要素のうちの少なくとも1つの不揮発性記憶要素のデータを判定する手段とを備えており、
前記不揮発性記憶要素はNANDストリングの一部であり、そのNANDストリングは第1端部に設けられた第1選択ゲートと第2端部に設けられた第2選択ゲートとを有しており、
前記読み出し状態を設定する手段は、非選択不揮発性記憶要素にパス電圧を印加することによって、読み出し状態を設定し、
前記昇圧を防止する手段は、前記読み出し状態を設定する前に前記第1選択ゲートをオフするとともに前記第2選択ゲートをオンし、前記非選択不揮発性記憶要素に対して前記パス電圧を印加している間に、選択不揮発性記憶要素に対する制御ゲート電圧として前記パス電圧を印加することによって昇圧を防止し、次いで、前記データ検知動作する前に、前記選択不揮発性記憶要素に対する前記制御ゲート電圧を前記パス電圧から読み出し比較電圧に低下させ、
前記データを判定する手段は、前記選択不揮発性記憶要素に対する制御ゲート電圧を低下させた後にNANDストリングに対するビット線に前記電荷を印加し、前記電荷を印加した後で前記第1選択ゲートをオンし、前記電荷が変化したかどうかを検知することによってデータを検知する不揮発性記憶システム。
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