JP4944640B2 - 微細構造金型の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明はナノメートルスケールの微細構造及びマイクロメートルスケールの微細構造を転写することのできる微細構造金型の製造方法に関する。
近年の半導体産業における微細加工技術の発展に伴い、シリコンやガラスなどの基板上に微小な流路や反応器、検出のための電極など化学分析に必要な要素を集積化したマイクロチップを用いる分析機器が用いられるようになってきた。DNAやタンパク質のためのマイクロチップベースの電気泳動装置は既に開発・市販されている。
このような微小流体チップをベースとする分析デバイス(マイクロ分析システム、μ−Total Analysis System、μ−TAS)は、化学分析実験の集積化、ハイスループット、省資源、省スペース、ローエミッションを可能にするものであり、現在、生化学分析を中心に前述の電気泳動やクロマトグラフィーを行う分離用チップ、イムノアッセイや酵素分析を行うアッセイ用チップ、ポリメラーゼチェーンリアクション(PCR)を行う合成反応用チップなどの開発が世界的規模で活発に行なわれている。これらは、持ち運びが容易であることから、環境分析をサンプリングしたその場で行ったり、高精度な臨床試験をベッドサイドで行うことも可能になると期待されている。
上記各デバイスを製造するにはナノメートルスケールの微細構造やマイクロメートルスケールの微細構造を形成する必要があるので、ナノメートルスケールの凹凸微細構造やマイクロメートルスケールの凹凸微細構造を有する金型を作製し、この金型を用いてナノ又はマイクロインプリント法により金型に形成されているナノメートルスケールの凹凸微細構造パターンやマイクロメートルスケールの凹凸微細構造を樹脂基板に転写する方法で製造されている。
上記金型の製造はリソグラフィ法や金属めっき法により行われており、例えば、表面に微細な凸凹構造を有する基板の表面に、分子性無電解めっき触媒を付与し、その後に無電解めっきを施すことにより少なくとも前記凸凹パターンが充填された金属層を形成し、さらに、前記金属層を前記基板から剥離することにより前記凸凹パターンが反転転写された表面を有する微細金属構造体を得ることを特徴とする微細金属構造体の製造方法が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
特開2005−189128号公報
しかしながら、上記製造方法では、基板表面に無電解めっきを施すことにより金属構成体を形成し、これから基板を剥離することにより基板表面に形成されている微細な凸凹パターンを単に金属構成体に転写するにすぎないので、本来的に原器製造方法が異ならざるを得ないナノメートルスケールの微細構造とマイクロメートルスケールの凹凸構造の両方を有する金型を精度良く製造するのは困難であった。
本発明の目的は、上記欠点に鑑み、ナノメートルスケールの微細構造とマイクロメートルスケールの凹凸構造の両方を有する金型を精度良く得ることのできる製造方法を提供することにある。
請求項1記載の微細構造金型の製造方法は、(1)ナノメートルスケールの微細構造が形成されている基板に、厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層を積層し、該未硬化ホトレジスト層上にマイクロメートルスケールのパターン部以外が遮光されているマスクを通して露光してマイクロメートルスケールの微細構造部のホトレジストを硬化する第1の工程、(2)未硬化のホトレジストを洗浄除去して、ナノメートルスケールの微細構造及びマイクロメートルスケールの微細構造の硬化ホトレジスト層が形成された基板を得る第2の工程、及び、(3)得られた基板表面に導電処理を施して電鋳法により金属層を積層した後、基板を脱型・除去する第3の工程からなることを特徴とする。
次に、図面を参照して、請求項1記載の発明の微細構造金型の製造方法の一例を説明する。図1及び図2は請求項1記載の発明の第1の工程を示す断面図である。図中1はナノメートルスケールの凸状の微細構造2が形成されている基板であり、第1の工程(1)においては、基板1の一面に厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層3を積層する。次いで、未硬化ホトレジスト層3上にマイクロメートルスケールのパターン部6以外が遮光されているマスク5を通して露光してマイクロメートルスケールのパターン部6に対応するホトレジストを硬化してパターン部6に対応する硬化ホトレジスト層4を形成する。
上記基板1の材料としては、ナノメートルスケールの微細構造2を形成しうるものであればよく、例えば、ポリジメチルシロキサン(PDMS)、ガラス、石英、シリコン、光反応性樹脂等があげられる。
基板1にナノメートルスケールの微細構造2を形成する方法は特に限定されるものではなく、例えば、機械加工、射出成型や圧縮成型に代表される転写技術、ドライエッチング(RIE、IE、IBE、プラズマエッチング、レーザーエッチング、異方性エッチング、レーザーアブレーション、ブラスト加工、放電加工、LIGA、電子ビームエッチング、FAB)、ウエットエッチング(化学浸食)、光造形やセラミックス敷詰等の一体成型、各種物質を層状にコート、蒸着、スパッタリング、堆積し、部分的に除去することにより微細構造物を形成するSurface Micro−machining、1枚以上のシート状物質(フィルム、テープ等)により開口部分を形成して溝を形成する方法、インクジェットやディスペンサーにより流路構成材料を滴下、注入して形成させる方法等が挙げられる。ナノメートルスケールの微細構造2の幅及び高さは10〜1000nmが好ましい。
上記ホトレジストは、ポリエステルアクリレート、エポキシアクリレート、ウレタンアクリレートなどのアクリリ−ト系樹脂、エポキシ樹脂、ビニルエーテル樹脂、シリコーン樹脂等の樹脂を主体とする光硬化性樹脂であり、一般にホトレジストとして使用されている任意のものが使用可能である。ホトレジストは基板1上に厚さ1μm〜5000μmの厚さで積層され、未硬化ホトレジスト層3が形成される。ホトレジストの塗布方法は特に限定されるものではなく、従来公知の任意の塗布方法が採用されてよいが、1μm〜5000μmの薄膜状に塗布するのであるから均一に精度よく塗布できるスピンコート法を採用するのが好ましい。
マスク5はマイクロメートルスケールのパターン部6以外が遮光されていればよいが、遮光性、特に、ホトレジストを硬化する際に使用される360nm付近の光線の遮光性に優れたものが好ましく、例えば、クロムめっき石英板、フィルムマスクシート等があげられる。パターン部6はマイクロメートルスケールであり、幅は5〜5000μmが好ましい。
図3は請求項1記載の発明の第2の工程(2)を示す断面図である。マスク5を剥離した後、未硬化のホトレジスト層3を洗浄除去すると、パターン部6に対応する硬化ホトレジスト層4が残存する。その結果、ナノメートルスケールの微細構造2が露出し、マイクロメートルスケールのパターン部6に対応する硬化ホトレジスト層4が形成された基板1を得ることができる。硬化ホトレジスト層4の幅はマスク5のパターン部6と同一であり、その高さは硬化ホトレジスト層4の厚みと同一になるので、幅は5〜5000μmであり、高さは1〜5000μmであり、5〜500μmが好ましい。
図4は請求項1記載の発明の第3の工程(3)を示す断面図であり、図5は得られた微細構造金型8を示す断面図である。先ず、ナノメートルスケールの微細構造2及びマイクロメートルスケールのパターンに対応する硬化ホトレジスト層4が形成された基板1表面に導電処理を施し、電鋳法により金属層7を積層する。
次いで、金属層7から基板1を剥離除去すると、図5に示したように、凹状のナノメートルスケールの微細構造21及び凹状のマイクロメートルスケールの微細構造41が転写形成された微細構造金型8が得られる。
上記電鋳法とは、電気めっき又は無電解めっき法により金属を析出させ金属層を積層する方法であり、金属としては、例えば、銅、ニッケル、金、銀、ニッケルーコバルト合金等があげられる。尚、硬化ホトレジスト層4に電鋳するには硬化厚膜ホトレジスト層41を導電性処理を施す必要があるが、導電処理は従来公知の任意の方法が採用されてよく、例えば、パラジウム触媒処理法、イオンスパッタリング法があげられる。
請求項2記載の微細構造金型の製造方法は、(1)ナノメートルスケールの微細構造が形成されている基板に、厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層を積層し、該ホトレジスト層上にマイクロメートルスケールのパターン部以外が遮光されているマスクを通して露光してマイクロメートルスケールのパターン部のホトレジストを硬化する第1の工程、(2)未硬化のホトレジストを洗浄除去して、ナノメートルスケールの微細構造が露出し、マイクロメートルスケールの微細構造の硬化ホトレジスト層が形成された基板を得る第2の工程、(3)得られた基板表面に導電処理を施し、電鋳法により金属層を積層した後、基材を脱型・除去してナノメートルスケールの微細構造及びマイクロメートルスケールの微細構造が形成された金属基板を得る第3の工程、(4)微細構造が形成された金属基板表面に厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層を積層し、該未硬化ホトレジスト層上にマイクロメートルスケールのパターン部が遮光されているマスクを通して露光してマイクロメートルスケールのパターン部以外のホトレジストを硬化する第4の工程、(5)未硬化のホトレジストを洗浄除去して、ナノメートルスケールの微細構造が硬化レジストで被覆され、パターン部で金属基板が露出し、パターン部以外に凸状の硬化レジストによる微細構造が形成された基板を得る第5の工程、及び、(6)金属が露出したパターン部のみに電鋳法により金属層を積層した後、硬化ホトレジスト層を溶解・除去する第6の工程からなることを特徴とする。
次に、図面を参照して、請求項2記載の発明の微細構造金型の製造方法の一例を説明する。第1の工程(1)〜第3の工程(3)は請求項1記載の発明と同一であり、第3の工程において基板表面に電鋳法により金属層を積層した後、基材を脱型・除去してナノメートルスケールの微細構造及びマイクロメートルスケールの微細構造が形成された金属基板81を得る。図6及び図7は請求項2記載の発明の第4の工程(4)を示す断面図である。
図中81は第1の工程(1)〜第3の工程(3)によって得られた金属基板であり、ナノナノメートルスケールの微細構造22及びマイクロメートルスケールの微細構造42が形成されている。まず、金属基板81の微細構造が形成された表面に厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層31を積層する。次に、未硬化ホトレジスト層31上にマイクロメートルスケールのパターン部61が遮光されているマスク51を通して露光してマイクロメートルスケールのパターン部以外のホトレジストを硬化する。その結果、マイクロメートルスケールのパターン部61で遮光されたホトレジスト以外のホトレジストは硬化され硬化ホトレジスト層44が形成される。
図8は請求項2記載の発明の第5の工程(5)を示す断面図である。第5の工程(5)では未硬化のホトレジストを洗浄除去する。未硬化のホトレジストを洗浄除去すると、硬化ホトレジスト層44は除去されないので、マスク51のマイクロメートルスケールのパターン部61に対応したマイクロメートルスケールの微細構造9が形成される。金属基板81の表面まで未硬化ホトレジストを洗浄除去することにより、金属基板81が微細構造9を通して露出している基板81が得られる。
図9は請求項2記載の発明の第6の工程(6)を示す断面図であり、図10は得られた微細構造金型82を示す断面図である。金属基板が露出したマイクロメートルスケールの微細構造9のみに電鋳法により金属層83を積層した後、硬化ホトレジスト層44を溶解・除去する。微細構造9は金属基板81が露出しているので、微細構造9に電鋳法により金属層83を積層すると金属基板81と金属層83は一体となり、凹状のナノメートルスケールの微細構造22、凹状のマイクロメートルスケールの微細構造42及び凸状のマイクロメートルスケールの微細構造43が転写形成された微細構造金型82が得られる。
請求項3記載の微細構造金型の製造方法は、(1)ナノメートルスケールの微細構造が形成されている金属基板に、厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層を積層し、該未硬化ホトレジスト層上にマイクロメートルスケールのパターン部が遮光されているマスクを通して露光してマイクロメートルスケールのパターン部以外のホトレジストを硬化する第1の工程、(2)未硬化のホトレジストを洗浄除去して、金属基板が露出した凹状のマイクロメートルスケールの微細構造が形成された金属基板を得る第2の工程、及び、(3)金属基板が露出した凹状のマイクロメートルスケールの微細構造のみに電鋳法により金属層を積層した後、硬化ホトレジスト層を溶解・除去する第3の工程からなることを特徴とする。
次に、図面を参照して、請求項3記載の発明の微細構造金型の製造方法の一例を説明する。図11及び図12は請求項3記載の発明の第1の工程を示す断面図である。図中11はナノメートルスケールの微細構造23が形成されている金属基板である。まず、金属基板11に、厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層32を積層する。次いで、未硬化ホトレジスト層12上にマイクロメートルスケールの微細構造パターン部62が遮光されているマスク52を通して露光する。露光すると微細構造パターン部62は遮光されているので微細構造パターン部62に対応するホトレジストは未硬化のまま残り、微細構造パターン部62に対応しない部分のホトレジストは硬化して硬化ホトレジスト層45が形成される。
ナノメートルスケールの微細構造23が形成されている金属基板11の製造方法は、特に限定されるものではないが、図13に示したように、ナノメートルスケールの微細構造24が形成されている基板12に電鋳法により金属層を積層した後、基板を脱型・除去することにより製造するのが好ましい。
図14は請求項3記載の発明の第2の工程(2)を示す断面図である。第2の工程(2)では未硬化のホトレジストを洗浄除去する。未硬化のホトレジストを洗浄除去すると、硬化ホトレジスト層45は除去されないので、マスク52のマイクロメートルスケールの微細構造パターン部62対応した凹状のマイクロメートルスケールの微細構造91が形成される。金属基板11の表面まで未硬化ホトレジストを洗浄除去することにより、金属基板11が微細構造91を通して露出している金属基板11が得られる。
図15は請求項3記載の発明の第3の工程(3)を示す断面図であり、図11は得られた微細構造金型85を示す断面図である。金属基板が露出した凹状のマイクロメートルスケールの微細構造91のみに電鋳法により金属層84を積層した後、硬化ホトレジスト層45を溶解・除去する。微細構造91は金属基板11が露出しているので、微細構造91に電鋳法により金属層84を積層すると金属基板11と金属層84は一体となり、凹状のナノメートルスケールの微細構造23及び凸状のマイクロメートルスケールの微細構造46が転写形成された微細構造金型85が得られる。尚、得られた微細構造金型85を金属基板として使用し、請求項3記載の発明にしたがって微細構造金型を製造してもよいことは言うまでもない。
本発明の微細構造金型の製造方法の構成は上述の通りであり、ナノメートルスケールの微細構造とマイクロメートルスケールの構造の両方を有する微細構造金型を精度良く容易に得ることができる。
次に、本発明の実施例を挙げて詳細に説明するが、本発明は下記実施例に限定されるものではない。
(実施例1)
図1に示したように、高さ200nm、幅200nmのナノメートルスケールの微細構造2が形成された石英基板1にホトレジスト(化薬マクロケム社製、商品名「SU−8」)をスピンコート法により塗布し、65℃で2.5分間及びその後95℃で8分間プレベイクを行って、厚さ60μmの未硬化ホトレジスト層3を積層した。
図2に示したように、幅100μmのマイクロメートルスケールのパターン部6以外が遮光されているマスク5をマスクアライナーで位置合わせをしてナノメートルの微細構造をもつ基板1に重ね、13W/cm2の紫外線をマスクを通してホトレジスト層に30秒間照射し、マスクを取り去ったのち、65℃で1.5分間及び95℃で6.5分間ポストベイクを行った。
ポストベイク後、ホトレジスト現像液(化薬マクロケム社製、商品名「SU−8用現像液」)で未硬化ホトレジストを洗浄除去し、更に、150℃で2.5分間ハードベイクを行って、図3に示したように、パターン部6に対応するマイクロメートルスケールの凸状の硬化ホトレジスト層4を形成した。
硬化ホトレジスト層4が形成された基板1の表面に導電処理を施し、無電解めっきした。次に、電解ニッケルめっきによりニッケル電鋳を行って金属(ニッケル)層7を積層した後、基板1から金属(ニッケル)層7を剥離してナノメートルスケールの四角錘状の凹状の微細構造21及び凹状のマイクロメートルスケールの微細構造41が転写形成された微細構造金型8を得た。
尚、ニッケル電鋳を行う際のニッケルめっき溶液は、スファミン酸ニッケル4水和物450g/L、塩化ニッケル6水和物10g/L、ホウ酸30g/L及び表面表力調製整剤20ml/Lよりなり、浴温は50℃、pHは4とした。
(実施例2)
図11に示したように、高さ200nm、幅200nmのナノメートルスケールの微細構造23が形成されたニッケル基板11にホトレジスト(JSR社製、商品名「THB−110」)をスピンコート法により塗布し、90℃で5分間プレベイクを行って、厚さ80μmの未硬化ホトレジスト層32を積層した。
図12に示したように、幅100μmのマイクロメートルスケールのパターン部62が遮光されていて残りが光透過となっているマスク52をマスクアライナーでナノメートルスケールの微細構造と位置合わせをした後、マスクを通してホトレジスト層に13W/cmの紫外線を40秒間照射し、マスクを取り去って後、60℃で5分間ポストベイクを行った。
ポストベイク後、未硬化ホトレジストを洗浄除去し、図14に示したように、マイクロメートルスケールのパターン部62に対応する部分でニッケル基板が露出し、それ以外の部分でホトレジスト層45を硬化させた。なお、ナノメートルスケールの微細構造は、ホトレジストで覆われて保護されている。このとき、ナノメートルスケールの微細構造の細部にホトレジストが完全に入りこんでいる必要はない。
次に、実施例1で行なったと同様にして、電解ニッケルめっきによりニッケル電鋳を行って金属(ニッケル)層84を金属基板が露出している微細構造92内に選択的に積層した後、硬化ホトレジスト層45を有機溶剤で溶解・除去してナノメートルスケールの四角錘状の凸状の微細構造23及び凸状のマイクロメートルスケールの微細構造46が形成された微細構造金型85を得た。
請求項1記載の発明の第1の工程を示す断面図である。 請求項1記載の発明の第1の工程を示す断面図である。 請求項1記載の発明の第2の工程を示す断面図である。 請求項1記載の発明の第3の工程を示す断面図である。 請求項1記載の発明の微細構造金型の製造方法で得られた微細構造金型の1例を示す断面図である。 請求項2記載の発明の第4の工程を示す断面図である。 請求項2記載の発明の第4の工程を示す断面図である。 請求項2記載の発明の第5の工程を示す断面図である。 請求項2記載の発明の第6の工程を示す断面図である。 請求項2記載の発明の微細構造金型の製造方法で得られた微細構造金型の1例を示す断面図である。 請求項3記載の発明の第1の工程を示す断面図である。 請求項3記載の発明の第1の工程を示す断面図である。 金属基板11の製造方法の一例を示す断面図である。 請求項3記載の発明の第2の工程を示す断面図である。 請求項3記載の発明の第3の工程を示す断面図である。 請求項3記載の発明の微細構造金型の製造方法で得られた微細構造金型の1例を示す断面図である。
符号の説明
1 基板
2 微細構造
3 未硬化ホトレジスト層
4 硬化ホトレジスト層
5 マスク
6 微細構造パターン部
7 金属層
8 微細構造金型

Claims (6)

  1. (1)ナノメートルスケールの微細構造が形成されている基板に、厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層を積層し、該未硬化ホトレジスト層上にマイクロメートルスケールのパターン部以外が遮光されているマスクを通して露光してマイクロメートルスケールの微細構造部のホトレジストを硬化する第1の工程、
    (2)未硬化のホトレジストを洗浄除去して、ナノメートルスケールの微細構造及びマイクロメートルスケールの微細構造の硬化ホトレジスト層が形成された基板を得る第2の工程、及び、
    (3)得られた基板表面に導電処理を施して電鋳法により金属層を積層した後、基板を脱型・除去する第3の工程からなることを特徴とする微細構造金型の製造方法。
  2. (1)ナノメートルスケールの微細構造が形成されている基板に、厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層を積層し、該ホトレジスト層上にマイクロメートルスケールのパターン部以外が遮光されているマスクを通して露光してマイクロメートルスケールのパターンに対応する部分のホトレジストを硬化する第1の工程、
    (2)未硬化のホトレジストを洗浄除去して、ナノメートルスケールの微細構造及びマイクロメートルスケールの微細構造の硬化ホトレジスト層が形成された基板を得る第2の工程、
    (3)得られた基板表面に電鋳法により金属層を積層した後、基板を脱型・除去してナノメートルスケールの微細構造及びマイクロメートルスケールの微細構造が形成された金属基板を得る第3の工程、
    (4)微細構造が形成された金属基板表面に厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層を積層し、該未硬化ホトレジスト層上にマイクロメートルスケールのパターン部が遮光されているマスクを通して露光してマイクロメートルスケールのパターンに対応する部分以外のホトレジストを硬化する第4の工程、
    (5)未硬化のホトレジストを洗浄除去して、マイクロスケールのパターン部で金属基板が露出し、パターン以外の部分に硬化ホトレジストによる微細構造が形成された基板を得る第5の工程、及び、
    (6)金属基板が露出したマイクロメートルスケールのパターン部のみに電鋳法により金属層を積層した後、硬化ホトレジスト層を溶解・除去する第6の工程からなることを特徴とする微細構造金型の製造方法。
  3. (1)ナノメートルスケールの微細構造が形成されている金属基板に、厚さ1μm〜5000μmの未硬化ホトレジスト層を積層し、該未硬化ホトレジスト層上にマイクロメートルスケールのパターン部が遮光されているマスクを通して露光してマイクロメートルスケールのパターン部以外のホトレジストを硬化する第1の工程、
    (2)未硬化のホトレジストを洗浄除去して、マイクロメートルスケールのパターン部で金属基板が露出し、パターン以外の部分に硬化ホトレジストによる凸状の微細構造が形成された基板を得る第2の工程、及び、
    (3)金属基板が露出したマイクロメートルスケールのパターン部のみに電鋳法により金属層を積層した後、硬化ホトレジスト層を溶解・除去する第3の工程からなることを特徴とする微細構造金型の製造方法。
  4. 金属基板が、ナノメートルスケールの微細構造が形成されている基板に電鋳法により金属層を積層した後、基板を脱型・除去することにより得られた金属基板であることを特徴とする請求項3記載の微細構造金型の製造方法。
  5. ナノメートルスケールの微細構造パターンの幅及び高さが10〜1000nmであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載の微細構造金型の製造方法。
  6. マイクロメートルスケールの微細構造パターンの幅及び高さが5〜5000μmであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項記載の微細構造金型の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001038738A (ja) * 1999-07-30 2001-02-13 Shimadzu Corp 微小3次元構造を有する構造体の製造方法
JP2003123329A (ja) * 2001-10-18 2003-04-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd スタンパー及びその製造方法
JP4340086B2 (ja) * 2003-03-20 2009-10-07 株式会社日立製作所 ナノプリント用スタンパ、及び微細構造転写方法
JP2006007608A (ja) * 2004-06-25 2006-01-12 Dainippon Printing Co Ltd パターン複製版とその製造方法及び光回折体
JP4513626B2 (ja) * 2005-03-28 2010-07-28 住友ベークライト株式会社 マイクロチャネル基板作製用鋳型の作製方法

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