以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
[第1の実施形態]
まず、本発明の第1の実施形態について説明する。図1は、本発明の第1の実施形態に係る撮像装置の一例としてのデジタル一眼レフレックスカメラ(以下、適宜カメラと略記する)の構成を示す図である。図1のカメラは、交換レンズ101とカメラボディ110とを有して構成されている。
交換レンズ101は、カメラボディ110の前面に設けられた図示しないカメラマウントを介してカメラボディ110に着脱自在に構成されている。そして、この交換レンズ101は、フォーカスレンズ102と、レンズ駆動部103と、レンズCPU104とを有して構成されている。
フォーカスレンズ102は、撮影光学系に含まれる焦点調整のためのレンズである。このフォーカスレンズ102は、レンズ駆動部103によってその光軸方向(図1の矢印A方向)に駆動され、撮影光学系の焦点位置調整を行う。これにより、撮影光学系を通過した図示しない被写体からの光束は、カメラボディ110内の撮像素子124にピントの合った像を結ぶ。
レンズ駆動部103は、例えばドライバと超音波モータ等からなる駆動機構とから構成されている。そして、レンズCPU104からの制御信号を受けてフォーカスレンズ102を駆動させる。
レンズCPU104は、レンズ駆動部103の制御等を行う制御回路である。このレンズCPU104は、通信コネクタ105を介してカメラボディ110内のシステムコントローラ123と通信可能になされている。レンズCPU104からシステムコントローラ123へは、例えばレンズCPU104に予め記憶された、フォーカスレンズの製造ばらつき情報やフォーカスレンズの収差情報等のデフォーカス量の演算の際に用いられる各種レンズデータが送信される。
カメラボディ110は、メインミラー111と、フォーカシングスクリーン112、ペンタプリズム113、接眼レンズ114からなるファインダ光学系と、サブミラー115と、コンデンサレンズ116、全反射ミラー117、セパレータ絞り118、セパレータレンズ119からなるAF光学系と、温度センサ120と、AFセンサ121と、AFコントローラ122と、システムコントローラ123と、撮像素子124と、記録部125とを有して構成されている。
メインミラー111は、回動可能に構成され、その中央部がハーフミラーで構成されたミラーである。メインミラー111は、ダウン位置(図示の位置)にあるときに、交換レンズ101を介してカメラボディ110内に入射する図示しない被写体からの光束の一部を反射し、一部を透過させる。フォーカシングスクリーン112は、メインミラー111で反射された光束が結像される。ペンタプリズム113は、フォーカシングスクリーン112に結像された被写体像を正立像として、接眼レンズ114に入射させる。接眼レンズ114はペンタプリズム113からの被写体像をユーザが観察可能なように拡大する。このようにして、図示しない被写体の状態を観察することができる。
サブミラー115は、メインミラー111のハーフミラー部の背面に設置され、メインミラー111のハーフミラー部を透過した光束をAF光学系の方向に反射する。
AF光学系のコンデンサレンズ116は、サブミラー115で反射され、図示しない1次結像面に結像した光束を集光して全反射ミラー117の方向に入射させる。全反射ミラー117は、コンデンサレンズ116からの光束をAFセンサ121の側に反射させる。セパレータ絞り118はAFセンサ121の前面に配され、全反射ミラー117からの光束を瞳分割する。セパレータレンズ119はセパレータ絞り118で瞳分割された光束を集光してAFセンサ121に再結像させる。温度センサ120は、例えば図2に示すようにしてセパレータレンズ119の近傍に設置され、セパレータレンズ119の周辺温度を検出し、AFコントローラ122に出力する。この温度センサ120は、例えばサーミスタ等の周知の温度センサを用いることができる。
AFセンサ121は、視差をもって瞳分割され再結像された被写体像を電気信号(被写体像信号)に変換してAFコントローラ122に出力する。ここで、AFセンサ121は、撮影画面内の複数の焦点検出エリア(測距点)における焦点状態を検出可能なように構成されている。AFコントローラ122は、AFセンサ121の動作制御を行うとともに、AFセンサ121から出力される被写体像信号から、瞳分割されて得られる対をなす被写体像の2像間隔値を例えば相関演算によって算出し、該算出した2像間隔値より各測距点におけるフォーカスレンズ102のデフォーカス量を算出してシステムコントローラ123に出力する。
システムコントローラ123は、図1に示すカメラの動作制御を行う。例えば、システムコントローラ123は、フォーカスレンズ102の自動焦点調整(AF)時には、AFコントローラ122からのデフォーカス量をレンズCPU104に送信する。レンズCPU104は、このデフォーカス量に基づいてフォーカスレンズ102の焦点調整を行う。また、システムコントローラ123は、撮影時には、撮像素子124で得られた被写体像信号に対して種々の画像処理を施した後、これによって得られる画像データを記録部125に記録する。
撮像素子124は、メインミラー111が図示位置から退避されたときに、撮影光学系を介して結像される被写体像を電気信号に変換する。
レリーズボタン126は、AF開始の指示及び撮影開始の指示をシステムコントローラ123に与える。このレリーズボタン126は半押しされることによって1stレリーズスイッチがオンしてAF開始の指示をシステムコントローラ123に与える。また、レリーズボタン126が全押しされることによって2ndレリーズスイッチがオンして撮影開始の指示をシステムコントローラ123に与える。
次に、本実施形態の要部としての焦点検出装置について説明する。図3は、図1のAFセンサ、AFコントローラ、システムコントローラの構成の詳細を示したブロック図である。
図3において、AFセンサ121は、画素部201と、アナログ処理部202と、デジタル処理部203とを有して構成されている。
画素部201は、ラインセンサ部201aとモニタセンサ部201bとから構成されている。ラインセンサ部201aは、セパレータレンズ119によって瞳分割される光束を受光するラインセンサが測距点に対応して複数配置されて構成され、各ラインセンサで受光した光束を電気信号(被写体像信号)に変換してアナログ処理部202に出力する。モニタセンサ部201bは、各ラインセンサの蓄積動作状況を監視するために各ラインセンサに対応して配置される複数のモニタセンサから構成される。各モニタセンサは、各ラインセンサで平均的に受光される光束と同等の光束を電気信号として検出してデジタル処理部203に出力する。
図4(a)は測距点配置の一例を示す図であり、図4(b)は図4(a)に示す測距点配置において焦点状態を検出するためのラインセンサ部及びモニタセンサ部の構成例を示す図である。ここで、図4(b)の例は、1つの測距点が水平方向と垂直方向の2つアイランドから構成される例である。そして、1つのアイランドの焦点状態は、基準部と参照部の1対のラインセンサで検出される。例えば、図4(a)の測距点2bに着目した場合、この測距点2bにおける焦点状態は、基準部水平センサ11及び参照部水平センサ12の対と基準部垂直センサ13及び参照部垂直センサ14の対とによって検出される。また、各水平センサ及び垂直センサの近傍にはモニタセンサ15が配置され、対応するラインセンサの蓄積動作状況が監視される。ここで、図4(b)の例では各ラインセンサに対応してモニタセンサを設けているが、一般に同一アイランド内のラインセンサは同一の蓄積時間で蓄積制御するので、基準部と参照部の何れか一方にのみモニタセンサを設けるようにしても良い。
アナログ処理部202は、画素部201の各ラインセンサから出力される被写体像信号に対して相関二重サンプリング(CDS)やゲイン調整等のアナログ処理を施してAFコントローラ122に出力する。
デジタル処理部203は、制御レジスタ203aと、タイマ203bと、シーケンサ203cとから構成されている。
制御レジスタ203aは測距点毎の蓄積動作の限界時間を設定するためレジスタである。ここで、蓄積動作の限界時間は測距点毎に設定されるものであり、最大蓄積時間と最小蓄積時間の2種類の中から選択可能である。最大蓄積時間が選択されている測距点に対してはモニタセンサの出力が所定値に達していなくとも最大蓄積時間が経過した時点で対応するラインセンサの蓄積動作を終了させる。一方、最小蓄積時間が選択されている測距点に対してはモニタセンサの出力が所定値に達していても最小蓄積時間が経過するまでは対応するラインセンサの蓄積動作を継続させる。なお、制御レジスタ203aについては後で詳しく説明する。
タイマ203bは、制御レジスタ203aに測距点毎に設定される蓄積動作の限界時間をそれぞれ計時し、それぞれの限界時間を計時したときにその旨をシーケンサ203cに通知する。シーケンサ203cは、タイマ203bの出力と画素部201の各モニタセンサの出力とから画素部201の各ラインセンサの蓄積動作制御を行う。
また、図3において、AFコントローラ122は、シーケンサ211と、タイマ212と、蓄積時間レジスタ213と、AD変換器(ADC)214と、メモリ215とを有して構成されている。
制御部としてのシーケンサ211は、システムコントローラ123からの制御信号を受けて、各測距点における蓄積動作を開始させるための蓄積開始指示信号や制御レジスタ203aの設定を行うための信号等の各種制御信号をAFセンサ121に供給する。タイマ212は、各測距点の蓄積時間を計時する。蓄積時間レジスタ213は、タイマ212で計時される測距点毎の蓄積時間を保持する。即ち、蓄積時間レジスタ213は、各測距点での蓄積動作終了毎にAFセンサ121のシーケンサ203cから出力される蓄積終了タイミング信号を受けて、その時点でタイマ212に計時されている蓄積時間を測距点毎に保持する。
ADC214はAFセンサ121のアナログ処理部202からアナログデータとして出力される被写体像信号をデジタル信号に変換する。メモリ215は、ADC214からのデジタル被写体像信号を一時保持する。このメモリ215に保持されるデジタル被写体像信号はデフォーカス量の演算に用いられる。
次に、制御レジスタ203aについて更に詳しく説明する。図5は、制御レジスタ203aの構成を示す図である。ここで、図5の制御レジスタ203aは、図4(a)に示す、測距点2b、2c、2d、3a、3b、3c、3d、3e、4b、4c、4dのそれぞれに対応した限界時間を設定できる構成を示している。
図5に示すように、制御レジスタ203aは、測距点タイマリミット指定レジスタと、限界時間設定レジスタと、最大/最小選択レジスタの3種類のレジスタを有して構成されている。以下、これらレジスタについて詳細に説明する。
第2のレジスタとしての測距点タイマリミット指定レジスタは、各測距点に適用する限界時間設定レジスタの種類を指定するためのデータを保持する4ビットのレジスタである。ここで、図5の例では1つの測距点タイマリミット指定レジスタに対して2つの測距点についてのデータを保持可能である。
まず、測距点2b・2cタイマリミット指定レジスタには、測距点2bと測距点2cのそれぞれに対してのデータが設定される。即ち、測距点2b・2cタイマリミット指定レジスタに設定される値の上位2ビットが測距点2bに対応するデータを示し、下位2ビットが測距点2cに対応するデータを示す。
同様に、測距点2d・3aタイマリミット指定レジスタには、測距点2dと測距点3aのそれぞれに対してのデータが設定される。また、測距点3b・3cタイマリミット指定レジスタには、測距点3bと測距点3cのそれぞれに対してのデータが設定される。測距点3d・3eタイマリミット指定レジスタには、測距点3dと測距点3eのそれぞれに対してのデータが設定される。測距点4a・4bタイマリミット指定レジスタには、測距点4aと測距点4bのそれぞれに対してのデータが設定される。更に、測距点4cタイマリミット指定レジスタには、測距点4cに対してのデータが設定される。測距点の数が11点であるので、測距点4cタイマリミット指定レジスタの下位2ビットは使用されない。
図6は、測距点タイマリミット指定レジスタに設定されるデータとそれによって選択される限界時間設定レジスタとの関係を示す図である。ここで、図6のxxは測距点の番号を示す。
図6に示すように、測距点タイマリミット指定レジスタの上位又は下位2ビットのデータを、限界時間設定レジスタ1の選択用、限界時間設定レジスタ2の選択用、限界時間設定レジスタ3の選択用に割り当てている。即ち、測距点タイマリミット指定レジスタの上位又は下位2ビットのデータが“00”の場合には限界時間設定レジスタ1が選択され、“01”の場合には限界時間設定レジスタ2が選択され、“10”の場合には限界時間設定レジスタ3が選択される。なお、後述するように限界時間設定レジスタは3種類のみ設けられているため、“11”は禁止としている。限界時間設定レジスタの数が4種類であれば、“11”も用いることになる。
第1のレジスタとしての限界時間設定レジスタは、2つの4ビットレジスタで1つの限界時間設定レジスタを構成している。図7は、限界時間設定レジスタに設定されるデータとそれによって設定される限界時間との関係を示す図である。ここで、図7のxは限界時間設定レジスタの番号を示す。図7の例は、最小時間2ms(00000000)から最大時間512ms(11111111)まで2ms間隔で限界時間を設定できる例を示している。
最大/最小時間判断レジスタは、限界時間設定レジスタのそれぞれに設定される限界時間を蓄積時間の最大限界として使用するか、蓄積時間の最小限界として使用するかを判断するためのデータが設定される。図4の例では、限界時間設定レジスタは3種類であるため、上位3ビットのみを使用する。図8は、最大/最小時間判断レジスタに設定されるデータとそのデータに対応した設定との関係を示す図である。ここで、図8のxは限界時間設定レジスタの番号を示す。図8に示すように、最大/最小時間判断レジスタのデータが“0”の場合に対応する限界時間設定レジスタに保持される限界時間を最大蓄積時間として扱い、“1”の場合に対応する限界時間設定レジスタに保持される限界時間を最大蓄積時間として扱う。
例えば、図4(a)に示す11点の測距点のうち、周辺の測距点である測距点2b、2c、2d、3a、3e、4b、4d、4eの最大蓄積時間を10msに、中央付近の測距点である測距点3b、3c、3dの最大蓄積時間を50msにする場合について説明する。
まず、限界時間設定レジスタ1に10msを設定するために、アドレス7に“0000”を、アドレス8に“0100”を設定する。また、限界時間設定レジスタ2に50msを設定するために、アドレス9に“0001”を、アドレス10に“1000”を設定する。
次に、測距点タイマリミット指定レジスタにデータを設定する。上述の例の場合にはアドレス1に“0000”を、アドレス2に“0000”を、アドレス3に“0101”を、アドレス4に“0100”を、アドレス5に“0000”をアドレス6に“0000”を設定する。即ち、10msを設定する測距点に対応するビットに“00”を、50msを設定する測距点に対応するビットに“01”を設定する。
最後に、限界時間を最大蓄積時間として取り扱うので、アドレス13の上位2ビットに“00”を設定する。
図5のようにして制御レジスタを構成することにより、レジスタの数を削減することが可能である。例えば、図4(a)に示す11点の測距点に対し、測距点毎に限界時間を設定しようとした場合には、(限界時間設定レジスタ)8ビット×(測距点数)11=88ビットが必要である。これに対し、図5のようにして制御レジスタを構成した場合には、(測距点毎のタイマリミット指定レジスタ)24ビット+(限界時間設定レジスタ)8ビット×3種類=48ビットで構成できる。このように88ビット必要なところを44ビットに押さえることが可能である。AFセンサに用いられるラインセンサには通常CCD用のプロセスが用いられるために、トランジスタサイズが大きくなりやすい。したがって、40ビットの削減でもチップサイズへの影響は大きいと考えられる。
なお、制御レジスタを構成する各レジスタのビットサイズ等は図5に示したものに限るものではなく、測距点の数や限界時間の設定分解能とチップサイズとのトレードオフにより選択することが可能である。
図9は、第1の実施形態におけるAF時の処理について示すフローチャートである。なお、図9では、制御レジスタ203aに限界時間として最大蓄積時間を設定する例について説明する。最小蓄積時間を設定する例については、後述の第2の実施形態で説明する。
図9の処理が開始されると、まず、AFコントローラ122は、AFセンサ121の制御レジスタ203aの初期化を行う(ステップS100)。例として、各測距点に最大蓄積時間300msを設定する場合、制御レジスタ203aの設定は、まず、限界時間設定レジスタ1〜3に300msを設定する(アドレス7、9、11に“1001”、アドレス8、10、12に“0101”を設定する)。次に、各測距点タイマリミット指定レジスタにおいて限界時間設定レジスタ1を示す値を設定する(アドレス1〜6に“0000”を設定する)。更に、限界時間設定レジスタ1に設定されている限界時間を最大蓄積時間して用いるように最大/最小時間判断レジスタを設定する(最大/最小時間判断レジスタの最上位ビットに“0”を設定する)。このような初期化の終了後、AFコントローラ122は待機状態となる。
制御レジスタ203aの初期化の後、システムコントローラ123は、ユーザによるレリーズボタン126の半押し操作がなされ、1stレリーズスイッチがオンされたか否かを判定している(ステップS101)。ステップS101の判定において、1stレリーズスイッチがオンされた場合に、システムコントローラ123はAFコントローラ122にAF実行の指示を送る。これを受けて、AFコントローラ122はAFセンサ121の各測距点の蓄積動作を開始させる(ステップS102)。
AFセンサ121のシーケンサ203cはモニタセンサ部201bの各モニタセンサの出力とタイマ203bの出力とを監視しており、モニタセンサの出力が所定値に達するか、或いはタイマ203bによって最大蓄積時間が計時された場合に、対応する測距点の蓄積を終了させるとともに、対応する測距点の蓄積が終了した旨をAFコントローラ122に通知する。これを受けてAFコントローラ122はタイマ212によって計時されている蓄積時間を検出し、検出した蓄積時間を測距点毎に、蓄積時間レジスタ213に保持する(ステップS103)。
次に、AFコントローラ122は、全測距点における蓄積動作が終了したか否かを判定する(ステップS104)。ステップS104の判定において、全測距点における蓄積動作が終了していない場合には、ステップS103に戻って待機する。一方、ステップS104の判定において、全測距点における蓄積動作が終了した場合に、AFコントローラ122はAFセンサ121に被写体像信号の読み出し指示を送る。これによりAFセンサ121の各ラインセンサに蓄積された電荷が電気信号として読み出される(ステップS105)。次に、AFコントローラ122は、AFセンサ121から読み出される被写体像信号における暗電流成分等によるオフセットを補正する(ステップS106)。ここで、暗電流の発生時間は、各測距点におけるラインセンサの蓄積終了のタイミングとラインセンサからの電荷転送タイミングとによって決定される。これらはAFコントローラ122のタイマ212によって測距点毎の蓄積時間を計時することによって検出することができる。また、暗電流は温度によっても変化するのでラインセンサ周辺の温度を計測しておき、計測した温度と暗電流の発生時間とから被写体像信号における暗電流成分を求め、この暗電流成分が0となるように被写体像信号をレベルシフトする。
次に、AFコントローラ122は、AFセンサ121の各ラインセンサを構成するフォトダイオード出力の不均一性を補正するための照度補正を行う(ステップS107)。この補正は、例えば均一輝度面を観察したときのラインセンサの照度ばらつきから補正データを求めておき、この補正データによってそれぞれ対応する被写体像信号を補正すれば良い。
次に、AFコントローラ122は、アイランド内の基準部と参照部とで対をなすラインセンサから出力される被写体像信号から相関演算により、2像間隔値を算出する(ステップS108)。その後、AFコントローラ122は、相関演算結果の信頼性を判定するために、被写体像のコントラストを検出する(ステップS109)。そして、AFコントローラ122は、被写体像のコントラストが十分高いか否かを判定することにより、相関演算結果の信頼性を判定する(ステップS110)。
ステップS110の判定において、被写体像のコントラストが低い、即ち相関演算結果の信頼性が低いと判定した場合に、AFコントローラ122は、AFセンサ121のアナログ処理部202におけるゲインを更新する、具体的にはゲインを上昇させるように指示を送る(ステップS111)。その後、ステップS102に戻り、測距点の蓄積動作を再開させる。一方、ステップS110の判定において、被写体像のコントラストが高い、即ち相関演算結果の信頼性が高いと判定した場合には、AFコントローラ122は、現在のシーンが逆光シーンであるか否かを判定する(ステップS112)。この判定は、例えば各測距点に対応するラインセンサからそれぞれ出力される被写体像信号の輝度差が極端に大きい(例えば輝度差LV10以上)時に逆光シーンと判定する。そして、逆光シーンの場合には暗い被写体が主要被写体であると判断する。
ステップS112の判定において、逆光シーンである場合に、AFコントローラ122は、蓄積制御結果が適切であるか否かを判定する(ステップS113)。これは、人物等の輪郭でAFが行われる場合に蓄積制御結果が適切でないと判定する。このステップS113の判定手法の一例を説明する。例えば、図10(a)に示すような逆光シーンにおいて、測距点3dと測距点3eとに人物が配置されている。このようなシーンにおいて、測距点3dのラインセンサ出力に着目すると、その出力は図10(b)に示すものとなる。即ち、センサ出力において背景部の出力に対して顔部の出力は相対的に小さくなる。このようなセンサ出力の場合には、人物の瞳ではなく、顔の輪郭付近でAFが行われるので蓄積制御結果が適切でないと判定する。そして、図10(c)のように顔部においてAFに必要なコントラストが得られるように蓄積時間を長くする。
ステップS113の判定において、蓄積制御結果が適切でない場合に、AFコントローラ122は、対応する測距点におけるモニタセンサによる蓄積制御をオフするように指示を送るとともに、各測距点の限界時間を再設定するように指示を送る(ステップS114)。その後に、ステップS102に戻り、測距点の蓄積動作を再度行う。
この限界時間の再設定について説明する。まず、図10(a)の測距点3dのように人物等の主要被写体部を含む測距点については主要被写体部においてAFに必要なコントラストが得られるように蓄積時間を長くする。即ち、この測距点については、
(必要なコントラストが得られる出力レベル)/(現在の主要被写体部の出力レベル)×(測距点(主要被写体部)における蓄積時間)
によって求められる最大蓄積時間に従って蓄積制御を行う。一方、他の測距点については、主要被写体部を含む測距点の周辺の測距点(例えば測距点3c)の蓄積時間を最大蓄積時間とした蓄積制御を行う。なお、主要被写体部については最小蓄積時間に従った蓄積制御を行うようにしても良い。
ここで、ステップS112〜ステップS114の処理は、主に逆光時における人物に対するAFのための処理である。したがって、ポートレート撮影モード時にのみ行うようにしても良い。
また、ステップS113の判定において、蓄積制御結果が適切である場合に、AFコントローラ122は、測距点の選択を行うとともに、選択した測距点におけるフォーカスレンズ102のデフォーカス量を算出する(ステップS115)。ここでの測距点の選択は、例えば、信頼性の高い測距点の中で最至近の測距点を選択するようにすれば良い。デフォーカス量の算出後、システムコントローラ123は、算出したデフォーカス量をレンズCPU104に送信する。レンズCPU104は、このデフォーカス量に基づいてレンズ駆動部103を制御することにより、フォーカスレンズ102の合焦駆動を行う(ステップS116)。その後は、ユーザによるレリーズボタン126の全押し操作を受けて撮影動作に移行する。
以上説明したように、第1の実施形態によれば、AFセンサに内蔵の制御レジスタの設定を変更することにより、複数測距点を測距可能なAFセンサにおける各ラインセンサの蓄積時間を個別に設定することが可能である。また、限界時間を測距点タイマリミット指定レジスタと限界時間設定レジスタの組で設定することにより、制御レジスタを構成するために必要なレジスタの数を削減することが可能である。
[変形例]
以下、第1の実施形態の変形例について説明する。図9のステップS1においては、限界時間の初期値を各ラインセンサで同一としていたが、測距対象となる測距点が分かっている場合(撮影画面内の中央の測距点を重点的に測距する場合やユーザによって測距点が選択された場合等)では測距対象となる測距点と測距対象外の測距点とで最大蓄積時間を異ならせるようにしても良い。図11に、測距点毎に最大蓄積時間を異ならせる処理について示す。
図11においては、例として、初期化時に、測距対象となる測距点の最大蓄積時間を300msに、それ以外の測距点の最大蓄積時間を50msに設定する(ステップS200)。この場合には、限界時間設定レジスタ1に300msを、限界時間設定レジスタ2に50msを設定し、各測距点タイマリミット指定レジスタにおいて、測距対象となる測距点を示すビットには限界時間設定レジスタ1を示す値を、その他の測距点を示すビットには限界時間設定レジスタ2を示す値を設定する。更に、限界時間設定レジスタ1及び限界時間設定レジスタ2に設定されている限界時間を最大蓄積時間して用いるように最大/最小時間判断レジスタを設定する。このような初期化の終了後、AFコントローラ122は待機状態となる。
ここで、図11において、ステップS200以降のステップS201〜ステップS213の処理は、図9とほぼ同様であるので説明を省略する。なお、ステップS213における測距点の選択は、測距対象となる測距点が複数存在している場合に行われるものである。
以上説明した変形例によれば、測距対象となる測距点の最大蓄積時間を長くしてAFに必要なコントラストを得ることができるとともに、測距対象以外の測距点については最大蓄積時間を短くして蓄積時間を最小とすることができる。
[第2の実施形態]
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。第2の実施形態は、各測距点に最小蓄積時間を設定する例である。なお、構成については第1の実施形態と同様であるので説明を省略する。
最小蓄積時間を設定するのは、例えば測距点がユーザによって指定されている場合(自動測距点選択でない場合)である。このような場合には、図11に示す第1の実施形態の変形例で説明したように、測距対象となる測距点の蓄積時間を長くし、測距対象以外の測距点の蓄積時間を短くすることがAF時間の短縮の点で好ましいが、その分、早く蓄積が終了した測距点における暗電流が増大してしまうおそれがある。上述したように、暗電流は、ラインセンサの蓄積終了のタイミングとラインセンサからの電荷転送タイミングとによって決定されるので、測距対象となる測距点の蓄積時間を越えない範囲で測距対象以外の測距点の蓄積終了のタイミングを遅らせて暗電流の発生時間を短くする。
図12は、第2の実施形態におけるAF時の処理について示すフローチャートである。図12の処理が開始されると、まず、AFコントローラ122は、AFセンサ121の制御レジスタ203aの初期化を行う(ステップS300)。制御レジスタ203aの初期化の後、システムコントローラ123は、ユーザによるレリーズボタン126の半押し操作がなされ、1stレリーズスイッチがオンされたか否かを判定している(ステップS301)。ステップS301の判定において、1stレリーズスイッチがオンされた場合に、システムコントローラ123はAFコントローラ122にAF実行の指示を送る。これを受けて、AFコントローラ122はAFセンサ121の各測距点の蓄積動作を開始させる(ステップS302)。
AFセンサ121のシーケンサ203cはモニタセンサ部201bの各モニタセンサの出力とタイマ203bの出力とを監視しており、モニタセンサの出力が所定値に達するか、或いはタイマ203bによって最大蓄積時間が計時された場合に、対応する測距点の蓄積を終了させるとともに、対応する測距点の蓄積が終了した旨をAFコントローラ122に通知する。これを受けてAFコントローラ122はタイマ212によって計時されている蓄積時間を検出し、検出した蓄積時間を測距点毎に、蓄積時間レジスタ213に保持する(ステップS303)。
次に、AFコントローラ122は、全測距点における蓄積動作が終了したか否かを判定する(ステップS304)。ステップS304の判定において、全測距点における蓄積動作が終了していない場合には、ステップS303に戻って待機する。一方、ステップS304の判定において、全測距点における蓄積動作が終了した場合に、AFコントローラ122は、測距対象の測距点の蓄積時間が最大蓄積時間(300ms)に達しており、且つ測距対象でない測距点の蓄積時間の最小値が一定値(例えば50ms)以下であるか否かを判定する(ステップS305)。ステップS306の判定において、測距対象の測距点の蓄積時間が最大蓄積時間に達しており、且つ測距対象でない測距点の蓄積時間の最小値が一定値以下である場合には、測距対象でない測距点における暗電流の発生時間が長いとして、次回の蓄積の際に、測距対象でない測距点において最小蓄積時間に基づく蓄積制御が行われるように、制御レジスタ203aの値を再設定する(ステップS306)。その後に、ステップS302に戻り、測距点の蓄積動作を再度行う。
ステップS306の再設定においては、まず、限界時間設定レジスタ1に設定されている限界時間を最小蓄積時間して用いるように最大/最小時間判断レジスタを設定する(最大/最小時間判断レジスタの最上位ビットに“1”を設定する)。次に、最小蓄積時間を、もとの蓄積時間よりも長く、測距対象の測距点の蓄積時間(300ms)よりも短くなるような範囲で設定する。なお、図12の例では、最小蓄積時間を250msに設定している。更に、各測距点タイマリミット指定レジスタにおいて測距対象の測距点のビットに、限界時間設定レジスタ2(最大蓄積時間300msが設定されている)を示す値を設定する。
ステップS305の判定において、測距対象の測距点の蓄積時間が最大蓄積時間(300ms)に達していない、又は測距対象でない測距点の蓄積時間の最小値が一定値(例えば50ms)を越えている場合には、AFコントローラ122はAFセンサ121に被写体像信号の読み出し指示を送る。これによりAFセンサ121の各ラインセンサに蓄積された電荷が電気信号として読み出される(ステップS307)。これ以後のステップS308〜ステップS315の処理は図9とほぼ同様であるので説明を省略する。
以上説明したように、第2の実施形態では、暗電流発生時間が長くなる測距点に対して最小蓄積時間に基づいた蓄積制御を行うことにより、図13に示すように測距対象でない測距点の蓄積は最小蓄積時間が経過するまで継続される。これにより、測距対象の測距点におけるコントラストを十分なものとした状態で測距対象でない測距点における暗電流の発生時間を短くすることが可能である。
以上実施形態に基づいて本発明を説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形や応用が可能なことは勿論である。例えば、上述した各実施形態においては、蓄積時間を測距点毎に設定しているが、アイランド毎に設定するようにしても良い。
さらに、上記した実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件の適当な組合せにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、上述したような課題を解決でき、上述したような効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成も発明として抽出され得る。
101…交換レンズ、102…フォーカスレンズ、103…レンズ駆動部、104…レンズCPU、110…カメラボディ、111…メインミラー、112…フォーカシングスクリーン、113…ペンタプリズム、114…接眼レンズ、115…サブミラー、116…コンデンサレンズ、117…全反射ミラー、118…セパレータ絞り、119…セパレータレンズ、120…温度センサ、121…AFセンサ、122…AFコントローラ、123…システムコントローラ、124…撮像素子、125…記録部、126…レリーズボタン、203a…制御レジスタ