JP4883174B2 - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4883174B2 JP4883174B2 JP2009506049A JP2009506049A JP4883174B2 JP 4883174 B2 JP4883174 B2 JP 4883174B2 JP 2009506049 A JP2009506049 A JP 2009506049A JP 2009506049 A JP2009506049 A JP 2009506049A JP 4883174 B2 JP4883174 B2 JP 4883174B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- optical axis
- ion
- virtual
- base plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 106
- 230000037427 ion transport Effects 0.000 claims description 26
- 230000005405 multipole Effects 0.000 claims description 21
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 155
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 11
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 10
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 8
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000001360 collision-induced dissociation Methods 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
- H01J49/065—Ion guides having stacked electrodes, e.g. ring stack, plate stack
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
- H01J49/063—Multipole ion guides, e.g. quadrupoles, hexapoles
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
イオン光軸の周りに1本おきの仮想ロッド電極に属し、イオン光軸に直交する面内に配置されるn個の電極素板部と、このn個の電極素板部を電気的に接続する接続部とを、1枚の導電板により一体に形成して電極部材とし、該電極部材をイオン光軸方向に互いに離して2m枚並べることにより、前記仮想多重極ロッド型イオン輸送光学系を構成したことを特徴としている。
2…サンプリングコーン
3…第1イオンレンズ
4…第2イオンレンズ
5…第1段四重極
6…衝突セル
7…第2段四重極
8…第3段四重極
9…イオン検出器
C…イオン光軸
11、15…第1電極部材
12…第2電極部材
13…電極ホルダ
14…固定用ボルト
20、24…円環状部
21、25、41…電極素板部
22、26…ターミナル部
23、27…円形開口
30…円環状部
31…フランジ部
32…切欠部
33…ボルト嵌入孔
Claims (4)
- イオン光軸方向に互いに分離されたm(mは2以上の整数)個の電極素板部から成る仮想ロッド電極を、イオン光軸を取り囲むように2n(nは2以上の整数)本配置して成る仮想多重極ロッド型イオン輸送光学系を具備する質量分析装置において、
イオン光軸の周りに1本おきの仮想ロッド電極に属し、イオン光軸に直交する面内に配置されるn個の電極素板部と、このn個の電極素板部を電気的に接続する接続部とを、1枚の導電板により一体に形成して電極部材とし、該電極部材をイオン光軸方向に互いに離して2m枚並べることにより、前記仮想多重極ロッド型イオン輸送光学系を構成したことを特徴とする質量分析装置。 - 前記電極部材は、略環状である前記接続部の内縁端から内方に前記電極素板部が延出した形状であることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 任意の1枚の前記電極部材は、イオン光軸方向に隣接する2枚の電極部材の間を所定距離離すために介挿される1個の絶縁性の保持部材により保持されることを特徴とする請求項2に記載の質量分析装置。
- 2m枚の前記電極部材は、前記電極素板部が前記接続部と面一であるm枚の第1電極部材と、前記電極素板部が前記接続部と面一でないm枚の第2電極部材と、から成り、略環状の前記接続部の位置において第1電極部材と第2電極部材とをイオン光軸方向に交互に且つ離して配列することにより、各仮想ロッド電極に属する1個ずつの合計2n個の電極素板部がイオン光軸に直交する面上に位置するようにしたことを特徴とする請求項2に記載の質量分析装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2007/000286 WO2008117333A1 (ja) | 2007-03-23 | 2007-03-23 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008117333A1 JPWO2008117333A1 (ja) | 2010-07-08 |
JP4883174B2 true JP4883174B2 (ja) | 2012-02-22 |
Family
ID=39788078
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009506049A Expired - Fee Related JP4883174B2 (ja) | 2007-03-23 | 2007-03-23 | 質量分析装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8207491B2 (ja) |
EP (1) | EP2131386B1 (ja) |
JP (1) | JP4883174B2 (ja) |
WO (1) | WO2008117333A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8299427B2 (en) * | 2007-01-23 | 2012-10-30 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
GB2454508B (en) * | 2007-11-09 | 2010-04-28 | Microsaic Systems Ltd | Electrode structures |
GB2479191B (en) * | 2010-04-01 | 2014-03-19 | Microsaic Systems Plc | Microengineered multipole ion guide |
GB2479190B (en) * | 2010-04-01 | 2014-03-19 | Microsaic Systems Plc | Microengineered multipole rod assembly |
WO2012081122A1 (ja) * | 2010-12-17 | 2012-06-21 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
JP2015512554A (ja) * | 2012-03-23 | 2015-04-27 | マイクロマス ユーケー リミテッド | イオンガイド構築法 |
US8907272B1 (en) * | 2013-10-04 | 2014-12-09 | Thermo Finnigan Llc | Radio frequency device to separate ions from gas stream and method thereof |
WO2015128652A2 (en) * | 2014-02-26 | 2015-09-03 | Micromass Uk Limited | Impactor spray atmospheric pressure ion source with target paddle |
GB201608476D0 (en) * | 2016-05-13 | 2016-06-29 | Micromass Ltd | Ion guide |
GB201710868D0 (en) * | 2017-07-06 | 2017-08-23 | Micromass Ltd | Ion guide |
GB2575342B (en) | 2018-05-17 | 2022-08-10 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Ion guide |
EP4421845A1 (en) * | 2023-02-22 | 2024-08-28 | ASOCIACIÓN CENTRO DE INVESTIGACIÓN COOPERATIVA EN NANOCIENCIAS "CIC nanoGUNE" | Acceleration unit for high mass ions and high mass ion detector |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2920993B2 (ja) * | 1990-02-08 | 1999-07-19 | 日新電機株式会社 | 高周波4重極型線形加速器 |
JPH087827A (ja) * | 1994-06-17 | 1996-01-12 | Jeol Ltd | ビームガイド |
JPH1154085A (ja) * | 1997-07-30 | 1999-02-26 | Shimadzu Corp | 多重極質量分析計 |
JP3379485B2 (ja) * | 1998-09-02 | 2003-02-24 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP3596375B2 (ja) | 1999-09-30 | 2004-12-02 | 株式会社島津製作所 | 大気圧イオン化質量分析装置 |
JP4581184B2 (ja) * | 2000-06-07 | 2010-11-17 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
DE102004048496B4 (de) * | 2004-10-05 | 2008-04-30 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenführung mit HF-Blendenstapeln |
-
2007
- 2007-03-23 JP JP2009506049A patent/JP4883174B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-03-23 EP EP07736943.7A patent/EP2131386B1/en not_active Not-in-force
- 2007-03-23 WO PCT/JP2007/000286 patent/WO2008117333A1/ja active Application Filing
- 2007-03-23 US US12/531,433 patent/US8207491B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8207491B2 (en) | 2012-06-26 |
WO2008117333A1 (ja) | 2008-10-02 |
EP2131386B1 (en) | 2017-03-22 |
EP2131386A4 (en) | 2011-11-23 |
EP2131386A1 (en) | 2009-12-09 |
US20100096541A1 (en) | 2010-04-22 |
JPWO2008117333A1 (ja) | 2010-07-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4883174B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US7582861B2 (en) | Mass spectrometer | |
US6717139B2 (en) | Ion lens for a mass spectrometer | |
EP2436026B1 (en) | Ion tunnel ion guide | |
US8134123B2 (en) | Mass spectrometer | |
CA2801914C (en) | Ion guide and electrode for its assembly | |
US20160181080A1 (en) | Multipole ion guides utilizing segmented and helical electrodes, and related systems and methods | |
US9455132B2 (en) | Ion mobility spectrometry-mass spectrometry (IMS-MS) with improved ion transmission and IMS resolution | |
US9324551B2 (en) | Mass spectrometer and method of driving ion guide | |
US8822918B2 (en) | Ion guide and mass spectrometry device | |
JP5776839B2 (ja) | 質量分析装置及びイオンガイドの駆動方法 | |
WO2013057822A1 (ja) | 質量分析装置 | |
JP2010113944A (ja) | 質量分析装置及びイオン輸送光学系の組立方法 | |
WO2020129199A1 (ja) | 質量分析装置 | |
US9536723B1 (en) | Thin field terminator for linear quadrupole ion guides, and related systems and methods | |
US7205537B2 (en) | Ion guides with movable RF multiple segments | |
JP5141505B2 (ja) | イオンガイド及びそれを備えた質量分析装置 | |
WO2024014208A1 (ja) | イオンガイドおよび質量分析計 | |
US20240249930A1 (en) | Ion Beam Focusing | |
JP7073459B2 (ja) | イオンガイド及びそれを用いた質量分析装置 | |
JP6759321B2 (ja) | 多重極イオンガイド | |
WO2022254526A1 (ja) | 四重極型質量分析装置 | |
JP4816792B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JP2007194097A (ja) | 荷電粒子輸送機構 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110322 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110517 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20110517 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111108 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111121 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141216 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4883174 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141216 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |