JP4901669B2 - 半導体パッケージ及び半導体パッケージの製造方法 - Google Patents

半導体パッケージ及び半導体パッケージの製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、半導体パッケージ及び半導体パッケージの製造方法に関し、特に、組立工程の簡易化及び容易化が可能なものに関する。
現在、電力用半導体素子として、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)、IEGT(Injection Enhanced Gate Transistor)、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)等の半導体素子が多用されている。これら半導体素子は、板状に形成されており、半導体素子の表面に表面側電力端子及び制御端子を備えている。また、半導体素子の裏面には、裏面側電力端子を備えている。
なお、半導体素子がIGBT素子である場合には、表面側電力端子はエミッタ電極、裏面側電力端子はコレクタ電極、制御端子はゲート電極となる。
このような半導体素子を基板に実装して半導体パッケージとするには、半導体素子の裏面側電力端子は、半田接合により基板表面側の電極と接続される。また、半導体素子の表面側電力端子及び制御端子は、アルミニウムワイヤを用いたワイヤボンディングにより基板表面側の電極に接続される(例えば、特許文献1、2参照)。
しかし、ワイヤボンディングを用いた場合、ワイヤを一本ずつボンディングするため、ボンディング工程に時間がかかり、製造コストが増大する虞がある。また、ワイヤがループするため、ワイヤ長が長くなり、配線インダクタンスが大きくなることや、外形状が大きくなる。さらに、半導体素子に振動が印加された場合に、ワイヤの断線や隣接するワイヤ等に接触することで短絡する虞等がある。
このため、半導体素子の表面側電力端子にワイヤボンディング法を用いずに、アルミニウム薄板等をボンディングする方法や、平板やリードを半田接合し電極として引き出す方法等も用いられている。
このような半導体パッケージを複数個備える半導体モジュールでは、複数の半導体パッケージが、放熱板であるベース基板上に一列に並べて設けられている。このとき、半導体パッケージの基板裏面がベース基板上に接合される。この半導体モジュールがインバータやコンバータ等の電力制御機器に搭載される。
特開2002−164485号公報 特開2003−110064号公報
上述した半導体モジュールでは、各半導体パッケージの片面だけがベース基板に接触しているため、放熱を充分行なうことができない。また、各半導体パッケージの基板裏面がベース基板上に接合されて設けられる構成となるため、ベース基板に対する半導体パッケージの設置面積が大きくなる。即ち、半導体モジュールの大型化を招く虞がある。
これらのことを防止するために、各半導体パッケージを一列に並べて設け、これら半導体パッケージを表裏面からバスバーなどの一対の導電部材により狭持し、ベース基板上に設けるようにしたものも知られている。
しかし、一対の導電部材は、熱伝導性を有しており、放熱部材としても機能するため、電流の供給に応じて熱膨張及び収縮する。加えて、導電部材のベース基板側の端部が固定端であり、その反対側の端部が自由端である。このため、導電部材の熱膨張及び収縮の挙動は自由端と固定端とで異なり、この挙動は自由端で比較的大きくなる。この挙動により、半導体パッケージには外力が加わり、半導体パッケージが破損してしまう虞もある。
また、半導体パッケージの小型化を図った場合、半導体素子の各端子の接続部分も小さくなる。そのため、半導体パッケージの製造方法において、十分な接合をすることができないことがあり、これが原因により、接合部が破損し易くなる虞もある。
このような破損を防止するために、接合面積を広く取る方法や、一面だけを接合するのではなく、側面をも半田(又は接着剤等)で連続させて接合する方法を用いることで十分な接合とする方法もある。しかし、これらの方法では、半田の溶接箇所が多くなるとともに、半田の設置やスペーサ等の設置工程や溶接工程等、組立工程が増大する虞がある。このような組立工程の増大は、量産コストの増大にもつながる。
そこで本発明は、接合強度を減少することなく機械的に接合する場合であっても製造工程を低減することが可能な半導体パッケージ及び半導体パッケージの製造方法を提供することを目的としている。
前記課題を解決し目的を達成するために、本発明の半導体パッケージ、及び、半導体パッケージの製造方法は次のように構成されている。
本発明の一態様として、板状に形成され、第1の主面の中心部に設けられたゲート電極、第1の主面の前記ゲート電極の周囲に設けられたエミッタ電極、及び、第2の主面に設けられたコレクタ電極を有する半導体素子と、板状に形成され、前記第1の主面に対向する一方の面に設けられ前記エミッタ電極の少なくとも一部と当接する突起部、この突起部の中心に設けられた貫通孔、この貫通孔の内周面の一部であって他方の面側に設けられた台座部、前記突起部に設けられ前記貫通孔から前記突起部の外側面まで形成された連通路、及び、前記突起部の外側面に設けられた複数の開口部を有する第1電極板と、前記半導体素子と前記第1電極板との間に積層されるとともに狭持可能な板状に形成され、前記突起部が貫入される貫入口、その基端が前記貫入口の内周面に設けられ、その先端が前記貫通孔内部に位置するとともに前記台座部に保持され、前記連通路を介して延出する突出部、この突出部の先端に設けられ前記ゲート電極に電気的に接続される制御電極、及び、前記貫入口の内周面に複数設けられるとともに前記複数の開口部にそれぞれ係合し、その先端が前記突起部の外側面の内側に位置する係合部を有する配線基板と、板状に形成され、その一方の主面が前記コレクタ電極と電気的に接続される第2電極板と、を備えることを特徴とする。
本発明の一態様として、板状に形成され、第1の主面の中心側に設けられたゲート電極、第1の主面のゲート電極の周囲に設けられたエミッタ電極、及び、第2の主面に設けられたコレクタ電極を有する半導体素子と、板状に形成され、前記第1の主面に対向する対向面に前記エミッタ電極の少なくとも一部と当接する突起部、この突起部の中心に設けられた貫通孔、この貫通孔の内周面の一部であって前記対向面と相対する面側に設けられた台座部、前記突起部に設けられ前記貫通孔から前記突起部の外側面まで形成された連通路、前記突起部の外側面に設けられ、前記突起部の外側面に一部開口する少なくとも1つ有する開口部、及び、前記突起部の外側面であって前記対向面に設けられ突出する引掛部を有する第1電極板と、前記半導体素子と前記第1電極板との間に積層されるとともに狭持可能な板状に形成され、前記突起部及び前記引掛部が貫入される貫入口、その基端が前記貫入口のうち周面の一部に設けられ、その先端が前記貫通孔内部に位置するとともに前記台座部に保持され、前記連通路を介して延出する突出部、この突出部の先端に設けられ前記ゲート電極に電気的に接続される制御電極、及び、前記貫入口の内周面に設けられるとともに前記開口部に係合し、その先端が前記突起部の外側面の内側に位置する係合部を有する配線基板と、板状に形成され、その一方の主面が前記コレクタ電極と電気的に接続される第2電極板と、を備えることを特徴とする。
本発明の一態様として、方形に形成され、一方の主面に設けられた突起部を有し、この突起部の側面に複数の開口部を有する第1電極板と、前記突起部が貫入される貫入口、及び、この貫入口の内側面に設けられ前記複数の開口部と係合し、その先端が前記突起部の外側面の内側に位置する係合部を有する配線基板とを、前記開口部及び前記係合部が係合可能な位置に配置させる工程と、前記配線基板の前記複数の係合部を前記第1電極板の前記複数の開口部にそれぞれ係合させることで、前記配線基板と前記第1電極板とを組み付ける工程と、組み付けた前記配線基板及び前記第1電極板と電極を有する半導体素子と導通部材で接合する工程と、を備えることを特徴とする。
本発明の一態様として、方形に形成され、一方の主面に設けられた突起部を有し、この突起部の少なくとも1つの側面に複数の開口部、及び、この開口部が設けられた前記突起部の側面と相対する側面に設けられた引掛部を有する第1電極板と、前記突起部及び前記引掛部が貫入される貫入口、及び、この貫入口の内側面の前記複数の開口部と係合し、その先端が前記突起部の外側面の内側に位置する係合部を有する配線基板とを、前記開口部及び前記係合部が係合可能な位置に配置させる工程と、前記突起部の側面を前記貫入口の内側面で覆うとともに、前記複数の開口部と前記複数の係合部とをそれぞれ対向させる工程と、対向する前記複数の開口部と前記複数の係合部とを、前記開口部と前記係合部とが係合する方向に移動させることで、前記開口部及び前記係合部を係合させる工程と、前記引掛部及び前記突起部の側面を前記貫入口の内側面で覆うことで、前記配線基板と前記第1電極板とを組み付ける工程と、組み付けた前記配線基板及び前記第1電極板と電極を有する半導体素子と導通部材で接合する工程と、を備えることを特徴とする。
本発明の一態様として、方形に形成され、一方の主面に設けられた突起部を有し、この突起部の少なくとも1つの側面に複数の開口部、この開口部が設けられた前記突起部の側面と相対する側面に設けられた引掛部、及び、前記引掛部の側面に設けられた開口部を有する第1電極板と、前記突起部及び前記引掛部が貫入される貫入口、及び、この貫入口の内側面の前記複数の開口部にそれぞれ係合し、その先端が前記突起部及び前記引掛部の外側面の内側に位置する係合部を有する配線基板とを、前記開口部及び前記係合部が係合可能な位置に配置させる工程と、前記突起部の側面を前記貫入口の内側面で覆うとともに、前記複数の開口部と前記複数の係合部とをそれぞれ対向させる工程と、対向する前記突起部に設けられた複数の開口部と前記複数の係合部とを、前記突起部の開口部と前記係合部とが係合する方向に移動させることで、前記突起部の開口部及び前記係合部をそれぞれ係合させる工程と、前記引掛部及び前記突起部の側面を前記貫入口の内側面で覆うとともに、前記係合部を前記引掛部の開口部に係合させることで、前記配線基板と前記第1電極板とを組み付ける工程と、組み付けた前記配線基板及び前記第1電極板と電極を有する半導体素子と導通部材で接合する工程と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、接合強度を減少することなく機械的に接合する場合であっても製造工程を低減することが可能となる。
本発明の第1の実施の形態に係る半導体パッケージ1を図1〜3を用いて説明する。図1は本発明の第1の実施の形態に係る半導体パッケージ1を示す斜視図、図2は同半導体パッケージ1の構成を示す分解斜視図、図3は同半導体パッケージ1の構成を示す分解斜視図である。なお、図1〜3中、Fは配線を示す。
図1〜3に示すように、半導体パッケージ1は、第1主面11及び第2主面12を有する方形板状に形成された半導体素子10と、第1主面11側に設けられた第1電極板20と、第2主面12側に設けられた第2電極板30と、半導体素子10及び第1電極板20の間に設けられた配線基板40とを積層して構成されている。
半導体素子10は、方形板状の小片の半導体チップ、例えばIGBT素子により形成されている。また、半導体素子10の外周縁は、第1電極板20、第2電極板30及び配線基板40それぞれの外周縁よりも内側に位置する形状に形成されている。
半導体素子10の第1主面11は、外周縁側から中心側周辺までの範囲に形成されたエミッタ電極13と、エミッタ電極13の内側(第1主面11の中心側)に設けられたゲート電極14とを備えている。このエミッタ電極13の内周縁であって、ゲート電極14の外周縁には、エミッタ電極13とゲート電極14との間での半田流れ(短絡)が防止可能に形成された半田抵抗膜15が印刷されている。また、エミッタ電極13の外周部には半田抵抗膜16が形成されている。また、第2主面12は、コレクタ電極17が形成されている(図3参照)。
第1電極板20は、銅等の導電性材料により方形板状に形成された第1基板本体21と、この第1基板本体21の一方の面21aに設けられ、エミッタ電極13に接合される接合面22aを有する突起部22とを備えている。
突起部22は、略中央位置に略方形の貫通孔23と、この貫通孔23内周部であって他方の面21b側に設けられた台座部24と、突起部22に設けられ貫通孔23から突起部22の外側面まで形成された連通路25と、この突起部22の側面に設けられた複数の開口部26と、を有している。なお、突起部22は、貫通孔23及び連通路25により、そのエミッタ電極13に接合する接合面22aは凹部形状に形成されることとなる。また、台座部24は、貫通孔23の、連通路25が設けられた内面と対向する内面に設けられている。
開口部26は、例えば、第1基板本体21であって、第1基板本体21の他方の面21b側から円筒状に穴部27が例えば型による押圧加工等により成形されることで形成されている。なお、この穴部27は、突起部22を貫通しないように形成されているとともに、穴部27の中心が、突起部22の側面に位置するように設けられている。さらに、開口部26は、例えば突起部22の連通路25が設けられた外側面及び貫通孔23を介して対向する外側面にそれぞれ複数(本実施例ではそれぞれ2つ)設けられている。
第2電極板30は、銅等の導電性材料により方形板状に形成された第2基板本体31により形成されている。この第2基板本体31には、第2主面12に対向するとともに、コレクタ電極17に接続される接続面32と、この接続面32の外周側に印刷され、半田流れ(短絡)を防止可能に形成された半田抵抗膜33と、を備えている。
配線基板40は、ガラスエポキシ樹脂やポリイミド樹脂等により略方形板状に形成された絶縁基板41により形成されている。絶縁基板41は、この絶縁基板41の外周の一部に設けられた凸部42と、突起部22が貫入される貫入口43と、凸部42と連続するように貫入口43の内周面から突出して設けられた突出部44と、貫入口43の内周面であって開口部26に対応する位置に設けられた複数の係合部45と、を備えている。
また、絶縁基板41は、凸部42が設けられている外周部以外であって、貫入口43の係合部45を有する内周面に対応する外周に切欠部46を有している。
凸部42は、凸部42の半導体素子10側に外部接続端子47を有している。
突出部44には、その先端側に円形状の先端部48を有しており、この先端部48は、第1電極板20と配線基板40とを係合させたときに、突起部22に設けられた貫通孔23内に位置する形状に形成されている。また、先端部48の半導体素子10に対向する面には、ゲート電極14と半田等の導通部材(以下「半田部材」)Bにより電気的に接合される制御電極49が設けられている。なお、この制御電極49は、外部接続端子47と絶縁基板41上に例えば印刷により形成された配線Fにより接続されている。
係合部45は、半円状であって、弾性変形可能に形成されており、係合部45が弾性変形することにより開口部26に係合可能に形成されている。また、係合部45の少なくとも先端は、突起部22の外側面よりも内側に位置する形状に形成されている。
なお、第1電極板20、第2電極板30及び配線基板40の絶縁基板41は、例えばプレス加工により一つの金型(順送型)で成型される。
次に、このような半導体パッケージ1の製造工程を図4〜6を用いて説明する。
なお、図4は同半導体パッケージ1に用いられる第1電極板20及び配線基板40の組立の一例を示す斜視図、図5は同半導体パッケージ1に用いられる第1電極板20及び配線基板40の組立の一例を示す斜視図、図6は同半導体パッケージ1の構成を示す断面図である。
先ず、図4、5に示すように、第1電極板20と配線基板40との組立を行なう。配線基板40の制御電極49に半田部材Bを溶着させる。なお、ここでは、半田部材Bを溶着させずに、接着や配置により半田部材Bを設けても良い。また、現段階で半田部材Bを設けるのではなく、後述する制御電極49及びゲート電極14との接合時に設けるようにしても良い。
次に、第1電極板20と配線基板40との向きを、連通路25及び貫通孔23と、突出部44及び先端部48とがそれぞれ対応する位置となるように配置させる。この状態で、例えば連通路25が設けられている側(一方)の開口部26と、突出部44が設けられている側(一方)の係合部45とを係合させる。この係合により、図4に示すように、係合させていない(他方の)開口部26の上方(突起部22の接合面22a)に他方の係合部45が積載されることとなる。
この状態で、他方の係合部45周辺を押圧、又は、他方の係合部45の周辺(配線基板40)を第1基板本体21に係合部45が対向するように湾曲させる。これにより、他方の係合部45又は係合部45の周辺が弾性変形し、他方の係合部45は、対応する他方の開口部26にそれぞれが係合することとなる。なお、全ての係合部45周辺に同時に押圧を加えることで、弾性変形させ、開口部26に係合部45を係合させてもよい。
係合部45周辺に押圧を印加すると、第1基板本体21の一方の面21aに略平行であって近接方向に配線基板40が移動しようとする。しかし、係合部45の第1基板本体21に対向する面は、突起部22の接合面22aに当接している。このため、係合部45は接合面22aに押圧される状態となり、この押圧(干渉)により係合部45は湾曲する。
この状態でさらに配線基板40が一方の面21aに近接する方向に押圧されると、湾曲した状態で係合部45は突起部22の側面を摺動する。この摺動は、係合部45が開口部26に位置するまで行なわれる、即ち、一方の面21aに配線基板40が略当接するまで配線基板40が移動する。配線基板40が一方の面21aに当接すると、係合部45は開口部26に位置するため、係合部45は開口部26内部に進入することで係合部45は干渉されなくなり、係合部45は形状が復元される。このようにして係合部45が開口部26に係合することとなる。
なお、係合部45の周辺を第1基板本体21に係合部45が対向するように湾曲させた場合には、係合部45が突起部22に干渉せずに、係合部45が一方の面21aに当接する。この状態で、係合部45の周辺の湾曲を解除すると、係合部45は一方の面21aに対して略平行に復元され、復元された係合部45が開口部26内に進入することで係合されることとなる。
このように、係合部45と開口部26とが係合すると、係合部45の外面は開口部26に覆われる。このため、第1電極板20と配線基板40とが離間する方向に移動しようとした際には、各係合部45外面と各開口部26内面、及び、突起部22外側面と貫入口43内側面とのすくなくともいずれかで一箇所で互いに干渉する。この干渉により、例えば接合面22aに対して水平方向には各側面により、接合面22a対して直交方向には係合部45と開口部26とによりそれぞれ係止されることとなり、配線基板40が第1電極板20から離脱することがない。
このように、第1電極板20と配線基板40とを係合(組み付け)後、図6に示すように、突起部22の接合面22a及び側面に半田部材Bを配置させる。この半田部材Bは、例えば突起部22の接合面22a及び側面を覆うような皿状の部材形状であっても、ペースト状であってもよい。
これら組み付けた第1電極板20及び配線基板40と半導体素子10とを、半田部材Bが配置された突起部22及び制御電極49を、エミッタ電極13及びゲート電極14にそれぞれ対向させて配置させる。対向させた第1電極板20及び配線基板40と半導体素子10とを、所定の圧力を印加させながら、半田部材Bを溶融させることで電気的に接合させる。
次に、半導体素子10と第2電極板30とを、コレクタ電極17と接続面32とが対向するように配置する。この状態で半田部材Bを半田抵抗膜33内に配置し、所定の圧力を半導体素子10及び第2電極板30に印加させながら半田部材Bを融解させることで電気的に接合する。
このように半導体素子10、第1電極板20、第2電極板30及び配線基板40を、半田部材Bにより電気的に接合、及び、係合部45及び開口部26により機械的に係合することにより、図6に示すように半導体パッケージ1が形成される。
このように構成された半導体パッケージ1によれば、配線基板40に他構成品の外側より突出する凸部42を備え、凸部42上に制御電極49と配線Fにより接続された外部接続端子47を設けることで、ワイヤボンディングを用いることなく、制御電極49の配線をパッケージ外に引き出すことができる。即ち、その外形状が小型であるとともに、配線を外部に引き出すことが可能となる半導体パッケージ1とすることができる。
また、第1電極板20と配線基板40とを、開口部26に係合部45を係合させることで、開口部26と係合部45、及び、貫入口43と突起部22の側面とがそれぞれ干渉し、第1電極板20及び配線基板40がそれぞれ離間する方向に移動しても、各位置で係止される。これにより、第1電極板20及び配線基板40が脱離することがなく、確実に、係合される(組み付く)こととなる。
また、配線基板40(絶縁基板41)に切欠部46を設けることで、切欠部46を設けた箇所が容易に弾性変形させることが可能となる。これにより、係合部45を開口部26に係合させる際に、切欠部46が設けられている側の係合部45を最後に係合させることで、係合部45周辺が容易に変形する。このため、第1電極板20及び配線基板40を容易に組み付けることが可能となる。
さらに、第1電極板20及び配線基板40の係合は、溶接を行なうことなく、係合部45を開口部26に係合させるだけでよいため、例えば溶接や接着等を行なう必要が無く、容易に組み立てることができる。これは例えば、溶接により第1電極板20及び配線基板40を組み付ける場合には、まず、第1電極板20と配線基板40とを位置合わせ等を行ったあと組み立て、その後溶接を行なう、というような少なくとも2工程必要となる。しかし、半導体パッケージ1では、組立時に係合部45と開口部26とを係合させるだけでよい、即ち、組立のみの1工程で第1電極板20及び配線基板40を組み付けることが可能となる。このため、製造(組立)工程の低減となり、半導体パッケージ1の製造コストの低減にもなる。
また、第1電極板20及び配線基板40は、台座部24及び先端部48や、突起部22及び貫入口43等、各対応する部材形状によりそれぞれが案内されて所定の位置で組み立て可能な構造であり、組立ミスや、位置のずれ等を防止することも可能となる。これにより、突起部22の接合面22a及び制御電極49は、半導体素子10のエミッタ電極13及びゲート電極14と半田部材B等により電気的に確実に接続されることとなる。
上述したように、第一の実施の形態に係る半導体パッケージ1によれば、第1電極板20及び配線基板40は、突起部22貫入口43に貫入させ、係合部45を開口部26へそれぞれ係合させることで、互いに離脱することなく確実に組み付けることが可能となる。また、上述したように、係合部45と開口部26とを係合させるだけで係合部45と開口部26とを組み付けることが可能となり、製造(組立)工数の低減にもなる。また、半導体パッケージの製造コストを低減することも可能となる。また、半導体パッケージ1の構成とすることで、小型化にもなる。
さらに、台座部24により、先端部48が確実に保持されるとともに、半田部材Bによりゲート電極14に固定されるため、所定の位置で確実に保持可能となり、信頼性の向上にもなる。
次に、本発明の第2の実施の形態に係る半導体パッケージ1Aを図7〜12を用いて説明する。
図7は本発明の第2の実施の形態に係る半導体パッケージ1Aを示す斜視図、図8は同半導体パッケージ1Aの構成を示す分解斜視図、図9は同半導体パッケージ1Aの構成を示す分解斜視図である。なお、図7〜12において図1〜6と同一機能部分には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
半導体パッケージ1Aは、半導体素子10と、第1主面11側に設けられた第1電極板50と、第2主面12側に設けられた第2電極板30と、半導体素子10及び第1電極板50の間に設けられた配線基板60とを備えている。
第1電極板50は、銅等の導電性材料により方形板状に形成された第1基板本体51と、この第1基板本体51の一方の面51aに設けられ、接合面52aを有する突起部52とを備えている。
突起部52は、略中央位置に略方形の貫通孔23と、この貫通孔23内周部であって他方の面51b側に設けられた互いに向き合う2つの台座部53と、突起部52に設けられ貫通孔23から突起部52の外側面まで形成され、台座部53と台座部53に挟まれて設けられた連通路25と、この連通路25が設けられた突起部52の側面に設けられた複数(図中2つ)の開口部26と、突起部52の、連通路25と対向する外側面に設けられた引掛部54と、を有している。
引掛部54は、その高さが突起部52よりも低く形成されており、引掛部54の突起部52側面から端面までの距離は、引掛部54と突起部52との長さが、後述する貫入口62の対応する内面間の長さと同等になるよう形成されている。
配線基板60は、絶縁基板61に設けられ、その内面の対向する内面間が引掛部54及び突起部52の対応する外面間とが同等になるように形成された貫入口62と、先端に凸字形状の先端部64を有する突出部63と、突出部63が設けられた貫入口62の内側面に、開口部26の対応位置に設けられた2つの係合部45と、を備えている。なお、先端部64は制御電極49を有している。
次に、このような半導体パッケージ1Aの製造方法を図10〜12を用いて説明する。
なお、図10は同半導体パッケージ1Aに用いられる第1電極板50及び配線基板600の組立の一例を示す斜視図、図11は同半導体パッケージ1Aに用いられる第1電極板50及び配線基板60の組立の一例を示す斜視図、図12は同半導体パッケージ1Aの構成を示す断面図である。
図10に示すように、第1電極板50と配線基板60との組み立て(組み付け)を行なう。まず、第1電極板50と配線基板60との向きを、連通路25及び貫通孔23と、突出部63及び先端部64とがそれぞれ対応する位置となるよう配置させる。次に、この状態で、突起部52の引掛部54が設けられている外側面と、貫入口62の対応する内側面とを近接させるとともに、第1電極板50上に配線基板60を積載させる。貫入口62は、突起部52よりも引掛部54方向の長さが長いため、第1基板本体51の一方の面51a上に、係合部45が載置されることとなる。
この状態で配線基板60を突起部52の引掛部54が設けられている外側面から離間させる方向、即ち、係合部45と開口部26とが係合する方向にスライドさせる。このスライドさせるとき、配線基板60(絶縁基板61)は、引掛部54の厚み分、湾曲(弾性変形)している。また、貫入口62のスライド方向の長さと突起部52及び引掛部54との長さは略同一に形成されており、係合部45と開口部26とが係合すると、引掛部54から貫入口62の内側面が外れる。このため、図11に示すように、湾曲していた配線基板60は復元力により、配線基板60下面が第1電極板50の一方の面51aに当接することとなる。
係合部45と開口部26とが係合し、配線基板60の下面が第1電極板50の上面に当接すると、係合部45の外面は開口部26に覆われるとともに、突起部52側面及び引掛部54の側面は貫入口62内周面に覆われる。このため、第1電極板50と配線基板60とが離間する方向に移動した際には、各係合部45と各開口部26、及び、突起部52の外側面又は引掛部54と貫入口62の内側面とのいずれかで互いに干渉する。この干渉により、接合面52aの水平方向には各側面により、接合面52aに対して直交方向には係合部45と開口部26とによりそれぞれ係止されることとなり、配線基板60が第1電極板50から離脱することがない。
なお、半導体素子10、第1電極板50、第2電極板30及び配線基板60を、上述した第1の実施の形態に係る半導体パッケージ1と同様に、半田部材Bによる接合、及び、係合部45及び開口部26による係合することで、図12に示すように半導体パッケージ1Aが形成される。
このような半導体パッケージ1Aにおいて、第1電極板50に配線基板60の組み付けは、特に押圧を加える必要が無く、配線基板60をスライドさせることで、係合部45と開口部26とが係合し、さらに弾性変形した配線基板60の復元力により、自動的に組み付くこととなる。このため、容易に第1電極板50と配線基板60とを組み付けることが可能となる。
また、台座部53は、スライド方向と直交する方向に複数設けたため、配線基板60をスライドした場合であっても、常に突出部63の先端部64が確実に台座部53に積載されることとなる。即ち、配線基板60のスライド方向に台座部を設けると、スライド前に、先端部64が台座部に積載されず、自重により下方に撓む虞がある。この状態で配線基板60をスライドさせると、先端部64の先端面と台座部の側面とが当接する虞がある。
この状態で、さらに配線基板60をスライドさせることで、突出部63にスライド方向の負荷がかかり、突出部63が弾性変形又は塑性変形するとともに、所定の位置に制御電極49が位置しない虞がある。この制御電極49の位置ズレは、半導体パッケージ1Aの組立時に、接合不良や接触不良等の原因になる。このため、半導体パッケージ1Aは、台座部53をスライド方向と直交方向に複数設けることで、確実に先端部64を常時保持・案内し、接合不良を防止することが可能となる。
上述したように、第2の実施の形態に係る半導体パッケージ1Aによれば、半導体パッケージ1と同様の効果を有し、さらに、配線基板60をスライドするだけで、より容易に第1電極板50と配線基板60とを組み付けることが可能となり、製造(組立)工程及び製造コストの低減とすることが可能となる。
次に、本発明の変形例に係る半導体パッケージ1Bを図13を用いて説明する。
図13は本発明の変形例に係る半導体パッケージ1Bの第1電極板50A及び配線基板60Aの組立の一例を示す斜視図である。なお、図13において図1〜12と同一機能部分には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
半導体パッケージ1Bは、半導体素子10と、第1主面11側に設けられた第1電極板50Aと、第2主面12側に設けられた第2電極板30と、半導体素子10及び第1電極板50Aの間に設けられた配線基板60Aとを備えている。
引掛部54は、貫入口62に覆われる側面に少なくとも1つの開口部55を備えている。また、貫入口62は、開口部55に係合される係合部65を備えている。
次に、このような半導体パッケージ1Bの製造方法を図13を用いて説明する。
図13に示すように、まず、上述した半導体パッケージ1Aと同様に、配線基板60Aの貫入口62の内側面を突起部52の引掛部54が設けられている外側面から離間させる方向、即ち、係合部45と開口部26とが係合する方向にスライドさせ、係合部45と開口部26とを係合させる。
このスライドさせたとき、係合部65の下面は引掛部54上面に当接しており、配線基板60A(絶縁基板61)は、引掛部54の厚み分、湾曲(弾性変形)することとなる。
この状態で係合部65の周辺の配線基板60Aを押圧させ、係合部65を弾性変形させる、又は、係合部65の周辺を第1基板本体51に係合部65が対向するように湾曲させる。即ち、係合部65又は係合部65の周辺を弾性変形させることで、係合部65を、開口部55に係合させる。
また、貫入口62のスライド方向の長さと突起部52及び引掛部54との長さは略同一に形成されており、係合部45、65と開口部26,55とが係合すると、引掛部54の側面と貫入口62の内側面が当接する。また、配線基板60A下面が第1電極板50Aの一方の面51aに当接することとなる。
係合部45,65と開口部26,55とが係合し、配線基板60Aの下面が第1電極板50Aの上面に当接すると、係合部45,65の外面は開口部26,55にそれぞれ覆われるとともに、突起部52側面及び引掛部54の側面は貫入口62内周面に覆われる。このため、第1電極板50と配線基板60とが離間する方向に移動した際には、各係合部45,65と各開口部26,55、及び、突起部52の外側面又は引掛部54と貫入口62の内側面とのいずれかで互いに干渉する。この干渉により、接合面52aの水平方向には各側面により、接合面52aに対して直交方向には係合部45,65と開口部26,55とによりそれぞれ係止されることとなり、配線基板60Aが第1電極板50Aから離脱することがない。
なお、半導体素子10、第1電極板50、第2電極板30及び配線基板60を、上述した第1の実施の形態に係る半導体パッケージ1と同様に、半田部材Bによる接合、及び、係合部45及び開口部26による係合することで、図12に示すように半導体パッケージ1Aが形成される。
このような半導体パッケージ1Bにおいて、第1電極板50Aに配線基板60Aの組み付けは、配線基板60をスライドさせることで、係合部45と開口部26とが係合し、さらに弾性変形した係合部65又は係合部65周辺により開口部55に組み付くこととなる。このため、容易に第1電極板50Aと配線基板60Aとを組み付けることが可能であるとともに、係合部45,65及び開口部26,55の対向する2箇所で係合させることが可能となるため、第1電極板50Aと配線基板60Aとが離間することがない。
また、貫入口62内側面により、突起部52及び引掛部54の側面を覆い、さらに係合部45,65及び開口部26,55で係合されるため、各方向に第1電極板50Aと配線基板60Aが干渉する。このため、確実に第1電極板50Aと配線基板60Aとを組み付けることが可能となる。
上述したように、変形例に係る半導体パッケージ1Bによれば、半導体パッケージ1、半導体パッケージ2Aと略同等の効果を有し、さらに、第1電極板50A及び配線基板60Aとが各方向で確実に干渉する構成とすることで、第1電極板50Aと配線基板60Aとを確実に組み付けることが可能となる。
なお、上述した発明の形態以外の変形例について説明する。上述した例では、例えば半導体パッケージ1、1Aでは、第1電極板20,50及び第2電極板30の材質は銅材としているが、導電性材料であれば、例えばアルミニウム、モリブデン、銅モリブデン合金及び銅タングステン合金等でも適用できる。また、第1電極板20,50及び第2電極板30の材質と異なる各種材料のクラッド又は鍍金により、必要な箇所に導電性を有する構成としてもよい。
また、半田部材Bは、Sn−Pb共晶半田、鉛フリー半田、又は、Pb立地高温半田等、どのような半田部材であってもよい。さらに、第2電極板30と絶縁基板40,60との間であって、半導体素子10の外周縁よりも外側に、スペーサを設けてもよい。スペーサを設けることで、第2電極板30と絶縁基板40,60との距離を一定に保持することが可能となり、外力による半導体素子10の破損を防止することが可能となる。
また、突起部22,52には、貫通孔23を設け、貫通孔23の内面であって、第1電極板20,50の他方の面21b、51b側に1つ、又は複数の台座部24,53を設けるとしたが、これは、台座部24,53でなくてもよい。また、貫通孔23を設けなくとも良い。即ち、突起部22,52に、突出部44,63及び先端部48,64が配置可能な連通路及び窪みを設けることでも適用できる。さらに、突出部44,63の長さや各種電極13,14の位置(配置)等も、適宜設定可能である。
さらに、上述した半導体パッケージ1,1Aの開口部26及び係合部45は、突起部22,52の各側面に対して2つ設けるとしたが、これは2つに限定されるものではない。また、開口部26及び係合部45の形状も半円状でなくとも係合可能であれば適用できる。
また、上述した半導体パッケージ1では、突起部22の貫通孔23を介して相対する外側面に開口部26を設けるとしたが、他の側面にも設けてもよいし、他の側面に設けるように形成してもよい。同様に、半導体パッケージ1Aでも、突起部52の他の外側面に開口部26を設けてもよいし、他の側面に設けるように形成してもよい。なお、このとき、各開口部26に対応する貫入口43,62の内面に係合部45を設けることとする。
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
本発明の第1の実施の形態に係る半導体パッケージを示す斜視図。 同半導体パッケージの構成を示す分解斜視図。 同半導体パッケージの構成を示す分解斜視図。 同半導体パッケージに用いられる第1電極板及び配線基板の組立の一例を示す斜視図。 同半導体パッケージに用いられる第1電極板及び配線基板の組立の一例を示す斜視図。 同半導体パッケージの構成を示す断面図。 本発明の第2の実施の形態に係る半導体パッケージを示す斜視図。 同半導体パッケージの構成を示す分解斜視図。 同半導体パッケージの構成を示す分解斜視図。 同半導体パッケージに用いられる第1電極板及び配線基板の組立の一例を示す斜視図。 同半導体パッケージに用いられる第1電極板及び配線基板の組立の一例を示す斜視図。 同半導体パッケージの構成を示す断面図。 本発明の変形例に係る半導体パッケージの第1電極板及び配線基板の組立の一例を示す斜視図。
符号の説明
1…半導体パッケージ、10…半導体素子、11…第1の主面、12…第2の主面、13…エミッタ電極、14…ゲート電極、15,16…半田抵抗膜、17…コレクタ電極、20…第1電極板、21…第1基板本体、22…突起部、22a…接合面、23…貫通孔、24…台座部、25…連通路、26…開口部、27…穴部、30…第2電極板、31…第2基板本体、32…接続面、33…半田抵抗膜、40…配線基板、41…絶縁基板、42…凸部、43…貫入口、44…突出部、45…係合部、46…切欠部、47…外部接続端子、48…先端部、49…制御電極、B…導通部材(半田部材)、F…配線。

Claims (8)

  1. 板状に形成され、第1の主面の中心部に設けられたゲート電極、第1の主面の前記ゲート電極の周囲に設けられたエミッタ電極、及び、第2の主面に設けられたコレクタ電極を有する半導体素子と、
    板状に形成され、前記第1の主面に対向する一方の面に設けられ前記エミッタ電極の少なくとも一部と当接する突起部、この突起部の中心に設けられた貫通孔、この貫通孔の内周面の一部であって他方の面側に設けられた台座部、前記突起部に設けられ前記貫通孔から前記突起部の外側面まで形成された連通路、及び、前記突起部の外側面に設けられた複数の開口部を有する第1電極板と、
    前記半導体素子と前記第1電極板との間に積層されるとともに狭持可能な板状に形成され、前記突起部が貫入される貫入口、その基端が前記貫入口の内周面に設けられ、その先端が前記貫通孔内部に位置するとともに前記台座部に保持され、前記連通路を介して延出する突出部、この突出部の先端に設けられ前記ゲート電極に電気的に接続される制御電極、及び、前記貫入口の内周面に複数設けられるとともに前記複数の開口部にそれぞれ係合し、その先端が前記突起部の外側面の内側に位置する係合部を有する配線基板と、
    板状に形成され、その一方の主面が前記コレクタ電極と電気的に接続される第2電極板と、を備えることを特徴とする半導体パッケージ。
  2. 前記複数の開口部は、これら開口部の少なくともその一部が前記突起部を挟んで相対する前記外側面に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の半導体パッケージ。
  3. 板状に形成され、第1の主面の中心側に設けられたゲート電極、第1の主面のゲート電極の周囲に設けられたエミッタ電極、及び、第2の主面に設けられたコレクタ電極を有する半導体素子と、
    板状に形成され、前記第1の主面に対向する対向面に前記エミッタ電極の少なくとも一部と当接する突起部、この突起部の中心に設けられた貫通孔、この貫通孔の内周面の一部であって前記対向面と相対する面側に設けられた台座部、前記突起部に設けられ前記貫通孔から前記突起部の外側面まで形成された連通路、前記突起部の外側面に設けられ、前記突起部の外側面に一部開口する少なくとも1つ有する開口部、及び、前記突起部の外側面であって前記対向面に設けられ突出する引掛部を有する第1電極板と、
    前記半導体素子と前記第1電極板との間に積層されるとともに狭持可能な板状に形成され、前記突起部及び前記引掛部が貫入される貫入口、その基端が前記貫入口のうち周面の一部に設けられ、その先端が前記貫通孔内部に位置するとともに前記台座部に保持され、前記連通路を介して延出する突出部、この突出部の先端に設けられ前記ゲート電極に電気的に接続される制御電極、及び、前記貫入口の内周面に設けられるとともに前記開口部に係合し、その先端が前記突起部の外側面の内側に位置する係合部を有する配線基板と、
    板状に形成され、その一方の主面が前記コレクタ電極と電気的に接続される第2電極板と、を備えることを特徴とする半導体パッケージ。
  4. 前記開口部は、前記引掛部が設けられた前記突起部の外側面と前記突起部を挟んで対向する前記外側面に設けられていることを特徴とする請求項3に記載の半導体パッケージ。
  5. 前記第1電極板は、前記引掛部の側面に設けられた開口部をさらに備え、
    前記配線基板は前記貫入口の内側面に前記引掛部に設けられた開口部に係合する係合部をさらに備えることを特徴とする請求項3に記載の半導体パッケージ。
  6. 方形に形成され、一方の主面に設けられた突起部を有し、この突起部の側面に複数の開口部を有する第1電極板と、前記突起部が貫入される貫入口、及び、この貫入口の内側面に設けられ前記複数の開口部と係合し、その先端が前記突起部の外側面の内側に位置する係合部を有する配線基板とを、前記開口部及び前記係合部が係合可能な位置に配置させる工程と、
    前記配線基板の前記複数の係合部を前記第1電極板の前記複数の開口部にそれぞれ係合させることで、前記配線基板と前記第1電極板とを組み付ける工程と、
    組み付けた前記配線基板及び前記第1電極板と電極を有する半導体素子と導通部材で接合する工程と、を備えることを特徴とする半導体パッケージの製造方法。
  7. 方形に形成され、一方の主面に設けられた突起部を有し、この突起部の少なくとも1つの側面に複数の開口部、及び、この開口部が設けられた前記突起部の側面と相対する側面に設けられた引掛部を有する第1電極板と、前記突起部及び前記引掛部が貫入される貫入口、及び、この貫入口の内側面の前記複数の開口部と係合し、その先端が前記突起部の外側面の内側に位置する係合部を有する配線基板とを、前記開口部及び前記係合部が係合可能な位置に配置させる工程と、
    前記突起部の側面を前記貫入口の内側面で覆うとともに、前記複数の開口部と前記複数の係合部とをそれぞれ対向させる工程と、
    対向する前記複数の開口部と前記複数の係合部とを、前記開口部と前記係合部とが係合する方向に移動させることで、前記開口部及び前記係合部を係合させる工程と、
    前記引掛部及び前記突起部の側面を前記貫入口の内側面で覆うことで、前記配線基板と前記第1電極板とを組み付ける工程と、
    組み付けた前記配線基板及び前記第1電極板と電極を有する半導体素子と導通部材で接合する工程と、を備えることを特徴とする半導体パッケージの製造方法。
  8. 方形に形成され、一方の主面に設けられた突起部を有し、この突起部の少なくとも1つの側面に複数の開口部、この開口部が設けられた前記突起部の側面と相対する側面に設けられた引掛部、及び、前記引掛部の側面に設けられた開口部を有する第1電極板と、前記突起部及び前記引掛部が貫入される貫入口、及び、この貫入口の内側面の前記複数の開口部にそれぞれ係合し、その先端が前記突起部及び前記引掛部の外側面の内側に位置する係合部を有する配線基板とを、前記開口部及び前記係合部が係合可能な位置に配置させる工程と、
    前記突起部の側面を前記貫入口の内側面で覆うとともに、前記複数の開口部と前記複数の係合部とをそれぞれ対向させる工程と、
    対向する前記突起部に設けられた複数の開口部と前記複数の係合部とを、前記突起部の開口部と前記係合部とが係合する方向に移動させることで、前記突起部の開口部及び前記係合部をそれぞれ係合させる工程と、
    前記引掛部及び前記突起部の側面を前記貫入口の内側面で覆うとともに、前記係合部を前記引掛部の開口部に係合させることで、前記配線基板と前記第1電極板とを組み付ける工程と、
    組み付けた前記配線基板及び前記第1電極板と電極を有する半導体素子と導通部材で接合する工程と、を備えることを特徴とする半導体パッケージの製造方法。
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