JP4905574B2 - 可動部分を備えている積層構造体 - Google Patents

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Description

本発明は、可動部分を備えている積層構造体に関する。特に、基板面に直交する方向に可動な第1可動部分と、基板面に平行な方向に可動な第2可動部分を備えている積層構造体に関する。ここでいう積層構造体とは、構成部分の各々が基板面と平行に伸びており、上下で接している範囲で構成部分同士が一体化されているものをいう。例えば、SOI基板(Silicon On Insulator)といった積層基板の各層ごとに所定のパターンでエッチングすることによって製造されるものをいう。
角速度検出センサの一つの方式に、第1軸方向に振動している可動体が第2軸の周りに回転すると第3軸方向にコリオリ力が作用する現象を利用し、第3軸方向の変位量から第2軸の周りの角速度を計測する方式が知られている。ここで、第1軸から第3軸は直交3軸を意味している。この方式の角速度センサで、2つの軸の周りの角速度を検出するセンサ(以下では2軸角速度センサという)を実現しようとすると、少なくとも、基板面に直交する方向に可動な第1可動部分と、基板面に平行な方向に可動な第2可動部分が必要とされる。
第1軸に沿った加速度と、第2軸に沿った加速度と、第3軸に沿った加速度を検出するセンサ(以下では3軸加速度センサという)を実現する場合にも、少なくとも、基板面に直交する方向に可動な第1可動部分と、基板面に平行な方向に可動な第2可動部分が必要とされる。
第1可動部分を基板面に直交する方向に変位可能に支持する構造と、第2可動部分を基板面に平行な方向に変位可能に支持する構造を、積層構造で実現したいとする要望も存在する。半導体製造技術の発展に伴って、積層基板に対する各種の加工技術が実用化されており、第1可動部分と第2可動部分を併せ持つ構造体を積層構造で実現できれば、センササイズ等を微小化することが可能となる。また、1枚の基板から複数個の構造体を同時に製造することが可能となる。
特許文献1に、複数個の可動部分を備えた構造を積層構造で実現する技術が記載されている。この積層構造体は、基板と、外側支承台と、駆動素子と、コリオリ素子と、検出素子と、内側支承台を備えている。駆動素子とコリオリ素子と検出素子は、いずれも矩形の枠状であり、基板表面と平行に伸びている。駆動素子の内側にコリオリ素子が収容されており、コリオリ素子の内側に検出素子が収容されており、平面視すると3重の枠となっている。外側支承台は、その3重枠の中心の周りに対称な4箇所において基板に固定されており、基板表面から突出している。外側支承台の頂部近傍と駆動素子の間は、x軸方向で柔らかくてy軸,z軸方向で硬いばねで接続されており、駆動素子とコリオリ素子の間は、y軸方向で柔らかくてx軸,z軸方向で硬いばねで接続されており、コリオリ素子と検出素子の間は、x軸方向で柔らかくてy軸,z軸方向で硬いばねで接続されており、検出素子と内側支承台の間はy軸方向で柔らかくてx軸,z軸方向で硬いばねで接続されている。この構造によると、駆動素子はx軸方向に可動であり、コリオリ素子はx軸とy軸方向に可動であり、検出素子はy軸方向に可動である。z軸の周りに角速度が働くと、駆動素子に追従してx軸方向に振動しているコリオリ素子が、コリオリ力によってy軸方向に変位するため、検出素子がy軸方向に変位する。検出素子のy軸方向の変位量からz軸の周りの角速度を検出することができる。
特表2004−518969号公報
上記したように、2以上の可動部分を備えた構造体を積層構造で実現するところまでは可能となっている。しかしながら従来の技術では、2以上の可動部分の全部が基板表面に平行な面内で可動な構造に限定されており、基板面に直交する方向に可動な部分を備えた構造体を積層構造で実現することはできない。従来の技術では、基板面に直交する方向に可動な部分と基板面に平行な方向に可動な部分を必要とする2軸角速度センサや3軸加速度センサを実現することができない。
基板面に直交する方向に可動な部分さえあればよいというのであれば、それを積層構造で実現することができる。あるいは、基板面に平行な面内で可動な部分さえあればよいというのであれば、それを積層構造で実現することができる。しかしながらそれでは、基板面に直交する方向に可動な部分と基板面に平行な面内で可動な部分の両者を必要とする2軸角速度センサや3軸加速度センサを実現することができない。
基板上に、基板面に直交する方向に可動な部分を備えている構造と、基板面に平行な面内で可動な部分を備えている構造を別個に実現することもできよう。それであれば、従来の技術で実現することができる。
しかしながら、それでは前記した2軸角速度センサや3軸加速度センサ等を小型化することができない。その結果、1枚の基板から製造可能な可動構造体の個数が減少してしまい、可動構造体1個あたりの製造コストが高価となってしまう。
本発明は上記の事情から創作されたものであり、
(1)基板上に、基板面に直交する方向に可動な第1可動部分と、基板面に平行な方向に可動な第2可動部分とを備えている構造体を実現する;
(2)それを積層構造体で実現することによって小型化と量産化を可能とし;
(3)第1可動部分と第2可動部分を入れ子構造とすることによって、1枚の基板から製造可能な個数を増やし、構造体1個あたりの製造コストを低下させることを目的とする。
直交3軸をx軸,y軸,z軸とし、基板表面をx‐y面としたときに、本発明の第1の態様の積層構造体は、x軸方向に伸びている2辺とy軸方向に伸びている2辺を備えている外側可動部と、z軸方向から見たときに外側可動部内に収容されている内側可動部を備えている。外側可動部にyばねが接続されており、そのyばねによって外側可動部が基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されている。内側可動部にzばねが接続されており、そのzばねによって内側可動部が基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されている。外側可動部とzばねは、基板からの高さを異にする異なる層で形成されており、zばねは、外側可動部から離反した高さにおいて外側可動部と立体交差している。
上記において、yばねとは、y軸方向のばね定数がx軸方向のばね定数とz軸方向のばね定数よりも小さい異方性ばねをいう。yばねのy軸方向のばね定数は、x軸方向のばね定数とz軸方向のばね定数の1/3以下の関係にあることが好ましい。すなわち、yばねとは、y軸方向に変形しやすくてx軸方向とz軸方向に変形しづらいばねをいう。
同様に、zばねとは、z軸方向のばね定数がx軸方向のばね定数とy軸方向のばね定数よりも小さい異方性ばねをいう。zばねのz軸方向のばね定数は、x軸方向のばね定数とy軸方向のばね定数の1/3以下の関係にあることが好ましい。すなわち、zばねとは、z軸方向に変形しやすくてx軸方向とy軸方向に変形しづらいばねをいう。
後記するxばねとは、x軸方向のばね定数がy軸方向のばね定数とz軸方向のばね定数よりも小さい異方性ばねをいう。xばねのx軸方向のばね定数は、y軸方向のばね定数とz軸方向のばね定数の1/3以下の関係にあることが好ましい。すなわち、xばねとは、x軸方向に変形しやすくてy軸方向とz軸方向に変形しづらいばねをいう。
上記構造では、外側可動部とzばねが、基板からの高さを異にする異なる層で形成されており、zばねが、外側可動部から離反した高さにおいて外側可動部と立体交差していることを特徴としている。この構造によって、本発明の前記した目的:すなわち、
(1)基板上に、基板面に直交する方向に可動な第1可動部分(z軸方向に変位する内側可動部によって実現される)と、基板面に平行な方向に可動な第2可動部分(y軸方向に変位する外側可動部によって実現される)とを備えている構造体を実現し;
(2)それを積層構造体で実現することによって小型化と量産化を可能とし;
(3)z軸方向から見たときに外側可動部内に内側可動部を収容しているため、第1可動部分(内側可動部)と第2可動部分(外側可動部)が入れ子構造を構成し、1枚の基板から製造可能な個数を増やし、1個あたりの製造コストを低下させることが可能となる。
なお、ここでいう入れ子構造とは、基板を平面視したときに第2可動部分の内側に第1可動部分が収容されていることを意味している。第2可動部分と第1可動部分が相似形状であってもよいし、異なる形状であってもよい。また、z軸方向から平面視した状態で入れ子構造であればよく、第2可動部分と第1可動部分がz軸方向では異なる高さにあってもよい。
上記構造は、z軸方向に変位する内側可動部と、y軸方向に変位する外側可動部を備えていることから、直ちに2軸加速度センサを実現することができる。また上記の基本構造は、種々のセンサあるいはアクチュエータを実現する基本構造となり、この基本構造を共通に用いて、例えば、1軸角速度センサ、2軸角速度センサ、2軸加速度センサ、3軸加速度センサ、y-z軸面内で位置決めするアクチュエータ等の各種装置を実現することができる。
例えば、2軸角速度センサあるいは3軸加速度センサを実現する場合には、基本構造にx軸方向に変位可能とする構造を付加すればよい。
そのためには、基本構造に、z軸方向から見たときに外側可動部外に位置しているx中継部を付加すればよい。ここでいうx中継部とは、ばねとばねとを中継する中継物体であり、x軸方向に変位可能な物体をいう。後記するy中継部は、y軸方向に変位可能な中継物体をいい、z中継部は、z軸方向に変位可能な中継物体をいう。
x中継部を付加した構造の場合、外側可動部に接続されているyばねと内側可動部に接続されているzばねの両者がx中継部に接続されており、x中継部と基板の間がxばねで接続されている構成とする。この構成をとると、xばねによってx中継部が基板から離反した高さにおいてx軸方向に変位可能に支持されており、xばねとyばねによって外側可動部が基板から離反した高さにおいてx軸方向とy軸方向に変位可能に支持されており、xばねとzばねによって内側可動部が基板から離反した高さにおいてx軸方向とz軸方向に変位可能に支持されている構造を実現することができる。
上記の構造体によると、x中継部をx軸方向に往復振動させることによって外側可動部と内側可動部がx軸方向に往復振動し、y軸周りの角速度が働けばコリオリ力によって内側可動部がz軸方向に変位し、z軸周りの角速度が働けばコリオリ力によって外側可動部がy軸方向に変位する関係を得ることができる。y軸周りの角速度とz軸周りの角速度を検出できる2軸の角速度センサを実現することができる。あるいは、x中継部と外側可動部と内側可動部のうちのいずれかのx軸方向の変位量と、外側可動部のy軸方向の変位量と、内側可動部のz軸方向の変位量から、x軸方向とy軸方向とz軸方向の加速度を検出する3軸の加速度センサを実現することができる。
x中継部をx軸方向に往復振動させる振動部と、y中継部と、y中継部のy軸方向の変位を検出するy変位検出部と、z中継部と、z中継部のz軸方向の変位を検出するz変位検出部を付加すれば、2軸の角速度センサを実現することができる。上記のy変位検出部とは、y軸方向の変位量を検出する部分をいい、z変位検出部とは、z軸方向の変位量を検出する部分をいう。後記するx変位検出部とは、x軸方向の変位量を検出する部分をいう。
この場合、z中継部は、内側可動部に第2のxばね(すなわち、すでに定義されているx中継部と基板を接続するxばねとは相違するxばねのことをいう。第2のyばね、第2のzばね、第3のxばねといった表現も同じ規則に従う)を介して接続されているとともに、基板に第2のzばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されている構造とする。y中継部は、外側可動部に第3のxばねを介して接続されているとともに、基板に第2のyばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されている構造とする。
上記の構造体によると、振動部によってx中継部をx軸方向に往復振動させることができ、それに追随して外側可動部と内側可動部がx軸方向に往復振動する関係が得られる。y軸周りの角速度が働けばコリオリ力によって内側可動部がz軸方向に変位する。内側可動部はx軸方向に往復振動しながらz軸方向に変位する。z中継部は、内側可動部のz軸方向の変位に追従してz軸方向には変位するけれども、x軸方向には変位しない。すなわち、z中継部は、z軸方向のコリオリ力に起因するz軸方向の変位のみをする。z変位検出部は、z軸方向にのみ変位するz中継部のz軸方向の変位量を検出することから、z軸方向のコリオリ力を正確に検出し、y軸周りの角速度を正確に検出する。同様の事象がz軸周りの角速度が作用した場合にも得られる。z軸周りの角速度が働けばコリオリ力によって外側可動部がy軸方向に変位する。外側可動部はx軸方向に往復振動しながらy軸方向に変位する。y中継部は、外側可動部のy軸方向の変位に追従してy軸方向には変位するけれども、x軸方向には変位しない。すなわち、y中継部は、y軸方向のコリオリ力に起因するy軸方向の変位のみをする。y変位検出部は、y軸方向にのみ変位するy中継部のy軸方向の変位量を検出することから、y軸方向のコリオリ力を正確に検出し、z軸周りの角速度を正確に検出する。上記の構造体によって、y軸とz軸周りの角速度を検出することができる。
共通の基本構造を利用して3軸の加速度センサを実現することもできる。そのためには、x中継部のx軸方向の変位を検出するx変位検出部と、y中継部と、y中継部のy軸方向の変位を検出するy変位検出部と、z中継部と、z中継部のz軸方向の変位を検出するz変位検出部を付加する。
z中継部は、内側可動部に第2のxばねを介して接続されているとともに、基板に第2のzばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されている。y中継部は、外側可動部に第3のxばねを介して接続されているとともに、基板に第2のyばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されている。
この構造体によると、x軸方向の変位量からx軸方向の加速度を検出でき、y軸方向の変位量からy軸方向の加速度を検出でき、z軸方向の変位量からz軸方向の加速度を検出することができる。
本発明は、もう一つ別の基本構造をも提供する。この基本構造は、x軸方向に伸びている2辺とy軸方向に伸びている2辺とを備えている外側可動部と、z軸方向から見たときに外側可動部内に収容されている内側可動部を備えている。
外側可動部と固定部との間にyばねが介在しており、そのyばねによって外側可動部が基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されている。内側可動部と外側可動部の間はy−zばねで接続されており、内側可動部と固定部の間にzばねが介在しており、そのy−zばねとzばねによって内側可動部は基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されている。ここで、y−zばねとは、y軸方向のばね定数とz軸方向のばね定数が、x軸方向のばね定数よりも小さい異方性ばねをいう。すなわち、y軸方向とz軸方向に変形しやすく、x軸方向に変形しづらいばねのことをいう。
上記の基本構造体の外側可動部は、y軸方向に変位可能である。内側可動部は、y軸方向に変位可能な外側可動部にy−zばねで接続されていることから、外側可動部に対してy軸方向とz軸方向に変位可能あるが、内側可動部と固定部の間にzばねが介在していることから、基板に対してはy軸方向には変位できず、z軸方向に変位可能となる。すなわち、外側可動部と内側可動部がy軸方向に相対変位することになるが、両者はy-zばねで接続されていることから、y軸方向に相対変位することが許容される。
本基本構造によっても、本発明の目的:すなわち、
(1)基板上に、基板面に直交する方向に可動な第1可動部分(z軸方向に変位する内側可動部によって実現される)と、基板面に平行な方向に可動な第2可動部分(y軸方向に変位する外側可動部によって実現される)とを備えている構造体を実現し;
(2)それを積層構造体で実現することによって小型化と量産化を可能とし;
(3)第1可動部分(内側可動部)と第2可動部分(外側可動部)を入れ子構造とすることによって、1枚の基板から製造可能な個数を増やし、1個あたりの製造コストを低下させることが可能となる。
上記構造は、z軸方向に変位する内側可動部と、y軸方向に変位する外側可動部を備えていることから、直ちに2軸加速度センサを実現することができる。また、この基本構造から、各種の装置、例えば、1軸角速度センサ、2軸角速度センサ、3軸加速度センサ、y-z軸面内で位置決めするアクチュエータ等を実現することができる。
例えば、2軸角速度センサあるいは3軸加速度センサを実現する場合には、基本構造にx軸方向に変位可能とする構造を付加すればよい。
そのためには、基本構造に、z軸方向から見たときに外側可動部外に位置しているx中継部を付加すればよい。
x中継部を付加した構造の場合、外側可動部に接続されているyばねがx中継部に接続されており、x中継部と基板の間がxばねで接続されている構成とする。また、内側可動部と基板の間に第2のxばねを付加する。すなわち、内側可動部と基板の間を第2のxばねとzばねで接続する。
上記構成によると、xばねによってx中継部が基板から離反した高さにおいてx軸方向に変位可能に支持されており、xばねとyばねによって外側可動部が基板から離反した高さにおいてx軸方向とy軸方向に変位可能に支持されており、第2のxばねとzばねによって内側可動部が基板から離反した高さにおいてx軸方向とz軸方向に変位可能に支持されている構造を実現することができる。外側可動部と内側可動部はy-zばねで接続されていることから、外側可動部と内側可動部がy軸方向とz軸方向に相対変位することが許容される。外側可動部と内側可動部は、x軸方向には一体となって変位する。
上記の構造体よると、x中継部をx軸方向に往復振動させることによって外側可動部と内側可動部がx軸方向に往復振動し、y軸周りの角速度が働けばコリオリ力によって内側可動部がz軸方向に変位し、z軸周りの角速度が働けばコリオリ力によって外側可動部がy軸方向に変位する関係を得ることができる。y軸周りの角速度とz軸周りの角速度を検出できる2軸の角速度センサを実現することができる。あるいは、x中継部と外側可動部と内側可動部のうちのいずれかのx軸方向の変位量と、外側可動部のy軸方向の変位量と、内側可動部のz軸方向の変位量から、x軸方向とy軸方向とz軸方向の加速度を検出する3軸の加速度センサを実現することができる。
x中継部をx軸方向に往復振動させる振動部と、y中継部と、y中継部のy軸方向の変位を検出するy変位検出部と、z中継部と、z中継部のz軸方向の変位を検出するz変位検出部を付加すれば、2軸の角速度センサを実現することができる。
この場合、z中継部は、zばねと第2のxばねの間に挿入されており、基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されている構造とする。y中継部は、外側可動部に第3のxばねを介して接続されているとともに、固定部に第2のyばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されている構造とする。
上記の構造体によると、振動部によってx中継部をx軸方向に往復振動させることができ、それに追随して外側可動部と内側可動部がx軸方向に往復振動する関係が得られる。y軸周りの角速度が働けばコリオリ力によって内側可動部がz軸方向に変位する。内側可動部はx軸方向に往復振動しながらz軸方向に変位する。z中継部は、内側可動部のz軸方向の変位に追従してz軸方向には変位するけれども、x軸方向には変位しない。すなわち、z中継部は、z軸方向のコリオリ力に起因するz軸方向の変位のみをする。z変位検出部は、z軸方向にのみ変位するz中継部のz軸方向の変位量を検出することから、z軸方向のコリオリ力を正確に検出し、y軸周りの角速度を正確に検出する。同様の事象がz軸周りの角速度が作用した場合にも得られる。z軸周りの角速度が働けばコリオリ力によって外側可動部がy軸方向に変位する。外側可動部はx軸方向に往復振動しながらy軸方向に変位する。y中継部は、外側可動部のy軸方向に変位に追従してy軸方向には変位するけれども、x軸方向には変位しない。すなわち、y中継部は、y軸方向のコリオリ力に起因するy軸方向の変位のみをする。y変位検出部は、y軸方向にのみ変位するy中継部のy軸方向の変位量を検出することから、y軸方向のコリオリ力を正確に検出し、z軸周りの角速度を正確に検出する。上記の構造体によって、y軸とz軸周りの角速度を検出することができる。
共通の基本構造を利用して3軸の加速度センサを実現することもできる。そのためには、x中継部のx軸方向の変位を検出するx変位検出部と、y中継部と、y中継部のy軸方向の変位を検出するy変位検出部と、z中継部と、z中継部のz軸方向の変位を検出するz変位検出部を付加する。
z中継部は、内側可動部に第2のxばねを介して接続されているとともに、基板にzばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されている。y中継部は、外側可動部に第3のxばねを介して接続されているとともに、基板に第2のyばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されている。
この構造体によると、x軸方向の変位量からx軸方向の加速度を検出でき、y軸方向の変位量からy軸方向の加速度を検出でき、z軸方向の変位量からz軸方向の加速度を検出することができる。
実施例1の2軸角速度センサを示す平面図 実施例1の積層構造体の一部を分解して示す斜視図。 図1のIII―III線における断面構造を示す端面図。 図1のIV―IV線における断面構造と、z変位出力部の電気的接続とを示す模式図。 実施例2の3軸加速度センサを示す平面図。 実施例3の2軸角速度センサを示す平面図。 実施例3の積層構造体の一部を分解して示す斜視図。 実施例4の3軸加速度センサを示す平面図。 実施例5の積層構造体を示す平面図。 実施例6の2軸角速度センサを構成する下層の平面図。 実施例6の2軸角速度センサを構成する上層の平面図。 実施例6の2軸角速度センサの平面図。ただし、上層の外側部分を除去した状態を示す。
以下に説明する実施例の主要な特徴を最初に列記する。
(特徴1)外側可動部とyばねと内側可動部とzばねが、3層(下層、中層、上層)構造で形成されている。
(特徴2)外側可動部とzばねが立体交差する部位では、外側可動部が下層で形成されており、zばねが上層で形成されている。外側可動部とzばねが立体交差する部位では、中層がなく、外側可動部とzばねの間に中層の厚みに相当する間隙が存在する。
(特徴3)外側可動部とyばねと内側可動部は下層で形成されており、zばねが上層で形成されている。内側可動部とzばねは中層を介して接続され、外側可動部とzばねが立体交差する部位では中層がなく、中層の厚みに相当する間隙が存在する。
(特徴4)外側可動部とyばねは下層で形成されており、内側可動部とzばねが上層で形成されている。外側可動部とzばねが立体交差する部位では中層がなく、中層の厚みに相当する間隙が存在する。
(特徴5)外側可動部よりも外側であって、z軸方向から見たときの外側可動部の中心を通るx軸とy軸に関して対称な4つの位置に、外側固定部(基板に固定されている部分)が形成されている。xばね、yばね、zばねの各々は、前記のx軸とy軸に関して対称な4つの位置に配置されている。外側可動部も内側可動部も、x軸の周りの回転が規制され、y軸の周りの回転が規制され、z軸の周りの回転が規制されている。また、装置に振動が加えられることと衝撃が加えられることに対する耐性が高く、自動車に積載することができる。
(特徴6)内側可動部よりも内側であって、z軸方向から見たときの内側可動部の中心を通るx軸とy軸に関して対称な4つの位置に、内側固定部(基板に固定されている部分)が形成されている。第2のxばねと第2のzばねの各々は、前記のx軸とy軸に関して対称な4つの位置に配置されている。外側可動部も内側可動部も、x軸の周りの回転が規制され、y軸の周りの回転が規制され、z軸の周りの回転が規制されている。また、装置に振動が加えられることと衝撃が加えられることに対する耐性が高く、自動車に積載することができる。
(特徴7)特徴6に加え、4本の第2のxばねと4本の第2のzばねの間に、1個のz中継部が配置されている。そのz中継部は、前記のx軸とy軸に関して対称な形状である。
(特徴8)特徴7に加え、一対のxばねの間にx中継部が配置され、他の一対のxばねの間に他のx中継部が配置されている。2個のx中継部は、前記y軸に対して対称の位置に配置されている。
(特徴9)特徴8に加え、第2のyばねによってy中継部が基板に支持され、他の第2のyばねによって他のy中継部が基板に支持されている。2個のy中継部は、前記x軸に対して対称の位置に配置されている。
(特徴10)特徴9に加え、4本の第3のxばねが、前記のx軸とy軸に関して対称な4つの位置に配置されている。
(特徴11)ばねが伸びている方向とばねの断面形状によってばねに異方性が付与されている。xばねは、y軸方向に伸びており、その断面形状は、x軸方向に薄くてz軸方向に厚い。yばねは、x軸方向に伸びており、その断面形状は、y軸方向に薄くてz軸方向に厚い。zばねは、x軸方向に伸びており、その断面形状は、z軸方向に薄くてy軸方向に厚い。あるいは、zばねは、y軸方向に伸びており、その断面形状は、z軸方向に薄くてx軸方向に厚い。
(特徴12)ダブルSOI基板の各層の所定範囲をエッチングすることによって積層構造体が形成されている。
(特徴13)SOI基板の各層の所定範囲をエッチングすることによって積層構造体が形成されている。
(実施例1)
本発明に係る積層構造体を2軸角速度センサに適用した実施例1を、図1〜図4を参照して説明する。本実施例の積層構造体10は、ダブルSOI基板の各層の所定範囲をエッチングすることによって製造される。本実施例で用いるダブルSOI基板は、5層構造であり、厚みが5μmのシリコン層(以下、第1シリコン層という)、厚みが3μmの酸化シリコン層(以下、第1酸化膜という)、厚みが15μmのシリコン層(以下、第2シリコン層という)、厚みが3μmの酸化シリコン層(以下、第2酸化膜という)、及び厚みが300μmのシリコン層(以下、第3シリコン層または基板という)が上から順に積層されている。第1シリコン層と第2シリコン層は、不純物を含んでおり、導電体である。
図1は、第1実施例の2軸角速度センサの平面図を示している。図1に示すように、積層構造体10とz変位出力部91とy変位出力部99とによって、2軸角速度センサが構成されている。図2は、積層構造体10の一部を分解して示す斜視図である。図3は、図1のIII―III線における断面構造を示し、図4は、図1のIV―IV線における断面構造を示している。なお、図3では、図1のIII―III線のうち一点鎖線で示す範囲の断面構造のみを示し、破線で示す範囲の断面構造の図示を省略している。図4でも同様である。各図では、基板80の表面が伸びる面をx‐y面とし、基板80に直交する方向をz軸方向とする。図1に示すように、積層構造体10は、8箇所に形成されているxばね固定部(外側固定部)45と、8箇所に形成されているyばね固定部66と、4箇所に形成されているzばね固定部(内側固定部)54を備えている。これらの固定部によって、可動構造体11が基板80に対して変位可能に支持されている。積層構造体10は、さらに、2個の第1のz方向固定電極12と、1個の第2のz方向固定電極13と、4個のy方向固定電極67と、2個の励振電極47と、これらを支持する基板80とを備えている。
本実施例の積層構造体10では、基板80がダブルSOI基板の第3シリコン層で構成されている。図2に示すように、基板80は、基板80を貫通する溝Gによって、外側基板81と、2個の固定電極基板82と、内側基板83とに分離されている。図1に示すxばね固定部45、yばね固定部66、zばね固定部54、y方向固定電極67、第1のz方向固定電極12と、励振電極47の範囲では、ダブルSOI基板の5層が全て存在しており、これらに対応する部位には、第2酸化膜が存在している。また、後記する可動構造体11のz中継部51に対応する部位においても、第2酸化膜が存在している。しかしながら、その他の部位では、第2酸化膜がエッチングにより除去されている。なお、以下の他の実施例においても、第2酸化膜が存在していることを特に説明する部位を除いて、第2酸化膜はエッチングにより除去されている。本実施例の積層構造体10では、ダブルSOI基板の上側の2層(第1シリコン層と第1酸化膜)の大部分がエッチングにより除去されている。詳細には、後記する可動構造体11の第1のzばね31、第2のzばね53、及び上記した5層全てが存在する部位(xばね固定部45、yばね固定部66、zばね固定部54、y方向固定電極67、第1のz方向固定電極12と、励振電極47)では、第1シリコン層と第1酸化膜が存在しているが、その他の部位では除去されている。
可動構造体11は、その大部分が第2シリコン層で形成されている。図1に示すように、可動構造体11は、xばね固定部45とyばね固定部66とzばね固定部54を介して外側基板81に固定されている。可動構造体11では、上記したようにz中継部51に対応する部位を除いて第2酸化膜がエッチングにより除去されている。したがって、可動構造体11の大部分は、基板80に対して、第2酸化膜分の厚みだけ離反した高さに位置している。
可動構造体11は、外側可動部20と、内側可動部30と、2個のx中継部40と、2個のy中継部61と、1個のz中継部51とを備えており、これらは、第2シリコン層で構成されている。
図1に示すように、外側可動部20は、x軸方向に伸びている2辺とy軸方向に伸びている2辺を備えている略正方形の枠状である。内側可動部30は、外側可動部20の枠内に収容されている。本実施例では、内側可動部30もx軸方向に伸びている2辺とy軸方向に伸びている2辺を備えている略正方形の枠状である。外側可動部20と内側可動部30とは、いわゆる入れ子構造を形成する。図1のx‐y平面において、内側可動部30と外側可動部20との中心Cfは一致している。図1に示すように、積層構造体10では、全ての構成が、外側可動部20と内側可動部30の中心Cfを通るx軸及びy軸に関して対称な構造となっている。図面では、x軸及びy軸に対称な複数の部材のうちの一部に対して参照番号の付与を省略していることがある。
2個のx中継部40はy軸方向に伸びており、外側可動部20の外側に位置している。2個のx中継部40は上記中心Cfを通るy軸に対して対称な位置に配置されている。
x中継部40のy軸方向の端部に、4本の第1のxばね41が接続されている。第1のxばね41は、y軸方向に伸びており、x軸方向に薄くてz軸方向に厚い板ばねである。第1のxばね41では、x軸方向のばね定数が、y軸方向及びz軸方向のばね定数よりも小さい。4本の第1のxばね41のうち、内側に位置する2本の第1のxばね41がx中継部40に直接接続されており、内側の2本の第1のxばね41が、x連結部42を介して外側に位置する2本の第1のxばね41に接続されている。外側の2本の第1のxばね41がxばね固定部45に接続されている。第1のxばね41及びx連結部42は、第2シリコン層で形成されている。上記したように、xばね固定部45ではダブルSOI基板の全ての層が存在しており(図3)、外側基板81と一体になっている。これにより、x中継部40は、第1のxばね41を介して外側基板81によって支持されている。x中継部40は、第1のxばね41によって外側基板81から離反した高さにおいてx軸方向に変位可能に支持されている。
図1及び図2に示すように、外側可動部20のy軸方向に伸びる辺の各々には、2個の第1のyばね21が接続されている。第1のyばね21は、第2シリコン層で形成されている。第1のyばね21は、x軸方向に伸びており、y軸方向に薄くてz軸方向に厚い板ばねである。第1のyばね21では、y軸方向のばね定数がx軸方向及びz軸方向のばね定数よりも小さい。第1のyばね21は、x中継部40に接続されている。したがって、外側可動部20は、第1のyばね21を介してx中継部40によって支持されている。x中継部40は、第1のyばね21と第1のxばね41とを中継している。x中継部40は、第1のxばね41によって外側基板81に支持されている。従って、外側可動部20は、第1のyばね21と第1のxばね41とを介して、外側基板81によって支持されている。外側可動部20は、外側基板81から離反した高さにおいて、x軸方向とy軸方向に変位可能である。
図1に示すように、内側可動部30のy軸方向に伸びる辺の各々には、2個の第1のzばね31が接続されている。第1のzばね31は、図2及び3に示すように、第1シリコン層で形成されており、x中継部40と内側可動部30とに、第1酸化膜を介して接続されている。すなわち、外側可動部20と第1のzばね31は、基板80からの距離を異にする異なる層(第1シリコン層と第2シリコン層と)で形成されており、第1のzばね31は、外側可動部20から第1酸化膜の高さ分だけ離反した高さにおいて外側可動部20と立体交差している。第1のzばね31は、x軸方向に伸びており、z軸方向に薄くてy軸方向に厚い板ばねである。第1のzばね31は、z軸方向のばね定数がx軸方向及びy軸方向のばね定数よりも小さい。
内側可動部30は、第1のzばね31を介して、x中継部40に接続されている。すなわち、内側可動部30は、第1のzばね31を介してx中継部40によって支持されている。x中継部40は、2本の第1のzばね31と8本の第1のxばね41とを中継している。内側可動部30は、第1のzばね31と第1のxばね41とを介して外側基板81に支持されている。内側可動部30は、外側基板81から離反した高さにおいて、x軸方向とz軸方向に変位可能である。
図2に示すように、外側基板81には、開口84,85が形成されている。図3に示すように、開口84,85は、第1のzばね31に対応して形成されている。ダブルSOI基板の第1シリコン層は、大部分がエッチングされて除去されるものの、第1のzばね31の存在範囲では第1シリコン層が存在している。したがって、第1酸化膜、第2シリコン層、第2酸化膜の所定範囲をエッチングするにあたり、第1のzばね31が存在する範囲では、ダブルSOI基板を第1シリコン層側からエッチングすることが難しい。そこで、第1のzばね31が存在する範囲では、これらの開口84,85を通じて、外側基板81(第3シリコン層)側からエッチングがなされる。
図1に示すように、2個の励振電極47(振動部)が、x中継部40の外側に位置している。2個の励振電極47の存在範囲では、図3に示すように、ダブルSOI基板の5つの層が存在しており、外側基板81と一体となっている。図1に示すように、x中継部40では、外側(励振電極47側)の側面に、外側に向かって伸びる櫛歯状電極CEが形成されている。励振電極47では、内側(x中継部40側)の側面に、内側に向かって伸びる櫛歯状電極CEが形成されている。x中継部40と励振電極47とのそれぞれに形成される櫛歯状電極CEは、y軸方向に交互に形成されている。それぞれの励振電極47に通電すると、x中継部40の櫛歯状電極CEが励振電極47に向けて吸引される。2個の励振電極47に交互に通電することによって、x中継部40がx軸方向に往復振動する。
次に、z中継部51と、第1のz方向固定電極12と、第2のz方向固定電極13と、z変位出力部91及びその周辺構成について説明する。本実施例では、第1のz方向固定電極12及び第2のz方向固定電極13がz変位検出部を構成している。
z中継部51は、図2及び図3に示すように、第2シリコン層で形成されている。z中継部51は、図1において内側可動部30の内側に位置しており、2個の結合部52を備えている。z中継部51(2個の結合部52を含んでいる)の中心と内側可動部30の中心は一致している。図1に示すように、2個の結合部52は、第2シリコン層上では、互いに分離されている。しかしながら、図2及び図4に示すように、2個の結合部52は、第2酸化膜71を介して内側基板83に固定されており、内側基板83と一体化されている。したがって、2個の結合部52は一体化されている。一体化した2個の結合部52からなるz中継部51は、内側基板83と一体で変位する。
図1に示すように、2個の結合部52のそれぞれには、x軸方向の両端に、第2のzばね53が接続されている。この第2のzばね53は、zばね固定部54に接続されている。4本の第2のzばね53と4個のzばね固定部54は、いずれも、図1の平面図で内側可動部30の内側に位置しているとともに、z中継部51の中心Cfを通るx軸,y軸に対して対称な4箇所に配置されている。4個のzばね固定部54は、外側基板81に固定されている。第2のzばね53は、x軸方向に伸びており、z軸方向に薄くてy軸方向に厚い板ばねである。第2のzばね53は、z軸方向のばね定数がx軸方向及びy軸方向のばね定数よりも小さい。
図2及び図3に示すように、4本の第2のzばね53は、第1シリコン層で形成されており、各第2のzばね53の一端が、第1酸化膜を介して結合部52に接続されている。外側基板81には、第2のzばね53に対応する部位に、エッチング用の開口86が形成されている。なお、図1では、開口86の図示を省略しており、以下の他の実施例においても積層構造体の平面図では、この開口86を省略する。4個のzばね固定部54では、ダブルSOI基板の5層が存在している。すなわち、zばね固定部54では、外側基板81上に第2酸化膜74が存在している。z中継部51は、第2のzばね53を介して外側基板81に固定されているため、外側基板81から離反した高さにおいてz軸方向にのみ変位可能に支持されている。
2個の結合部52のそれぞれは、2本の第2のxばね55を介して内側可動部30に連結されている。第2のxばね55は、y軸方向に伸びる2辺を有するU字形状の屈曲ばねであり、x軸方向のばね定数がy軸方向及びz軸方向のばね定数よりも小さい。第2のxばね55は、第2シリコン層で形成されている。上記したように、内側可動部30は、第1のzばね31と第1のxばね41とによって、外側基板81から離反した高さにおいて、x軸方向とz軸方向に変位可能である。その一方において、z中継部51は、x軸方向には変位することなく、z軸方向にのみ変位する。すなわち、内側可動部30とz中継部51は、x軸方向に相対的に変位することが求められる。内側可動部30とz中継部51は、第2のxばね55によって接続されているために、第2のxばね55がx軸方向に変形することによって、内側可動部30とz中継部51がx軸方向に相対的に変位することを許容する。第2のxばね55はz軸方向には変形しない。z中継部51は、内側可動部30のz軸方向の変位に追従してz軸方向に変位する。z中継部51は、4本の第2のxばね55と4本の第2のzばね53の間にあって両者を中継している。
また、第2のxばね55と第2のzばね53とは、それぞれz中継部51の中心Cfを通るx軸とy軸に関して対称な4つの位置に配置されているため、z中継部51と内側可動部30とが、x軸及びy軸周りに回転することが規制されている。また、z軸の周りに回転することも規制されている。このように、積層構造体10では、振動や衝撃が加えられることに対する耐性が高いため、自動車に積載することができる。
図2及び図4に示すように、2個の第1のz方向固定電極12の各々は、第2酸化膜75を介して外側基板81に固定されているとともに、第2酸化膜72を介して固定電極基板82にも接続されている。固定電極基板82は、機械的には外側基板81に固定されており、電気的には外側基板81から絶縁されている。図2に示すように、第2のz方向固定電極13は、x軸方向に伸びて内側基板83を跨いでおり、2個の第2酸化膜73を介して外側基板81に固定されている。第2のz方向固定電極13は、機械的には外側基板81に固定されており、電気的には外側基板81から絶縁されている。
図4に示すように、第2のz方向固定電極13は、内側基板83の上方に位置している。内側基板83がz軸方向に変位しない状態では、内側基板83の上面と第2のz方向固定電極13の下面との間に、第2酸化膜の厚みに等しいギャップが形成されている。内側基板83は、上記したようにz中継部51に接続されており、z中継部51の各結合部52は、それぞれ貫通電極PE1を介して内側基板83に電気的に接続されている。図1に示すように、各z結合部52は、第2のxばね55によって内側可動部30に電気的に導通している。内側可動部30とx中継部40を接続するzばね31の両端には、貫通電極PE3が形成されている。これにより、内側基板83、z中継部51、内側可動部30、x中継部40、外側可動部20は、いずれも電気的に相互に接続されていることになる。また、2個の第1のz方向固定電極12は、それぞれ貫通電極PE2を介して固定電極基板82に電気的に接続されている。以上によって、電気的には3つの部分に絶縁されている。すなわち、「内側基板83と結合部52と内側可動部30とx中継部40と外側可動部20」からなる部分と、「第1のz方向固定電極12と固定電極基板82」からなる部分と、「第2のz方向固定電極13」からなる部分の3つの部分に絶縁されている。本実施例では、内側基板83と結合部52が一体となって、固定電極基板82と第2のz方向固定電極13に対してz軸方向に変位する。すなわち、内側基板83が第2のz方向固定電極13に接近すれば、結合部52が固定電極基板82から離反する。逆に、内側基板83が第2のz方向固定電極13から離反すれば、結合部52が固定電極基板82に接近する。
図4に示すように、z変位出力部91は、キャリア信号発生部92とC−V変換部93とAM復調回路94とを備えている。キャリア信号発生部92は、2個の固定電極基板82にキャリア電圧を印加する。第2のz方向固定電極13は接地して用いる。内側基板83と結合部52の電位がC−V変換部93に入力される。
固定電極基板82と結合部52の間にコンデンサC1が形成されている。内側基板83と第2のz方向固定電極13の間にコンデンサC2が形成されている。コンデンサC1とコンデンサC2は直列に接続されている。直列に接続された2つのコンデンサC1,C2は、分圧電位を生じさせ、その分圧電位が結合部52に現れる。この分圧電位は、オペアンプ95とキャパシタ96と抵抗97とからなるC−V変換部93によって増幅され、AM復調回路94によって角速度を表す角速度情報を含むアナログ電気信号として出力されることになる。z変位出力部91の出力によって、z中継部51のz軸方向の変位を検出することができる。
z中継部51が上方に変位すれば、コンデンサC2の容量が増大し、コンデンサC1の容量が減少する。z中継部51が下方に変位すれば、コンデンサC2の容量が減少し、コンデンサC1の容量が増大する。コンデンサC1,C2の容量変化が逆向きに生じることから、z中継部51のz方向の変位に対して、分圧電位が大きく変化する。z変位出力部91の検出感度は高い。また、コンデンサC1,C2の容量変化が逆向きに生じることを利用してz中継部51のz方向の変位量を検出することから、環境温度の影響等を受けにくい。環境温度が変化してコンデンサC1,C2の容量が変化する場合には、同じ方向に変化することから、それが検出結果に影響する程度は低い。
次に、y中継部61とy方向固定電極67とy変位出力部99及びその周辺構成について説明する。本実施例では、y方向固定電極67がy変位検出部を構成している。
図1及び図4に示すように、2個のy中継部61は、第2シリコン層で形成されている。図1に示すように、2個のy中継部61は、外側可動部20の外側に配置されており、中心Cfを通るx軸に対して対称な位置に配置されている。各y中継部61は、6つの枠を備えている。y中継部61の6つの枠は、x軸方向に2列、y軸方向に3列で配列されており、y軸方向に配列される3つの枠のうち、y軸方向の両端に位置する枠を外枠部62とし、中央に位置する枠を中枠部63とする。中枠部63の枠の内側に、y方向固定電極67が配置されている。
各y中継部61は、2つの第3のxばね22を介して外側可動部20に接続されている。詳細には、図1の平面図において、第3のxばね22の一端は、外側可動部20のx軸方向に伸びる辺に接続されており、第3のxばね22の他端は、y中継部61のy軸方向に伸びている辺の中枠部63に対応する部位に接続されている。第3のxばね22は、第2シリコン層で形成されており、y軸方向に伸びており、x軸方向に薄くてz軸方向に厚い板ばねである。第3のxばね22では、x軸方向のばね定数が、y軸方向及びz軸方向のばね定数よりも小さい。
y中継部61の各外枠部62は、図1に示すように、U字状に折り返された第2のyばね64を介してyばね固定部66に接続されている。詳細には、外枠部62には、第2のyばね64の1辺が接続されており、この第2のyばね64の1辺がy連結部65を介して第2のyばね64の他方の辺に接続されている。第2のyばね64の他方の辺の先端が、yばね固定部66に接続されている。図4に示すように、第2のyばね64は、第2シリコン層で形成されている。図1に示すように、第2のyばね64は、x軸方向に伸びており、y軸方向に薄くてz軸方向に厚い板ばねである。第2のyばね64では、y軸方向のばね定数が、x軸方向及びz軸方向のばね定数よりも小さい。また、図示を省略するが、yばね固定部65も第2シリコン層で形成されている。図4に示すように、yばね固定部66では、ダブルSOI基板の全ての層が存在して、外側基板81と一体になっている。これにより、y中継部61が第2のyばね64を介して外側基板81に固定されることになり、y中継部61は、第2のyばね64によって外側基板81から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されている。また、y中継部61は、第2のyばね64と第3のxばね22を中継している。
y中継部61の中枠部63には、中枠部63の左右両側の辺から枠の内側に向かってx軸方向に伸びている1本の櫛歯状電極CEが形成されている。また、各y方向固定電極67には、4本の櫛歯状電極CEが形成されている。この櫛歯状電極CEは、y方向固定電極67のx軸方向の両側の側面に2本ずつ形成されており、x軸方向に伸びている。y方向固定電極67の2本の櫛歯状電極CEの間に、中枠部63の櫛歯状電極がCEが位置している。
y変位出力部99は、y中継部61のy軸方向の変位に依存して出力値を変化させる。y変位出力部99の出力原理は、z変位出力部91と同様の原理である。すなわち、y中継部61がy軸方向に変位すると、y中継部61の中枠部63の櫛歯状電極CEは、y方向固定電極67の櫛歯状電極CEと近接したり、遠ざかったりする。これにより、y中継部61とy方向固定電極67との間の静電容量が変化することになる。y変位出力部99は、この静電容量の変化に応じて出力値を変化させる。y変位出力部99の出力に基づいてy中継部61の変位を検出することができる。
次に、本実施例の角速度センサの動作を図1及び図4を参照して説明する。図1に示すように、積層構造体10では、励振電極47によって、x中継部40をx軸方向に往復振動させる。外側可動部20は、第1のyばね21を介してx中継部40に接続されており、内側可動部30は、第1のzばね31を介してx中継部40に接続されている。したがって、x中継部40をx軸方向に往復させることによって、外側可動部20と内側可動部30とがx軸方向に往復振動する。この状態で、y軸周りの角速度が働けば、コリオリ力によって内側可動部30がz軸方向に変位する。一方、z軸周りの角速度が働けばコリオリ力によって外側可動部20がy軸方向に変位する。
y軸周りの角速度が働くことによって、内側可動部30がz軸方向に変位した場合、z中継部51は、内側可動部30のz軸方向に変位に追従してz軸方向に変位するけれども、第2のzばね53を介してzばね固定部54に接続されているため、x軸方向には変位しない。z中継部51は、z軸方向のコリオリ力によってz軸方向にのみ変位する。これにより、上記した静電容量の変化が生じるため、z変位出力部91は、z中継部51のz軸方向の変位量を出力する。z方向にのみ変位する中継部51を利用するために、z軸方向のコリオリ力を正確に出力することができ、y軸周りの角速度を正確に検出することができる。
また、z軸周りの角速度が働くことによって、外側可動部20がy軸方向に変位した場合、y中継部61は外側可動部20のy軸方向に変位に追従してy軸方向に変位するけれども、x軸方向には変位しない。y中継部61は、y軸方向のコリオリ力によってy軸方向にのみ変位する。y変位出力部99は、y軸方向にのみ変位するy中継部61のy軸方向の変位量を検出する。y方向にのみ変位する中継部61を利用するために、y軸方向のコリオリ力を正確に出力することができ、z軸周りの角速度を正確に検出することができる。
また、本実施例の上記構成によれば、
(1)外側基板81上に、基板面に直交するz軸方向に変位する内側可動部30と、基板面に平行なy軸方向に可動な外側可動部20とを備えている構造体を実現し;
(2)それを、ダブルSOI基板の積層構造体10で実現することによって小型化と量産化を可能とし;
(3)z軸方向から見たときに外側可動部20内に内側可動部30を収容しているため、外側可動部20と内側可動部30とが入れ子構造を構成し、1枚の基板から製造可能な個数を増やし、1個あたりの製造コストを低下させることが可能となる。
(実施例2)
本発明に係る積層構造体を3軸加速度センサに適用した実施例2を、図5を参照して説明する。
図5に示すように、本実施例の積層構造体100は、上記実施例1と同じダブルSOI基板の各層の所定範囲をエッチングすることによって得られる。本実施例の積層構造体100は、実施例1と異なる可動構造体101を備えている。本実施例の可動構造体101では、実施例1の2個のx中継部40に代わり、図5に示す2個のx中継部110を備えているとともに、実施例1の励振電極47に代わって2個のx方向固定電極115を備えている。積層構造体100は、x変位出力部103とy変位出力部99とz変位出力部91とに電気的に接続されており、これらにより3軸加速度センサが構成されている。その他の構成は、実施例1と同じであるため、その説明を適宜省略する。また、図5では、実施例1と同じ構成については、実施例1と同じ符号で示す。
2個のx中継部110は、実施例1と同様に、y軸方向に伸びている。各々のx中継部110は、外側可動部20の外側であって、中心Cfを通るy軸に対して対称な位置に配置されている。x中継部110は、内側可動部30に第1のzばね31を介して接続されている。また、x中継部110は、外側可動部20に第1のyばね21を介して接続されている。x中継部110は、4つの第1のxばね41を介してxばね固定部45に固定されている。
本実施例では、2個のx方向固定電極115は、各x中継部110のx軸方向の変位を検出するx変位検出部を構成している。2個のx方向固定電極115は、各x中継部110の外側に位置している。x方向固定電極115では、ダブルSOI基板の5つの層が存在しており、外側基板81と一体となっている。各x中継部110には、外側(x方向固定電極115側)の側面に、外側に向かって伸びる2本の中継側支持部111が形成されている。中継側支持部111の側面から、4本の櫛歯状電極CEがy軸方向に伸びている。各x方向固定電極115では、内側(x中継部110側)の側面に、3本の固定側支持部116が形成されている。3本の固定側支持部116のうち、両端の2本のx方向固定側支持部116には、2本の櫛歯状電極CEが形成されており、中央の1本のx方向固定側支持部116には、4本の櫛歯状電極CEが形成されている。x中継部110の櫛歯状電極CEとx方向固定電極115の櫛歯状電極CEとは、x軸方向に交互に位置しており、互いに対向している。
x変位出力部103は、x中継部110のx軸方向の変位に依存して出力値を変化させる。x変位出力部103の出力原理は、実施例1のz変位出力部91やy変位出力部99と同様の原理である。すなわち、たとえば積層構造体100に対してx軸方向の加速度が働くと、外側可動部20及び内側可動部30が、x軸方向であって加速度が生じた向きと逆方向に並進移動する。また、外側可動部20及び内側可動部30のx軸方向の並進移動に応じて、x中継部110もこれらと一体的にx軸方向に変位する。x中継部110がx軸方向に変位すると、一方のx中継部110の8個の櫛歯状電極CEがx方向固定電極115の櫛歯状電極CEから遠ざかり、他方のx中継部110の8個の櫛歯状電極CEに近接する。これにより、各x方向固定電極115と、これに対応するx中継部110との間の静電容量が変化する。x変位出力部103は、この静電容量の変化に依存して出力値を変化させる。x変位出力部103の出力値に基づいて、x軸方向の加速度を検出することができる。
また、積層構造体100に対してy軸方向に加速度が発生すると、外側可動部20及び内側可動部30が、y軸方向であって加速度が生じた向きと逆方向に並進移動するため、y中継部61もy軸方向に変位する。y変位出力部99が、y中継部61のy軸方向の変位に応じて出力値を変化させる。y変位出力部99の出力値に基づいて、y軸方向の加速度を検出することができる。
また、積層構造体100に対してz軸方向に加速度が発生すると、外側可動部20及び内側可動部30が、z軸方向であって加速度が生じた向きと逆方向に並進移動するため、z中継部51もz軸方向に変位する。z変位出力部91が、z中継部51のz軸方向の変位に依存して出力値を変化させる。z変位出力部91の出力値に基づいて、z軸方向の加速度を検出することができる。その他の作用効果は実施例1と同じである。
(実施例3)
本発明に係る積層構造体を2軸角速度センサに適用した実施例3を、図6及び図7を参照して説明する。
図6に示すように、本実施例の積層構造体120は、上記各実施例と同じダブルSOI基板の各層の所定範囲をエッチングすることによって得られる。この積層構造体120とy変位出力部99とz変位出力部91とによって2軸角速度センサが構成されている。
本実施例の積層構造体120は、実施例1と異なる可動構造体121を備えている。可動構造体121は、実施例1の4本の第1のzばね31に代わり、4本のy‐zばね123を備えている。図7に示すように、本実施例では第1のzばね31がないため、基板125の外側基板126に、実施例1の開口84,85が形成されていないが、4本のy‐zばね123に対応して開口87が形成されている。また、本実施例の積層構造体120においても、全ての構成が、外側可動部20と内側可動部30の中心Cfを通るx軸及びy軸に関して対称な構造となっている。その他の構成は、実施例1と同じであるため、その説明を適宜省略する。図6及び図7では、実施例1と同じ構成については、同じ符号で示している。
本実施例では、上記したように、実施例1の第1のzばね31がないため、内側可動部30とx中継部40とは、第1のzばね31で接続されていない。図6に示すように、内側可動部30と外側可動部20とは、y‐zばね123で接続されている。y‐zばね123は、x軸方向に伸びてU字形状に折り返されているとともに、y軸方向の厚みとz軸方向の厚みが薄い。すなわち、y−zばね123は、y軸方向のばね定数とz軸方向のばね定数が、x軸方向のばね定数よりも低く、y軸方向及びz軸方向には変形しやすく、x軸方向には変形しづらい。詳細には、内側可動部30のx軸方向に伸びる各辺の両端と、外側可動部20のx軸方向に伸びる各辺の両端とが、y‐zばね123で接続されている。また、図7に示すように、y−zばね123は、第1シリコン層で形成されている。y−zばね123の両端は、第1酸化膜を介して外側可動部20と内側可動部30とに接続されている。
y‐zばね123の両端には貫通電極PE3が形成されており、外側可動部20と内側可動部30の電気的接続が確保されている。
図6に示すように、z中継部51は、第2のzばね53を介してzばね固定部54に固定されている。z中継部51は、z軸方向にのみ変位可能である。内側可動部30は、第2のxばね55を介してz中継部51に接続されている。内側可動部30は、第2のxばね55と第2のzばね53とによって、x軸方向とz軸方向とに変位可能である。
また、外側可動部20は、実施例1と同様に、第1のxばね41と第1のyばね21によって、x軸方向とy軸方向に変位可能である。内側可動部30がx軸方向とz軸方向に変位可能であり、外側可動部20がx軸方向とy軸方向に変位可能であるので、内側可動部30と外側可動部20は、y軸方向とz軸方向に相対移動する。内側可動部30は、y‐zばね123を介して外側可動部20に接続されているので、内側可動部30と外側可動部20は、y軸方向とz軸方向に相対移動可能である。y‐zばね123はx軸方向には変形しない。内側可動部30と外側可動部20は、x軸方向には同一量だけ変位する。
励振電極47によってx中継部40がx軸方向に往復振動すると、yばね21はx軸方向には変形しないので、外側可動部20もx軸方向に変位する。また内側可動部30は、y‐zばね123によって外側可動部20に接続されており、そのy‐zばね123はx軸方向には変形しないので、内側可動部30もx中継部40のx軸方向の変位に追従してx軸方向に変位する。この状態で、y軸周りの角速度が働けば、コリオリ力によって内側可動部30がz軸方向に変位し、これに伴ってz中継部51がz軸方向にのみ変位する。z変位出力部91が、z中継部51の変位に依存して出力値を変化させるため、この出力値に基づいてy軸周りの角速度を検出することができる。一方、x中継部40がx軸方向に往復振動している状態で、z軸周りの角速度が働けば、コリオリ力によって外側可動部20がy軸方向に変位し、これに伴ってy中継部61がy軸方向にのみ変位する。y変位出力部99が、y中継部61の変位に依存して出力値を変化させるため、この出力値に基づいてz軸周りの角速度を検出することができる。
また、本実施例においても、
(1)外側基板126上に、基板面に直交するz軸方向に変位可能な内側可動部30と、基板面に平行なy軸方向に変位可能な外側可動部20とを備えている構造体を実現し;
(2)それを、ダブルSOI基板の積層構造体で実現することによって小型化と量産化を可能とし;
(3)z軸方向から見たときに外側可動部20内に内側可動部30を収容しているため、外側可動部20と内側可動部30とが入れ子構造を構成し、1枚の基板から製造可能な個数を増やし、1個あたりの製造コストを低下させることが可能となる。その他の作用効果は実施例1と同じである。
(実施例4)
本発明に係る積層構造体を3軸の加速度センサに適用した実施例4を、図8を参照して説明する。
図8に示すように、積層構造体140は、上記実施例1と同じダブルSOI基板の各層の所定範囲をエッチングすることによって得られる。この積層構造体140とx変位出力部103とy変位出力部99とz変位出力部91とによって3軸の加速度センサが構成されている。
本実施例の積層構造体140は、上記各実施例と異なる可動構造体141を備えている。本実施例の可動構造体141は、実施例3の2個のx中継部40に代わり、図8に示す2個のx中継部110を備えている。また、実施例3の励振電極47に代わって2個のx方向固定電極115を備えている。その他の構成は、実施例3と同じである。また、x中継部110及びx方向固定電極115の構成は、実施例2と同じである。積層構造体140は、x変位出力部103とy変位出力部99とz変位出力部91とに電気的に接続されている。実施例2と実施例3と同じ構成については、その説明を省略する。図8では、実施例2と実施例3と同じ構成については、実施例2と実施例3と同じ符号で示している。
積層構造体140に対してx軸方向の加速度が働くと、外側可動部20及び内側可動部30が、x軸方向であって加速度が生じた向きと逆方向に並進移動し、これに伴ってx中継部40がx軸方向に変位する。x変位出力部103は、x中継部110のx軸方向の変位に依存して出力値を変化させるため、この出力値に基づいて、x軸方向の加速度を検出することができる。また、積層構造体140に対してy軸方向の加速度が働くと、外側可動部20がy軸方向に変位するのに伴って、y中継部61がy軸方向に変位する。y変位出力部99が、y中継部61のy軸方向の変位に応じて出力値を変化させるため、y軸方向の加速度を検出することができる。また、積層構造体140に対してz軸方向の加速度が働くと、内側可動部30がz軸方向に変位するのに伴って、z中継部51がz軸方向に変位する。z変位出力部91が、z中継部51のz軸方向の変位に依存して出力値を変化させるため、z軸方向の加速度を検出することができる。
(実施例5)
本発明に係る積層構造体の実施例5を、図9を参照して説明する。本実施例の積層構造体150は、上記実施例1と同じダブルSOI基板の各層の所定範囲をエッチングすることによって得られる。図9に示すように、積層構造体150は、外側可動部20及び内側可動部30がy‐zばね123で接続されており、この点は実施例3及び4と同じであるが、その他の構成が実施例3及び4と異なっている。また、本実施例の積層構造体150においても、全ての構成が、外側可動部20と内側可動部30の中心Cfを通るx軸及びy軸に関して対称な構造となっている。
内側可動部30の枠内に、x‐zばね固定部154が収容されている。x‐zばね固定部154は、平面視が矩形状であり、ダブルSOI基板の全ての層が存在している。外側可動部20と内側可動部30の中心Cfと、x‐zばね固定部154の中心とは一致している。内側可動部30のy軸方向に伸びている各辺に、2本のx‐zばね155の一端が接続されており、x‐zばね155の他端は、x‐zばね固定部154に接続されている。x‐zばね155は、第1シリコン層で形成されている。x‐zばね155は、x軸方向に伸びてy軸方向に屈曲しており、z軸方向の厚みがy軸方向の厚みよりも薄くなっている。したがって、x‐zばね155のx軸方向及びz軸方向のばね定数は、y軸方向のばね定数よりも小さい。x‐zばね155は、x軸方向及びz軸方向に変形しやすく、y軸方向には変形しづらい。x‐zばね155の一端は、内側可動部30に第1酸化膜(図示略)を介して接続されており、x‐zばね155の他端は、x‐zばね固定部154の第1シリコン層と一体となっている。基板151には、x‐zばね155に対応する部位にエッチング用の開口88が形成されている。
外側可動部20のy軸方向に伸びている各辺に、2本のx‐yばね156が接続されており、x‐yばね156は、x‐yばね固定部160に固定されている。x‐yばね156は、第2シリコン層で構成されており、x‐yばね固定部160では、ダブルSOI基板の全ての層が存在している。x‐yばね156は、1本のyばね部157と2本のxばね部158とx連結部159とからなる。yばね部157は、外側可動部20に直接接続されている。yばね部157は、x軸方向に伸びており、y軸方向に薄くz軸方向に厚い板ばねであり、y軸方向のばね定数が、x軸方向及びz軸方向のばね定数よりも小さい。xばね部158は、y軸方向に伸びており、x軸方向に薄くz軸方向に厚い板ばねであり、x軸方向のばね定数が、y軸方向及びz軸方向のばね定数よりも小さい。yばね部157に、1本のxばね部158が接続されており、そのxばね部158が、x連結部159と他のxばね部158を介してx‐yばね固定部160に接続されている。以上のようにして、x‐yばね156は、x軸方向及びy軸方向のばね定数が、z軸方向のばね定数よりも小さくなっており、x軸方向及びy軸方向には変形しやすく、z軸方向には変形しづらい。
本実施例の積層構造体150では、外側可動部20がx‐yばね156を介して基板151に接続されているため、外側可動部20はx軸方向及びy軸方向に変位可能である。また、内側可動部30は、x‐zばね155を介して基板151に固定されているため、x軸及びz軸方向に変位可能である。外側可動部20はy軸方向とx軸方向とに可動であり、内側可動部30はx軸方向とz軸方向とに可動するため、外側可動部20は、内側可動部30に対してy軸方向とz軸方向に相対変位する。y‐zばね123が、2つの可動部20,30の相対的な変位を許容ないし吸収する。
本実施例の積層構造体150を上記各実施例のセンサが備える部材と組み合わせることによって、2軸の角速度センサを実現することもできるし、3軸の加速度センサを実現することもできる。
また、本実施例においても、
(1)外側基板151上に、基板面に直交するz軸方向に可動な内側可動部30と、基板面に平行なy軸方向に可動な外側可動部20とを備えている構造体を実現し;
(2)それを、ダブルSOI基板の積層構造体で実現することによって小型化と量産化とを可能とし;
(3)z軸方向から見たときに外側可動部20内に内側可動部30を収容しているため、外側可動部20と内側可動部30とが入れ子構造を構成し、1枚の基板から製造可能な個数を増やし、1個あたりの製造コストを低下させることが可能となる。
(実施例6)
本発明に係る積層構造体を2軸の角速度センサに適用した実施例6を、図10乃至12を参照して説明する。
本実施例の積層構造体200は、実施例1〜5とは異なり、3層のSOI基板の所定範囲をエッチングすることによって製造される。本実施例で用いる3層のSOI基板では、厚みが5μmのシリコン層(以下、第1シリコン層という)、厚みが3μmの酸化シリコン層(以下、第1酸化膜という)、及び厚みが15μmのシリコン層(以下、第2シリコン層という)が、上から順に積層されている。すなわち、本実施例の積層構造体200には、第2酸化膜及び第3シリコン層が存在しない点において、実施例1〜5の積層構造体と異なっている。なお、3層のSOI基板では、酸化膜は一層のみであるが、実施例1〜5との整合を図るために、便宜上、一層のみの酸化膜を第1酸化膜という。
実施例1〜5では、基板が第3シリコン層で構成されていたが、本実施例では、基板280が第1シリコン層で構成されている。可動構造体201の大部分は、第1シリコン層の下側に配置されている第2シリコン層で構成されている。
図10は、第2シリコン層の残存範囲を示し、網掛け部分は、第1酸化膜を介して第1シリコン層に固定されている範囲を示している。網掛けでない部分は、第1酸化膜が除去されており、第1シリコン層から遊離している範囲を示している。図10は、第1シリコン層を除去した状態を示している。図1と同等の構造には、200を加えた番号を付して重複説明を省略する。
図11に示すように、基板280を構成する第1シリコン層には溝G1,G2が形成されている。基板280は、溝G1とG2によって、外側基板281と、2個の固定電極基板282と、内側基板283と、第2のzバネ253と、第1のzバネ231に分離されている。
図12は、外側基板281を除去した平面図を示している。実際には、外側基板281が、可動構造体201を支持する基板として機能している。
可動構造体201は、実施例1と概ね同じ構造である。実施例1と同等部分には200を加えた番号で示し、その説明を省略する。本実施例では、xばね固定部245、yばね固定部266、zばね固定部254、y方向固定電極267、第1のz方向固定電極212の外側範囲と、第2のz方向固定電極213の両端部と、励振電極247の範囲では、SOI基板の3層が全て存在しており、外側基板281に固定されている。一対の結合部252の中心側の範囲では、内側基板283に固定されている。一対の結合部252と内側基板283でz中継部251を構成している。第1のz方向固定電極212の内側範囲は、固定電極基板282に固定されている。結合部252の上面と固定電極基板282の下面の間にコンデンサC1が形成され、第2のz方向固定電極213の上面と内側基板283の下面の間にコンデンサC2が形成されている。結合部252と内側基板283は一体となってz軸方向に変位する。結合部252と内側基板283が上方に変位すれば、コンデンサC1の容量が増加し、コンデンサC2の容量が減少する。結合部252と内側基板283が下方に変位すれば、コンデンサC1の容量が減少し、コンデンサC2の容量が増加する。
第2のzバネ253は、x軸方向に伸びており、z軸方向に薄くy軸方向に厚い板バネである。第2のzバネ253は、内側基板283からx軸方向に伸びており、x軸方向で内側可動部230と外側可動部220との間の位置にまで達し、固定部254で外側基板281に固定されている。第2のzバネ253は、内側可動部230と立体交差している。内側可動部230と第2のzばね253との間には、第1酸化膜分のギャップが形成されている。第2のzバネ253は、z軸方向のバネ定数が他の軸方向のバネ定数よりも小さい。第2のzバネ253の一端は、内側基板283と連続的に接続されている。また、第2のzバネ253の他端は、zばね固定部254を介して外側基板281に固定されている。zばね固定部254では、第1酸化膜と第2シリコン層とが存在している。zばね固定部254は、第2のzバネ253の他端側に対応する位置でy軸方向に伸びており、第2のzバネ253とその両側の溝G1を跨いでおり、両端が外側基板281にまで達している。zばね固定部254は、両端部が外側基板281に接続されているとともに、その中央部には第2のzバネ253が接続されている。これにより、第2のzバネ253は、溝G1によって外側基板281から分離されてはいるものの、zばね固定部254を介して外側基板281に固定されている。
また、内側基板283は第1酸化膜を介してz中継部251の各結合部252に接続されている。z中継部251は、内側基板283と第2のzバネ253とzばね固定部254を介して、外側基板281に固定されている。z中継部251は、第2のzバネ253によって外側基板281に対してz軸方向に変位可能となっている。内側基板283は、z中継部251と一体に変位する。
第2のz方向固定電極213は、内側基板283の下方に位置している。内側基板283がz軸方向に変位しない状態では、内側基板283の下面と第2のz方向固定電極213の上面との間に、第1酸化膜の厚みに等しいギャップが形成されている。また図示は省略するが、上記各実施例と同様に、第2のz方向固定電極213は接地されており、z中継部251と内側可動部230と内側基板283は電気的に相互に接続されており、2個の第1のz方向固定電極212は、それぞれ固定電極基板282に電気的に接続されている。固定電極基板282と各結合部252と間にコンデンサが形成されており、このコンデンサには、第2のz方向固定電極213と内側基板283との間に形成されたコンデンサが直列に接続されている。z中継部251のz軸方向に変位すると、直列に接続された2つのコンデンサによって生じる分圧電位が変化し、z変位出力部91がz中継部のz軸方向の変位に依存して出力値を変化させる。
本実施例では、励振電極247によりx中継部240がx軸方向に振動すると、それに伴って外側可動部220及び内側可動部230がx軸方向に振動する。y軸周りの角速度が働くと、内側可動部230がz軸方向に変位するため、それに追従してz中継部251と内側基板283もz軸方向に変位する。これにより、z変位出力部91は、z中継部251のz軸方向の変位量を出力する。z軸方向のコリオリ力を正確に出力することができ、y軸周りの角速度を正確に検出することができる。z軸周りの角速度が作用した場合には、外側可動部220がy軸方向に変位するため、それに追従してy中継部261がy軸方向に変位する。これにより、y変位出力部99が、y中継部261のy軸方向の変位量を出力する。y軸方向のコリオリ力を正確に検出することができ、z軸周りの角速度を正確に検出することができる。
本実施例の積層構造体200においても、
(1)外側基板281上に、基板面に直交するz軸方向に可動な内側可動部230と、基板面に平行なy軸方向に可動な外側可動部220とを備えている構造体を実現し;
(2)それをSOI基板の積層構造体で実現することによって小型化と量産化とを可能とし;
(3)z軸方向から見たときに外側可動部220内に内側可動部230を収容しているため、外側可動部220と内側可動部230とが入れ子構造を構成し、1枚の基板から製造可能な個数を増やし、1個あたりの製造コストを低下させることが可能となる。
なお、実施例6では、SOI基板で構成される3層の積層構造体を角速度センサに適用したが、実施例2及び4のように、積層構造体200の励振電極247をx方向固定電極に変更し、x中継部240をx中継部110に変更することによって、3層の積層構造体からなる3軸加速度センサに適用してもよい。
(その他の実施例)
実施例1及び2の第2のzばね53は、第2シリコン層で形成されていてもよい。実施例3及び4のy‐zばね123は、第2シリコン層で形成されていてもよい。第2シリコン層では15μmであり、第1シリコン層よりも厚い。したがって、第2シリコン層で第2のzばね53及びy‐zばね123を形成する場合には、第2シリコン層15のこれらのばねに対応する部位をエッチングすることによってz軸方向の厚みを薄くすることが好ましい。
上記各実施例では、外側可動部がy軸方向のみならずx軸方向にも変位可能であるとともに、内側可動部がz軸方向のみならずx軸方向にも変位可能である。しかしながら、外側可動部は、y軸方向にのみ変位し、x軸方向には変位しない構成であってもよいし、内側可動部は、z軸方向にのみ変位し、x軸方向には変位しない構成であってもよい。例えば、上記実施例1〜4及び6の可動構造体では、x中継部が第1のxばねを介して基板に接続されているが、x中継部をxばね固定部に直接接続すれば、外側可動部がy軸方向にのみ変位し、内側可動部がz軸方向にのみ変位する構成となる。また、実施例1及び2の第1のyばね21及び第1のzばね31をx中継部に接続することなく、固定部に直接接続するようにしてもよい。このような構成では、2軸加速度センサや1軸角速度をセンサを実現することができる。
また、上記各実施例では、外側可動部と内側可動部とを共に枠状としたが、内側可動部は枠状でなくてもよく、内側可動部は、積層構造体の基板を平面視したときに、外側可動部の枠内にあればよい。
また、たとえば、外側可動部を第2シリコン層で形成し、内側可動部を第1シリコン層で形成するといった態様で、内側可動部と外側可動部とが異なる層で形成されていてもよい。
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例をさまざまに変形、変更したものが含まれる。
本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
10,100,120,140,200:積層構造体
11,101,121,141,201:可動構造体
12,212:第1のz方向固定電極
13,213:第2のz方向固定電極
20:外側可動部
21:第1のyばね
22:第3のxばね
30:内側可動部
31:第1のzばね
40,110:x中継部
41:第1のxばね
42,159:x連結部
45,160,245:xばね固定部
47,247:励振電極
51,251:z中継部
52,252:結合部
53,253:第2のzばね
54,154,254:zばね固定部
55:第2のxばね
61:y中継部
62:外枠部
63:中枠部
64:第2のyばね
65:y連結部
66,266:yばね固定部
67,267:y方向固定電極
71,72,73,74,75:酸化膜
80,125,151,280:基板
81,126,281:外側基板
82,282:固定電極基板
83,282:内側基板
84,85,86,87:開口
90:z変位出力部
91:z変位出力部
92:キャリア信号発生部
93:C−V変換部
94:AM復調回路
95:オペアンプ
96:キャパシタ
97:抵抗
99:y変位出力部
103:x変位出力部
111:中継側支持部
115:x方向固定電極
116:固定側支持部
123:y‐zばね
150:積層構造体
155:x‐zばね
156:x‐yばね
157:yばね部
158:xばね部
C1,C2:コンデンサ
CE:櫛歯状電極
Cf:中心
G1,G2:溝
PE1,PE2,PE3:貫通電極

Claims (8)

  1. 直交3軸をx軸,y軸,z軸とし、基板表面をx‐y面としたときに、
    x軸方向に伸びている2辺とy軸方向に伸びている2辺を備えている外側可動部と、
    z軸方向から見たときに前記外側可動部内に収容されている内側可動部を備えており、
    前記外側可動部にyばねが接続されており、そのyばねによって前記外側可動部が基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されており、
    前記内側可動部にzばねが接続されており、そのzばねによって前記内側可動部が基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されており、
    前記外側可動部と前記zばねが基板からの高さを異にする異なる層で形成されており、
    前記zばねが前記外側可動部から離反した高さにおいて前記外側可動部と立体交差していることを特徴とする積層構造体。
  2. z軸方向から見たときに前記外側可動部外に位置しているx中継部が付加されており、
    前記yばねと前記zばねが前記x中継部に接続されており、
    前記x中継部と基板の間がxばねで接続されており、
    前記xばねによって前記x中継部が基板から離反した高さにおいてx軸方向に変位可能に支持されており、
    前記xばねと前記yばねによって前記外側可動部が基板から離反した高さにおいてx軸方向とy軸方向に変位可能に支持されており、
    前記xばねと前記zばねによって前記内側可動部が基板から離反した高さにおいてx軸方向とz軸方向に変位可能に支持されていることを特徴とする請求項1に記載の積層構造体。
  3. 前記x中継部をx軸方向に往復振動させる振動部と、
    y中継部と、
    そのy中継部のy軸方向の変位を検出するy変位検出部と、
    z中継部と、
    そのz中継部のz軸方向の変位を検出するz変位検出部とが付加されており、
    前記z中継部は、前記内側可動部に第2のxばねを介して接続されているとともに、基板に第2のzばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されており、
    前記y中継部は、前記外側可動部に第3のxばねを介して接続されているとともに、基板に第2のyばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されており、
    y軸周りとz軸周りの角速度を検出することを特徴とする請求項2に記載の積層構造体。
  4. 前記x中継部のx軸方向の変位を検出するx変位検出部と、
    y中継部と、
    そのy中継部のy軸方向の変位を検出するy変位検出部と、
    z中継部と、
    そのz中継部のz軸方向の変位を検出するz変位検出部が付加されており、
    前記z中継部は、前記内側可動部に第2のxばねを介して接続されているとともに、基板に第2のzばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されており、
    前記y中継部は、前記外側可動部に第3のxばねを介して接続されているとともに、基板に第2のyばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されており、
    x軸方向とy軸方向とz軸方向の加速度を検出することを特徴とする請求項2に記載の積層構造体。
  5. 直交3軸をx軸,y軸,z軸とし、基板表面をx‐y面としたときに、
    x軸方向に伸びている2辺とy軸方向に伸びている2辺を備えている外側可動部と、
    z軸方向から見たときに前記外側可動部内に収容されている内側可動部を備えており、
    前記外側可動部と基板の間にyばねが介在しており、そのyばねによって前記外側可動部が基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されており、
    前記内側可動部と前記外側可動部の間がy-zばねで接続されており、前記内側可動部と基板の間にzばねが介在しており、前記y-zばねと前記zばねによって前記内側可動部が基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されていることを特徴とする積層構造体。
  6. z軸方向から見たときに前記外側可動部外に位置しているx中継部が付加されており、
    前記yばねが前記x中継部に接続されており、
    前記x中継部と基板の間がxばねで接続されており、
    前記xばねによって前記x中継部が基板から離反した高さにおいてx軸方向に変位可能に支持されており、
    前記xばねと前記yばねによって前記外側可動部が基板から離反した高さにおいてx軸方向とy軸方向に変位可能に支持されており、
    前記内側可動部と前記基板の間に第2のxばねが付加されており、
    その第2のxばねと前記zばねによって前記内側可動部が基板から離反した高さにおいてx軸方向とz軸方向に変位可能に支持されていることを特徴とする請求項5に記載の積層構造体。
  7. 前記x中継部をx軸方向に往復振動させる振動部と、
    y中継部と、
    そのy中継部のy軸方向の変位を検出するy変位検出部と、
    z中継部と、
    そのz中継部のz軸方向の変位を検出するz変位検出部が付加されており、
    前記z中継部は、前記zばねと前記第2のxばねの間に挿入されているとともに、基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されており、
    前記y中継部は、前記外側可動部に第3のxばねを介して接続されているとともに、基板に第2のyばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されており、
    y軸周りとz軸周りの角速度を検出することを特徴とする請求項6に記載の積層構造体。
  8. 前記x中継部のx軸方向の変位を検出するx変位検出部と、
    y中継部と、
    そのy中継部のy軸方向の変位を検出するy変位検出部と、
    z中継部と、
    そのz中継部のz軸方向の変位を検出するz変位検出部が付加されており、
    前記z中継部は、前記zばねと前記第2のxばねの間に挿入されているとともに、基板から離反した高さにおいてz軸方向に変位可能に支持されており、
    前記y中継部は、前記外側可動部に第3のxばねを介して接続されているとともに、基板に第2のyばねを介して接続されており、基板から離反した高さにおいてy軸方向に変位可能に支持されており、
    x軸方向とy軸方向とz軸方向の加速度を検出することを特徴とする請求項6に記載の積層構造体。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013205019A (ja) * 2012-03-27 2013-10-07 Seiko Epson Corp 物理量検出デバイス、物理量検出器、および電子機器

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080211730A1 (en) 2007-01-26 2008-09-04 Woosnam Calvin H Gimbaled Mount System for Satellites
KR101540154B1 (ko) * 2013-10-04 2015-07-28 삼성전기주식회사 각속도 센서 및 그의 제조방법
FR3013442B1 (fr) * 2013-11-20 2015-12-18 Sagem Defense Securite Capteur comprenant des masses mobiles et des moyens de detection des mouvements relatifs des masses
FR3013441B1 (fr) * 2013-11-20 2015-12-18 Sagem Defense Securite Capteur inertiel a masses sismiques imbriquees et procede de fabrication d'un tel capteur
FI126557B (en) 2014-05-07 2017-02-15 Murata Manufacturing Co Improved gyroscope structure and gyroscope
KR101915954B1 (ko) * 2016-06-29 2018-11-08 주식회사 신성씨앤티 멤스 기반의 3축 가속도 센서
DE102017213802A1 (de) * 2017-08-08 2019-02-14 Robert Bosch Gmbh Drehratensensor, Verfahren zur Herstellung eines Drehratensensors
CN115727840B (zh) * 2021-08-31 2025-10-31 华为技术有限公司 惯性传感器和电子设备

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2899664B2 (ja) * 1991-01-16 1999-06-02 日本航空電子工業株式会社 振動型角速度センサ
EP0567938B1 (en) * 1992-04-30 1998-03-18 Texas Instruments Incorporated Digital accelerometer
US6149190A (en) * 1993-05-26 2000-11-21 Kionix, Inc. Micromechanical accelerometer for automotive applications
US5565625A (en) * 1994-12-01 1996-10-15 Analog Devices, Inc. Sensor with separate actuator and sense fingers
DE19537814B4 (de) * 1995-10-11 2009-11-19 Robert Bosch Gmbh Sensor und Verfahren zur Herstellung eines Sensors
KR100363246B1 (ko) * 1995-10-27 2003-02-14 삼성전자 주식회사 진동구조물및진동구조물의고유진동수제어방법
JP3805837B2 (ja) * 1996-08-12 2006-08-09 トヨタ自動車株式会社 角速度検出装置
DE19639946B4 (de) * 1996-09-27 2006-09-21 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauelement
US6122961A (en) * 1997-09-02 2000-09-26 Analog Devices, Inc. Micromachined gyros
JP4427876B2 (ja) 1999-07-22 2010-03-10 株式会社日本自動車部品総合研究所 半導体角速度センサ
US6450033B1 (en) * 1999-07-22 2002-09-17 Denso Corporation Semiconductor physical quantity sensor
EP1083144B1 (en) * 1999-09-10 2008-05-07 STMicroelectronics S.r.l. Micro-electromechanical structure insensitive to mechanical stresses.
FR2808264B1 (fr) * 2000-04-28 2002-06-07 Commissariat Energie Atomique Structure mecanique micro-usinee et dispositif incorporant la structure
DE10108198A1 (de) * 2001-02-21 2002-09-12 Bosch Gmbh Robert Drehratensensor
KR100436367B1 (ko) * 2001-12-14 2004-06-19 삼성전자주식회사 수직 진동 질량체를 갖는 멤스 자이로스코프
US6786313B2 (en) * 2002-02-04 2004-09-07 Nexen Group, Inc. Rotational control apparatus
US6755289B2 (en) * 2002-08-19 2004-06-29 Nexen Group, Inc. Rotational control apparatus
US6964195B2 (en) * 2004-01-30 2005-11-15 Bei Technologies, Inc. Micromachined vibratory gyroscope and method with electronic coupling
US7501835B2 (en) * 2004-03-10 2009-03-10 Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho Displacement sensor
DE602004031938D1 (de) * 2004-08-13 2011-05-05 St Microelectronics Srl Mikroelektromechanische Struktur, insbesondere Beschleunigungssensor, mit verbesserter Unempfindlichkeit gegenüber thermischen und mechanischen Spannungen
FR2876180B1 (fr) * 2004-10-06 2006-12-08 Commissariat Energie Atomique Resonateur a masses oscillantes.
JP5135683B2 (ja) * 2005-02-28 2013-02-06 ソニー株式会社 振動型ジャイロセンサ及び振動素子の製造方法
JP2007248152A (ja) * 2006-03-14 2007-09-27 Toyota Motor Corp 力学量検出装置及びその製造方法
JP2007278717A (ja) * 2006-04-03 2007-10-25 Epson Toyocom Corp ジャイロ装置
JP5301767B2 (ja) 2006-06-13 2013-09-25 日立オートモティブシステムズ株式会社 慣性センサ
TWI335903B (en) * 2007-10-05 2011-01-11 Pixart Imaging Inc Out-of-plane sensing device
JP4609558B2 (ja) * 2008-09-02 2011-01-12 株式会社デンソー 角速度センサ
US8186220B2 (en) * 2009-03-09 2012-05-29 Freescale Semiconductor, Inc. Accelerometer with over-travel stop structure
TWM378928U (en) * 2009-07-29 2010-04-21 Pixart Imaging Inc Mems device and spring element of mems

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013205019A (ja) * 2012-03-27 2013-10-07 Seiko Epson Corp 物理量検出デバイス、物理量検出器、および電子機器

Also Published As

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