JP4892562B2 - 情報記録媒体、その製造方法および情報記録媒体を形成するためのスパッタリングターゲット - Google Patents

情報記録媒体、その製造方法および情報記録媒体を形成するためのスパッタリングターゲット Download PDF

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Description

本発明は、光学的に情報を記録し、再生することが可能な情報記録媒体とその製造方法に関するものである。
大容量、高速度での情報の記録再生が可能な媒体として、光情報記録媒体が知られている。光情報記録の技術は、レーザ光を記録材料に照射した際に生じる熱によって、記録材料が光学的に区別可能な異なる状態へ変化することを記録として利用している。この記録媒体は、必要に応じてランダムアクセスが可能であり、かつ可搬性にも優れるという大きな利点を有しているため、近年ますますその重要性が高まっている。従来から提案されている光情報記録媒体の種類としては、多数回の書換が可能な書換型媒体や、1回のみ書き込み可能な追記型媒体が挙げられる。
追記型媒体は一般に、書換型媒体と比較して層数を少なくできる場合が多いため、製造が容易であり低コストの媒体が可能である。また、追記型媒体は、書換ができないことから、ユーザーが破壊されたくないデータを書きこむ際には好都合である。このことから保存寿命が長く信頼性の高い追記型媒体は、アーカイバル用途として大きな需要がある。例えばコンピュータを通じた個人データや映像情報等の記録、保存や、医療分野、学術分野、或いは家庭用ビデオテープレコーダーの置き換え等、様々な分野での追記型媒体の需要が高まっている。現在、この記録媒体については、アプリケーションの高性能化や画像情報の高性能化に伴い、さらに大容量化、高速化を達成することが求められている。
現在、光情報記録媒体を使用する消費者の利便性を高めるために、情報を高速で書き込むことに対する需要が特に高まりつつある。それにあわせて、情報の記録に使用するレーザのパワーもより高いものが必要となる。しかし、レーザをより安定に高寿命で使用するためには、投入できるパワーは限られてしまうのが現状である。
また、光情報記録媒体に高パワーで情報を記録すると、記録層に接している誘電体層などへの熱負荷が大きくなるため、記録媒体の信頼性が低下するといった問題もある。すなわち記録媒体の信頼性という観点においても、高感度化が望ましい。
記録密度の向上を目指して、複数の層に情報を記録する多層媒体が必要となってきている。2層以上の情報層を有する多層の光学的情報記録媒体においては、光入射面に近い側の情報層を透過して光入射面から遠い側の情報層にデータを記録する必要があり、より高い記録感度が求められる。逆に光入射面から近い側の情報層では高透過率を目指して記録層を薄膜化する必要があり、より高感度の記録層が求められる。このようなことから、大容量化を目指した多層記録媒体ではより高感度化のニーズが高くなっている。
以上のような背景から、光情報記録媒体としてより高い感度を有する(すなわちより低いレーザパワーで記録できる)記録媒体が必要とされてきている。
従来より、追記型の記録材料として、いくつかの酸化物材料が提案されていた。例えば、Teの低酸化物であるTeOxを主成分とする記録材料が知られている。中でもTeOx中にPd(Au、Ptでも適用可能)を分散させた材料を主成分とするTe−O−Pd記録材料は、大きい信号振幅が得られ、信頼性も非常に高いことが知られている(特許文献1参照)。しかし、Te−O−Pd記録材料は今後の高速化や大容量化のニーズに答え得る程度の記録感度を得ることができない、という課題があった。
記録特性改善を目的として、TeOxを主成分とする材料に他の材料を添加した例としては次のようなものがある。
特許文献2では、青紫色波長レーザと対物レンズ0.80以上のNAを用いた場合、記録膜面内での熱拡散を防ぐことによってより高い信号品質を得るために、TeOxにLa−F、Mg−F、Ca−F、希土類元素の弗化物、Si−O、Cr−O、Ge−O、Hf−O、Mo−O、Ti−O、W−O、Zn−OおよびZr−Oから選択される少なくとも一つを添加することが提案されている。この場合に信号品質の改善効果は得られるが、記録感度の向上に関しては述べられていない。
また特許文献3では、融点が低い材料であるTlOxを添加することにより記録感度を向上することが述べられているが、これらの従来技術では、光情報記録媒体に情報を記録する際の高感度化に対する効果は不十分である。また同特許文献では、BiOxやInOxを添加することによって屈折率変化を大きくし光学変化を大きくする提案もなされているが、このときの記録感度への効果に関しては述べられていない。
国際公開第98/09823号パンフレット 特開2005−22409号公報 特開昭55−38616号公報
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、高記録感度と長期保存に対する高信頼性が確保された情報記録媒体を提供することを目的とするものである。
本発明の一見地にかかる情報記録媒体は、基板上に記録層を有し、記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体である。記録層がTeOと材料Aを主成分として含み、材料AはTeOと共晶反応を示す材料である。これにより、情報を記録する際のレーザパワーを高感度化することができ、長期保存に対する信頼性が高い情報記録媒体を実現できる。
また、材料Aが酸化物を含むことは、情報を記録する際のレーザパワーを高感度化しやすいという点で好ましい。
また、材料Aが、Ag−O、Al−O、B−O、Bi−O、Ce−O、Cu−O、Ga−O、In−O、Mo−O、Nb−O、V−Oのうち少なくともいずれかを含むことは、記録感度が向上する効果が大きいという点で好ましい。
また、材料Aが、Al−O、Bi−O、Ga−O、In−O、Mo−O、Nb−O、V−OはTe−Oとの相性が良いため、このうち少なくともいずれかを含むことは、特に高感度化と信頼性の向上を両立しやすいという点で好ましい。
本発明の他の見地に係る情報記録媒体は、基板上に記録層を有し、記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体である。記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下である。この媒体では、ジッタ、記録感度などの記録特性と信頼性を確保しやすい。
また、材料AがAgOであって、AgO/TeO比が0.18以上1.00以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがAlであって、Al/TeO比が0.10以上0.50以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがBであって、B/TeO比が0.18以上0.33以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがBiであって、Bi/TeO比が0.04以上0.30以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがCeOであって、CeO/TeO比が0.05以上0.14以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがCuOであって、CuO/TeO比が0.10以上1.00以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがCuOであって、CuO/TeO比が0.05以上1.00以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがGaであって、Ga/TeO比が0.05以上0.18以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがInであって、In/TeO比が0.02以上0.08以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがMoOであって、MoO/TeO比が0.25以上1.50以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがNbであって、Nb/TeO比が0.05以上0.12以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
また、材料AがVOであって、VO/TeO比が0.10以上0.33以下であることは、記録層の融点を低下させ記録感度が向上し、信頼性が向上するという点で好ましい。
本発明では、基板上にn層(ただし、nは2以上の整数)の情報層が分離層を介して積層された情報記録媒体であって、少なくともいずれかの情報層が、記録層を有することを特徴とすることが、記録感度が向上する効果が大きいという点で好ましい。
また、情報層が有する記録層の膜厚が、2nm以上30nm以下であることは、十分な光学変化が得られ、良好な記録特性を確保できるという点で好ましい。
本発明の他の見地に係る情報記録媒体の製造方法は、基板上に記録層を作成する工程を有し、記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体の製造方法である。この製造法では、記録層をスパッタリング法により作製し、記録層の作製工程で用いるターゲット材料はTe−O−M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)と材料A(ただし材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)との混合物を主成分とする。
本発明のさらに他の見地に係る情報記録媒体の製造方法は、基板上に記録層を作成する工程を有し、記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体の製造方法である。この製造方法では、記録層をスパッタリング法により作製し、記録層の作製工程で用いるターゲット材料はTe−M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)と材料B(ただし材料Bの酸化物である材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)との混合物を主成分とし、成膜ガスは希ガスと酸素との混合ガスを主成分とし、反応性スパッタリングを行う。
本発明のさらに他の見地に係る情報記録媒体の製造方法は、基板上に記録層を作成する工程を有し、記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体の製造方法である。この製造法では、記録層をスパッタリング法により作製し、記録層の作製工程において、Te−M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)とTe−Oと材料Aの化合物(ただし材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)とを異なるターゲットから同時にスパッタリングする。
本発明のスパッタリングターゲットは、TeOと材料Aを主成分として含み、材料AはTeOと共晶反応を示す材料である。
本発明のスパッタリングターゲットは、Teと材料Bを主成分として含み、材料Bの酸化物はTeOと共晶反応を示す材料である。
本発明に係る情報記録媒体では、記録層は、少なくとも405nm付近の青色波長域にわたって適度な光吸収性を有する。また、この記録層はTeOと共晶反応を示す材料を含んでいることからTeOベースの記録層に比べて低い温度で情報を記録することができ、記録層の両側にある誘電体層への熱ダメージを低減することができる。このため、この記録層材料を適用すると、良好な記録感度をもち、かつ長期保存に対して高い信頼性を確保した情報記録媒体を実現することができる。また、本発明の情報記録媒体の製造方法によれば、上記のような効果を有する情報記録媒体を作製することができる。
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、以下の実施の形態は一例であり、本発明は以下の実施の形態に限定されない。また、以下の実施の形態では、同一の部分については同一の符号を付して重複する説明を省略する場合がある。
図1、図2及び図3は、本発明の情報記録媒体の一構成例である。
(図1に示す情報記録媒体)
図1に示すように、本発明の情報記録媒体1は、基板2と、その上に設けられた情報層とを有している。情報層は、反射層3、第1の誘電体層4、記録層5、第2の誘電体層6を含んでいる。さらに情報層の上に光透明層7が形成されている。記録特性等に影響がなければ、反射層3、第1の誘電体層4、第2の誘電体層6に関しては、コスト面を考慮して適宜除いてもよい。この情報記録媒体に対し、光透明層7の側からレーザ光8を照射して記録再生を行う。
(図2に示す情報記録媒体)
また、図2に示すように、本発明の情報記録媒体9は、基板10と、その上に順番に設けられた第1の情報層15及び第2情報層21とを有している。2つの情報層の間には中間層16を介在させることで、各情報層を光学的に分離して不要な光学干渉を排除する。さらに第2の情報層21の上に光透明層22が形成されている。この情報記録媒体に対し、光透明層22の側からレーザ光23を照射して記録再生を行う。第1の情報層15は、高反射率と高信号品質を両立するために、反射層11、第1の誘電体層12、記録層13、第2の誘電体層14を順次積層した構成からなる。第2の情報層21は、第1の情報層と同様に、反射層17、第1の誘電体層18、記録層19、第2の誘電体層20からなる。ただし、第2の情報層21は、高透過率と高信号品質を両立するために第1の情報層に比べて記録層と反射層の膜厚を薄くしてもよい。記録特性等に影響がなければ、コスト面を考慮して、第1の情報層および第2の情報層における反射層、第1の誘電体層、第2の誘電体層を適宜除いてもよい。
(図3に示す情報記録媒体)
また、図3に示すように、本発明の情報記録媒体24は、基板25上に第1の情報層30、第2の情報層35、・・・、第nの情報層40(n≧3)がこの順に設けられて構成されている。各情報層の間には中間層を介在させ、各情報層を光学的に分離して不要な光学干渉を排除する。この光学的情報記録媒体24に対し、光透明層41の側からレーザ光42を照射して記録再生を行う。第1の情報層30は、高反射率と高信号品質を両立するために、反射層26、第1の誘電体層27、記録層28、第2の誘電体層29を順次積層した構成からなる。第2の情報層35から第nの情報層40は、高透過率と高信号品質を両立するために、第1の誘電体層、記録層、第2の誘電体層からなる。第1の誘電体層と中間層の間には、信号品質を高めるために反射層を適宜挿入してもよい。記録特性等に影響がなければ、コスト面を考慮して、各情報層における反射層、第1の誘電体層、第2の誘電体層を適宜除いてもよい。
(各情報記録媒体に共通する内容)
本発明の記録層からなる情報層は、主として記録感度の向上を目的としているため、図1から3のすべての記録層に適用することが好ましいが、多層媒体において各層の記録感度を互いに調整するといった場合などには、本発明を適用する層と適用しない層と混在することも可能である。
基板2、10、25の材料としては、透明な円盤状のポリカーボネイト樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリオレフィン樹脂、ノルボルネン系樹脂、紫外線硬化性樹脂、ガラス、あるいはこれらを適宜組み合わせたもの等を用いることができる。また、基板2、10、25の厚さは、特に限定されないが、0.01〜1.5mm程度のものを用いることができる。
光透明層7、22、41の材料としては、使用するレーザ光8、23、42の波長に対して光吸収が小さく、短波長域において光学的に複屈折率が小さいことが好ましく、透明な円盤状のポリカーボネイト樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリオレフィン樹脂、ノルボルネン系樹脂、紫外線硬化性樹脂、ガラス、あるいはこれらを適宜組み合わせたもの等を用いることができる。また、光透明層7、22、41の厚さは特に限定されないが、0.01〜1.5mm程度のものを用いることができる。
対物レンズの開口数が0.75〜0.95の場合、ディスク製造時の強度を保つために基板2、10、25の厚さは1.00〜1.20mmの範囲で、チルトに対する許容幅を小さくするために光透明層7、22、41の厚さは0.03mm〜0.20mmの範囲であることが好ましい。
一方、対物レンズの開口数が0.55〜0.75の場合、基板2、10、25の厚さは0.50〜0.70mmの範囲で、光透明層7、22、41の厚さは0.50mm〜0.70mmの範囲であることが好ましい。
中間層16、31、36の材料としては、光透明層と同様に透明な円盤状のポリカーボネイト樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリオレフィン樹脂、ノルボルネン系樹脂、紫外線硬化性樹脂、ガラス、あるいはこれらを適宜組み合わせたもの等を用いることができる。中間層16、31、36の厚さは、第1の情報層、第2の情報層および第nの情報層のいずれか一方を再生する際に他方からクロストークが小さくなるように、少なくとも対物レンズの開口数NAとレーザ光の波長λにより決定される焦点深度以上の厚さであることが必要であり、また、全ての情報層が集光可能な範囲に収まる厚さであることも必要である。3層以上の情報層を積層する場合は、それぞれの中間層の厚さが異なるようにすることが好ましい。なぜなら、中間層が同じ厚さの場合には、情報層の位置が等間隔となり、ある奥の層を記録再生する際に、2つ手前に位置する層でレーザ光が焦点を結びうるため、クロストークが大きくなる可能性があるためである。
基板2、10、25、光透明層7、22、41、中間層16、31、36の少なくともいずれかには、レーザ光を導くための案内溝或いはピットが、情報層の位置する側に形成されていることが好ましい。
記録層5、13、19、28、33、38は、光学特性が異なる2つ以上の状態間をとりうる材料から構成されている。記録層の材料は、この異なる状態間を非可逆的に変化しうるものが好ましく、具体的には、Te−O−M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)と材料Aとの混合物からなる。
本形態における記録層5、13、19、28、33、38によれば、従来に比べて記録層の材料を結晶化させるのに必要なエネルギーが少なくてもよいため、情報を記録する際のレーザパワーを高感度化することができ、長期保存に対する信頼性が高い情報記録媒体の実現が可能となる。
Te−O−Mは、成膜直後ではTeO中にTe、Te−MおよびMの微粒子が一様に分散された複合材料であり、レーザ光の照射によってTeおよびTe−Mの結晶粒径が大きくなる。この際の光学状態の違いを信号として検出することができるので、これにより1回のみ書き込み可能な、いわゆるライトワンス型記録媒体が実現できる。
元素Mは、Teの結晶化を促進させるために添加するものであり、Au、Pd、PtなどのTeと結合を作りうる元素であればこの効果を得ることができる。Au、Pd、Ptなどの元素は貴金属であって酸素と結合しにくいため、Teと結合しやすいことから特に好ましい元素である。
元素Mは、Te−O−Mにおいて、元素Mの含有量をxat%、Teの含有量をyat%とすると、xとyとが0.5y≦x≦yの関係を満たすように添加されることが好ましい。x≦yとすることで、光学特性の十分な変化量を得ることができ、0.05y≦xとすることで、結晶化速度向上効果を効果的に得ることができるからである。
材料Aは、記録層5、13、19、28、33、38の融点を低下させることを主な目的として添加される材料であり、材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料である。中でも材料Aは酸化物を含む材料が好適である。
共晶反応とは、ただ1つの液相が冷却中に分離して異なる2つの固相になる反応のことである。図5を例として、2成分A,Bが液体で溶け合い、結晶では混ざり合わない場合の状態図を示す。融点の極小値Teに相当する組成の溶液を冷却すると、Teであたかも純粋液体のように溶液全体がすべて結晶化するまで温度が一定に保たれる。2種類の結晶A,Bの機械的混合物でありながら、融けるときも一定温度を保って、純粋結晶に似た融解挙動を示す。
ある材料の融点を低下させるために添加材料を加える場合、次の方法が考えられる。
(1)より融点の低い添加材料を加える。
(2)元の材料と共晶反応を示す添加材料を加える。
前者は添加量に比例して融点の低下効果が得られるため、融点の十分な低下効果を得るためには添加量が多くなり、元の材料の特性を大幅に変化させてしまう。しかし、後者は局所的に融点が低下する組成域があるため、添加量が少なくても十分に融点の低下効果が見られる。そのため、(2)は元の材料の特性を大幅に変化させることなく、融点のみ低下させることができる。
先に述べたように、ライトワンス型記録材料Te−O−Mは、成膜直後ではTeO中にTe、Te−MおよびMの微粒子が一様に分散された複合材料であるが、本発明者らの実験により、これに材料Aを添加することによって成膜直後での記録層5、13、19、28、33、38の融点を低減できることがわかった。これは、TeOの融点が730℃近傍であるのに対して、TeOと共晶反応を示す材料を添加すると、融点が低下するからであると推測している。
材料Aとしては、酸化物の2元系状態図を参照して決定した。酸化物の2元系状態図としては「Phase Diagrams for Ceramists」(The American Ceramic Society)を権威ある出版物として挙げることができる。
Figure 0004892562
表1にTeOに添加したときに共晶反応を示す材料を示す。表1に示すように、材料によっては共晶組成を2種類もっているものがある。表1にはそれぞれの材料について、共晶組成における(TeOに対する)添加材料の割合、共晶組成での融点、上限添加量(TeOの融点732℃に対して、材料を添加することにより融点が低下する限界の量)をまとめている。また、図6にTeO−Biの相図を示す。この図から、TeO−Bi系ではBiが13.0%に共晶点を有しており、共晶組成での融点が575℃であることがわかる。表1は他の材料に関してそれらの情報をまとめたものである。
材料Aとしては、Ag−O、Al−O、B−O、Bi−O、Ce−O、Cu−O、Ga−O、Ge−O、In−O、Mo−O、Nb−O、V−Oなどが挙げられる。中でも、Al−O、Bi−O、Ga−O、In−O、Mo−O、Nb−OV−Oは、特に高感度化と信頼性の向上を両立しやすいという点で好ましい。
記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aとの混合物からなっている場合、組成は以下であることが好ましい。
Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下である。
特に、材料AがAgOの場合にはAgO/TeO比が0.18以上1.00以下であり、材料AがAlの場合にはAl/TeO比が0.10以上0.50以下であり、材料AがBの場合にはB/TeO比が0.18以上0.33以下であり、Biの場合にはBi/TeO比が0.04以上0.30以下であり、材料AがCeOの場合にはCeO/TeO比が0.05以上0.14以下であり、材料AがCuOの場合にはCuO/TeO比が0.10以上1.00以下であり、材料AがCuOの場合にはCuO/TeO比が0.05以上1.00以下であり、材料AがGaの場合にはGa/TeO比が0.05以上0.18以下であり、材料AがInの場合にはIn/TeO比が0.02以上0.08以下であり、材料AがMoOの場合にはMoO/TeO比が0.25以上1.50以下であり、材料AがNbの場合にはNb/TeO比が0.05以上0.12以下であり、材料AがVOの場合にはVO/TeO比が0.10以上0.33以下であることが好ましい。
この範囲外の組成に関してはTeO+材料Aの融点が上がるため、記録感度の改善効果は得られない。
記録層5、13、19、28、33、38の膜厚は、2nm以上30nm未満とすることが好ましい。膜厚を2nm以上とすることにより記録材料が層状になりやすく、良好な信号を得ることできるからである。また、膜厚が30nmより厚い場合には情報層の透過率が下がるため、多層媒体には適用するのが困難となるため好ましくない。さらに膜厚を30nm未満とすることにより、十分な記録感度の改善効果を得ることができる。
また、記録層5、13、19、28、33、38は、Te−O−Mを主成分とする膜と、材料Aを主成分とする膜とを交互に積層した構成とすることもできる。この場合、作製するための工程数が増えるものの、各膜厚を微調整することにより、Te−O−Mと材料との混合比を容易に調整することができるため、場合によって適宜用いることが好ましい。
記録層5、13、19、28、33、38には、Te、O、M、材料A以外の元素が含まれていてもよい。例えば、熱伝導率や光学定数の調整、又は耐熱性・環境信頼性の向上等を目的として、S、N、F、B及びCから選ばれる少なくとも1種の元素を添加してもよい。これらの添加元素は、記録層全体の20原子%以内とすることが好ましい。
記録層は、図2や図3に示す多層からなる情報記録媒体のいずれかの層に適用することがより好ましい。多層の情報記録媒体ではレーザ入射側に位置する情報層を透過することによって情報を記録再生する必要があるため、より記録感度が高い記録層が必要であるためである。
第1の誘電体層4、12、18、27、32、37と第2の誘電体層6、14、20、29、34、39は、記録材料の保護、情報層での効果的な光吸収を可能にするといった光学特性の調節が主な目的として設けられる。材料としては、ZnS等の硫化物、ZnSe等のセレン化物、Si−O、Al−O、Ti−O、Ta−O、Zr−O、Cr−O等の酸化物、Ge−N、Cr−N、Si−N、Al−N、Nb−N、Mo−N、Ti−N、Zr−N、Ta−N等の窒化物、Ge−O−N、Cr−O−N、Si−O−N、Al−O−N、Nb−O−N、Mo−O−N、Ti−O−N、Zr−O−N、Ta−O−N等の窒酸化物、Ge−C、Cr−C、Si−C、Al−C、Ti−C、Zr−C、Ta−C等の炭化物、Si−F、Al−F、Ca−F、La−F等の弗化物、および上記の材料の適当な組み合わせ(例えば、ZnS−SiO等)などが用いられる。
第1の誘電体層の膜厚及び第2の誘電体層の膜厚は、1nm以上60nm以下が好ましい。記録再生特性において十分なC/N比が得やすいためである。
反射層3、11、17、26は、放熱効果や記録層での効果的な光吸収等の光学的効果を得るために設ける。材料としてはAu、Ag、Cu、Al、Ni、Cr、Ti等の金属、或いは適宜選択された金属の合金などが用いられ、Ag合金やAl合金が好ましい。特に放熱性、耐湿性の観点から、Ag−Pd−Cu合金やAg−Ga−Cu合金を材料に用いることが好ましい。反射層3、11、17、26の膜厚は1nm以上であることが好ましい。反射層の膜厚が1nm以下の場合、膜が均一な層状となることが困難となり、熱的、光学的な効果が低下するためである。
図2では第1の情報層15と第2の情報層21はともに反射層を有する構成であるが、コスト面を考慮したり、透過率を高めることを目的として、反射層を有さない構成であってもよい。図3では第1の情報層30のみ反射層26を有する構成であるが、第2の情報層35〜第nの情報層40が反射層を有していてもよいし、或いは第1の情報層30が反射層26を有さない構成であってもよい。一般に、反射層を設けると情報層の透過率は低下するが、上記で述べた放熱効果や光学的効果により、高い信号品質を容易に得ることができる。このため、レーザ光の入射側に位置する図2における第2の情報層21、および図3における第2の情報層35から第nの情報層40については、反射層を設けるかどうか適宜設計を行うことが必要である。反射層を設けた場合は、その厚さを例えば10nm以下といった非常に薄い膜厚とすることにより、情報層の高い透過率を保つ工夫をすることが必要である。n及びkのより好ましい範囲は、それぞれ2.0未満及び2.0以上である。
上記の各薄膜は、例えば、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、CVD(Chemical Vapor Deposition)法、MBE(Molecular Beam Epitaxy)法等の気相薄膜堆積法によって形成することができる。
各層の作製順序について説明する。図1に示す情報記録媒体の場合、基板2上に、反射層3、第1の誘電体層4、記録層5、第2の誘電体層6を順次成膜し、その上に光透明層7を形成する。光透明層7の形成方法は以下の3通りのいずれでも良い。
・第2の誘電体層6まで作製した媒体と、接着樹脂を片面に有する基材(光透明層7)とを貼り合わせる。
・第2の誘電体層6まで作製した媒体とシート状の基材(光透明層7)とをUV樹脂によって貼り合わせる
・第2の誘電体層6まで作製した媒体上に紫外線硬化樹脂によって光透明層7を形成する。
図2、図3に示す情報記録媒体に関しても、同様に成膜工程と中間層および光透明層の形成工程を設けることによって作製することができる。
特に上記記録層の成膜に関しては以下のいずれかの方法を用いることができる。
記録層はスパッタリング法により作製し、記録層の作製工程で用いるターゲット材料はTe−O−M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)と材料A(ただし材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)との混合物を主成分としていることが好ましい。また、ターゲット材料はTe−M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)と材料B(ただし材料Bの酸化物である材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)との混合物を主成分とし、成膜ガスは希ガスと酸素との混合ガスを主成分とし、反応性スパッタリングを行ってもよい。また、Te−M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)とTe−Oと材料Aの化合物(ただし材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)とを異なるターゲットから同時にスパッタリングしてもよい。これらいずれかの方法で成膜することによって、TeOと材料Aが共晶反応を示すため、高感度で記録することができるため好ましい。
次に、本発明の情報記録媒体の記録再生方法の一例について述べる。
図4に、情報記録媒体が光ディスクである場合に、記録再生に用いる装置の一例の概略を示す。信号の記録再生には、レーザ47と対物レンズ46とを搭載した光学ヘッド(図示省略)と、レーザ光を照射する位置を所定の位置へと導くための駆動装置(図示省略)、トラック方向及び膜面に垂直な方向の位置を制御するためのトラッキング制御装置及びフォーカシング制御装置(図示省略)と、レーザパワーを変調するためのレーザ駆動装置(図示省略)、媒体を回転させるためのスピンドルモータ49とを用いる。
信号の記録、再生は、まず媒体をスピンドルモータ49により回転させ、光学系によりレーザ光を微小スポットに絞りこんで、媒体へレーザ光を照射することにより行う。信号の再生の際には、信号の記録を行うパワーレベルよりも低く、そのパワーレベルでのレーザ照射によって記録マークの光学的な状態が影響を受けず、かつその照射によって媒体から記録マークの再生のために十分な光量が得られるパワーのレーザビームを照射し、得られる媒体からの信号を光検出器48で読みとることによって行うことができる。
次に、実施例を用いて本発明を詳細に説明する。
(実施例1)
実施例1では、Te−O−Pd記録材料にTeOと共晶反応を示す材料を添加した際の記録感度および信頼性へ与える影響、およびその組成依存性を調べた。各材料を添加した情報記録媒体を作製、評価したので、以下にその詳細を示す。
まず図1に示した層構成を有する情報記録媒体1の作製方法について述べる。
基板としては、ポリカーボネイト樹脂を用いた。基板の直径は12cm、厚さは1.1mm、グルーブピッチは0.32μm、グルーブ深さは20nmとした。基板のグルーブが形成された側の表面上に、各層をスパッタリング法により以下の順に積層した。AgPdCu(重量比98.1:0.9:1.0)ターゲットを用いて膜厚40nmのAgPdCu反射層を成膜し、ZrO−SiO−Cr−LaF(分子数比23:23:31:23)ターゲットを用いて膜厚20nmのZrO−SiO−Cr−LaF誘電体層を成膜し、Te−O−Pd、もしくはTe−O−Pd+添加材料からなるターゲットを用いて膜厚24nmのTe−O−PdもしくはTe−O−Pd+添加材料からなる記録層を成膜し、ZnS−SiO(分子数比80:20)ターゲットを用いて膜厚10nmのZnS−SiO誘電体層の各層を成膜した。
各層の成膜は、いずれも、直径100mm、厚さ6mm程度のターゲットを用い、反射層はDC電源200W、誘電体層はRF電源300W、記録層はRF電源100Wで成膜した。また、反射層は、Ar(25sccm)のガスを、記録層はAr(25sccm)及び適量の酸素との混合ガスを、誘電体層は、Ar(25sccm)を、いずれも、ガス圧約0.13Paに保った雰囲気で成膜した。この表面上に、レーザ光に対して透明な紫外線硬化樹脂により、厚さ100μmの光透明層を形成した。また、各添加材料を含む情報記録媒体については、添加材料毎に(組成毎に)異なるスパッタリングターゲットを用いて、記録層を成膜した。以上で情報記録媒体1の作製が完了した。
次に情報記録媒体の評価手法について説明する。情報記録媒体1の記録感度は、ランダム信号のジッタ値が最良値を示す記録パワーによって評価した。情報記録媒体1に情報を記録するために、情報記録媒体1を回転させるスピンドルモータ49とレーザ光45を発する半導体レーザを備えた光学ヘッドとレーザ光45を情報記録媒体1の記録層上に集光させる対物レンズとを具備した一般的な構成の情報記録システムを用いた。情報記録媒体1の評価においては、波長405nmの半導体レーザと開口数0.85の対物レンズを使用し、25GB容量相当の記録を行った。情報記録媒体を回転させる線速度は4.92m/s(36Mbps)、9.84m/s(72Mbps)、19.68m/s(144Mbps)とした。また、ジッタ値の測定にはタイムインターバルアナライザーを用いた。
記録感度は以下の手順で評価した。上記のシステムを用いて、レーザ光を高パワーレベルのピークパワーと低パワーレベルのバイアスパワーとの間でパワー変調しながら情報記録媒体1に向けて照射して、マーク長2Tから8Tのランダム信号を記録層のグルーブ表面に1回記録した後、平均ジッタを測定した。まずバイアスパワーとピークパワーの比を一定値に固定し、ピークパワーを種々変化させた各記録条件について平均ジッタ値を測定し、平均ジッタ値が最小値になるピークパワーを求めた。次に、バイアスパワーとピークパワーの比を種々変化させ、同様の測定を行いジッタ値が最小になるピークパワー値を記録感度と決定した。得られた記録感度は、BD規格を考慮すれば、1倍速(36Mbps)においては6mW、2倍速(72Mbps)においては7mW、4倍速(144Mbps)においては10mW以下を満足することが望ましい。
信頼性は以下の手順で評価した。上記システムを用いて、上記と同様に記録感度を決定する。未記録のトラックに決定した記録パワー(Pp1)で5トラック連続の記録をし、さらに記録パワーPp1の1.15倍(Pp2)でも記録した。タイムインターバルアナライザーにより両者の中心トラックのジッタを測定した。次に、データを記録したディスクを温度85度、相対湿度85%の環境下において200時間にわたり、保持することによって加速試験を実施した。加速試験後、記録パワーPp1とPp2によって記録されたトラックを再生し、ジッタを測定した。ここでジッタの劣化が1%未満の場合は○、1%以上2%未満の場合は△、2%以上の場合は×と判定した。記録は4倍速(144Mbps)で行った。次に記録層中の元素比率の測定方法について説明する。情報記録媒体の記録層中の元素の比率は、組成分析用のサンプルを作成して測定した。具体的には、スパッタリング装置によって厚さ1mmのSi基板上に厚さが500nmとなるように各記録材料を形成した。
次にX線マイクロアナライザーにより各サンプルの組成分析を実施した。実施例中の材料組成には本方法により分析した結果を示す。
また表2から表13に示した記録材料の組成を得るために、成膜に用いるターゲットの組成及び成膜時の酸素量を適宜調整している。例えば、表5における以下の組成(Te:Pd:TeO:Bi=23.0:24.0:47.1:5.9[mol%])からなる記録材料を成膜する際には、以下の組成(Te:Pd:Bi=66.2:22.7:11.1[mol%])からなるターゲットを用いて成膜を実施した。
実施例1では、表2〜表13に示されるようなTe−O−Pdのみからなる記録層とTe−O−Pdに各添加材料(AgO、Al、B、Bi、CeO、CuO、CuO、Ga、In、MoO、Nb、VO)を添加した記録層からなる情報記録媒体を作製し上記の評価を行った。
Figure 0004892562
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表2に示されるように、Te−O−Pdのみからなる記録を有する情報記録媒体では、組成により記録感度と信頼性の結果が異なっている。Te:Pd:TeO=23.0:24.0:53.0[mol%]の組成では、記録感度が1x、2x、4xとも目標値を達成しているが、信頼性に課題があることがわかった。+15%パワーで記録した記録マークが加速試験後にジッタが1%以上2%未満劣化していた。次に、Te:Pd:TeO=11.0:23.0:66.0[mol%]の組成では、記録感度が目標値をなんとか達成しているが、信頼性はPp1でジッタの+1%以上2%未満、Pp2で2%以上の劣化が見られた。特に後者の組成においてTeO量が多くなったために、感度が悪化し、信頼性にも課題がでてきたと考えられる。
これに対して、記録感度を改善するために各種の添加材料を添加した結果を表2から表13に示す。
各材料毎で添加した際の融点の変化が異なるために最適な添加量と記録感度、信頼性への影響は異なるが、次の添加材料とTeOの組成比(AgOの場合にはAgO/TeO比が0.18以上1.00以下であり、材料AがAlの場合にはAl/TeO比が0.10以上0.50以下であり、材料AがBの場合にはB/TeO比が0.18以上0.33以下であり、Biの場合にはBi/TeO比が0.04以上0.30以下であり、材料AがCeOの場合にはCeO/TeO比が0.05以上0.14以下であり、材料AがCuOの場合にはCuO/TeO比が0.10以上1.00以下であり、材料AがCuOの場合にはCuO/TeO比が0.05以上1.00以下であり、材料AがGaの場合にはGa/TeO比が0.05以上0.18以下であり、材料AがInの場合にはIn/TeO比が0.02以上0.08以下であり、材料AがMoOの場合にはMoO/TeO比が0.25以上1.50以下であり、材料AがNbの場合にはNb/TeO比が0.05以上0.12以下であり、材料AがVOの場合にはVO/TeO比が0.10以上0.33以下)を満たすことによって、記録感度(1倍速、2倍速ともに)と信頼性を向上できることがわかった。また、添加物を添加しない場合に比べて、同等以上の良好なジッタ値が得られた。
(実施例2)
ここでは、2層からなる情報記録媒体に本発明の記録層材料(ここでは代表例としてTe−Pd−TeO−Bi)を適用し、記録感度、信頼性に与える影響を調べた。
図2に示した層構成を有する情報記録媒体を作製した。基板としては、ポリカーボネイト樹脂を用いた。基板の直径は12cm、厚さは1.1mm、グルーブピッチは0.32μm、グルーブ深さは20nmとした。
基板のグルーブが形成された側の表面上に、第1の情報層として、AgPdCu(重量比98.1:0.9:1.0)ターゲットを用いて膜厚40nmのAgPdCu反射層、ZrO−SiO−Cr−LaF(分子数比23:23:31:23)ターゲットを用いて膜厚20nmのZrO−SiO−Cr−LaF誘電体層、Te−O−PdもしくはTe−O−Pd−Biからなるターゲットを用いて膜厚20nmのTe−O−PdもしくはTe−O−Pd−Bi記録層、ZnS−SiO(分子数比80:20)ターゲットを用いて膜厚20nmのZnS−SiO誘電体層、の各層をスパッタリング法によりこの順に積層した。この第1の情報層の表面上に、紫外線硬化性樹脂を用いて基板と同じ溝パターンを転写し、厚さ約25μmの中間層を形成した。
この中間層の表面上に、第2の情報層として、AgPdCu(重量比98.1:0.9:1.0)ターゲットを用いて膜厚10nmのAgPdCu反射層、ZrO−SiO−Cr−LaF(分子数比23:23:31:23)ターゲットを用いて膜厚13nmのZrO−SiO−Cr−LaF誘電体層、Te−O−PdもしくはTe−O−Pd−Bi子数比37:53:10)ターゲットを用いて膜厚10nmのTe−O−PdもしくはTe−O−Pd−Bi記録層、ZnS−SiO(分子数比80:20)ターゲットを用いて膜厚25nmのZnS−SiO誘電体層、の各層をスパッタリング法によりこの順に積層した。この第の情報層の表面上に、紫外線硬化性樹脂を用いて基板と同じ溝パターンを転写し、厚さ約25μmの中間層を形成した。
各層の成膜は、いずれも、直径100mm、厚さ6mm程度のターゲットを用い、反射層はDC電源200W、誘電体層はRF電源300W、記録層はRF電源100Wで成膜した。また、反射層は、Ar(25sccm)のガスを、記録層はAr(25sccm)及び適量の酸素との混合ガスを、誘電体層は、Ar(25sccm)のガスを、いずれも、ガス圧約0.13Paに保った雰囲気で成膜した。
記録層組成の分析方法、記録感度および信頼性の評価方法は、実施例1と同様に行った。なお、2層からなる情報記録媒体の場合、得られた記録感度は、BD規格を考慮すれば、1倍速(36Mbps)においては12mW、2倍速(72Mbps)においては14mW、4倍速(144Mbps)においては18mW以下を満足することが望ましい。
実施例2では、表14に示されるようなTe−O−Pdのみからなる記録層を有する情報記録媒体と、Te−O−PdにBiを添加した記録層を有する情報記録媒体とを作製し上記の評価を行った。
Figure 0004892562
表14に示されるように、Te−O−Pdのみからなる記録層を有する情報記録媒体では、以下のような結果が得られた。第1情報層において記録感度が1倍速、2倍速では目標値を達成しているが、4倍速では目標を下回っており、記録感度に課題があることがわかった。信頼性に関しては、+15%パワーで記録した記録マークが加速試験後にジッタが1%以上2%未満劣化していたことから、こちらも課題であることがわかった。第2の情報層に関しては記録感度が1倍速、2倍速、4倍速で目標値を達成している。しかし、信頼性に関しては、+15%パワーで記録した記録マークが加速試験後にジッタが1%以上2%未満劣化していたことから、こちらも課題であることがわかった。
これに対して、記録感度を向上するためにBiを添加した場合には、第1情報層、第2情報層ともに、記録感度は1倍速、2倍速、4倍速で目標値を上回っており、さらに信頼性に関してもPp1、Pp2でともに良好であることがわかった。また、添加物を添加しない場合に比べて、全ての情報層で同等以上の良好なジッタ値が得られた。また、実施例1で挙げたBi以外の添加材料に関しても同様の効果が得られることを確認した。
以上のことから、2層からなる情報記録媒体の記録層にBi +材料A(材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)を適用することによって、記録感度と信頼性を向上できることがわかった。
(実施例3)
ここでは、4層からなる情報記録媒体に本発明の記録層材料(ここでは代表例としてTe−O−Pd−Bi)を適用し、記録感度、信頼性に与える影響を調べた。
図3に示した層構成を有する情報記録媒体(nが4の場合)を作製した。基板としては、ポリカーボネイト樹脂を用いた。基板の直径は12cm、厚さは1.1mm、グルーブピッチは0.32μm、グルーブ深さは20nmとした。
基板のグルーブが形成された側の表面上に、第1の情報層として、AgPdCu(重量比98.1:0.9:1.0)ターゲットを用いて膜厚80nmのAgPdCu反射層、ZrO−SiO−Cr−LaF(分子数比23:23:31:23)ターゲットを用いて膜厚20nmのZrO−SiO−Cr−LaF誘電体層、Te−O−PdもしくはTe−O−Pd−Biからなるターゲットを用いて膜厚20nmのTe−O−PdもしくはTe−O−Pd−Bi記録層、ZnS−SiO(分子数比80:20)ターゲットを用いて膜厚30nmのZnS−SiO誘電体層の各層をスパッタリング法によりこの順に積層した。この第1の情報層の表面上に、紫外線硬化性樹脂を用いて基板と同じ溝パターンを転写し、厚さ約13.5μmの中間層を形成した。
この中間層の表面上に、第2の情報層として、AlNターゲットを用いて膜厚8nmのAlN誘電体層、Te−O−PdもしくはTe−O−Pd−Biターゲットを用いて膜厚6nmのTe−O−PdもしくはTe−O−Pd−Bi 記録層、ZnSターゲットを用いて膜厚27nmのZnS誘電体層の各層をスパッタリング法によりこの順に積層した。この表面上に、紫外線硬化性樹脂を用いて基板と同じ溝パターンを転写し、厚さ17.5μmの中間層を形成した。
この中間層の表面上に、第3の情報層として、AlNターゲットを用いて膜厚12nmのAlN誘電体層、Te−O−PdもしくはTe−O−Pd−Biからなるターゲットを用いて膜厚6nmのTe−O−PdもしくはTe−O−Pd−Bi記録層、ZnS−SiO(分子数比80:20)ターゲットを用いて膜厚38nmのZnS−SiO誘電体層の各層をスパッタリング法によりこの順に積層した。この表面上に、紫外線硬化性樹脂を用いて基板と同じ溝パターンを転写し、厚さ9.5μmの中間層を形成した。
この中間層の表面上に、第4の情報層として、AlNターゲットを用いて膜厚15nmのAlN誘電体層、Te−O−PdもしくはTe−O−Pd−Biからなるターゲットを用いて膜厚6nmのTe−O−PdもしくはTe−O−Pd−Bi記録層、ZnS−SiO(分子数比80:20)ターゲットを用いて膜厚46nmのZnS−SiO誘電体層の各層をスパッタリング法によりこの順に積層した。この表面上に、紫外線硬化性樹脂を用いて厚さ59.5μmの光透明層を形成した。
各層の成膜は、いずれも、直径100mm、厚さ6mm程度のターゲットを用い、反射層はDC電源200W、誘電体層はRF電源300W、記録層はRF電源100Wで成膜した。また、反射層は、Ar(25sccm)のガスを、記録層はAr(25sccm)及び適量の酸素との混合ガスを、誘電体層は、Ar(25sccm)を、いずれも、ガス圧約0.13Paに保った雰囲気で成膜した。
記録層組成の分析方法、記録感度および信頼性の評価方法は実施例1と同様に行った。
なお、4層からなる情報記録媒体の場合、得られた記録感度は、1倍速(36Mbps)においては13mW以下、2倍速(72Mbps)においては17mW以下を満足することが望ましい。
実施例3では、表15に示されるようなTe−O−Pdのみからなる記録層とTe−O−PdにBiを添加した記録層からなる情報記録媒体を作製し上記の評価を行った。
Figure 0004892562
表15に示されるように、Te−O−Pdのみからなる記録を有する情報記録媒体では以下のような結果が得られた。1倍速に関しては第1の情報層のみ目標値を下回り、2倍速に関しては第1の情報層と第3の情報層が目標値を達成できなかった。信頼性に関しては、全ての情報層で+15%パワーで記録した記録マークが加速試験後にジッタが1%以上2%未満劣化していたことから、こちらも課題であることがわかった。
これに対して、記録感度を向上するためにBiを添加した場合には、記録感度は1倍速、2倍速ともに、全ての情報層で目標値を上回った。さらに信頼性に関してもPp1、Pp2でともに良好であることがわかった。また、添加物を添加しない場合に比べて、全ての情報層で同等以上の良好なジッタ値が得られた。また、実施例1で挙げたBi以外の添加材料に関しても同様の効果が得られることを確認した。
以上のことから、4層からなる情報記録媒体の記録層にTeOPd+材料A(材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)を適用することによって、記録感度と信頼性を向上できることがわかった。
本発明の情報記録媒体とその製造方法は、追記型の大容量光学的情報記録媒体であるDVD−Rディスク、BD−Rなどに有用である。
本発明の光学的情報記録媒体の一構成例の断面図 本発明の光学的情報記録媒体の一構成例の断面図 本発明の光学的情報記録媒体の一構成例の断面図 本発明の光学的情報記録媒体の記録再生に用いられる記録再生装置について構成の一部を模式的に示す図 一般的な共晶系材料の相図。 TeO−Bi系の相図
1,9,24,44 情報記録媒体
2,10,25 基板
4,12,18,27,32,37 第1の誘電体層
5,13,19,28,33,38 記録層
7,22,41 光透明層
8,23,42,45 レーザ光
3,11,17,26 反射層
6,14,20,29,34,39 第2の誘電体層
15,30 第1の情報層
16,31,36 中間層
21,35 第2の情報層
40 第nの情報層
43 記録再生装置
46 対物レンズ
47 レーザ
48 光検出器
49 スピンドルモータ

Claims (19)

  1. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがAgOであって、AgO/TeO比が0.18以上1.00以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  2. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがAlであって、Al/TeO比が0.10以上0.50以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  3. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがBであって、B/TeO比が0.18以上0.33以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  4. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがBiであって、Bi/TeO比が0.04以上0.30以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  5. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがCeOであって、CeO/TeO比が0.05以上0.14以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  6. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがCuOであって、CuO/TeO比が0.10以上1.00以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  7. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがCuOであって、CuO/TeO比が0.05以上1.00以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  8. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがGaであって、Ga/TeO比が0.05以上0.18以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  9. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがInであって、In/TeO比が0.02以上0.08以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  10. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがMoOであって、MoO/TeO比が0.25以上1.50以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  11. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがNbであって、Nb/TeO比が0.05以上0.12以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  12. 基板上に記録層を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体であって、
    前記記録層がTe、M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)、TeO、材料Aを主成分として含み、
    Te原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、M原子の含有割合が0mol%以上40mol%以下、TeO+材料Aの含有割合が40mol%以上85mol%以下であり、
    材料AがVOであって、VO/TeO比が0.10以上0.33以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  13. 前記記録層の膜厚が、2nm以上30nm未満であることを特徴とする請求項1から12のいずれか1項に記載の情報記録媒体。
  14. 前記基板上にn層(ただし、nは2以上の整数)の情報層が分離層を介して積層された情報記録媒体であって、少なくともいずれかの情報層が、前記記録層を有することを特徴とする請求項1から13のいずれか1項に記載の情報記録媒体。
  15. 請求項1か14のいずれかに記載の情報記録媒体の製造方法であって、基板上に記録層を作成する工程を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体の製造方法において、
    前記記録層をスパッタリング法により作製し、
    前記記録層の作製工程で用いるターゲット材料はTe−O−M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)と材料A(ただし材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)との混合物を主成分とすることを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
  16. 請求項1から14のいずれかに記載の情報記録媒体の製造方法であって、基板上に記録層を作成する工程を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体の製造方法において、
    前記記録層をスパッタリング法により作製し、
    前記記録層の作製工程で用いるターゲット材料はTe−M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)と材料B(ただし材料Bの酸化物である材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)との混合物を主成分とし、
    成膜ガスは希ガスと酸素との混合ガスを主成分とし、反応性スパッタリングを行うことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
  17. 請求項1から14のいずれかに記載の情報記録媒体の製造方法であって、基板上に記録層を作成する工程を有し、前記記録層にレーザ光を照射または電気エネルギーを印加することによって情報の記録及び再生を可能とする情報記録媒体の製造方法において、
    前記記録層をスパッタリング法により作製し、
    前記記録層の作製工程において、Te−M(ただし、MはAu、Pd、Ptから選ばれる1つまたは複数の元素)とTe−Oと材料Aの化合物(ただし材料AはTe−Oと共晶反応を示す材料)とを異なるターゲットから同時にスパッタリングすることを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
  18. 請求項1から14のいずれかに記載の情報記録媒体の記録層を成膜する際に用いるスパッタリングターゲットであって、
    前記スパッタリングターゲットがTeOと材料Aを主成分として含み、
    前記材料AはTeOと共晶反応を示す材料であることを特徴とする情報記録媒体用スパッタリングターゲット。
  19. 請求項1から14のいずれかに記載の情報記録媒体の記録層を成膜する際に用いるスパッタリングターゲットであって、
    前記スパッタリングターゲットがTeOと材料Bを主成分として含み、
    前記材料Bの酸化物はTeOと共晶反応を示す材料であることを特徴とする情報記録媒体用スパッタリングターゲット。
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