PL443439A1 - Urządzenie i sposób jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych - Google Patents

Urządzenie i sposób jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych

Info

Publication number
PL443439A1
PL443439A1 PL443439A PL44343923A PL443439A1 PL 443439 A1 PL443439 A1 PL 443439A1 PL 443439 A PL443439 A PL 443439A PL 44343923 A PL44343923 A PL 44343923A PL 443439 A1 PL443439 A1 PL 443439A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
image
aluminum profile
roughness
light
illuminator
Prior art date
Application number
PL443439A
Other languages
English (en)
Inventor
Cezary Jasiński
Łukasz Morawiński
Andrzej Kochański
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL443439A priority Critical patent/PL443439A1/pl
Publication of PL443439A1 publication Critical patent/PL443439A1/pl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T1/00—General purpose image data processing
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/10—Segmentation; Edge detection
    • G06T7/13—Edge detection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/10—Segmentation; Edge detection
    • G06T7/136—Segmentation; Edge detection involving thresholding
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/40—Analysis of texture
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8812—Diffuse illumination, e.g. "sky"
    • G01N2021/8816—Diffuse illumination, e.g. "sky" by using multiple sources, e.g. LEDs

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

Przedmiotem zgłoszenia jest urządzenie do jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych, zwłaszcza profili aluminiowych wyciskanych współbieżnie, zawierające źródło światła oraz detektor obrazu połączony z analizatorem, charakteryzuje się tym, że źródłem światła jest oświetlacz (2) umieszczony nad profilem aluminiowym (1), zawierający diody elektroluminescencyjne LED oraz dyfuzor (3), przy czym oświetlacz (2) ma kształt półokręgu. Przedmiotem zgłoszenia jest także sposób jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych za pomocą urządzenia do jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych. Sposób obejmuje etapy, gdy oświetlacz (2) emituje wiązkę światła oświetlającą profil aluminiowy (1), który to profil aluminiowy (l) przemieszcza się w kierunku poprzecznym do oświetlacza (2), wiązka światła odbija się od powierzchni profilu aluminiowego (1) i jest odbierana przez detektor (4) obrazu, rejestrowany obraz przez detektor (4) obrazu przesyłany jest do analizatora (5), w którym następuje progowanie i dylatacja obrazu w celu wyznaczenia obszaru poszukiwania profilu aluminiowego (1) oraz jego krawędzi zewnętrznych, odbywa się analiza rozkładu jasności pikseli w oparciu o odchylenie standardowe, prowadzona wzdłuż linii (8) prostopadłej do zarejestrowanej linii światła (9), której położenie określone jest obszarem poszukiwania dla oceny chropowatości wyciskanego profilu aluminiowego (1), jednocześnie na obrazie lokalizowany jest profil aluminiowy (1) w obszarze poszukiwania z wykorzystaniem znormalizowanej korelacji oraz wzorca z obrazu zarejestrowanego w poprzednim etapie, następuje pobieranie z obrazu linii wzdłuż linii światła (9), a następnie tworzony jest obraz wynikowy wyciskanego profilu aluminiowego (1) na podstawie kolejno zarejestrowanych linii, a także następuje progowanie i dylatacja obrazu wynikowego oraz analiza geometryczna obiektu wykrytego w miejscu zabrudzenia i obiektu wykrytego w miejscu przegrzania na obrazie wynikowym do detekcji wad wyciskanego profilu aluminiowego (1).
PL443439A 2023-01-09 2023-01-09 Urządzenie i sposób jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych PL443439A1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL443439A PL443439A1 (pl) 2023-01-09 2023-01-09 Urządzenie i sposób jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL443439A PL443439A1 (pl) 2023-01-09 2023-01-09 Urządzenie i sposób jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL443439A1 true PL443439A1 (pl) 2024-07-15

Family

ID=91899595

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL443439A PL443439A1 (pl) 2023-01-09 2023-01-09 Urządzenie i sposób jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL443439A1 (pl)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003222594A (ja) * 2001-10-09 2003-08-08 Byk Gardner Gmbh 測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法
WO2006085618A1 (ja) * 2005-02-10 2006-08-17 Central Glass Co., Ltd. ガラス板の端面の欠陥検出装置および検出方法
CN105492862A (zh) * 2013-07-01 2016-04-13 萨科希瑞斯先进控制有限公司 用于光学地形状检测和/或检查物体的方法和设备

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003222594A (ja) * 2001-10-09 2003-08-08 Byk Gardner Gmbh 測定面を照明するための装置、ならびに物体の視覚的特性を特定するための装置および方法
WO2006085618A1 (ja) * 2005-02-10 2006-08-17 Central Glass Co., Ltd. ガラス板の端面の欠陥検出装置および検出方法
CN105492862A (zh) * 2013-07-01 2016-04-13 萨科希瑞斯先进控制有限公司 用于光学地形状检测和/或检查物体的方法和设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11830240B2 (en) Adversarial training method for noisy labels
RU2727913C1 (ru) Способ контроля, способ контроля и передачи информации, способ изготовления, включающий способ контроля, устройство контроля и производственная установка
JP2010107254A (ja) Ｌｅｄチップ検査装置、ｌｅｄチップ検査方法
WO2022153852A1 (ja) 画像解析装置、画像解析方法及びプログラム
CN111239142A (zh) 膏体外观缺陷检测设备及方法
TW201910753A (zh) 自動光學檢測方法
CN106226270B (zh) 检测图像传感器表面脏污缺陷的方法
CN113533344A (zh) 一种光学检测装置及方法
US20200333260A1 (en) Appearance inspection apparatus and appearance inspection method
KR20080103403A (ko) 패턴 검사 장치 및 패턴 검사 방법
PL443439A1 (pl) Urządzenie i sposób jednoczesnej oceny chropowatości oraz detekcji wad na powierzchni profili aluminiowych
JP2010085166A (ja) プリプレグ欠点検査方法
MX2022008936A (es) Dispositivo de inspeccion de superficie, metodo de inspeccion de superficie, metodo de fabricacion de material de acero, metodo de gestion de calidad del material de acero, e instalacion de fabricacion para material de acero.
JP2007040913A (ja) 木材の検査方法及び装置及びプログラム
CN105572133B (zh) 瑕疵检测方法及其装置
JP2005291845A (ja) 表面欠陥検査装置
JP2009287980A (ja) 外観検査装置
KR102632169B1 (ko) 유리기판 검사 장치 및 방법
JP2020034345A (ja) 検査システム、検査方法
BR112020024228A2 (pt) aparelho de medição de brilho de grãos
KR102117697B1 (ko) 표면검사 장치 및 방법
JP2003240732A (ja) 金めっき欠陥検査装置
JP4371883B2 (ja) 検査用照明光源ユニットとこの光源ユニットを用いた表面欠陥検査装置
JP6409606B2 (ja) キズ欠点検査装置およびキズ欠点検査方法
JP2000275033A (ja) 表面欠陥検査装置