JP4911121B2 - バックアップピンの設置方法 - Google Patents

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Description

本発明は、バックアップピンの設置方法に関するものである。
バックアップピンは基板をバックアップするための複数の棒状の部材であり、上方から加わる力によって基板が容易に変形しないような位置に設置される。バックアップピンの設置位置を決めるときには、基板に既に実装されている電子部品と干渉しないように配慮する必要がある(特許文献1参照)。また、バックアップピンは、反りが生じていない平面状態にある基板を水平にバックアップできるように全て同じ長さに揃えられているので、結果として基板の下反りをある程度まで矯正する役割を果たしている。
特開2004−221165号公報
両面実装用の基板を扱う場合、最初に第1の面に電子部品を実装し、その後に基板を裏返して第2の面に電子部品を実装する。表面実装の分野ではリフロー工程を経て基板に電子部品を半田付けするのが一般的であるため、高温に曝された基板には熱変形による反りが生じることがある。これにより上方に反り上がった部分は、基板を裏返した場合に下反りとなる部分であるため、この部分に接触するようにバックアップピンを設置すると、基板の反りを効果的に矯正することができる。
本発明は、基板の反りを効果的に矯正することができるバックアップピンの設置方法を提供することを目的とする。
本発明のバックアップピンの設置方法は、基板の第1の面と第2の面に電子部品を両面実装する電子部品実装装置において、基台の孔部に起立姿勢で立設されたバックアップピンの上端が基板の面に接触することで基板をバックアップする基板バックアップ装置におけるバックアップピンの設置方法であって、高温に曝されるリフロー工程を経て第1の面に電子部品が実装された基板の前記第1の面の高さを実装状態検査装置により計測する工程と、前記第1の面の全領域のうち電子部品が実装されていない非実装領域内において周囲の高さより高い箇所を特定する工程と、前記第1の面の裏側の第2の面に電子部品を実装する工程において前記特定した箇所に接触するようにバックアップピンを設置する工程を含む。
本発明によれば、両面実装工程において先に第1の面に電子部品が実装された基板の反りを矯正し、第2の面に対する実装品質を向上させることができる。
添付した図面を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。図1は本発明の実施の形態の電子部品実装装置の構成を示すブロック図、図2は本発明の実施の形態の基板バックアップ装置を示す斜視図、図3は本発明の実施の形態の基板バックアップ装置により基板を固定した状態を示す側面図、図4は本発明の実施の形態の実装状態検査装置における高さ測定の処理フロー図である。
最初に、図1のブロック図を参照しながら電子部品実装装置の構成と機能について説明する。電子部品実装装置1は、基板に半田を印刷する印刷装置2と、印刷後の半田の状態(量や位置、形状など)を検査する印刷状態検査装置3と、印刷された半田の上に電子部品を搭載する電子部品搭載装置4と、搭載された電子部品の状態(電子部品の有無や位置、向きなど)を検査する搭載状態検査装置5と、半田を溶融させて電子部品を基板に半田
付けするリフロー装置6と、半田付けされた電子部品の状態(電子部品の有無や位置、向きなど)を検査する実装状態検査装置7と、これらの装置2〜7の動作制御を行う管理コンピュータ8で構成されている。管理コンピュータ8にはモニタ9が付属しており、各装置2〜7の動作状況や検査結果などを表示し、オペレータに情報を提示する。
電子部品実装装置1には、各装置2〜7を一組のラインとして二組のラインが用意されている。すなわち、電子部品実装装置1は、各装置2〜7と同等の各装置21〜71を備えており、一方のライン(装置2〜7)で基板の第1の面に電子部品を実装し、これを裏返した第2の面に他方のライン(装置21〜71)で電子部品を実装するという連続実装が可能な両面実装システムを構築している。
次に、図2、図3を参照しながら基板バックアップ装置の構成と機能について説明する。基板バックアップ装置10は、印刷装置2、電子部品搭載装置4において基板を固定するために用いられる装置であり、上部に平坦面を有する基台11と、基台11の上部に設置するバックアップピン12で構成されている。バックアップピン12は細長い円柱形の剛体であり、一方の端部(下端)を基台11の上部に複数設けられた孔13に挿入することで基台11に起立姿勢で設置される。なお、バックアップピン12に磁石14を装着し、少なくとも上部に磁性材を配した基台11に磁力によって固定されるようにしてもよい。
バックアップピン12は、処理を施す面の裏側の面に他方の端部(上端)が接触することで基板15をバックアップする。両面実装の場合、第2の面15bに実装を行うときには第1の面15aに既に電子部品16が実装されているので、バックアップピン12は電子部品16と干渉しないように設置する必要がある。
基台11に立設されたバックアップピン12は、基台11の上昇により基板15を下方から押圧し、これにより基板15は搬送レールに設けられたストッパ17に両側が押しつけられて固定される。このとき、基板15に下方に反った部分15cが存在していても、この部分15cに接触するようにバックアップピン12aが設置されていれば、他のバックアップピン12がバックアップする部分と同じ高さまで押し上げられ、結果として反りが矯正される。半田印刷時や電子部品搭載時には、基板15の高さ管理が重要であり、基板15の反りや変形等は品質管理上好ましくない影響を与えるので、バックアップピン12を適当な位置に設置して反りや変形を矯正することが重要である。
基板15の反りや変形は、リフロー装置6で高温に曝された結果として生じることが多いので、実装状態検査装置7では、基板の第1の面の全面の高さ測定を行い、電子部品16の有無や位置、向きに関する情報を取得するだけでなく、電子部品16が実装されていない領域の高さに関する情報を取得する。
次に、図4を参照しながら実装状態検査装置7が実行する高さ測定に関する処理工程について説明する。実装状態検査装置7は、リフロー装置6を経て第1の面に複数の電子部品16が半田付けされた基板15を受け取り、第1の面の高さを測定する(ST1)。第1の面には複数の電子部品16が実装されているので、測定された高さデータには電子部品16の高さデータも含まれている。次に、電子部品16の高さデータ以外の高さデータ、すなわち、第1の面の全領域のうち電子部品16が実装されていない領域(非実装領域)について測定された高さデータのみを全データから抽出する(ST2)。次に、抽出した高さデータを分析し、非実装領域のうち周囲より高くなっている箇所を特定する(ST3)。
どの程度の高さの差がある場合に周囲より高くなっている箇所を特定するのかについて
は、基板15に要求される品質基準によって決定すべきものである。基板15に上反りが生じている場合には、反りの頂点は周囲より高くなっているので、この頂点が周囲より高くなっている箇所として特定されることになる。次に、特定された箇所に関するデータに基づいて作成したバックアップピン12の設置に必要な情報をモニタ9に表示させる(ST4)。
モニタ9には、基板15の第2の面に実装を行う工程においてバックアップピン12を設置すべき位置に最も近い位置にある孔13を特定し、これを表示する。先に述べたように、バックアップピン12には基板15の反りを矯正する機能があるので、第1の面で上反りが認められた場合には、その頂点にバックアップピン12の上端が接触することができるような位置にバックアップピン12を設置することが、反りを効果的に矯正の上で重要である。
基板15に生じた反りは、微小なものであれば肉眼では判別できない場合があり、顕著なものでなければパックアップピン12を適切な位置に設置するのは困難であったが、本実施の形態では、モニタ9に表示された情報に基づいてバックアップピン12を設置するだけで反りを効果的に矯正することができ、第2の面をできるだけ平坦にすることができる。
本発明は、リフロー工程を経た基板に生じた反りを矯正することができるので、両面実装の分野に有用である。
本発明の実施の形態の電子部品実装装置の構成を示すブロック図 本発明の実施の形態の基板バックアップ装置を示す斜視図 本発明の実施の形態の基板バックアップ装置により基板を固定した状態を示す側面図 本発明の実施の形態の実装状態検査装置における高さ測定の処理フロー図
符号の説明
12 バックアップピン
15 基板
15a 第1の面
15b 第2の面
16 電子部品

Claims (1)

  1. 基板の第1の面と第2の面に電子部品を両面実装する電子部品実装装置において、基台の孔部に起立姿勢で立設されたバックアップピンの上端が基板の面に接触することで基板をバックアップする基板バックアップ装置におけるバックアップピンの設置方法であって、
    高温に曝されるリフロー工程を経て第1の面に電子部品が実装された基板の前記第1の面の高さを実装状態検査装置により計測する工程と、前記第1の面の全領域のうち電子部品が実装されていない非実装領域内において周囲の高さより高い箇所を特定する工程と、前記第1の面の裏側の第2の面に電子部品を実装する工程において前記特定した箇所に接触するようにバックアップピンを設置する工程を含むバックアップピンの設置方法。
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