JP4938879B2 - 測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法 - Google Patents
測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4938879B2 JP4938879B2 JP2010103551A JP2010103551A JP4938879B2 JP 4938879 B2 JP4938879 B2 JP 4938879B2 JP 2010103551 A JP2010103551 A JP 2010103551A JP 2010103551 A JP2010103551 A JP 2010103551A JP 4938879 B2 JP4938879 B2 JP 4938879B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- radiation
- measurement
- control
- characteristic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 130
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 title description 11
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 159
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 49
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 68
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 14
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 13
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 13
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 9
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 claims description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 18
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 18
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 241000519995 Stachys sylvatica Species 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
2 放射光装置
3 散乱ディスク(散乱装置)
4 絞り(絞り装置)
6 スリット(スリット装置)
9 測定面
11,12,13 発光ダイオード(放射光源)
15,62,63,64 検出器ユニット(検出器装置ないし検出装置)
20 保持装置
23 ステップモータ(モータ装置)
24 演算処理装置
25 制御装置
26 外部コンピュータ
36 光センサ(コントロールセンサないしコントロールセンサ装置)
41,42,43 光線源(半導体放射光源)
46,47 リミットスイッチ(位置コントロール装置)
50,60,120 光沢測定装置(物体の視覚的特性を特定するための装置ないし設備)
55 光偏向装置
Claims (45)
- 一つの保持装置に設けられている少なくとも二つの放射光源を有する少なくとも一つの放射光装置であって、少なくとも二つの放射光源が異なる分光学的特性を有している放射光装置と、
少なくとも一つの絞り装置と、
光路において前記絞り装置の手前に設けられており、前記絞り装置を通って進んでゆく放射光を均一にするために用いられている少なくとも一つの散乱装置とを備え、
前記保持装置はモータ装置によって移動自在とされており、それによって個々の前記放射光源はそれぞれ順々に前記絞り装置内の単独のスリットに対して最適な位置にもたらされ、それによって前記放射光源から放射可能とされた放射光が前記絞り装置内の単独のスリットに向けられるように構成されている、
測定面を照明するための照明装置。 - 請求項1に記載の照明装置において、前記放射光装置の前記放射光源の数は3個以上であることを特徴とする照明装置。
- 請求項1または請求項2に記載の照明装置において、
少なくとも二つの放射光源が異なる分光学的特性を有していることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の照明装置において、
前記少なくとも一つの放射光装置の中の少なくとも一つから、スペクトルの全可視領域の放射光が放射可能とされていることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の照明装置において、
少なくとも一つの放射光源は、熱放射光源、半導体放射光源、発光ダイオードないしそれに類するものをさらに含む放射光源のグループの中から選択されていることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の照明装置において、
制御装置が設けられていることを特徴とする照明装置。 - 請求項6に記載の照明装置において、
前記放射光装置は、前記制御装置によって、少なくとも二つの放射光源が時間的に順番に放射光を放出するように制御可能とされていることを特徴とする照明装置。 - 請求項6または請求項7に記載の照明装置において、
前記放射光装置は、前記制御装置によって、少なくとも二つの放射光源が同時に放射光を放出するように制御可能とされていることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の照明装置において、
少なくとも一つの光偏向装置は、少なくとも一つの光偏向素子を備え、該光偏向素子は、レンズ素子、ミクロレンズ素子、ミクロレンズアレイ、回折素子、格子素子、立体格子素子、ホログラフィック光学素子ならびにそれに類するものをさらに含む光偏向素子のグループの中から選択されていることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の照明装置において、
前記放射光源は、シリコンチップとして形成され、前記保持装置上に隣接して配置されていることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項10のいずれか1項記載の照明装置において、
前記放射光源は、それぞれ放射される放射光が概ね単独でのみ前記絞り装置に向けられることができるようにして前記保持装置に設けられていることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の照明装置において、
前記保持装置を制御可能に動かすためのモータ装置が設けられ、該モータ装置は、電動機装置、ステップモータ装置ならびにそれに類するものをさらに含むモータ装置のグループの中から選択されていることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の照明装置において、
前記保持装置は、少なくとも或る角度範囲にわたり回転可能とされていることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の照明装置において、
前記放射光源に電気的なパワーを伝えるために、前記保持装置に接する滑り接触装置が設けられていることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の照明装置において、
前記保持装置の位置を特定するための位置コントロール装置が設けられていることを特徴とする照明装置。 - 請求項1から請求項15のいずれか1項に記載の照明装置において、
前記放射された放射光の一部を取り入れ、少なくとも一つの制御信号を出すコントロールセンサ装置が設けられていることを特徴とする照明装置。 - 請求項16に記載の照明装置において、
前記コントロールセンサ装置は、前記絞り装置の下流側の光路中に設けられていることを特徴とする照明装置。 - 請求項16または請求項17に記載の照明装置において、
前記制御装置は、前記コントロールセンサの信号に応じて前記モータ装置を制御するように構成されていることを特徴とする照明装置。 - 照明装置として構成されかつ該照明装置により光が測定面上に照射可能とされている少なくとも一つの第一の光学装置を備え、
前記第一の光学装置は、少なくとも一つの絞り装置と、
光路において前記絞り装置の手前に設けられており、前記絞り装置を通って進んでゆく放射光を均一にするために用いられている少なくとも一つの散乱装置とを備え、
該第一の光学装置は、一つの保持装置に設けられている少なくとも二つの放射光源を有する少なくとも一つの放射光装置を有し、少なくとも二つの放射光源は異なる分光学的特性を有しており、
前記保持装置はモータ装置によって移動自在とされており、それによって個々の前記放射光源はそれぞれ順々に前記絞り装置内の単独のスリットに対して最適な位置にもたらされ、それによって前記少なくとも二つの放射光源から放射可能とされた放射光が前記絞り装置内の単独のスリットに向けられるように構成されており、
検出器装置として構成されかつ該検出器装置により前記測定面から反射された光が検出可能とされている少なくとも一つの第二の光学装置を備え、
前記検出された光の少なくとも一部に関して特有な少なくとも一つの測定値が前記検出器装置から送出可能とされ、
少なくとも一つの記憶装置を備え、
測定の過程を制御するための少なくとも一つの制御装置を備え、
前記測定面を特徴付ける少なくとも一つの特性値が特定可能とされている、
反射する物体の特性を特定するための装置。 - 請求項19に記載の装置において、
前記第一の光学装置と、前記第二の光学装置とは、前記測定面に対して、所定の方位角にそれぞれ配置されかつ所定の仰角にそれぞれ配置されていることを特徴とする装置。 - 請求項19または請求項20に記載の装置において、
検出器装置の数の合計ならびに照明装置の数の合計は、3、4、5、またはそれより多いことを特徴とする装置。 - 請求項20または請求項21に記載の装置において、
前記第一の光学装置と、前記第二の光学装置と、前記測定面とを通るように延びる第一の測定平面から外れて第三の光学装置が設けられていることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項22のいずれか1項に記載の装置において、
前記少なくとも一つの検出器装置と直列および/または分離させて設けられたセンサ装置を備えていることを特徴とする装置。 - 請求項23に記載の装置において、
前記センサ装置の少なくとも一部は、前記測定面上の異なる測定箇所にそれぞれ対応させて設けられていることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項24のいずれか1項に記載の装置において、
少なくとも一つの検出器装置は、分光学的に異なる感度のセンサ装置を有していることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項25のいずれか1項に記載の装置において、
少なくとも一つの検出器装置は、少なくとも一つの分光器装置を有し、これにより、取り入れられた光の分光学的な特性が検出されるように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項25または請求項26に記載の装置において、
前記制御装置は、前記センサ装置の信号を分析し、前記放射光装置の分光学的な特性を考慮しながら、測定対象の表面の蛍光特性を特定するように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項27のいずれか1項に記載の装置において、
前記記憶装置内に、少なくとも一つの所定の第一の閾値が設定され、
センサ装置の測定値は、該測定値が前記第一の閾値を上回るときに第一の表面タイプに対応させられるよう、前記制御装置により測定工程が制御可能とされていることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項28のいずれか1項に記載の装置において、
特性値の少なくとも一つは、光沢、色、オレンジの皮のようにざらざらした表面、曇り、つや消し、結像の鮮鋭度、像の識別といった光学的な特性値ならびにそれに類するものをさらに含みかつ明るさの分布、大きさの分布、色の分布といった統計学的な特性値ならびにそれに類するものをさらに含む特性値のグループの中から選択されていることを特徴とする装置。 - 請求項29に記載の装置において、
前記測定面の少なくとも二つないしさらに多くの異なる特性値が特定可能とされていることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項30のいずれか1項に記載の装置において、
少なくとも二つないしさらに多くの異なる測定幾何学的形状に対して、それぞれ少なくとも一つの特性値が特定可能とされ、測定幾何学的形状は、各照明角度ならびに各測定角度に関して特有とされていることを特徴とする装置。 - 請求項31に記載の装置において、
少なくとも二つの測定幾何学的形状の幾つかを用いて、少なくとも一つの表面タイプの統計学的な特性値および/または光学的な特性値の統計学的な分布が導出可能とされていることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項32のいずれか1項に記載の装置において、
前記保持装置の移動によって、少なくとも二つの放射光源からそれぞれ放射された放射光は、概ね順番にしか前記絞り装置に向けられないように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項33のいずれか1項に記載の装置において、
前記保持装置は、少なくとも或る角度範囲にわたり回転可能とされ、前記放射光源は、主として一つの円上に所定の角度間隔で回転軸周りに配置されていることを特徴とする装置。 - 請求項34に記載の装置において、
前記制御装置によって、前記保持装置が第一の回転方向に第一の位置から第二の位置に回転するときに、前記放射光源の少なくとも一部に対して測定値の第一の組が得られるよう、測定工程が制御可能とされていることを特徴とする装置。 - 請求項35に記載の装置において、
少なくとも前記測定値の第一の組に対して、少なくとも一つの第一の特性平均値ならびに少なくとも一つの第一の特性偏差値が形成され、所定の偏差値よりも大きい第一の特性偏差値によって警告が発せられるように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項35または請求項36に記載の装置において、
前記制御装置によって、前記保持装置が前記回転方向の逆向きに前記第二の位置から前記第一の位置に戻るように回転するときに、前記放射光源の少なくとも一部に対して測定値の第二の組が得られるよう、測定工程が制御可能とされていることを特徴とする装置。 - 請求項37に記載の装置において、
前記測定値の第二の組に対して、少なくとも一つの第二の特性平均値ならびに少なくとも一つの第二の特性偏差値が形成され、所定の値よりも大きい第二の特性偏差値によって警告信号が発せられるように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項34に記載の装置において、
前記制御装置によって、前記保持装置が第一の回転方向に第一の位置から第二の位置に回転するときに、前記放射光源の少なくとも一部に対して測定値の第一の組が得られるよう、測定工程が制御可能とされ、
前記測定値の第一の組に対して、少なくとも一つの第一の特性平均値が形成され、
前記制御装置によって、前記保持装置が前記回転方向の逆向きに前記第二の位置から前記第一の位置に戻るように回転するときに、前記放射光源の少なくとも一部に対して測定値の第二の組が得られるよう、測定工程が制御可能とされ、
前記測定値の第二の組に対して、少なくとも一つの第二の特性平均値が形成され、
前記第一の特性平均値および前記第二の特性平均値の差異が所定の差異の値よりも大きい場合に、警告信号が発せられるように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項39のいずれか1項に記載の装置において、
前記保持装置の位置を特定するための位置コントロール装置が設けられていることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項40のいずれか1項に記載の装置において、
前記放射された放射光の一部を取り入れるとともに、少なくとも一つの制御信号を送出するコントロールセンサ装置が設けられ、該コントロールセンサ装置は、主として前記絞り装置の下流側の光路中に配置されていることを特徴とする装置。 - 請求項41に記載の装置において、
前記制御装置は、前記コントロールセンサの信号に応じて前記モータ装置を制御するように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項41または請求項42に記載の装置において、
前記制御装置は、前記コントロールセンサの信号に応じて前記検出器装置の露光時間を制御するように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項19から請求項43のいずれか1項に記載の装置において、
前記絞り装置上方を動く際に、前記制御装置は、所定の数の測定値が取れるように前記検出器装置を制御するように構成されていることを特徴とする装置。 - 請求項1に記載の照明装置として構成され、該照明装置により光が測定面上に照射可能とされている少なくとも一つの第一の光学装置を備え、
検出器装置として構成されている少なくとも一つの第二の光学装置を備え、
少なくとも一つの記憶装置を備え、
測定の過程を制御するための少なくとも一つの制御装置を備え、
前記検出器装置は、前記測定面から反射された光の少なくとも一部を検出し、検出された光の少なくとも一部に関して特有な少なくとも一つの測定値を送出し、前記制御装置は、前記記憶装置内に収納された命令の順序を通して、前記測定面を特徴付ける少なくとも一つの特性値を特定するように構成された装置を用いる、反射する物体の特性を特定するための方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10149780.6A DE10149780B4 (de) | 2001-10-09 | 2001-10-09 | Einrichtung zur Beleuchtung einer Messfläche und Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der visuellen Eigenschaften von Körpern |
DE10149780.6 | 2001-10-09 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002296532A Division JP4729235B2 (ja) | 2001-10-09 | 2002-10-09 | 測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010164588A JP2010164588A (ja) | 2010-07-29 |
JP4938879B2 true JP4938879B2 (ja) | 2012-05-23 |
Family
ID=7701914
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002296532A Expired - Lifetime JP4729235B2 (ja) | 2001-10-09 | 2002-10-09 | 測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法 |
JP2010103550A Pending JP2010164587A (ja) | 2001-10-09 | 2010-04-28 | 測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法 |
JP2010103551A Expired - Lifetime JP4938879B2 (ja) | 2001-10-09 | 2010-04-28 | 測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法 |
Family Applications Before (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002296532A Expired - Lifetime JP4729235B2 (ja) | 2001-10-09 | 2002-10-09 | 測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法 |
JP2010103550A Pending JP2010164587A (ja) | 2001-10-09 | 2010-04-28 | 測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7006229B2 (ja) |
JP (3) | JP4729235B2 (ja) |
DE (1) | DE10149780B4 (ja) |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19930688A1 (de) * | 1999-07-02 | 2001-01-04 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Qualität von Oberflächen |
US7381516B2 (en) | 2002-10-02 | 2008-06-03 | 3M Innovative Properties Company | Multiphoton photosensitization system |
DE10324104B4 (de) * | 2003-05-27 | 2014-01-16 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften |
FR2858412B1 (fr) * | 2003-07-31 | 2007-03-30 | Stephane Louis Frederi Perquis | Systeme et procede de mesure de l'aspect visuel des materiaux. |
JP2005070021A (ja) * | 2003-08-28 | 2005-03-17 | Yokogawa Electric Corp | 検査用光源装置 |
DE10361058B3 (de) | 2003-12-22 | 2005-09-08 | Basf Coatings Ag | Hochgenauer strömungsorientierter Mehrwinkel-Remissionssensor |
DE102004034160A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-09 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung zur Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften |
JP2006038550A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Kanto Auto Works Ltd | 塗面検査装置 |
DE102004037040B4 (de) * | 2004-07-30 | 2013-11-21 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung zur quantifizierten Bewertung von Oberflächeneigenschaften |
EP1828751A4 (en) * | 2004-11-24 | 2011-02-23 | Idexx Lab Inc | REFLECTOMETER AND ASSOCIATED LIGHT SOURCE FOR USE IN A CHEMICAL ANALYZER |
DE102004059186A1 (de) * | 2004-12-08 | 2006-06-14 | Byk Gardner Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur ortsauflösenden Bewertung von Oberflächeneigenschaften |
DE102005003802A1 (de) * | 2004-12-10 | 2006-06-14 | Nütro Maschinen- und Anlagenbau GmbH & Co. KG | Strahlungsgerät sowie Pulverauftragsstation und Anordnung zur Beschichtung von temperatursensiblen Materialien und Verfahren hierzu |
JP2006242814A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Kanto Auto Works Ltd | 表面検査装置 |
JP2007080882A (ja) * | 2005-09-09 | 2007-03-29 | Matsushita Electric Works Ltd | 光調整装置 |
JP4251193B2 (ja) * | 2006-05-23 | 2009-04-08 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 反射特性測定装置 |
DE102006045285B4 (de) * | 2006-09-22 | 2021-03-04 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung zur Untersuchung von Oberflächeneigenschaften mit indirekter Beleuchtung |
DE102007002106B3 (de) * | 2007-01-09 | 2008-07-03 | Wolfgang Weinhold | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung eines Gegenstandes |
DE102007029299B4 (de) * | 2007-06-22 | 2011-12-22 | Fraba Ag | Optischer Sensor für Positionieraufgaben |
JP5468835B2 (ja) * | 2009-07-27 | 2014-04-09 | リンテック株式会社 | 光照射装置および光照射方法 |
AU2011375401B2 (en) * | 2011-08-19 | 2015-12-24 | Industries Machinex Inc. | Apparatus and method for inspecting matter and use thereof for sorting recyclable matter |
CN102620825A (zh) * | 2012-02-22 | 2012-08-01 | 江阴极光仪器科技有限公司 | 共焦拉曼光谱仪的led白光照明装置 |
JP2014032114A (ja) * | 2012-08-03 | 2014-02-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 質感計測装置 |
US20140320279A1 (en) * | 2013-04-24 | 2014-10-30 | Roy V. Stuart | Signaling Systmem |
DE102015105128B4 (de) | 2015-04-02 | 2023-01-05 | Isra Vision Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Glanzgrads und/oder der Mattheit von Gegenständen |
US12109593B2 (en) | 2015-07-16 | 2024-10-08 | Sortera Technologies, Inc. | Classification and sorting with single-board computers |
US12103045B2 (en) | 2015-07-16 | 2024-10-01 | Sortera Technologies, Inc. | Removing airbag modules from automotive scrap |
JP6818403B2 (ja) | 2015-07-22 | 2021-01-20 | キヤノン株式会社 | 光学特性の測定装置 |
CN105372266A (zh) * | 2015-12-01 | 2016-03-02 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 一种碲锌镉晶片腐蚀形貌的快速成像装置及方法 |
CN106051623A (zh) * | 2016-07-21 | 2016-10-26 | 中导光电设备股份有限公司 | 一种多光谱led照明检测装置及其检测方法 |
PL443439A1 (pl) * | 2023-01-09 | 2024-07-15 | Politechnika Warszawska | Urządzenie i sposób jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3407754A1 (de) * | 1984-03-02 | 1985-09-12 | Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim | Geraet zur bestimmung des diffusen reflexionsvermoegens einer probenflaeche kleiner abmessungen |
JPS62212674A (ja) * | 1986-03-14 | 1987-09-18 | Ricoh Co Ltd | 電子写真記録装置 |
JPH01174492A (ja) * | 1987-09-11 | 1989-07-11 | Casio Comput Co Ltd | 情報カ−ドおよびその製造装置 |
US4945228A (en) | 1989-03-23 | 1990-07-31 | Owens-Illinois Glass Container Inc. | Inspection of container finish |
JP3072998B2 (ja) * | 1990-04-18 | 2000-08-07 | 株式会社日立製作所 | はんだ付け状態検査方法及びその装置 |
JP2763839B2 (ja) * | 1991-11-28 | 1998-06-11 | 株式会社三協精機製作所 | イメージスキャナ |
JPH05231837A (ja) * | 1991-12-25 | 1993-09-07 | Toshiba Corp | 形状測定方法及び装置 |
JPH0618245A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-25 | Mazda Motor Corp | 表面状態検査装置 |
JP2554431B2 (ja) | 1992-11-05 | 1996-11-13 | ヤマハ発動機株式会社 | 実装機の部品吸着状態検出装置 |
US5406060A (en) * | 1993-05-06 | 1995-04-11 | Opticon Inc. | Bar code reader for sensing at an acute angle |
DE4434168B4 (de) | 1994-09-24 | 2004-12-30 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Messung und Auswertung von spektralen Strahlungen und insbesondere zur Messung und Auswertung von Farbeigenschaften |
JP3657694B2 (ja) * | 1995-03-31 | 2005-06-08 | リンテック株式会社 | 照明装置 |
JPH09138121A (ja) * | 1995-11-15 | 1997-05-27 | Matsushita Electric Works Ltd | 表面検査装置 |
CA2166356C (en) * | 1995-12-29 | 2002-01-29 | Albert John Kerklaan | Universally directionally adjustable optical transmitter and receiver assembly |
JP3451526B2 (ja) * | 1996-10-25 | 2003-09-29 | オムロン株式会社 | 光学式センサ装置 |
JPH11183389A (ja) * | 1997-12-18 | 1999-07-09 | Lintec Corp | 観測装置 |
JP3410013B2 (ja) * | 1998-03-09 | 2003-05-26 | 株式会社日立製作所 | 欠陥または異物の検査方法及びその装置 |
JPH11295047A (ja) * | 1998-04-06 | 1999-10-29 | Omron Corp | 照明装置 |
US6177954B1 (en) * | 1998-05-29 | 2001-01-23 | Northeast Robotics Llc | Miniature inspection system |
JP3843636B2 (ja) * | 1999-02-22 | 2006-11-08 | 富士ゼロックス株式会社 | 光量測定装置及びカラー画像形成装置 |
JP2001148769A (ja) * | 1999-09-07 | 2001-05-29 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像読取方法および装置ならびに画像データの欠陥判別方法 |
DE19962779B4 (de) * | 1999-12-23 | 2009-06-25 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung zur quantifizierten Bestimmung der Qualität von Oberflächen |
-
2001
- 2001-10-09 DE DE10149780.6A patent/DE10149780B4/de not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-10-09 JP JP2002296532A patent/JP4729235B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-10-09 US US10/267,578 patent/US7006229B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2010
- 2010-04-28 JP JP2010103550A patent/JP2010164587A/ja active Pending
- 2010-04-28 JP JP2010103551A patent/JP4938879B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010164587A (ja) | 2010-07-29 |
DE10149780B4 (de) | 2019-09-05 |
JP4729235B2 (ja) | 2011-07-20 |
US20030151746A1 (en) | 2003-08-14 |
JP2010164588A (ja) | 2010-07-29 |
US7006229B2 (en) | 2006-02-28 |
DE10149780A1 (de) | 2003-04-30 |
JP2003222594A (ja) | 2003-08-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4938879B2 (ja) | 測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法 | |
US6975404B2 (en) | Device and process for the determination of the properties of reflective bodies | |
US6842250B2 (en) | Device for a quantified determination of the quality of surfaces | |
US7679756B2 (en) | Device for a goniometric examination of optical properties of surfaces | |
US7276719B2 (en) | Device for a goniometric examination of the optical properties of surfaces | |
US7688447B2 (en) | Color sensor | |
JP2016001198A (ja) | 光学的表面特性の検査装置および検査方法 | |
KR101279066B1 (ko) | 코팅 처리의 광학 모니터링을 위한 측정 시스템 | |
JP2012255781A (ja) | 反射光の基準測定装置及びその装置の較正方法 | |
KR101987506B1 (ko) | 측정 장치 및 측정 방법 | |
KR101533588B1 (ko) | 발광 소자 불량 검출 장치 및 방법 | |
KR100460972B1 (ko) | 핸드-헬드적외선분광계를사용한폐기카펫확인방법및장치 | |
JP2009510426A (ja) | ディスク状対象物の複数画像の記録装置 | |
JP2006162601A (ja) | 表面特性を特定する装置 | |
KR20050016248A (ko) | 개선된 실시간 각분광 광도계 | |
US7566894B2 (en) | Device and method for the quantified evaluation of surface characteristics | |
JP5387979B2 (ja) | リニアリティ検査装置及びリニアリティ検査方法 | |
US7430042B2 (en) | Device and method for determining the properties of surfaces | |
KR101996023B1 (ko) | 조명 시스템 | |
JP3402524B2 (ja) | 三次元分光測色器 | |
JP3556324B2 (ja) | ホログラム検査装置及び方法 | |
CN114354565A (zh) | 一种半积分球测样系统 | |
WO2018020779A1 (ja) | 光計測装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100428 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110920 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111219 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120124 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120223 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150302 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4938879 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |