JP4915869B2 - 光半導体装置の製造方法 - Google Patents
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〔1〕 樹脂シートAと、該樹脂シートA中に不連続に充填されてなる複数の樹脂層Bと、該樹脂層B中に充填されてなる樹脂層Cとを含んでなる光半導体素子封止用シートであって、前記樹脂層Bが紫外線吸収剤を含有し、前記樹脂層Cが蛍光体を含有し、その一端がシート表面に露出してなる光半導体素子封止用シートを用いて、前記樹脂層Cと基板に搭載された複数の光半導体素子とを対向させて、該素子を前記樹脂層C内に埋設することを特徴とする、光半導体装置の製造方法、ならびに
〔2〕 前記〔1〕記載の製造方法に用いる、光半導体素子封止用シート
に関する。
(第1層の調製)
エポキシ当量7500のビスフェノールA型のエポキシ樹脂(エピコートEP1256B40、ジャパンエポキシレジン社製)50重量部、エポキシ当量260の脂環型のエポキシ樹脂(EHPE3150、ダイセル化学社製)30重量部、4-メチルヘキサヒドロ無水フタル酸(硬化剤、MH-700、新日本理化社製)20重量部、2-メチルイミダゾール(硬化促進剤、四国化成社製)1.2重量部、サンコウエポクリーン(酸化防止剤、HCA、Sanko corp.)1重量部、K-NOX-BHT(酸化防止剤、共同ケミカル社製)1重量部、及びTPP-R(酸化防止剤、共同薬品社製)1重量部を、メチルエチルケトンに50重量%濃度になるように添加して、40℃で1時間攪拌することにより、塗工用エポキシ樹脂溶液を調製した。
ポリジメチルシロキサンを主成分とするシリコーンエラストマー(Elastosil RT601、旭ワッカー社製)100重量部に対して、紫外線吸収剤として、300〜400nmの紫外吸収スペクトルを有するZnOの粉末(堺化学社製)を10、20又は40重量部を添加、分散して、第2層用の樹脂B1-1〜B1-3を得た。
ポリジメチルシロキサンを主成分とするシリコーンエラストマー(Elastosil RT601、旭ワッカー社製)100重量部に対して、380〜400nmの励起波長で励起することのできる蛍光体(サイアロン、発光スペクトル:596nm)20重量部を添加、分散して、第3層用の樹脂C1を得た。
得られた樹脂シートA1の上に、シリコーン離型処理したPETセパレータ(MRX188、ダイヤホイル社製)を積層して、150℃で10秒圧着後、PETセパレータを剥離して凹部を形成した。その後、第2層用の樹脂B1-1〜B1-3を前記凹部に厚み:200μmとなるようにそれぞれ注入し、室温(25℃)で半日硬化させた。
紫外線吸収剤として、ZnOの粉末を10、20又は40重量部を添加するのに代えて、270〜400nmの紫外吸収スペクトルを有するベンゾフェノン系の紫外線吸収剤「SB107」(2,2'-ジヒドロキシ-4,4'-ジメトキシベンゾフェノン、シプロ化成社製)を5、10又は20重量部添加する以外は、封止用シート製造例1と同様にして、一体型封止用シートB1〜B3を得た。得られたシートの物性を表1に示す。
紫外線吸収剤として、ZnOの粉末を10、20又は40重量部を添加するのに代えて、250〜400nmの紫外吸収スペクトルを有するベンゾトリアゾール系の紫外線吸収剤「SB707」(2-(2-ヒドロキシ-4-オクチルオキシフェニル)-2H-ベンゾトリアゾール、シプロ化成社製)を5、10又は20重量部添加する以外は、封止用シート製造例1と同様にして、一体型封止用シートC1〜C3を得た。得られたシートの物性を表1に示す。
紫外線吸収剤として、ZnOの粉末を10、20又は40重量部、第2層に添加するのに代えて、250〜400nmの紫外吸収スペクトルを有するベンゾトリアゾール系の紫外線吸収剤「SB707」(2-(2-ヒドロキシ-4-オクチルオキシフェニル)-2H-ベンゾトリアゾール、シプロ化成社製)を合わせて10重量部、第1層を構成する各ベースシートに添加する以外は、封止用シート製造例1と同様にして、一体型封止用シートD1を得た。得られたシートの物性を表1に示す。なお、第1層の各ベースシートに含有される紫外線吸収剤は全て同じ量である必要はなく、合計して上記の含有量で第1層に含有されればよい。
紫外線吸収剤として、ZnOの粉末を10、20又は40重量部を添加するのに代えて、何も添加しない以外は、封止用シート製造例1と同様にして、一体型封止用シートE1を得た。得られたシートの物性を表1に示す。
次に、得られた封止用シートを用いて、光半導体装置を製造する。即ち、表1に示す封止用シートをLED素子(発光スペクトル:395nm、CREE社製)が搭載されている基板に、第3層がLED素子に接触するように積層し、真空ラミネータ(V130、ニチゴーモートン社製)を用いて160℃、真空引き60秒、プレス240秒、0.5MPaで加圧成型し、実施例1〜9及び比較例1の光半導体装置を得た。
各実施例及び比較例のLED装置に50mAの電流を流し、電流を流した直後の発光量を瞬間マルチ測光システム(MCPD-3000、大塚電子社製)により測定し、350〜500nm、及び500〜750nmの波長領域における発光量を測定し、積分値として算出した。一方、一体型封止用シートE1を用いて、実施例1と同様に製造したLED装置(以下、参考装置という)においても、上記と同様にして発光量を測定した(350〜500nm:1.07a.u.、500〜750nm:1.02a.u.)。得られた積分値を用いて、下記の式に従って、各波長領域における吸収率をそれぞれ算出し、発光性を評価した。なお、350〜500nmの波長領域における吸収率が40%以上であり、500〜750nmの波長領域における吸収率が80%以下であるものが、発光性が良好と判断した。
吸収率(%)=(参考装置の発光量積分値−実施例又は比較例の発光量積分値/参考装置の発光量積分値)×100
各実施例及び比較例のLED装置に200mAの電流を流し、試験開始直後の発光量を瞬間マルチ測光システム(MCPD3000、大塚電子社製)を用いて測定した。その後、電流を流した状態で放置し、72時間経過後の発光量を同様にして測定し、下記の式に従って発光量の残存率を算出し、紫外線劣化を評価した。なお、発光量の残存率が80%以上のものが紫外線による劣化が少ないと判断した。
発光量の残存率(%)=(72時間経過後の発光量/試験開始直後の発光量)×100
2 樹脂層B
3 樹脂層C
4 光半導体素子
5 基板
Claims (8)
- 樹脂シートAと、該樹脂シートA中に不連続に充填されてなる複数の樹脂層Bと、該樹脂層B中に充填されてなる樹脂層Cとを含んでなる光半導体素子封止用シートであって、前記樹脂層Bが紫外線吸収剤を含有し、前記樹脂層Cが蛍光体を含有し、その一端がシート表面に露出してなる光半導体素子封止用シートを用いて、前記樹脂層Cと基板に搭載された複数の光半導体素子とを対向させて、該素子を前記樹脂層C内に埋設することを特徴とする、光半導体装置の製造方法。
- 紫外線吸収剤が、ベンゾトリアゾール系有機化合物、ベンゾフェノン系有機化合物、ZnO、及びTiO2からなる群より選ばれる少なくとも1種である、請求項1記載の製造方法。
- 蛍光体の蛍光スペクトルと紫外線吸収剤の吸収スペクトルが、重複するスペクトル領域を有さない、請求項1又は2記載の製造方法。
- 樹脂層Bがシリコーン樹脂、熱可塑性ポリイミド、及びヘテロシロキサンからなる群より選ばれる少なくとも1種からなる、請求項1〜3いずれか記載の製造方法。
- 樹脂層Cがシリコーン樹脂、ヘテロシロキサン、及び熱可塑性ポリイミドからなる群より選ばれる少なくとも1種からなる、請求項1〜4いずれか記載の製造方法。
- 樹脂シートAがエポキシ樹脂からなる、請求項1〜5いずれか記載の製造方法。
- 350〜500nmの波長を有する紫外線の照射を50%以上抑制する、請求項1〜6いずれか記載の製造方法。
- 請求項1〜7いずれか記載の製造方法に用いる、光半導体素子封止用シート。
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