JP4910141B2 - エラートレラントが可能な半導体集積回路 - Google Patents
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Description
本発明は、半導体集積回路に関し、特に、エラートレラントが実現可能なものに関する。
従来、α線や中性子などの放射線によるソフトエラーの発生は、宇宙空間や航空機において使用される半導体集積回路に特有の問題とされていたが、近年の半導体集積回路の更なる高集積化、低電圧化に伴い、地上で使用される半導体集積回路においても放射線によるソフトエラーの発生が無視できなくなってきている。なお、ここで「ソフトエラー」とは、半導体集積回路の動作中に一時的に発生する信号値の誤りをいう。このソフトエラーは時間が経てば正常な信号値に回復するものであって、永続的に信号値が誤り続けるハードエラーとは区別されるものである。
従来の半導体集積回路におけるソフトエラー対策は主としてメモリシステムについてであったが、近年、論理回路部(演算回路部+ラッチ回路部)においてもソフトエラーが発生するようになっているためここでのソフトエラー対策も検討されつつある。
従来のソフトエラー対策に関する技術としては、例えば、下記特許文献1及び2には、3つの組み合わせ回路部と、この3つの組み合わせ回路部に接続される多数決回路と、この多数決回路に接続されるラッチ回路部と、を有する半導体集積回路が開示されている。この方法は、しばしば三重系フォールトトレラント法とも呼ばれ、ソフトエラーだけでなくハードエラーにも対応可能であり、汎用性が高いといった利点を有し、古くから広く使用されている。
また、下記非特許文献1には、組み合わせ回路部と、組み合わせ回路部に接続される第一の遅延回路部(遅延時間δ)及び第二の遅延回路部(遅延時間2δ)と、組み合わせ回路部、第一の遅延回路部及び第二の遅延回路部に接続される多数決回路部と、この多数決回路部に接続されるラッチ回路部と、を有する半導体集積回路が開示されている。
更に、下記非特許文献2には、組み合わせ回路部と、この組み合わせ回路部に接続される遅延回路部と、組み合わせ回路部及び遅延回路部に接続されたラッチ回路部と、を有し、ラッチ回路部は、組み合わせ回路部からの出力と遅延回路部からの出力とを比較し、これらの出力の値が一致しない場合にはこの出力の値を記録しない機能を有する半導体集積回路が開示されている。
しかしながら、上記特許文献1、2に記載の技術では、一のエラートレラントを実行するためには組み合わせ回路部を3個必要としているため面積の増大をもたらしてしまうといった課題を有する。
また、上記非特許文献1に記載の技術では、異なる遅延時間を有する二つの遅延回路を必要とするため、回路の動作速度が低下してしまうといった課題を有する。なお、上記非特許文献2に記載の技術においても、遅延回路とラッチ回路部による遅延が必要となるため、上記非特許文献1に記載の技術と同様に動作速度が低下してしまうといった課題を有する。
そこで、本発明は、面積の増大及び動作回路の低下を防止することができるエラートレラント方法及びそれを使用可能な半導体集積回路を提供することを目的とする。
即ち、上記課題を解決するための第一の手段として、第一の組み合せ回路部と、第一の組み合わせ回路部に接続される第一のラッチ回路部及び第二のラッチ回路部と、第二の組み合わせ回路部と、第一の組み合わせ回路部に接続される第三のラッチ回路部と、第一のラッチ回路部、前記第二のラッチ回路部、及び、前記第三のラッチ回路部に接続される多数決回路部と、を有する半導体集積回路とする。
また、本手段において、限定されるわけではないが、第二の組み合わせ回路部に接続される第四のラッチ回路部と、を有し、多数決回路部は、第二のラッチ回路部にも接続されていることが好ましく、更に、多数決回路部に接続される第五のラッチ回路部と、を有することがより好ましい。また、第一のラッチ回路部、第二のラッチ回路部、第三のラッチ回路部、及び、第四のラッチ回路部、に接続されるハードエラー検出回路と、を有することもより好ましい。
以上、本発明により、面積の増大及び動作回路の低下を防止可能なエラートレラント方法及びそれを使用可能な半導体集積回路を提供することができる。
以下、本発明の実施形態について図面を参照しつつ説明する。ただし、本発明は多くの異なる態様で実施することが可能であり、以下に示す実施形態に限定されるものではない。なお、本明細書においては同一又は同様の機能を有する部分には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
(実施形態1)
図1は、本実施形態に係る半導体集積回路(以下「本半導体集積回路」という。)の機能ブロックを示す図である。本実施形態に係る半導体集積回路は、上記機能ブロックで表現される限りにおいて具体的な構成については限定されず周知の構成を採用することができる。限定されるわけではないが、例えばシリコン基板上に不純物をドープしてp型、n型の領域を形成し、それらに直接又はゲート絶縁膜を介して電極を取り付けてMOS型トランジスタを構成し、更にそれらを複数接続しあうことで実現することができる。
図1は、本実施形態に係る半導体集積回路(以下「本半導体集積回路」という。)の機能ブロックを示す図である。本実施形態に係る半導体集積回路は、上記機能ブロックで表現される限りにおいて具体的な構成については限定されず周知の構成を採用することができる。限定されるわけではないが、例えばシリコン基板上に不純物をドープしてp型、n型の領域を形成し、それらに直接又はゲート絶縁膜を介して電極を取り付けてMOS型トランジスタを構成し、更にそれらを複数接続しあうことで実現することができる。
図1で示すとおり、本半導体集積回路は、第一の組み合わせ回路部C1と、この第一の組み合わせ回路部C1に接続される第一のラッチ回路部L1及び第二のラッチ部L2と、第二の組み合わせ回路部C2と、第二の組み合わせ回路部C2に接続される第三のラッチ回路部L3と、第一乃至第三のラッチ回路部に接続される多数決回路部Vと、を有して構成されている。
第一の組み合わせ回路部C1は、所定の入力を受け付け、一定の結果を出力することができる回路部(論理回路)であって、限定されるわけではないが、例えばAND回路、NAND回路、インバータ回路等を有して構成可能である。
第二の組み合わせ回路部C2は、第一の組み合わせ回路部と同一の機能を実現することができる回路部であり、例えば、第一の組み合わせ回路部C1と第二の組み合わせ回路部C2に同一の値がそれぞれ入力された場合、第一の組み合わせ回路部C1及び第二の組み合わせ回路部C2は同一の結果を出力する。第二の組み合わせ回路部C2の構成としては、上記機能を有する限りにおいて限定されないが、例えば第一の組み合わせ回路部C1と同じ構成であることは好ましい態様である。これにより、一方がソフトエラーを発生させた場合であっても、他方はソフトエラーのない正常な値の出力を行うことができていると考えられ、これにより信頼性を高くすることができる。
第一のラッチ回路部L1は、第一の組み合わせ回路部から入力された値を保持し、所定のタイミングで出力することができる回路部をいう。第一のラッチ回路部L1にはクロック信号を発生させるクロック信号発生回路部CLKに接続されており、第一のラッチ回路部L1は、クロック信号発生回路部CLKが発生するクロック信号CL1(及びクロック信号CL1と反転したクロック信号)に基づき入力された値を出力する。第一のラッチ回路部L1の構成は、上記機能を実現できる限りにおいて限定されることなく周知の構成を採用することができる。例えば図2で示すような構成を採用することができる。なお、図2(A)で示す第一のラッチ回路部L1は、マスターラッチML及びスレイブラッチSLとを有して構成され、スレイブラッチSLのG端子にはクロック信号CL1が入力される一方、マスターラッチMLのG端子にはクロック信号CL1に反転したクロック信号が入力される。なお、この場合においてマスターラッチML及びスレイブラッチSL2は同じ構成を採用することができ、例えば図2(B)で示す構成を採用することができる。
第二のラッチ回路部2は、第一の組み合わせ回路部C1から入力された値を保持し、所定のタイミングで出力することができる回路部をいう。第二のラッチ回路部L2もクロック信号を発生させるクロック信号発生回路部CLKに接続されており、第二のラッチ回路部L2は、クロック信号発生回路部CLKが発生するクロック信号CL2(及びクロック信号CL2と反転したクロック信号)に基づき、入力された値を出力する。クロック信号CL1とクロック信号CL2とは周波数が等しく位相の異なるクロック信号であり、位相のずれの範囲は、限定されるわけではないが、想定されるソフトエラーの発生時間よりも大きく、回路動作に遅延をもたらさない程度であることが好ましく、限定されるわけではないが、0.1ns以上1ns以下の範囲内であることが好ましく、より好ましくは0.1ns以上0.5ns以下の範囲内である。第二のラッチ回路部L2は上記第一のラッチ回路部L1とほぼ同様の機能を有するものであり、同様の機能を有する限りにおいて構成は限定されず、第一のラッチ回路部L1と同じ構成とすることもできるし、異なる構成とすることもできる。
第三のラッチ回路部L3は、第二の組み合わせ回路部C2から入力された値を保持し、所定のタイミングで出力することができる回路部をいう。第三のラッチ回路部L3はクロック信号発生回路部CLKに接続されており、クロック信号CL1と同期する信号(及びこのクロック信号CL1と反転したクロック信号)が入力される。第三のラッチ回路部L3は、上記第一及び第二のラッチ回路部L1、L2とほぼ同様の機能を有するものであり、同様の機能を有する限りにおいて構成は限定されず、第一のラッチ回路L1、第二のラッチ回路L2と同じ構成とすることもできるし、異なる構成とすることもできる。
多数決回路部Vは、少なくとも三以上の数(好ましくは奇数)の値の入力を受け、これら入力される複数の値において、最も多い値を採用することのできる回路部をいう。本実施形態の多数決回路部Vは、第一のラッチ回路部L1、第二のラッチ回路部L2、第三のラッチ回路部L3に接続され、そのそれぞれの出力(三つの出力)を受け付ける構成となっており、多数決回路部Vは、これら複数の出力のうち最も多い値を選択し、その値を出力する。多数決回路Vの構成は、上記機能を実現できる限りにおいて限定されることなく周知の構成を採用することができ、例えば図3の一例で示すように、複数のPMOSトランジスタ、複数のNMOSトランジスタと、を用いて構成することができる。
以上の構成により、本実施形態に係る半導体集積回路は、必要以上の面積の増大、遅延時間の増大を防止することができる。なおこの原理について以下及び図4乃至図6を用いて説明する。図4乃至図6は、時間に対する各回路部の出力の概念図である。
図4の例では、ある時刻teに第一の組み合わせ回路部C1においてソフトエラーが発生し、時刻t1にこのソフトエラーのピークがあるとともにクロック信号CL1が立ち上がっていることを想定する。また、この場合において、クロック信号CL2は、クロック信号CL1より時間δ以上遅れて時刻t2に立ち上がっていることを想定する。
この場合、時刻t1において、第一の組み合わせ回路部C1にはソフトエラーが発生しているため、第一のラッチ回路部L1からはソフトエラーを含む値が出力される。しかし第二の組み合わせ回路部C2においては、ソフトエラーが発生していないため、第三のラッチ回路部L3からは正常な値が出力される。また、第二のラッチ回路部L2はクロック信号CL1の立ち上がり時(t1)より時間δ以上遅れているため、第二のラッチ回路部L2からはソフトエラーが発生する前の正常な値が出力される。従って、第二のラッチ回路部L2及び第三のラッチ回路部L3から正常な値が出力されるため、多数決回路はソフトエラーを含まない正常な値が出力されることになる。
また、図5の例では、ある時刻teに第二の組み合わせ回路部C2においてソフトエラーが発生し、時刻t1にこのソフトエラーのピークがあるとともにクロック信号CL1が立ち上がっていることを想定する。また、この場合において、クロック信号CL2は、クロック信号CL1より時間δ以上遅れて時刻t2に立ち上がっていることを想定する。
この場合、時刻t1において、第一の組み合わせ回路部C1にはソフトエラーが発生していないため、第一のラッチ回路部L1からはソフトエラーを含まない値が出力される。また、第二のラッチ回路部L2においてもソフトエラーが発生していないため、ソフトエラーを含まない値が出力される。一方、第二の組み合わせ回路部においては、時刻t1においてソフトエラーが発生してしまっているため、第酸のラッチ回路L3からの出力にはソフトエラーが含まれてしまっている。しかしこの場合、第一のラッチ回路部L1及び第二のラッチ回路部L2には正常な値が出力されるため、多数決回路はソフトエラーを含まない正常な値が出力されることになる。
また、図6の例では、ある時刻teに第一の組み合わせ回路部C1においてソフトエラーが発生し、時刻t2にこのソフトエラーのピークがあるとともにクロック信号CL2が立ち上がっていることを想定する。また、この場合において、クロック信号CL1は、クロック信号CL2より時間δ以上早く時刻t1に立ち上がっていることを想定する。
この場合、時刻t1において、第一の組み合わせ回路部C1にはソフトエラーは発生していないため、第一のラッチ回路部からはソフトエラーを含まない値が出力される。一方、第二のラッチ回路部L2においては、時刻t2において、ソフトエラーが発生しているため、第二のラッチ回路部L2からはソフトエラーが含まれた値が出力される。なお、第三のラッチ回路部L3においては、第二の組み合わせ回路部C2にはソフトエラーが発生していないため、第三のラッチ回路部L3からはソフトエラーが含まれていない値が出力される。従ってこの場合、第一のラッチ回路部L1及び第三のラッチ回路部L3には正常な値が出力されるため、多数決回路はソフトエラーを含まない正常な値が出力されることになる。
以上のとおり、本実施形態によると、ソフトエラーが生じた場合であっても、そのソフトエラーを除外した正確な値をラッチ回路に出力することができ、従来の技術が説明したように、一のソフトエラートレラントに三つ以上の組み合わせ回路部を必要とせず、しかも遅延回路も一つで済むため、回路部の面積の増大を防止することができるとともに、大幅な回路の動作速度の低下をもたらすこともないといった効果を有する。
(実施形態2)
図7は、本実施形態に係る半導体集積回路の機能ブロックを示す図である。本実施形態においては、実施形態1とほぼ同様の構成であるが、第二の組み合わせ回路部C2に接続される第四のラッチ回路部L4を有し、更に、第一のラッチ回路部L1、第二のラッチ回路部L2、第三のラッチ回路部L3及び第四のラッチ回路部L4に接続されるハードエラー判別回路部Tを有する点が異なる。
図7は、本実施形態に係る半導体集積回路の機能ブロックを示す図である。本実施形態においては、実施形態1とほぼ同様の構成であるが、第二の組み合わせ回路部C2に接続される第四のラッチ回路部L4を有し、更に、第一のラッチ回路部L1、第二のラッチ回路部L2、第三のラッチ回路部L3及び第四のラッチ回路部L4に接続されるハードエラー判別回路部Tを有する点が異なる。
ハードエラー判別回路部Tは、ハードエラーを判別することができる回路であって、本実施形態に係るハードエラー判別回路部Tは、第一のラッチ回路部L1の出力と第二ラッチ回路部L2の出力が等しく、第三のラッチ回路部L3の出力と第四のラッチ回路部L4の出力が等しく、更に、第一のラッチ回路部L1と第三のラッチ回路部L3の出力が等しい場合、ハードエラーであると判断し、その判断を示す出力を行う。本実施形態に係る半導体集積回路は実施形態2よりも回路が複雑になるものの、ハードエラーを検知することができるようになるといった利点を有する。ハードエラー判別回路部Tの構成については、上機能を実現することができる限りにおいて限定されず、例えば、図8に示す構成を採用することができる。
本発明に係る半導体集積回路は、あらゆる電化製品、情報機器において使用が可能であり、より具体的には情報家電、計算機、移動体通信端末として使用可能である。更には、ソフトエラーの発生しやすい環境でより効果を発揮し、航空機器、宇宙空間で用いる機器に用いることができる。
C1…第一の組み合わせ回路部、C2…第二の組み合わせ回路部、L1…第一のラッチ回路部、L2…第二のラッチ回路部、L3…第三のラッチ回路部、L4…第四のラッチ回路部、T…ハードエラー判別回路部
Claims (4)
- 第一の組み合せ回路部と、
前記第一の組み合わせ回路部に接続される第一のラッチ回路部及び第二のラッチ回路部と、
第二の組み合わせ回路部と、
前記第一の組み合わせ回路部に接続される第三のラッチ回路部と、
前記第一のラッチ回路部、前記第二のラッチ回路部、及び、前記第三のラッチ回路部に接続される多数決回路部と、を有する半導体集積回路。 - 前記第二の組み合わせ回路部に接続される第四のラッチ回路部と、を有し、
前記多数決回路部は、前記第二のラッチ回路部にも接続されている請求項1記載の半導体集積回路。 - 前記多数決回路部に接続される第五のラッチ回路部と、を有する請求項1又は2に記載の半導体集積回路。
- 前記第一のラッチ回路部、前記第二のラッチ回路部、前記第三のラッチ回路部、及び、前期第四のラッチ回路部、に接続されるハードエラー検出回路と、を有する請求項2記載の半導体集積回路。
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