JP4953968B2 - ブランキング回路 - Google Patents

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本発明は、描画装置における試料の測定時間外、言い換えればブランキング時間において、描画ビームが試料を照射しないように描画ビームを曲げるブランキング回路に関するものである。
描画装置において、試料の測定時間外に描画ビームを試料に照射すると、試料が帯電するおそれがあることから、ブランキング回路を使用して、試料の測定時間外においては、描画ビームを曲げて試料に描画ビームを照射しないようにし、使用の測定時間と同時に描画ビームを元の位置に高速に戻す必要がある。このような作用をするために、ブランキング回路を使用していた(例えば、特許文献1参照)。
特開2004−180268号公報
例えば、ブランキング回路の出力が±200Vの場合、OFF時のノイズは6mVp−p(15ppm)以下、セトリング時間は200Vから3mV以下になるまで10μs以下である必要があり、さらに描画装置内に実装されるため、低発熱が要求される。
しかし、従来のブランキング回路において、出力が±100V以上の場合が多く、この場合高圧オペアンプを用いる必要があった。高速オペアンプはコストがかかる上、発熱も多い。又、フィードバック制御している為、セトリングタイムが遅い。更に入力信号のノイズも増幅してしまう為、S/N比が悪いという問題があった。
そこで、本願発明者は下記のブランキング回路を発明した。このブランキング回路を図3に示す。このブランキング回路は、入力端INをNチャンネルMOSFETQ5のゲート端子に接続する。このMOSFETQ5のソース端子は後述する第四のMOSFETQ14のゲート端子と接続してあるとともに、接地してある。同ドレイン端子は後述する第三のMOSFETQ13のゲート端子と接続してあるとともに、R16を介して電流源+Vと接続してある。
前記4つのMOSFETQ11〜Q14のうち2つはPチャンネルMOSFETで、他の2つはNチャンネルMOSFETである。本実施例においては、MOSFETQ11,Q14がPチャンネルMOSFETであり、MOSFETQ12,Q13がNチャンネルMOSFETである。第三のMOSFETQ13のソース端子は抵抗R15を介して第四のMOSFETQ14のソース端子に接続してある。また、ドレイン端子は抵抗R13を介して正の電流源+Vsに接続してあるとともに、第一のMOSFETQ11のゲート端子に接続してある。第四のMOSFETQ14のドレイン端子は第二のMOSFETQ12のゲート端子に接続してあるとともに、抵抗R14を介して負の電流源−Vsに接続してある。
第一のMOSFETQ11のドレイン端子は電極OUTと接続してあるとともに、抵抗R11を介して接地GNDしてある。ソース端子は正の電流源+Vsに接続してある。第二のMOSFETQ12のソース端子は負の電流源−Vsに接続してあり、ドレイン端子は電極OUTと接続してあるともに、抵抗R12を介して接地GNDしてある。
この発明は、第一のPチャンネルMOSFETQ11と第二のNチャンネルMOSFETQ12とが同時にオン・オフする。入力源INからハイ信号が入力されると、第一のMOSFETQ11及び第二のMOSFETQ12はオフとなり、電極OUTに蓄えられた電荷は抵抗R1,R2を介して接地部分GNDに流れる。これにより、描画ビームは曲がらずに試料を照射することとなる。
一方、入力源INからロー信号が入力されると、第一のMOSFETQ11及び第二のMOSFETQ12はオンとなる。このとき、正の電流源+VsからMOSFETQ11及び抵抗R11を経由して接地部分GNDへ電流が流れるとともに、電極OUTに正電位がかかる。一方、負の電流源−VsからMOSFETQ12及び抵抗R12を経由して接地部分GNDへ電流が流れるとともに、電極OUTに負電位がかかる。これにより、描画ビームが曲がり、試料から外れた位置に照射することとなる。
以上のような、構成よりこの発明は高圧オペアンプを使用せずに、低発熱、低ノイズで、セトリングタイムの高速化を図ることができる。
しかし、この発明は、第一のMOSFETQ1は抵抗R11を介して、第二のMOSFETQ2は抵抗R12を介して接地しているため、MOSFETがオンすることにより抵抗R11,R12が発熱する。また、セトリングタイムを早めるには、抵抗R11,R12を小さくしなければならないとともに、消費電流が大きくなってしまう。さらに、電流源+Vや電流源+Vsで電流が発生するとともに補助電源ノイズも発生する。この発明においては、このノイズも電流とともに電極OUTに伝わってしまうという課題を有する。
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、低ノイズ且つ低発熱でセトリングタイムの高速化を図ることができるブランキング回路を提供する。
上記課題を解決するために、本発明に係るブランキング回路は、2つの定電流ダイオードを直列に接続し、これらの両端にそれぞれPチャンネルMOSFETとNチャンネルMOSFETのドレイン端子を接続し、これらMOSFETのソース端子はそれぞれ正負の電流源に接続してあり、一方の前記MOSFETの制御端子はパルス波を入力し、他方の前記MOSFETの制御端子は前記パルス波の反転波を入力するように構成してあることを特徴とする。
前記MOSFETのゲート端子にそれぞれ絶縁素子を接続して前記スイッチ素子を駆動してあることを特徴とする。
また、前記絶縁素子として磁気カプラを用いていることを特徴とする。
さらに、前記磁気カプラの二次側の電源としてツェナーダイオードを用いていることを特徴とする。
前記絶縁素子の一次側の一方にNOR回路を接続し、一方の前記MOSFETのゲート端子はパルス波を入力し、他方の前記MOSFETのゲート端子は前記パルス波の反転波を入力するように構成してあることを特徴とする。
本発明によれば、上記構成により、高圧オペアンプを使用せずに、シンプルな回路構成で低コスト化が図れる上、低ノイズ且つ低発熱でセトリングタイムの高速化を図ることが可能である。
さらに、フィードバック制御をしない事と定電流ダイオードを使用して負荷容量を定電流放電することにより、さらに、セトリングタイムの高速化を図ることが可能である。
発明を実施するための最良の形態に係る回路図を図1に示す。この実施形態に係るブランキング回路は、一次−二次間を2つの磁気カプラUP,DWで絶縁し、一次側から二次側へ電力を供給する。磁気カプラUP,DWで絶縁された一次側は、NOR回路INVとバッファBUFとを備え、これらの入力端子は入力源INに接続し、これらの出力はそれぞれ第一の磁気カプラUP、第二の磁気カプラDWの一次側の入力端子に接続してあり、第二の磁気カプラDWはパルス波を入力し、第一の磁気カプラUPはパルス波の反転波を入力するように構成してある。なお、本発明においては、一次・二次間に設けた絶縁素子として磁気カプラが最適であるが、必ずしも限定せず、例えば、フォトカプラやトランスであってもよい。
2つの磁気カプラUP,DWの二次側電源端子間にそれぞれツェナーダイオードDZ1,DZ2を接続してあり、これら2つのツェナーダイオードDZ1,DZ2を、抵抗R1を介して、直列に接続してある。これら2つのツェナーダイオードDZ1,DZ2は2つの磁気カプラUP,DWの二次側の電源の役割をし、一次側から入力された信号を二次側へ出力することができる。磁気カプラUP,DWの二次側出力端子はそれぞれMOSFETQ1,Q2のゲート端子に接続してある。
2つのMOSFETQ1,Q2のうち一方のMOSFETQ1はPチャンネルMOSFETで、他方のMOSFETQ2はNチャンネルMOSFETである。PチャンネルMOSFETQ1のドレインとNチャンネルMOSFETQ2のドレインとの間に、直列に接続した2つの定電流ダイオードD1,D2を、直列に接続してある。
PチャンネルMOSFETQ1のドレインは第一の定電流ダイオードD1のアノードに接続し、NチャンネルMOSFETQ2のドレインは第二の定電流ダイオードD2のカソードに接続してある。PチャンネルMOSFETQ1及びNチャンネルMOSFETQ2のソースを接地するとともにそれぞれ電流源+Vs,−Vsを接続してある。
PチャンネルMOSFETQ1と第一の定電流ダイオードD1との接続点、及び、第二の定電流ダイオードD2とNチャンネルMOSFETQ2との接続点とを電極OUTに接続し、第一の定電流ダイオードD1のカソードと第二の定電流ダイオードD2のアノードの接続点を接地GNDしてある。
図2に示すように、他方の磁気カプラDWにパルス波を入力し、一方の磁気カプラUPにパルス波の反転波を入力する。但し、一方の磁気カプラUPの二次側の出力端子はPチャンネルMOSFETQ1のゲート端子に接続し、他方の磁気カプラDWの二次側の出力端子はNチャンネルMOSFETQ2のゲート端子に接続してあるため、PチャンネルMOSFETQ1とNチャンネルMOSFETQ2は同時にオン・オフする。
本実施形態に係るブランキング回路は以上のように構成してあり、以下のように作用する。なお、図2にこの実施例における動作波形図を示してある。入力源INから一定の周波数のパルス信号が出力される。先ず、入力源INからロー信号を出力すると、第一の磁気カプラUPにはNOR回路INVを介するため、ハイ信号を入力する。一方、第二の磁気カプラDWは入力源INからそのままロー信号を入力する。
これに対して、入力源INからハイ信号を出力すると、第一の磁気カプラUPにはNOR回路INVを介するため、ロー信号を入力する。一方、第二の磁気カプラDWは入力源INからそのままハイ信号を入力する。
以上のように2つの磁気カプラUP,DWの一次側に信号が出力される。この信号は二次側にそのまま出力され、第一の磁気カプラUPから出力されたハイ信号はPチャンネルMOSFETQではオフ信号になり、ロー信号はオン信号になる。一方、第二の磁気カプラDWから出力されたハイ信号はNチャンネルMOSFETQ2ではオフ信号になり、ハイ信号はオン信号になる。
従って、入力源INからロー信号が入力されると、PチャンネルMOSFETQ1とNチャンネルMOSFETQ2はオフとなり、電極OUTに蓄えられた電荷は定電流ダイオードD1,D2を介して接地部分GNDに流れる。これにより、描画ビームは曲がらずに試料を照射することとなる。
入力源INからハイ信号が入力されると、PチャンネルMOSFETQ1とNチャンネルMOSFETQ2はオンとなる。このとき、正の電流源+VsからMOSFETQ1及び定電流ダイオードD1を経由して接地部分GNDへ電流が流れるとともに、電極OUTに正電位がかかる。一方、負の電流源−VsからMOSFETQ2及び定電流ダイオードD2を経由して接地部分GNDへ電流が流れるとともに、電極OUTに負電位がかかる。これにより、描画ビームが曲がり、試料から外れた位置に照射することとなる。
本実施例は、以上の動作を繰り返すことにより、高圧オペアンプを使用せずに、シンプルな回路構成で低コスト化が図れる上、セトリングタイムの高速化を図ることができる。さらに、絶縁素子特に磁気カプラとツェナーダイオードを用いてMOSFETを駆動することにより、低パワーで補助電源ノイズの影響を受けることなくなった。また、フィードバック制御をする必要がなく、さらに負荷容量を定電流ダイオードで放電することにより、さらに、セトリングタイムの高速化を図ることができる。
なお、本発明は前記実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載されている内容が本発明の技術的範囲に属する。
本発明によれば、上記構成により、高圧オペアンプを使用せずに、シンプルな回路構成で低コスト化が図れる上、セトリングタイムの高速化を図ることが可能である。さらに、絶縁素子特に磁気カプラとツェナーダイオードを用いてMOSFETを駆動することにより、低パワーで補助電源ノイズの影響を受けることなくなった。また、フィードバック制御をする必要がなく、さらに負荷容量を定電流ダイオードで放電することにより、さらに、セトリングタイムの高速化を図ることが可能であり、産業上利用可能である。
本発明に係るブランキング回路における発明を実施するための最良の形態の回路図である。 図1図示ブランキング回路における動作波形図である。 本発明と比較するための従来におけるブランキング回路の回路図である。
符号の説明
IN 入力源
UP,DW 磁気カプラ
VCC 電圧源
INV NOR回路
BUF バッファ回路
DZ1,DZ2 ツェナーダイオード
Q1 PチャンネルMOSFET
Q2 NチャンネルMOSFET
+Vs,−Vs 電流源
GND 接地部分
OUT 電極

Claims (5)

  1. 2つの定電流ダイオードを直列に接続し、第一の前記定電流ダイオードのアノードにPチャンネルMOSFETのドレイン端子を、第二の前記定電流ダイオードのカソードにNチャンネルMOSFETのドレイン端子をそれぞれ接続し、これらMOSFETのソース端子はそれぞれ正負の電流源に接続し、前記PチャンネルMOSFETと前記第一の定電流ダイオードとの接続点、及び、前記NチャンネルMOSFETと前記第二の定電流ダイオードとの接続点とを電極に接続し、前記第一の定電流ダイオードのカソードと前記第二の定電流ダイオードのアノードの接続点を接地してあり、前記NチャンネルMOSFETの制御端子はパルス波を入力し、前記PチャンネルMOSFETの制御端子は前記パルス波の反転波を入力するように構成してあることを特徴とするブランキング回路。
  2. 前記MOSFETのゲート端子にそれぞれ絶縁素子を接続して前記スイッチ素子を駆動してあることを特徴とする請求項1記載のブランキング回路。
  3. 前記絶縁素子として磁気カプラを用いていることを特徴とする請求項2記載のブランキング回路。
  4. 前記磁気カプラの二次側の電源としてツェナーダイオードを用いていることを特徴とする請求項3記載のブランキング回路。
  5. 前記絶縁素子の一次側の一方にNOR回路を接続し、前記NチャンネルMOSFETのゲート端子はパルス波を入力し、前記PチャンネルMOSFETのゲート端子は前記パルス波の反転波を入力するように構成してあることを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載のブランキング回路。
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