JP4908934B2 - 半導体ウェーハ検査装置および半導体ウェーハ検査方法 - Google Patents
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Description
図1は、基本形態の半導体ウェーハ検査装置100を示す構成図である。
NVCモードでは、例えば、E1=−10kV、E2=−9.5kV、E3=−0.2kVに設定する。これにより、対象物ウェーハ6と帯電制御電極5との間に電界分布20を生ずる。帯電制御電極5は、対象物ウェーハ6に比較すると、相対的に負電位であるので、対象物ウェーハ6から発生した二次電子10の一部は、電界分布20の影響を受けて、対象物ウェーハ6に戻される。このモードでは、電界分布20の最適制御が課題であり、このため、対象物ウェーハ6と帯電制御電極5との間隔Dは、例えば1mm程度に設定し(すなわち、後記するPVCモードのときより近くに設定し)、また、一定に保たれていることが重要である。
PVCモードでは、例えば、E1=−10kV、E2=−9.5kV、E3=+12kVに設定する。これにより、対象物ウェーハ6と帯電制御電極5との間に強い電界分布25を生じさせる。帯電制御電極5は、対象物ウェーハ6に比較すると、相対的に強い正電位であるので、発生した二次電子10は加速される。PVCモードでは、電界分布25の強度を強くすることが課題となるため、対象物ウェーハ6と帯電制御電極5の間隔Dを例えば3mmとNVCモードのときより遠くに設定し、対象物ウェーハ6や帯電制御電極5の局所電界の乱れにより放電を発生させないようにすることが重要である。
PVCモードにする場合には(図1,図3参照)、Zステージ8を下方に下げ、間隔Dを3mmに設定し、対物レンズ4の電流値を下げることで焦点距離を長くして対象物ウェーハ6が合焦点位置になるようにする。一方、NVCモードにする場合には(図1,図2参照)、Zステージ8を上方に上げ、間隔Dを1mmに設定し、対物レンズ4の電流値を上げることで焦点距離を短くして対象物ウェーハ6が合焦点位置になるようにする。また、静電チャック9を用いることにより、対象物ウェーハ6の反りが平坦になり、間隔Dが変化することが防止される。このように、間隔Dを検出方式に応じて調整する機能、および間隔Dを一定に保持する機能により、NVCモードおよびPVCモードの両モードにおいて、最適な検出条件を保持できる。
この半導体ウェーハ検査装置100は、電子源1と、電子源1からの一次電子2を偏向するための偏向器3と、一次電子2を絞る対物レンズ4と、電界強度を制御する帯電制御電極5と、対象物ウェーハ6をXY方向に移動させるXYステージ7と、対象物ウェーハ6をZ方向に移動させるZステージ8と、対象物ウェーハ6を保持する静電チャック9と、対象物ウェーハ6の高さを計測するZセンサ30と、一次電子2の照射により発生した二次電子(または反射電子)10を収束させて反射板31上で収束させる収束光学系32と、二次電子(または反射電子)10を受けて再度、二次電子10を発生させる反射板31と、反射板31による二次電子10を検出するセンサ11と、センサ11で検出した信号をデジタル信号に変換するAD変換器12と、デジタル信号を処理して欠陥を判定する画像処理回路13と、判定欠陥を保存し全体を制御する全体制御部14と、ユーザの指示を全体制御部14に伝えるコンソール15と、対象物ウェーハ6の光学像を撮像する光学顕微鏡33と、対象物ウェーハ6と同一の高さに設定した電子光学条件の詳細調整をするための標準試料片34とで構成されている。
検査方法を記載したレシピ情報を全体制御部14内部の記憶部(図示せず)から読み込み(ステップS10)、
対象物ウェーハ6をロードし(ステップS20)、
検査方法に応じてステージ高さを最適に調整するなどして電子光学系の条件を設定し(ステップS30)、
あらかじめ登録されているパターンに計測・座標系を補正するアライメントを行い(ステップS40)、
検出信号量を調整するキャリブレーションを実施後(ステップS50)、
対象物ウェーハ6を順次走査し、検出画像を処理して欠陥を検出する画像検出・欠陥判定をし(ステップS60)、
欠陥情報を全体制御部14の記憶部の検査結果ファイル(図示せず)に記載することにより演算結果を格納し(ステップS70)、
対象物ウェーハ6をアンロードして元のカセットに格納し(ステップS80)、
検査を完了する。
コンソール15からオペレータが指示することで検査する対象物ウェーハ6と検査方法を決め、検査方法に応じて検査方法を記載したレシピ情報を読み込む(ステップS10)。
ローダ(図示せず)は、対象物ウェーハ6をウェーハカセット(図示せず)から取り出し、ノッチまたはオリフラなどの機械的な位置合わせ機構で回転方向を計測し、回転と機械精度範囲内での位置誤差を含んだ状態で静電チャック9上に搭載し、静電チャック9に電圧を印加することでチャックする(ステップS20)。
(1)Zステージ8で高さを調整しているため、NVCモードおよびPVCモードの両方に適切な検出条件で画像検出ができる。
(2)収束光学系32で二次電子10の収束を調整しているので、充分な二次電子10の捕捉効率を確保できる。
(3)Zセンサ30およびZステージ8で対象物ウェーハ6の高さを均一に保持しているため、対象物ウェーハ6の歪みにかかわらず適切な検出条件で検査を実現できる。
この半導体ウェーハ検査装置(図示せず)は、対象物ウェーハ6を搭載するための複数種類のロード・アンロード機構60A,60Bを有している。これらのロード・アンロード機構60A,60Bは、静電チャック9と、おのおの高さの異なるスペーサ40A,スペーサ40Bとを有している。これらのロード・アンロード機構60A,60Bを用いるには、対象物ウェーハ6を搭載した静電チャック9を、高さの異なるスペーサ40Aまたはスペーサ40Bのいずれかに搭載し、このスペーサ40Aまたはスペーサ40Bを、対象物ウェーハ6を搭載した静電チャック9ごと、XYステージ7上に積載する。
この半導体ウェーハ検査装置100Bは、第1実施形態の半導体ウェーハ検査装置100(図4参照)において、Zステージ8の代わりにスペーサ45を具備し、電子光学系46をZ駆動機構上に搭載し、検査条件がNVCモードであるかPVCモードであるかに応じて、電子光学系46全体の高さを調整可能な構成を有する。全体制御部14は、Zセンサ30によって対象物ウェーハ6の高さ情報を検出し、対物レンズ4の励磁電流をフィードバック制御して対物レンズ4の焦点距離を調整する。これにより、Zステージ8(図4参照)なしで、NVCモードおよびPVCモードのいずれの条件にも設定することができ、各モードに応じた最適な検出条件で検査を実現できる。
この半導体ウェーハ検査装置100Cは、第1実施形態の半導体ウェーハ検査装置100(図4参照)において、Zステージ8の代わりにスペーサ45を具備し、帯電制御電極5の帯電制御電極部47をZ駆動機構上に搭載し、検査条件がNVCモードであるかPVCモードであるかに応じて、帯電制御電極部47の高さを調整する構成である。全体制御部14は、Zセンサ30によって対象物ウェーハ6の高さ情報を検出し、対物レンズ4の励磁電流をフィードバック制御して対物レンズ4の焦点距離を調整する。これにより、Zステージ8(図4参照)なしで、NVCモードおよびPVCモードのいずれの条件にも設定することができ、各モードに応じた最適な検出条件で検査を実現できる。
本実施形態では、対象物ウェーハ6の高さを検出するためにZセンサ30を用いて検査時に実時間で高さ計測をしているが、本検査に先立ち、対物レンズ4の励磁電流またはZステージ8の高さを段階的に変更し、高さの異なる複数枚の画像を撮像し、これら複数枚の画像から最適な高さを求めておく。同様の計測を、半導体ウェーハ6上のXY方向について、複数の適切な位置で行っておく。このように、あらかじめ高さ情報を収集しておくことにより、本検査時には実時間で高さを計測することなく、あらかじめ計測した高さ情報に従って高さを補正できる。これにより、Zセンサ30(図4参照)なしで、NVCモードおよびPVCモードのいずれの条件にも設定することができ、各モードに応じた最適な検出条件で検査を実現できる。
図9に、本発明による第2実施形態の半導体ウェーハ検査装置100Eの構成を示す。
この半導体ウェーハ検査装置100Eは、電子源1と、電子源1からの一次電子2を偏向するための偏向器3と、一次電子2を絞る対物レンズ4と、電界強度を制御する帯電制御電極5と、対象物ウェーハ6をXY方向に移動させるXYステージ7と、対象物ウェーハ6をZ方向に移動させるZステージ8と、対象物ウェーハ6を保持するピンチャック50と、対象物ウェーハ6の高さを計測するZセンサ30と、一次電子2の照射にから発生した二次電子(または反射電子)10を収束させて反射板31上で収束させる収束光学系32と、二次電子(または反射電子)10を受けて再度、二次電子10を発生させる反射板31と、反射板31からの二次電子10を検出するセンサ11と、反射板31を介さないで二次電子(または反射電子)10を直接検出する直接検出センサ51と、センサ11と直接検出センサ51の信号を切り替えるスイッチ52およびセンサ11または直接検出センサ51で検出した信号をデジタル信号に変換するAD変換器12と、デジタル信号を処理して欠陥を判定する画像処理回路13と、判定欠陥を保存し全体を制御する全体制御部14と、ユーザの指示を全体制御部14に伝えるコンソール15と、対象物ウェーハ6の光学像を撮像する光学顕微鏡33と、対象物ウェーハ6と同一の高さに設定した電子光学条件の詳細調整をするための標準試料片34とを具備している。
2 一次電子
3 偏向器
4 対物レンズ
5 帯電制御電極
6 対象物ウェーハ
7 XYステージ
8 Zステージ
9 静電チャック
10 二次電子
11 センサ
12 AD変換器
13 画像処理回路
14 全体制御部
15 コンソール
20,25 電界分布
30 Zセンサ
31 反射板
32 収束光学系
33 光学顕微鏡
34 標準試料片
40A,40B,45 スペーサ
46 電子光学系
47 帯電制御電極部
50 ピンチャック
51 直接検出センサ
52 スイッチ
60A,60B ロード・アンロード機構
100,100A,100B,100C,100E 半導体ウェーハ検査装置
Claims (8)
- 一次電子を放出する電子源と、
前記電子源からの一次電子を対象物に照射する照射光学系と、
前記一次電子の照射位置をX方向およびY方向に走査する走査部と、
前記対象物に対して正の電位または負の電位のいずれかになるように制御される帯電制御電極と、
前記二次電子または前記反射電子を検出し検出信号を出力するセンサと、
前記センサからの検出信号を検出画像に変換し所定の参照画像と比較して欠陥を判定する画像処理回路と、
複数の検査条件を記載したレシピ情報から前記対象物ごとに選択する前記検査条件に従って前記対象物に対する前記帯電制御電極の電位を制御する全体制御部と、
前記帯電制御電極が前記対象物に対して正の電位または負の電位のいずれになるかに応じて前記対象物と前記帯電制御電極との間隔を設定する間隔制御手段と、
を具備したことを特徴とする半導体ウェーハ検査装置。 - 請求項1に記載の半導体ウェーハ検査装置であって、
前記対象物は、静電チャックによって保持されることを特徴とする半導体ウェーハ検査装置。 - 請求項1に記載の半導体ウェーハ検査装置であって、
前記対象物の高さを計測し当該対象物の高さ情報を取得する高さ計測手段を具備し、
前記間隔制御手段は、計測した前記高さ情報に基づいて前記間隔を制御するZステージ機構であることを特徴とする半導体ウェーハ検査装置。 - 請求項1に記載の半導体ウェーハ検査装置であって、
前記対象物の高さを計測し当該対象物の高さ情報を取得する高さ計測手段を具備し、
前記間隔制御手段は、前記電子源、前記照射光学系、前記走査部、前記帯電制御電極の少なくとも1つの高さを、前記高さ情報に基づいて制御する電子光学系設定手段であることを特徴とする半導体ウェーハ検査装置。 - 請求項1に記載の半導体ウェーハ検査装置であって、
前記帯電制御電極が前記対象物に対して正の電位である場合は、前記帯電制御電極が前記対象物に対して負の電位である場合より、前記対象物と前記帯電制御電極との間隔を大きく設定することを特徴とする半導体ウェーハ検査装置。 - 請求項3に記載の半導体ウェーハ検査装置であって、
前記帯電制御電極の電圧設定手段または高さ計測手段としてZセンサを含むことを特徴とする半導体ウェーハ検査装置。 - 検査条件を示すレシピ情報を対象物によって選定し、
選定された前記レシピ情報に従って前記対象物の印加電圧または帯電制御電極の電圧を含む各部の動作条件を決定し、
前記帯電制御電極が前記対象物に対して正の電位または負の電位のいずれになるかに応じて前記対象物と前記帯電制御電極との間隔を設定し、
前記動作条件で電子源からの一次電子を走査させながら前記対象物に照射し、
前記一次電子の照射によって前記対象物から放出された二次電子または反射電子を前記帯電制御電極で制御し、
前記帯電制御電極で制御された前記二次電子または前記反射電子をセンサで検出して検出画像に変換し、
前記検出画像を所定の参照画像と比較して欠陥を判定する、
ことを特徴とする半導体ウェーハ検査方法。 - 請求項7に記載の半導体ウェーハ検査方法であって、
検出画像を取得するとき前記帯電制御電極と前記対象物との間隔をあらかじめ、またはリアルタイムで計測し、この計測結果を基に前記間隔を制御する、
ことを特徴とする半導体ウェーハ検査方法。
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