JP4866029B2 - ウェーハ外周検査装置 - Google Patents
ウェーハ外周検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4866029B2 JP4866029B2 JP2005203113A JP2005203113A JP4866029B2 JP 4866029 B2 JP4866029 B2 JP 4866029B2 JP 2005203113 A JP2005203113 A JP 2005203113A JP 2005203113 A JP2005203113 A JP 2005203113A JP 4866029 B2 JP4866029 B2 JP 4866029B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- light
- outer periphery
- lens
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 46
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 34
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 83
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
本発明は、かかる問題点を解決するためになされたもので、ウェーハ外周部の面取り部の短時間で且つ的確に検査し得るウェーハ外周検査装置を提供することを目的とする。
1つの光照射装置と1つの光検出装置とを備え、前記光は非コヒーレント光であり、前記レンズは、検査位置での物側焦点面が前記ウェーハ外周部の厚さ方向の形状にほぼ沿って湾曲するように構成され、当該レンズは前記光照射装置及び前記光検出装置で共用され、前記光照射装置は、検査位置で前記非コヒーレント光を所定の照射開口角で以てウェーハ外周部の厚さ方向の全域に照射し、前記光検出装置は、そのウェーハ外周部での反射光を所定の物側開口角を持つテレセントリック光学系を介して検出するように構成されていることを特徴とする。この場合、ウェーハの上半部と下半部とに対応して前記レンズ及び前記テレセントリック光学系をそれぞれ設けて、ウェーハWの外周部の検査を行ってもよい。
また、レンズは、検査位置での物側焦点面がウェーハ外周部の厚さ方向の形状にほぼ沿うように湾曲するように構成されているので、ウェーハの厚さ方向の分解能のバラツキを小さくすることができる。
さらに、ウェーハ外周部での反射光を所定の物側開口角を持つテレセントリック光学系を介して検出するように構成されているので、ウェーハ外周部の傷等の形状及び深さに応じた明暗パターンが形成されることから、的確な検査が可能となる。
(全体構成)
図1はウェーハ外周検査装置の構成を示す図である。符号1はウェーハ外周検査装置1を示し、このウェーハ外周検査装置は光照射装置2と光検出装置3を備えている。
光照射装置2は検査位置でウェーハWの外周部の一部を照射するものである。この光照射装置2は点光源200、ハーフミラー201及びレンズ202を含んで構成されている。このうちレンズ202は複数のレンズから構成されている。そして、この光照射装置2では、点光源200からの光によってレンズ202を介してウェーハWの外周部の一部が照射されるようになっている。この場合、ウェーハWは回転テーブル(図示せず)上に載置される。
この場合、検査位置での物側焦点面の形状はウェーハWの外周部のエッジプロファイルに完全に合致するように構成し、ウェーハWの外周部表面の各点の法線方向から所定の照射開口角を以て照射した光がウェーハWの外周部表面で焦点を結ぶようにすることが好ましい。しかし、実際上はウェーハWの外周部のエッジプロファイルにはバラツキがあり、検査の都度、ウェーハWの外周部のエッジプロファイルと物側焦点面の形状とを合致させることは煩雑である。そこで、実際上は、検査位置での物側焦点面の形状がウェーハWの外周部のエッジプロファイルにおおむね合致するように構成すればよい。
この12インチのウェーハ外周部を検査する外周検査装置1にあっては、回転テーブルの回転中心から148.594mmの位置で且つウェーハの厚さ方向の中点を中心とする曲率半径0.388mmの円弧上に、検査位置での上記物側焦点面が存在するようにする。この状態が図3に示されている。同図においては物側焦点面がFで示されている。このようにすれば、エッジプロファイルが許容領域に有るすべての12インチウェーハに対応できることになる。
続いて、本願発明の原理について説明する。なお、面取り部の一部をミクロ的に観察すればほぼ平面と見ることが可能であるので、図4を用いて、本発明の原理を説明する。
ウェーハWの外周部の一点には所定の照射開口角をもって光が照射される。すると、その一点で所定の角度範囲で広がる反射光が生成される。そして、この反射光はレンズ300を経て、アパーチャ301に導かれる。この場合、外周部の一点で正反射した光がちょうどアパーチャ301の開口に導かれる(照射開口角と物側開口角が等しい)とすれば、その部分は輝度100%の明るい像となる。
一方、ウェーハWの外周部に凹凸があり(図4では円錐状の穴として示してある。)、その斜面の一点に所定の照射開口角をもって光が照射される場合を考えると、その一点で所定の角度範囲で広がる反射光が生成される。そして、斜面の傾きに応じた反射光がレンズ300を経てアパーチャ301に導かれる。この場合、斜面の傾きが小さいと前記一点からの反射光の一部だけがアパーチャ301の開口に導かれる。すなわち、アパーチャ301の開口に導かれる反射光の量は斜面の傾きが大きくなる程少なくなる。そして、斜面の傾きがある程度大きくなると前記一点からの反射光はアパーチャ301の開口に導かれなくなる。つまり、その部分の輝度は0%となる。図3はその一例を示している。
その結果、CCD303によって得られる光像は外周部の凹凸の大きさ及び深さを反映した明暗パターンとなる。
ただし、検査位置での物側焦点面の形状がウェーハWの外周部のエッジプロファイルに完全に合致するように構成した場合は兎も角、検査位置での物側焦点面の形状がウェーハWの外周部のエッジプロファイルにおおむね合致するだけのものでは、CCD303によって得られる光像は外周部の凹凸の大きさ及び深さを完全には反映した明暗パターンにならない。しかし、その場合でも問題はない。すなわち、一般には、ウェーハWの外周部は厚さ方向に丸みを持っているので、その外周部での反射光の強度(受光強度)も徐々に変化するのが普通である。これに対して、ウェーハWの外周部に傷等がある場合には、その傷等の部分で光が散乱するので、傷等の部分の強度(受光強度)は著しく低下する。よって、CCD303によって得られる光像は外周部の凹凸の大きさ及び深さをおおむね反映した明暗パターンとなる。したがって、その明暗パターンを得れば、ウェーハ外周部の検査が行えることになる。
上記実施形態では、ウェーハ外周検査装置1の光照射装置2は1つであったが、2つの光照射装置2を設け、一方はウェーハWの上半部を、他方はウェーハWの下半部をそれぞれ照射するように構成してもよい。また、同様に、2つの光検出装置3を設けてもよい。
2 光照射装置
3 光検出装置
200 点光源
201 ハーフミラー
202 レンズ
300 レンズ
301 アパーチャ
302 レンズ
303 CCD
Claims (3)
- 検査位置にてウェーハ外周部の外周方向の一部にレンズを介して光を照射し、ウェーハを載置した回転テーブルを回転させつつそのウェーハ外周部での反射光を検出してウェーハ外周部の検査を行うように構成されたウェーハ外周検査装置において、
1つの光照射装置と1つの光検出装置とを備え、前記光は非コヒーレント光であり、前記レンズは、検査位置での物側焦点面が前記ウェーハ外周部の厚さ方向の形状にほぼ沿って湾曲するように構成され、当該レンズは前記光照射装置及び前記光検出装置で共用され、前記光照射装置は、検査位置で前記非コヒーレント光を所定の照射開口角で以てウェーハ外周部の厚さ方向の全域に照射し、前記光検出装置は、そのウェーハ外周部での反射光を所定の物側開口角を持つテレセントリック光学系を介して検出するように構成されていることを特徴とするウェーハ外周検査装置。 - 前記ウェーハは12インチウェーハであり、前記レンズは、検査位置での物側焦点面が、前記回転テーブルの軸線から半径方向外方に148.594mm離れた点であって前記ウェーハの厚さ方向の中点を中心とし、且つ前記ウェーハの厚さ寸法の1/2の曲率半径を持つ円弧上に位置するように構成されていることを特徴とする請求項1記載のウェーハ外周検査装置。
- 前記レンズは、前記テレセントリック光学系を構成する一方のレンズであることを特徴とする請求項1又は2記載のウェーハ外周検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005203113A JP4866029B2 (ja) | 2005-07-12 | 2005-07-12 | ウェーハ外周検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005203113A JP4866029B2 (ja) | 2005-07-12 | 2005-07-12 | ウェーハ外周検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007024528A JP2007024528A (ja) | 2007-02-01 |
JP4866029B2 true JP4866029B2 (ja) | 2012-02-01 |
Family
ID=37785515
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005203113A Active JP4866029B2 (ja) | 2005-07-12 | 2005-07-12 | ウェーハ外周検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4866029B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5090662B2 (ja) * | 2006-04-17 | 2012-12-05 | 株式会社ナノシステムソリューションズ | 球面検査方法及び球面検査装置 |
CN109494166A (zh) * | 2018-11-13 | 2019-03-19 | 惠州西电仲恺人工智能联合创新实验室有限公司 | 太阳能电池板在线视觉检测系统 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002343853A (ja) * | 2001-05-16 | 2002-11-29 | Nikon Corp | 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
JP3709426B2 (ja) * | 2001-11-02 | 2005-10-26 | 日本エレクトロセンサリデバイス株式会社 | 表面欠陥検出方法および表面欠陥検出装置 |
JP2003344307A (ja) * | 2002-05-31 | 2003-12-03 | Cradle Corp | 光学検査装置 |
JP2006064975A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Olympus Corp | 顕微鏡および薄板エッジ検査装置 |
JP4974267B2 (ja) * | 2005-08-10 | 2012-07-11 | 株式会社ナノシステムソリューションズ | ウェーハ外周検査方法 |
JP5090662B2 (ja) * | 2006-04-17 | 2012-12-05 | 株式会社ナノシステムソリューションズ | 球面検査方法及び球面検査装置 |
-
2005
- 2005-07-12 JP JP2005203113A patent/JP4866029B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007024528A (ja) | 2007-02-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI589861B (zh) | 偵測晶圓中裂痕的系統與方法 | |
JP4663725B2 (ja) | 端部傷検査装置 | |
JP2010181249A (ja) | 形状測定装置 | |
JP2002328094A (ja) | Ledリング照明及びそれを備えた画像検査装置 | |
JP2006138830A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
WO2021131207A1 (ja) | シリコンウェーハの欠陥検査方法及びシリコンウェーハの欠陥検査システム | |
JP4866029B2 (ja) | ウェーハ外周検査装置 | |
JP2000031245A (ja) | ウェーハノッチ位置検出装置 | |
KR101001113B1 (ko) | 웨이퍼 결함의 검사장치 및 검사방법 | |
JP2009145141A (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査プログラム | |
JP4974267B2 (ja) | ウェーハ外周検査方法 | |
JP2006242828A (ja) | 表面欠陥検出装置 | |
JP2006017685A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
JP2017003412A (ja) | レンズ検査装置及びレンズ検査方法 | |
JP2008096187A (ja) | 端部傷検査装置 | |
JP2004163129A (ja) | 欠陥検査方法 | |
JP2007322419A (ja) | ボトル検査装置 | |
JP5090662B2 (ja) | 球面検査方法及び球面検査装置 | |
JP5285530B2 (ja) | 塗膜形成ムラ検査装置 | |
JP6402082B2 (ja) | 表面撮像装置、表面検査装置、及び表面撮像方法 | |
JP4481094B2 (ja) | 金属リングの側縁検査装置 | |
JP2009222629A (ja) | 被検物端面検査装置 | |
JPH0414282B2 (ja) | ||
JP5476069B2 (ja) | 塗膜形成ムラ検査装置 | |
JP5610672B2 (ja) | 表面検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080612 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101215 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110218 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111025 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111111 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141118 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4866029 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |